JPH06267269A - 初期状態設定回路 - Google Patents

初期状態設定回路

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JPH06267269A
JPH06267269A JP5049399A JP4939993A JPH06267269A JP H06267269 A JPH06267269 A JP H06267269A JP 5049399 A JP5049399 A JP 5049399A JP 4939993 A JP4939993 A JP 4939993A JP H06267269 A JPH06267269 A JP H06267269A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】電源線または接地線をボンディングするかしな
いかで機能を切換える半導体装置の初期状態設定回路の
待機時消費電流を削滅する。 【構成】ボンディングオプションパッド11とパワーオ
ン回路1と、電流駆動能力の大きなMOSトランジスタ
4とこのトランジスタ4に並列接続するトランジスタ4
より電流駆動能力の小さなMOSトランジスタ14と、
トランジスタ4のオン/オフを制御する制御回路2とで
構成され、パワーオン回路1でトランジスタ4をオンし
反転RAS信号に同期した制御信号中でオフすることに
より半導体装置の初期状態設定回路10の待機時電流を
小さくできる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の初期状態
設定回路に関し、特にダイナミック・ランダム・アクセ
ス・メモリの初期状態設定回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、汎用のDRAMは、その使用目的
に応じて、ファーストページモード、ニブルモード、ス
タティックカラムモード等、機能の異なるいくつかの品
種に分けられる。さらに、近年では、全メモリセルをリ
フレッシュするのに必要なサイクル数で、数種類の品種
に分けられ、その品種数は増大している。
【0003】市場の動向に応じて、必要な数だけ短納期
で供給できるように、一種類の半導体DRAMチップを
組立工程におけるワイヤーボンディングのやり方で、何
種類もの品種に分けるようにしている場合がある。
【0004】例えば、あるパッドに電源線をボンディン
グすれば、スタティックカラム品として機能し、ボンデ
ィングしなければ、ファーストページ品として機能す
る。
【0005】上述のように、パッドに電源線がボンディ
グされたか、されていないかで半導体DRAMの初期状
態を設定する従来技術の初期状態設定回路の構成を示す
図7を参照すると、この従来技術の初期状態設定回路7
0は、電源電位線をボンディングするかしないかのオプ
ションパッド71と、このオプションパッド71にその
入力を接続するインバータ73と、インバータ73の出
力VOUTの供給を受ける出力端子72と、ゲートを電
源電位VCCにソースを端子75を介して接地電位GN
Dにドレインを上記オプションパッド71からの配線7
6にそれぞれ接続するNチャネルMOSトランジスタ7
4から構成される。このNチャネルMOSトンランジス
タ74の電流駆動能力は十分小さく、例えば数μAに設
定される。
【0006】次に、この従来技術の初期状態設定回路7
0の動作について説明する。
【0007】オプションパッド71には電源線がボンデ
ィングされてオプションパッド71電位が電源電位VC
Cになるかまたは何もボンディングされずオプションパ
ッド71の電位がトランジスタ74の作用により接地電
位GNDになるかのどちらかの状態をとる。
【0008】まず、オプションパッド71に電源線がボ
ンディングされない場合を説明する。
【0009】オプションパッド71に何もボンディング
されない場合は、電源が投入され電源電位VCCが0ボ
ルトから5ボルトに立上るとき、トランジスタ74のし
きい値VTHボルトまでの電源電位ではトランジスタ7
4はオフしたままであるのでオプションパッド71およ
び配線76の電位はフローティング電位のままの状態で
ある。さらに電源電位VCCのレベルが上述のしきい値
VTHボルトを越えるとトランジスタ74がオンしオプ
ションパッド71および配線76の電位は除々に下げら
れ接地電位GNDに近づきロウレベル信号VOLにな
る。このロウレベル信号VOLがインバータ73に入力
されこの初期状態設定回路70は出力端子72にハイレ
ベル信号VOHを出力信号VOUTとして出力する。
【0010】一方、オプションパッド71に電源線がボ
ンディングされる場合は、電源が投入され電源電位が0
ボルトから5ボルトのレベルに立上ると、NチャネルM
OSトランジスタ74の電流駆動能力が充分小さいので
配線76の電位は電源電位VCCとなりハイレベル信号
VOHになる。このハイレベル信号VOHがインバータ
73に入力されこの初期状態設定回路70は出力端子7
