JPH06265310A - 位置測定装置 - Google Patents

位置測定装置

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JPH06265310A
JPH06265310A JP3034480A JP3448091A JPH06265310A JP H06265310 A JPH06265310 A JP H06265310A JP 3034480 A JP3034480 A JP 3034480A JP 3448091 A JP3448091 A JP 3448091A JP H06265310 A JPH06265310 A JP H06265310A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 構造が単純で、占有空間を節約し、構成部品
のぐらつきや回転に対して鈍感で、測定方向に一致しな
い格子の平行移動があっても誤差信号とならない位置測
定装置を提供することにある。 【構成】 位置測定装置1は、主に間隔センサとして使
用される。多数の回折格子4,7での回折とビーム分割
および三重プリズム8での反射によって、干渉する部分
ビーム束5,6が発生する。これ等のビーム束の光路差
ΔOPDは回折格子4,7の間隔変化に直接比例してい
る。この光路差ΔOPDは検出器装置によって明暗の変
調として検出される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、一つの照明装置と、
少なくとも一つの格子目盛で光りビームを回折させて互
いに相対運動する二つの対象物の位置を測定する一つの
検出装置とを備え、少なくとも一個の光学部材によっ
て、照明ビームを種々の方向に進行する部分ビーム束に
分割する位置測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の位置測定装置は、例えば西独特
許第 37 00 906号明細書により公知である。これ等の公
知の位置測定装置では、使用する格子の法線方向に垂直
な相対平行移動が測定される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この発明の課題は、単
純に、しかも場所を節約して形成でき、構成部品のぐら
つきおよび/または回転に対して非常に鈍感で、測定方
向に一致しない格子の平行移動がある場合でも、誤差信
号をもたらさない位置測定装置を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記の課題は、この発明
により、冒頭に述べた種類の位置測定装置の場合、分割
位置の平面に平行な平面に回折格子を装備し、この回折
格子のところで部分ビーム束を互いに平行に指向するよ
うに回折させて、平行な部分ビーム束として逆反射部材
を通過させ、再び回折格子に入射させ、新たに回折さ
せ、前記平面の光学部材に導き、そこで干渉させ、両方
の平面の間隔変化がある場合、干渉する部分ビーム束に
間隔の変化に直接比例する光路差の相違が生じ、検出器
装置によって明暗変調として検出されることによって解
決されている。
【0005】
【作 用】この発明では、少なくとも一つの回折格子の
法線方向の相対移動が測定される。この発明による装置
を間隔センサとして有利に使用できる。反射体が装備し
てあるが、この装置はマイケルソンの干渉計ではない。
何故なら、干渉計で特徴とする基準ビームの構成を欠い
ているからである。
【0006】この発明による位置測定装置は、言わば、
干渉計と干渉で動作する格子発生器の間の中間に位置す
る。
【0007】
【実施例】この発明を以下に図面に基づき例示的により
詳しく説明する。
【0008】図1に示す間隔センサ1には、照明装置と
してレーザー光源2がある。この光源は照明ビーム3を
平面E1内にある回折格子4に出射する。この回折格子
4によって、照明ビーム3は二つの部分ビーム束5と6
に分割される。ここでは、当然、その他の光学部材も照
明ビーム3を分割するために使用できる点に注意すべき
である。回折格子4がある分割位置の平面E1に平行な
平面E2には、他の回折格子7がある。この回折格子7
で、部分ビーム束5と6がもう一度回折する。回折格子
7で反転した後、これ等の部分ビーム束5と6は互いに
平行に進行して、三重プリズム8に入射する。このプリ
ズムを通過して、もう一度互いに平行な部分ビーム束と
して再び平面E2の回折格子7に入射する。これ等の部
分ビーム束は平面E1の回折格子4で干渉するように回
折する。部分ビーム束5と6は分裂して異なった長さの
光り通路が一致するまで通過する。このことは、国際的
な慣用語「光路差」の略記として光路差OPDと名付け
る。
【0009】回折格子4と7の間隔は平面E1とE2の
中で変化すると、部分ビーム束5と6の光路差も変わ
る。即ち、平面E1とE2が互いに近づくと、光路差O
PDはより短くなり、平面の間隔が広がると、光路差O
PDも大きくなる。
【0010】図1に、この場合は平面E2′の回折格子
7が元の平面E2から間隔Dsのところにあるように示
してある。従って、部分ビーム束6′に対して部分ビー
ム束6に対するより長い光学通路が生じる。それに反し
て、部分ビーム束5に対する光学通路に変化がない。破
線で示すビーム通路6′の流れによってこのことが示し
てある。
【0011】両方の回折格子4と7の法線方向の相対運
動は、その間隔変化Dsに直接比例する干渉する部分ビ
ーム束5と6の光路差DOPDを有する。このことは、
検出器装置によって明暗変調として検出される。この検
出器装置は、ここでは空間的にレーザー光源2の背後に
あるが、図示しない。
【0012】図2には、それ自体明白となる模式的な平
面図が示してある。回折格子4が絶対的にただ一個の格
子で構成する必要がないことを示している。図示した部
分格子は、必ずしも共通の平面E1にない。段も可能
で、この構成は回折格子を設計する場合に考慮する必要
がある。同じことが第二回折格子7にも当てはまる。
【0013】図3,4は、図1の間隔センサ1の変形を
示している。ここでは、このセンサは符号2に相当する
参照符号21が付けてある。
【0014】レーザー光源22は照明ビーム23を回折
格子24に指向させる。この回折格子で部分ビーム束2
5と26が発生する。これ等の部分ビーム束は前記回折
格子24に平行に間隔をおいて設置された二つの回折格
子27に向かう。これ等の回折格子24と27によっ
