JPH06258142A - 加熱炉内の物体温度測定方法および装置 - Google Patents
加熱炉内の物体温度測定方法および装置Info
- Publication number
- JPH06258142A JPH06258142A JP5047829A JP4782993A JPH06258142A JP H06258142 A JPH06258142 A JP H06258142A JP 5047829 A JP5047829 A JP 5047829A JP 4782993 A JP4782993 A JP 4782993A JP H06258142 A JPH06258142 A JP H06258142A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- measured
- heating furnace
- spectral radiance
- wavelengths
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 加熱炉内の物体温度測定方法および装置を提
供する。 【構成】 加熱炉１内の被測定物体２表面から発する分
光放射輝度エネルギーから異なる２波長Ｌ1 ，Ｌ2 を検
出する２波長放射温度計４と、加熱炉１の炉壁温度ＴS
を検知する熱電対５と、これらの検知信号により物体表
面２の温度を演算する演算装置７とからなり、この演算
装置７において２波長放射温度計４からのそれぞれの分
光放射輝度エネルギー信号Ｌ1 ，Ｌ2 から物体表面反射
エネルギー値を差し引いた量に関する値の測定波長の累
乗値は相等しいという関係式と、予めオフラインで求め
られた被測定物体２の２波長での分光放射率の関係式と
を連立させて分光放射率を求めて表面温度ＴS を演算す
ることにより、炉内の被測定物体温度をオンラインで測
定することを実現する。
供する。 【構成】 加熱炉１内の被測定物体２表面から発する分
光放射輝度エネルギーから異なる２波長Ｌ1 ，Ｌ2 を検
出する２波長放射温度計４と、加熱炉１の炉壁温度ＴS
を検知する熱電対５と、これらの検知信号により物体表
面２の温度を演算する演算装置７とからなり、この演算
装置７において２波長放射温度計４からのそれぞれの分
光放射輝度エネルギー信号Ｌ1 ，Ｌ2 から物体表面反射
エネルギー値を差し引いた量に関する値の測定波長の累
乗値は相等しいという関係式と、予めオフラインで求め
られた被測定物体２の２波長での分光放射率の関係式と
を連立させて分光放射率を求めて表面温度ＴS を演算す
ることにより、炉内の被測定物体温度をオンラインで測
定することを実現する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、鉄鋼業におけるスラブ
加熱炉のような高温加熱炉内におけるスラブ等の物体の
表面温度を非接触で精度よく測定する方法および装置に
関する。
加熱炉のような高温加熱炉内におけるスラブ等の物体の
表面温度を非接触で精度よく測定する方法および装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】たとえばスラブ加熱炉内において加熱さ
れるスラブの加熱温度の一般的な管理および制御のし方
は、保護管入り熱電対で炉内雰囲気温度を測定し、それ
によりスラブの温度を推定するものであった。この方法
では、スラブの温度を正確に推定することが困難である
ため、焼き上げ時間を長く取ったり設定温度を高めにす
るなど、エネルギーコストの管理上および所望のスラブ
温度に制御できないといった制御上の問題があった。
れるスラブの加熱温度の一般的な管理および制御のし方
は、保護管入り熱電対で炉内雰囲気温度を測定し、それ
によりスラブの温度を推定するものであった。この方法
では、スラブの温度を正確に推定することが困難である
ため、焼き上げ時間を長く取ったり設定温度を高めにす
るなど、エネルギーコストの管理上および所望のスラブ
温度に制御できないといった制御上の問題があった。
【０００３】一方、放射温度計を用いて加熱炉内のスラ
ブ表面温度を非接触で測定する方法もあるが、この場合
は被測定物体の放射率を一定と仮定して測定するため、
放射率の変動や炉壁からの反射による誤差を避けること
ができないという問題があった。このような従来の放射
温度計の有する欠点を解決する手段として、たとえば特
開平３−287025号公報には物体の温度と放射率および周
囲温度の測定方法および装置が開示されている。すなわ
ち、その内容は、被測定物体からの熱放射のうち波長、
偏光、測定角度のいずれかが互いに異なる３種類の分光
放射輝度信号を検出し、それらの各分光放射輝度信号を
被測定物体が発した分光放射輝度信号成分と周囲からの
迷光雑音信号成分との和で表した３つの式と、該分光放
射輝度信号に対応する３つの分光放射率間の関係を表す
独立な２つの式との計５つの式で解くことにより被測定
物体温度、３つの分光放射率、および周囲代表温度を求
めることを特徴とするものである。
ブ表面温度を非接触で測定する方法もあるが、この場合
は被測定物体の放射率を一定と仮定して測定するため、
放射率の変動や炉壁からの反射による誤差を避けること
ができないという問題があった。このような従来の放射
温度計の有する欠点を解決する手段として、たとえば特
開平３−287025号公報には物体の温度と放射率および周
囲温度の測定方法および装置が開示されている。すなわ
ち、その内容は、被測定物体からの熱放射のうち波長、
偏光、測定角度のいずれかが互いに異なる３種類の分光
放射輝度信号を検出し、それらの各分光放射輝度信号を