2にロウレベル信号VOLを出力信号VOUTとして出
力する。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】この従来の半導体DR
AMの初期状態設定回路において、オプションパッド7
1に電源線がボンディングされる場合、電源が投入され
て電源電位VCCのレベルまで立上った後この半導体D
RAMが通常動作の時トランジスタ74は通常オン状態
となっている。したがって、オプションパッド71から
トランジスタ74を介して接地端子75へ電流i7が流
れ、この電流により半導体DRAMの待機電流特性を悪
化させるという問題点があった。
【0012】また、上述の電流を少なくして待機電流特
性を改善するためにトランジスタ74の電流駆動能力の
設定を、例えば、数nA程度に小さくし過ぎると、オプ
ションパッド71に何もボンディングしない場合、電源
が投入され充分に電源電位VCCのレベルに立上った後
のタイミングでオプションパッド71および配線76の
電位は充分に接地電位GNDに下げられずハイレベル信
号VOHのまま留っている。
【0013】すなわち、このタイミングでオプションパ
ッド71および配線76の電位は、所望のレベルはロウ
レベル信号VOLの電位であるが上述のようにハイレベ
ル信号VOHの電位であるためこの初期状態設定回路7
0の出力VOUTはロウレベルを出力してしまい、誤設
定をする問題点もあった。
【0014】したがって、本発明の目的は、初期状態設
定回路の待機電流が実用上少なく、かつ初期状態設定時
間の短い誤設定を防止する初期状態設定回路を提供する
ことにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明の初期状態設定回
路は、電源線または接地線をボンディングするかしない
かで半導体装置の機能を選択するためのポンディングパ
ッドと、前記ボンディングパッドにソース/ドレイン電
流路の一端を接続し前記電流路の他端を所定の電位に接
続し前記ボンディングパッドに前記電源線または接地線
がボンディングされる時とボンディングされない時とで
前記ボンディングパッドが所望の電位になるよう所定の
電位を出力する第1の電界効果トランジスタを有する初
期状態設定回路において、電源投入時に前記電源が一定
値の電圧以上になるまで所望のレベルを出力するパワー
オン回路と、前記第1の電界効果トランジスタの電流駆
動能力よりも大きな電流駆動能力を有する第2の電界効
果トランジスタと、第1の入力端子に前記パワーオン回
路の出力信号を入力して前記第2の電界効果トランジス
タをオンさせ前記パワーオン回路の出力信号の入力後第
2の入力端子に制御信号を入力して前記第2の電界効果
トランジスタをオフする制御回路とを備える。 また、
本発明の初期状態設定回路は、前記第2の電界効果トラ
ンジスタは前記第1の電界効果トランジスタに並列に接
続される構成でもよい。
【0016】またさらに、本発明の初期状態設定回路
は、前記制御信号は反転RAS信号である構成でもよ
い。
【0017】さらに、本発明の初期状態設定回路は、前
記制御回路はそれぞれの出力をたすきがけ接続する2入
力NOR回路で構成するラッチ回路であってもよい。
【0018】さらにまた、本発明の初期状態設定回路
は、前記第1および第2の電界効果トランジスタはそれ
ぞれNチャネルMOSトランジスタである構成を有して
いてもよいし、前記第1および第2の電界効果トランジ
スタはそれぞれPチャネルMOSトランジスタである構
成を有していてもよい。
【0019】また、本発明の初期状態設定回路は、前記
半導体装置はダイナミック・ランダム・アクセス・メモ
リである構成としてもよい。
【0020】
【実施例】次に、本発明の第1の実施例の初期状態設定
回路の回路図を示す図1を参照すると、この第1の実施
例の初期状態設定回路10は電源電位線をボンディング
するかしないかのオプションパッド11と、このオプシ
ョンパッド11にその入力を接続するインバータ13
と、インバータ13の出力VOUTの供給を受ける出力
端子12と、ゲート電源電位VCCに接続し、ソースを
端子15を介して接地電位GNDに接続しドレインを上
記オプションパッド11からの配線16に接続するNチ
ャネルMOSトランジスタ14と、電源投入時に電源の
電位が0ボルトからV0ボルトに立上る間ハイレベルV
OHを出力し電源の電位V0ボルトから5ボルトに立上
る間はローレベルVOLを出力するパワーオン回路1
と、NチャネルMOSトランジスタ14の電流能力より
も大きな電流駆動能力を有しそのドレインを配線16に
接続しドレインを端子15を介して接地電位GNDに接
続してNチャネルMOSトランジスタ14と並列接続す
るNチャネルMOSトランジスタ4とを有している。さ
らに、この初期状態設定回路10は、反転RAS信号に
同期し逆相の位相を有する制御信号φの供給を受ける入
力端子3と、この入力端子3に接続する端子24および
パワーオン回路1の出力信号PONを受ける端子25と