て、互いに一定間隔を有する二つの平行平面E21とE
22が定まる。
【0015】回折格子27では、部分ビーム束25と2
6が新たな回折によって互いに平行に指向し、互いに平
行に逆反射部材(三重プリズム28)を通過し、再び回
折格子27に再び入射する。部分ビーム束は干渉できる
ように、この回折格子27によってもう一度回折して回
折格子24に向かう。
【0016】検出器20は明暗変調を検出する。この変
調は、部分ビーム束25と26が干渉する場合、光路差
のために、図1と2で既に説明したように生じる。
【0017】図4から、実現するのに単一回折格子24
でも充分であることが判る。照明部と検出器に対して平
行に移動することが必要でないか、あるいは望ましない
場合、逆反射部材28を 90 °プリズムに還元される。
このプリズムは一平面内で逆反射特性を有するが、ここ
では図示しない。
【0018】図示する透過光の構成例と異なり、この発
明は反射装置の場合にも実現できる。このことは、異な
った構成要素の幾何学配置を必要とするが、特許請求の
範囲の請求項1の保護範囲ではない。
【0019】この変形種は図5に既に説明した例に対応
させて図示してある。ここでも、構成要素に対応させ
て、再び図の参照符号を先のように設定してある。
【0020】光源から照明ビーム33が出射し、回折格
子34によって部分ビーム束35と36に分裂する。こ
れ等の部分ビーム束は異なった方向に進行する。
【0021】この実施例の特異なことは、回折格子34
と37の間にある三重プリズム38である。この三重プ
リズム38では、先端が遠くにあり、部分ビーム束35
と36が通常のように底にあるのでなく、底に対向する
平面に入射する。この平面は先端を切り落として生じた
ものである。
【0022】異なった屈折率を考慮することなく(他の
実施例の場合のように、ここでは無視できる)、部分ビ
ーム束35と36は三重プリズムに影響を与えないで、
言わば裏から通り抜け、回折格子37に入射する。前記
回折格子は、この場合反射格子として形成されている。
この反射格子37では、部分ビーム束35と36は回折
によって互いに平行に指向し、前記実施例で既に説明し
たように、底から三重プリズム38に入射する。これ等
の部分ビーム束は、既に説明したように、この三重プリ
ズム38を通過し、平行な部分ビーム束35と36とし
て再び回折格子37に入射する。そこでは、これ等の部
分ビーム束が再び回折し、三重プリズム38の底に対向
する平面によって回折格子34に反射される。そこで、
部分ビーム束は互いに干渉し、明暗変調が検出される。
【0023】両方の格子34と37の間隔変化は、この
実施例でも再び干渉する部分ビーム束35と36の比例
光路差になる。このビーム束の明暗変調は間隔の測定信
号を与える。
【0024】望ましい信号周期は、どの実施例の場合で
も、光の波長及び/又は格子定数を適当に設計して設定
される。位相のずれた信号を、公知の方法で、偏光光学
的にあるいは分離格子を位相格子として適切に設計して
発生させる。
【0025】
【発明の効果】この発明による位置測定装置は、特に間
隔センサとして使用でき、干渉計と干渉で動作する格子
発生器の間の中間に位置する役目を演ずる。
【図面の簡単な説明】
【図1】分離している分割格子と一致格子を備えた間隔
センサの縦断面を示す模式図である。
【図2】図1の装置の格子面への投影を示す平面図であ
る。
【図3】ただ一個の分割格子または一致格子を備えた間
隔センサの縦断面を示す模式図である。
【図4】図3の装置の格子面への投影を示す平面図であ
る。
【図5】所謂反射構成にした変形種装置の断面を示す模
式図である。
【符号の説明】
1 間隔センサ 2,22 レーザー光源 3,23,33 照明ビーム 4,7,24,27,34,37 回折格子 5,6,6′,25,26,35,36 部分ビーム束 20 センサ 28,38 三重プリズム E1,E2,E2′E21,E22 平面 Ds 間隔変化 OPD 光路差 DOPD 間隔変化に比例する光路差
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年1月28日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0001
【補正方法】変更
【補正内容】
【0001】この発明は、一つの照明装置と、少なくと
も一つの格子目盛で光りビームを回折させて互いに相対
運動する二つの対象物の位置を測定する一つの検出装置
とを備え、少なくとも一個の光学部材によって、照明ビ
ームを種々の方向に進行する部分ビーム束に分割すし、
回折格子の垂直方向の相対移動を測定する位置測定装置
に関する。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0004
【補正方法】変更
【補正内容】
【0004】
【課題を解決する手段】上記の課題は、この発明によ
り、冒頭に述べた種類の位置測定装置の場合、分割位置
の平面E1;E21に平行な平面E2;E22に回折格
子7;27;37を装備し、この回折格子のところで部
分ビーム束5,6;25,26;35,36を互いに平
行に指向するように回折させて、平行な部分ビーム束
5,6;25,26;35,36として逆反射部材8;
28;38を通過させ、再び回折格子7;27;37に
入射させ、新たに回折させ、前記平面E1の光学部材
4;24;34に導き、そこで干渉させて、両方の平面
E1;E21とE2;E22の間隔に変化Δsがある場
合、干渉する部分ビーム束5,6;25,26;35,
36に間隔の変化に直接比例する光路差ΔOPDが生じ
ることによって解決されている。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0011
【補正方法】変更
【補正内容】
【0011】両方の回折格子4と7の法線方向の相対運
動は、その間隔変化Δsに直接比例する干渉部分ビーム
束5と6の光路差ΔOPDを有する。このことは、検出
器装置によって明暗変調として検出される。この検出器
装置は、ここでは空間的にレーザー光源3の背後にある
が、図示しない。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ウアルター・フーバー ドイツ連邦共和国、トラウンシユタイン、 エッテンドルフエル・ウエーク、6 (72)発明者 エルウイン・シユパンナー ドイツ連邦共和国、トラウンシユタイン、 フオルストマイエルストラーセ、12