この端子25をその入力の一端とし入力の他端を2入力
NOR回路21の出力をフィードバックする2入力NO
R回路22と制御信号φを受ける端子24をその入力の
一端ととし入力の他端を2入力NOR回路22の出力を
フィードバックする2入力NOR回路21とでフリップ
フロップ回路を構成し2入力NOR回路22の出力を受
け出力端子26にその出力を出力するインバータ23と
から成り出力端子26をNチャネルMOSトランジスタ
4のゲートに接続する制御回路2とを有して成る構成で
ある。また、NチャネルMOSトランジスタ4およびN
チャネルMOSトランジスタ14の電流駆動能力を、例
えば、それぞれ数10μAおよび数nAに設定する。
【0021】次に、本発明の第1の実施例の初期状態設
定回路10のタイミング図を示す図2および図3を併せ
て参照して、この実施例の初期状態設定回路10の動作
を説明する。
【0022】まず、オプションパッド11に電源線がボ
ンディングされない場合のこの実施例の動作を図2を参
照して説明する。
【0023】電源が投入され電源電位VCCが0ボルト
から立上り始めると、パワーオン回路1はその出力PO
Nにハイレベル信号VOHを出力する。この出力信号P
ONを入力信号として2入力NOR回路22はロウレベ
ルを出力しこの信号をフィードバックして2入力NOR
回路21に入力する。2入力NOR回路の出力はハイレ
ベルとなり2入力NOR回路21および22で構成され
るフリップフロップ回路は初期化され、接点Aはロウレ
ベルとなる。また、インバータ23を介して制御回路2
の出力端子26にはハイレベルの信号が出力される。
【0024】したがって、トランジスタ4のゲートには
ハイレベル信号が入力されるのでトランジスタ4はオン
し、駆動電流iによってオプションパッド11および配
線16の電位は急激に下げられる。すなわち接点Cの電
位は接地電位レベルまで下る。
【0025】次に、時刻t1を過ぎると、パワーオン回
路1はその出力PONにロウレベル信号VOLを出力す
る。しかしながら、この時刻t1では反転RAS信号の
逆位相信号φはロウレベルのままであるので2入力NO
R回路21および22で構成されるフリップフロップ回
路はラッチされおり接地Aの電位はロウレベルのままで
接点Bはハイレベルを保つ。
【0026】したがって、この初期状態設定回路10の
駆動能力の大きなNチャネルMOSトランジスタ4によ
りオプションパッド11および配線16の電位は0ボル
トまで充分に下げることができる。(図2の接点Cの電
位)さらに、時刻t2になると、反転RAS信号の逆相
信号φがハイレベルに変化する。信号φは制御回路2の
入力端子24を介して2入力NOR回路21に入力さ
れ、上述フリップフロップ回路はこの信号φを受けて接
点Aにハイレベルを出力し、インバータ23を介して制
御回路2の出力端子26にはロウレベルの信号が出力さ
れる。
【0027】したがって、トランジスタ4のゲートには
ロウレベル信号が入力されるのでトランジスタ4はオフ
する。しかし、この初期状態設定回路10のトランジス
タ14はそのゲートに電源電位VCCが入力されている
のでこのトランジスタ14は常にオンしたままでありト
ランジスタ4によりその電位を下げたオプションパッド
11および配線16の電位は、トランジスタ14により
接地電位に保たれる。
【0028】次に、オプションバッド11に電源線がボ
ンディングされる場合のこの実施例の動作を図3を併せ
て参照して説明すると、電源が投入され電源電位VCC
が0ボルトから立上り始めると、パワーオン回路1はそ
の出力PONにハイレベル信号VOHを出力し、制御回
路2はその出力端子26にハイレベルの信号の出力しト
ランジスタ4がオン状態になるのは前述のオプションパ
ッド11に電源線がボンディングされない場合と同様で
ある。さらにこのパワーオン回路1がその出力PONに
ロウレベル信号VOLを出力する時刻t1から反転RA
S信号の逆相信号φがハイレベルに変化し、トランジス
タ4がオフする時刻t2までの間のこの実施例の初期状
態設定回路10のパワーオン回路1および制御回路2お
よびトランジスタ4の動作も前述のオプションパッド1
1に電源線がボンディングされない場合の動作と同じで
ある。
【0029】したがって、電源電位VCCが0ボルトか
ら立上り時刻t2までの間はトランジスタ4はオン状態
を保ち、トランジスタ4のドレインはオプションパッド
11から配線16を介して電源電位VCCが接続されて
いるので、トランジスタ4には電流が流れる。また、ト
ランジスタ14もオン状態であるので電流が流れる。
【0030】さらに、時刻t2になる反転RAS信号の
逆相信号φがハイレベルになりトランジスタ4はオフす
る。しかしトランジスタ14はそのゲートに電源電位V
CCが入力されているのでこのトランジスタ14による
待機時電流分ISが流れるがその電流値は数nAと微少
な値に設定できるので実用上無視できる。
【0031】すなわち、この初期状態設定回路10のオ
プションパッド11および配線16の電位は電源電位V
CCの5ボルト値が保たれる。
【0032】次に、本発明の第2の実施例の初期状態設
定回路の回路図を示す図4ならびに本発明の第2の実施
例の初期状態設定回路の動作を説明するタイミング図で
ある図5および図6を参照して、本発明の第2の実施例
の初期状態設定回路を説明する。
【0033】図4を参照すると、この実施例の初期状態
設定回路40は、接地線をボンディングするかしないか
のオプションパッド41とこのオプションパッド41に
その入力を接続するインバータ53と、インバータ53
の出力VOUTの供給を受ける出力端子52と、ゲート
を接地電位GNDに接続しソースを端子55を介して電
源電位VCCに接続しドレインを上記オプションパッド
41からの配線56に接続するPチャネルMOSトラン
ジスタ54と、電源投入時に電源の電位が0ボルトから
Vφボルトに立上る間ハイレベルVOHを出力し電源の
電位Vφボルトから5ボルトに立上る間はローレベルV
OLを出力するパワーオン回路41と、PチャネルMO
Sトランジスタ54の駆動能力よりも大きな駆動能力を
有しそのドレインを配線56に接続しドレインを端子5
5を介して電源電位VCCに接続してPチャネルMOS
トランジスタと並列接続するPチャネルMOSトランジ
スタ44を有する構成である。
【0034】さらに、この初期状態設定回路40は、反
転RAS信号に同期し逆相を有する制御信号φ4の供給
を受ける入力端子43と、この入力端子43に接続する
端子64およびパワーオン回路41の出力信号PON4
を受ける端子65とこの端子65をその入力端子の一端
とし入力の他端を2入力NOR回路61の出力をフィー
ドバックする2入力NOR回路62と制御信号φ4を受
ける端子64とこの端子64をその入力端子の一端とし
入力の他端を2入力NOR回路62の出力をフィードバ
ック入力する2入力NOR回路61とでフリップフロッ
プ回路を構成し2入力NOR回路62の出力の供給を受
ける端子66とから成りこの端子66をPチャネルトラ
ンジスタ44のゲートに接続する制御回路42とを有す
る構成である。またPチャネルMOSトランジスタ44
の電流駆動能力をPチャネルMOSトランジスタ54の
電流駆動能力より大きく設定し、例えば、トランジスタ
44の電流駆動能力を10〜50μAとしトランジスタ
54の電流駆動能力を1〜5nA程度と設定する。
【0035】次に、本発明の第2の実施例の初期状態設
定回路40の動作を図5および図6を併せて参照して説
明する。
【0036】この実施例の初期状態設定回路40のパワ
ーオン回路41は第1の実施例のパワーオン回路1と同
じ動作をするのでその動作の詳細な説明は省略する。次
に、制御回路42の構成は第1の実施例の制御回路2か
らインバータ23を省いた構成であるので、制御回路4
2は制御回路2の反転信号を出力する。この制御回路4
2のタイミング関係は第1の実施例の制御回路2と同様
に説明できるので詳細な説明は省略する。
【0037】したがって、オプションパッド41に接地
線がボンディングされない場合のこの初期状態設定回路
40の動作の概要は、時刻t2までの間に駆動能力の大
きなPチャネルMOSトランジスタ44によりオプショ
ンパッド41および配線56の電位を5ボルトまで充分
に持ち上げることができる。(図4の接点C4の電位)
さらに、時刻t2になると、トランジスタ44はオフし
トランジスタ54によりオプションパッド41および配
線の電位は電源電位VCCに保つことができる。さら
に、オプションパッド41に接地線がボンディングされ
る場合、この実施例の初期状態設定回路40は電流駆動
能力の小さいトランジスタ54はオンしているがその待
機電流は実用上無視できる程度に設定できオプションパ
ッド41および配線56電位を接地電位に設定できる。
【0038】この結果、本発明の第1の実施例の初期状
態設定回路10をプルアップ型の設定回路とし、本発明
の第2の実施例の初期状態設定回路40をプルダウン型
の設定回路として汎用の半導体装置の初期状態設定回路
として応用できる。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように、本発明はより小さ
な電流駆動能力に設定したトランジスタに反転RAS信
号により制御できる大きな電流駆動能力を有するトラン
ジスタを並列接続する構成としたので誤設定の防止でき
る待機時電流の少ない初期設定回路が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の初期状態設定回路の回
路図である。
【図2】図1に示す実施例のタイミング図である。
【図3】図1に示す実施例の他のタイミング図である。
【図4】本発明の第2の実施例の初期状態設定回路の回
路図である。
【図5】図4に示す実施例のタイミング図である。
【図6】図4に示す実施例の他のタイミング図である。
【図7】従来技術の初期状態設定回路の回路図である。