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一つの照明装置と、少なくとも一つの格
    子目盛で光りビームを回折させて互いに相対運動する二
    つの対象物の位置を測定する一つの検出装置とを備え、
    少なくとも一個の光学部材によって、照明ビームを種々
    の方向に進行する部分ビーム束に分割する位置測定装置
    において、分割位置の平面(E1;E21)に平行な平
    面(E2;E22)に回折格子(7;27;37)を装
    備し、この回折格子のところで部分ビーム束(5,6;
    25,26;35,36)を互いに平行に指向するよう
    に回折させて、平行な部分ビーム束(5,6;25,2
    6;35,36)として逆反射部材(8;28;38)
    を通過させ、再び回折格子(7;27;37)に入射さ
    せ、新たに回折させ、前記平面(E1)の光学部材
    (4;24;34)に導き、そこで干渉させ、両方の平
    面(E1;E21とE2;E22)の間隔変化(Ds)
    がある場合、干渉する部分ビーム束(5,6;25,2
    6;35,36)に間隔の変化に直接比例する光路差の
    相違(DOPD)が生じ、検出器装置(10;20)に
    よって明暗変調として検出されることを特徴とする位置
    測定装置。
  2. 【請求項2】 光学分割部材は、回折格子、好ましくは
    位相格子(4;24;34)であることを特徴とする請
    求項1に記載の位置測定装置。
  3. 【請求項3】 逆反射部材は、 90 °プリズム、好まし
    くは三重プリズム(8;28;38)であることを特徴
    とする請求項1に記載の位置測定装置。
  4. 【請求項4】 三重プリズム(8;28)は、回折格子
    (4,7;24,27)に後置されていることを特徴と
    する請求項1に記載の位置測定装置。
  5. 【請求項5】 三重プリズム(38)は、二つの回折格
    子(34,37)の間に配設されていることを特徴とす
    る請求項1に記載の位置測定装置。
  6. 【請求項6】 三重プリズム(38)の先端は離れてい
    ることを特徴とする請求項5に記載の位置測定装置。
  7. 【請求項7】 回折格子(37)は反射格子として形成
    されていることを特徴とする請求項5に記載の位置測定
    装置。
  8. 【請求項8】 回折格子(4,7;24,27;34,
    37)は多部品で形成されていることを特徴とする請求
    項1または2に記載の位置測定装置。
JP3034480A 1990-03-01 1991-02-28 位置測定装置 Expired - Lifetime JPH0785010B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

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DE4006365A DE4006365A1 (de) 1990-03-01 1990-03-01 Positionsmesseinrichtung
DE40063658 1990-03-01