【符号の説明】
1,41 パワーオン回路 2,42 制御回路 3,43 入力端子 4,14 NチャネルMOSトランジスタ 10,40,70 初期状態設定回路 11,51,71 オプションパッド 12,52,72 出力端子 13,23,53,73 インバータ 15,24,25,26,55,64,65,66,7
5 端子 16,56,76 配線 A,B,C,D,A4,C4,D4 接点 GND 接地電位 i,i4 電流 PON,PON4 パワーオン回路の出力 VCC 電源電位 VOUT 出力信号 φ,φ4 制御信号 反転RAS RAS信号の反転信号

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電源線または接地線をボンディングする
    かしないかで半導体装置の機能を選択するためのポンデ
    ィングパッドと、前記ボンディングパッドにソース/ド
    レイン電流路の一端を接続し前記電流路の他端を所定の
    電位に接続し前記ボンディングパッドに前記電源線また
    は接地線がボンディングされる時とボンディングされな
    い時とで前記ボンディングパッドが所望の電位になるよ
    う所定の電位を出力する第1の電界効果トランジスタを
    有する初期状態設定回路において、電源投入時に前記電
    源が一定値の電圧以上になるまで所望のレベルを出力す
    るパワーオン回路と、前記第1の電界効果トランジスタ
    の電流駆動能力よりも大きな電流駆動能力を有する第2
    の電界効果トランジスタと、第1の入力端子に前記パワ
    ーオン回路の出力信号を入力して前記第2の電界効果ト
    ランジスタをオンさせ前記パワーオン回路の出力信号の
    入力後第2の入力端子に制御信号を入力して前記第2の
    電界効果トランジスタをオフする制御回路とを備えるこ
    とを特徴とする初期状態設定回路。
  2. 【請求項2】 前記第2の電界効果トランジスタは前記
    第1の電界効果トランジスタに並列に接続されることを
    特徴とする請求項1記載の初期状態設定回路。
  3. 【請求項3】 前記制御信号は反転RAS信号であるこ
    とを特徴とする請求項1または2記載の初期状態設定回
    路。
  4. 【請求項4】 前記制御回路は、それぞれの出力をたす
    きがけ接続する2入力NOR回路で構成するラッチ回路
    であることを特徴とする請求項1,2または3記載の初
    期状態設定回路。
  5. 【請求項5】 前記第1および第2の電界効果トランジ
    スタはそれぞれNチャネルMOSトランジスタであるこ
    とを特徴とする請求項1,2,3または4記載の初期状
    態設定回路。
  6. 【請求項6】 前記第1および第2の電界効果トランジ
    スタはそれぞれPチャネルMOSトランジスタであるこ
    とを特徴とする請求項1,2,3または4記載の初期状
    態設定回路。
  7. 【請求項7】 前記半導体装置はダイナミック・ランダ
    ム・アクセス・メモリであることを特徴とする請求項
    1,2,3,4,5または6記載の初期状態設定回路。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63136714A (ja) * 1986-11-27 1988-06-08 Nec Corp 半導体集積回路
JPH01280923A (ja) * 1988-05-07 1989-11-13 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
JPH03203088A (ja) * 1989-12-28 1991-09-04 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
JPH0512861A (ja) * 1991-07-04 1993-01-22 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63136714A (ja) * 1986-11-27 1988-06-08 Nec Corp 半導体集積回路
JPH01280923A (ja) * 1988-05-07 1989-11-13 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
JPH03203088A (ja) * 1989-12-28 1991-09-04 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
JPH0512861A (ja) * 1991-07-04 1993-01-22 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置

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