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JPH06265310A true JPH06265310A (ja) 1994-09-20
JPH0785010B2 JPH0785010B2 (ja) 1995-09-13

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ID=6401165

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3034480A Expired - Lifetime JPH0785010B2 (ja) 1990-03-01 1991-02-28 位置測定装置

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US (1) US5206704A (ja)
EP (1) EP0448982B1 (ja)
JP (1) JPH0785010B2 (ja)
AT (1) ATE111593T1 (ja)
DE (2) DE4006365A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004509329A (ja) * 2000-09-14 2004-03-25 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 位置測定装置

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH074993A (ja) * 1993-03-23 1995-01-10 Ricoh Co Ltd エンコーダ装置
US5428446A (en) * 1993-03-29 1995-06-27 Ziegert; John C. Measurement instrument with interferometer and method
US5671050A (en) * 1994-11-07 1997-09-23 Zygo Corporation Method and apparatus for profiling surfaces using diffracative optics
US5526116A (en) * 1994-11-07 1996-06-11 Zygo Corporation Method and apparatus for profiling surfaces using diffractive optics which impinges the beams at two different incident angles
US5598265A (en) * 1995-04-06 1997-01-28 Zygo Corporation Method for profiling an object surface using a large equivalent wavelength and system therefor
US6654128B2 (en) * 1997-06-30 2003-11-25 Canon Kabushiki Kaisha Displacement information detecting apparatus
EP1028309B1 (de) 1999-02-04 2003-04-16 Dr. Johannes Heidenhain GmbH Optische Positionsmesseinrichtung
DE19908328A1 (de) 1999-02-26 2000-08-31 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Optische Positionsmeßeinrichtung
CN1253699C (zh) * 2002-03-18 2006-04-26 株式会社三丰 对偏移具有低灵敏度的光学位移传感装置
US7209235B2 (en) * 2002-07-11 2007-04-24 Hymite A/S Accurate positioning of components of a optical assembly
DE102005043569A1 (de) 2005-09-12 2007-03-22 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung
CN110553580B (zh) * 2019-06-04 2022-05-20 南京英特飞光电技术有限公司 一种倾斜入射相移干涉仪和直角棱镜大面测量方法

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3738753A (en) * 1970-09-21 1973-06-12 Holograf Corp Interferometer utilizing gratings to measure motion
DE2431551C2 (de) * 1974-07-01 1981-09-17 Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar Anordnung zur Messung von Bewegungen und Geschwindigkeiten
JPS57179811A (en) * 1981-04-28 1982-11-05 Canon Inc Image reading device
FR2538923A1 (fr) * 1982-12-30 1984-07-06 Thomson Csf Procede et dispositif d'alignement optique de motifs dans deux plans rapproches dans un appareil d'exposition comprenant une source de rayonnement divergent
GB8320629D0 (en) * 1983-07-30 1983-09-01 Pa Consulting Services Displacement measuring apparatus
DE3486178T2 (de) * 1983-11-04 1993-10-21 Sony Magnescale Inc Optisches Instrument zur Messung einer Verschiebung.
GB8413955D0 (en) * 1984-05-31 1984-07-04 Pa Consulting Services Displacement measuring apparatus
GB2185314B (en) * 1986-01-14 1990-09-26 Canon Kk Encoder
JPS62172203A (ja) * 1986-01-27 1987-07-29 Agency Of Ind Science & Technol 相対変位測定方法
FR2594113B1 (fr) * 1986-02-07 1991-05-17 Degremont Procede et installation pour l'epuration d'eaux residuaires, notamment d'eaux residuaires urbaines
FR2598797B1 (fr) * 1986-05-07 1990-05-11 Nippon Telegraph & Telephone Procede de mesure et/ou d'ajustement du deplacement d'un objet et appareil pour la mise en oeuvre de ce procede
DE3615875A1 (de) * 1986-05-10 1987-11-12 Bosch Gmbh Robert Handwerkzeugmaschine, vorzugsweise bohrmaschine
DE3625327C1 (de) * 1986-07-26 1988-02-18 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Lichtelektrische Positionsmesseinrichtung
DE3633574A1 (de) * 1986-10-02 1988-04-14 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Lichtelektrische winkelmesseinrichtung
US4728193A (en) * 1986-12-11 1988-03-01 Hughes Aircraft Company Precision automatic mask-wafer alignment system
DE3789901T2 (de) * 1987-01-13 1994-12-22 Thomas Dewitt Entfernungsmessung mit hilfe von diffraktion.
JP2590904B2 (ja) * 1987-07-31 1997-03-19 ソニー株式会社 光学ヘッド装置
JPH0778433B2 (ja) * 1988-07-19 1995-08-23 キヤノン株式会社 ロータリーエンコーダ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004509329A (ja) * 2000-09-14 2004-03-25 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 位置測定装置

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