被測定物体が発した分光放射輝度信号成分と周囲からの
迷光雑音信号成分との和で表した３つの式と、該分光放
射輝度信号に対応する３つの分光放射率間の関係を表す
独立な２つの式との計５つの式で解くことにより被測定
物体温度、３つの分光放射率、および周囲代表温度を求
めることを特徴とするものである。
【０００４】しかしながら、上記した特開平３−287025
号の測定方法の場合は、公知の基礎式の連立で求めると
はしているが具体的な解法が与えられていないことから
実用的でないとか、あるいは基礎式そのものを用いてい
るので求解に時間がかかるなどの問題が潜在している。
号の測定方法の場合は、公知の基礎式の連立で求めると
はしているが具体的な解法が与えられていないことから
実用的でないとか、あるいは基礎式そのものを用いてい
るので求解に時間がかかるなどの問題が潜在している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記のよう
な従来技術の有する課題を解決すべくしてなされたもの
であって、放射温度計を用いてスラブ加熱炉のような高
温の炉内で加熱される被測定物体の表面温度を測定する
際の放射率の変動や炉壁からの反射による誤差を避け得
るのに実用的な加熱炉内の物体温度測定方法および装置
を提供することを目的とする。
な従来技術の有する課題を解決すべくしてなされたもの
であって、放射温度計を用いてスラブ加熱炉のような高
温の炉内で加熱される被測定物体の表面温度を測定する
際の放射率の変動や炉壁からの反射による誤差を避け得
るのに実用的な加熱炉内の物体温度測定方法および装置
を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の加熱炉内の物体
温度測定方法は、加熱炉内の被測定物体表面から発する
異なる２波長の分光放射輝度エネルギーを検出するとと
もに、前記加熱炉の炉壁温度を検知し、これらのそれぞ
れの分光放射輝度エネルギー値から物体表面反射エネル
ギー値を差し引いた量に関する値の測定波長の累乗値は
相等しいという関係式と、予めオフラインで求められた
前記被測定物体の２波長での分光放射率の関係式とを連
立させて分光放射率を求めて表面温度を演算することを
特徴とするものである。
温度測定方法は、加熱炉内の被測定物体表面から発する
異なる２波長の分光放射輝度エネルギーを検出するとと
もに、前記加熱炉の炉壁温度を検知し、これらのそれぞ
れの分光放射輝度エネルギー値から物体表面反射エネル
ギー値を差し引いた量に関する値の測定波長の累乗値は
相等しいという関係式と、予めオフラインで求められた
前記被測定物体の２波長での分光放射率の関係式とを連
立させて分光放射率を求めて表面温度を演算することを
特徴とするものである。
【０００７】また、本発明の加熱炉内の物体温度測定装
置は、加熱炉内の被測定物体表面から発する分光放射輝
度エネルギーから異なる２波長で検出する２波長放射温
度計と、前記加熱炉の炉壁温度を検知する温度計と、こ
れらの検知信号により前記物体表面温度を演算する演算
装置とからなり、該演算装置において前記２波長放射温
度計からのそれぞれの分光放射輝度エネルギー信号から
物体表面反射エネルギー値を差し引いた量に関する値の
測定波長の累乗値は相等しいという関係式と、予めオフ
ラインで求められた前記被測定物体の２波長での分光放
射率の関係式とを連立させて分光放射率を求めて表面温
度を演算するように構成したことを特徴とするものであ
る。
置は、加熱炉内の被測定物体表面から発する分光放射輝
度エネルギーから異なる２波長で検出する２波長放射温
度計と、前記加熱炉の炉壁温度を検知する温度計と、こ
れらの検知信号により前記物体表面温度を演算する演算
装置とからなり、該演算装置において前記２波長放射温
度計からのそれぞれの分光放射輝度エネルギー信号から
物体表面反射エネルギー値を差し引いた量に関する値の
測定波長の累乗値は相等しいという関係式と、予めオフ
ラインで求められた前記被測定物体の２波長での分光放
射率の関係式とを連立させて分光放射率を求めて表面温
度を演算するように構成したことを特徴とするものであ
る。
【０００８】
【作 用】炉内において加熱されるある物体表面からの
熱放射のうち波長の異なる２種類の分光放射輝度エネル
ギー信号を検出したとき、それらの測定信号Ｌ1 ，Ｌ2
は次の式(1) ，(2) で表される。
熱放射のうち波長の異なる２種類の分光放射輝度エネル
ギー信号を検出したとき、それらの測定信号Ｌ1 ，Ｌ2
は次の式(1) ，(2) で表される。
【０００９】
【数１】
【００１０】ここで、ＴW ：炉壁温度、ＴS ：被測定物
体の表面温度、λ1 ，λ2 ：検出されるそれぞれの波
長、ε1 ，ε2 ：実効的なそれぞれの分光放射率、
ｃ1 ，ｃ2：プランクの放射定数である。これら(1) ，
(2) の式において右辺の第１項は対象とされる被測定物
体の放射エネルギー成分を表したものであり、第２項は
炉壁からの反射によるエネルギー成分を表したものであ
る。ここで、上記式を簡単にするために、第２項をｒ
（λ i ，εi ，ＴW ）（ただし、ｉ＝１，２）にそれぞ
れ置き換えたとすると、下記(3) ，(4) 式として整理さ
れる。
体の表面温度、λ1 ，λ2 ：検出されるそれぞれの波
長、ε1 ，ε2 ：実効的なそれぞれの分光放射率、
ｃ1 ，ｃ2：プランクの放射定数である。これら(1) ，
(2) の式において右辺の第１項は対象とされる被測定物
体の放射エネルギー成分を表したものであり、第２項は
炉壁からの反射によるエネルギー成分を表したものであ
る。ここで、上記式を簡単にするために、第２項をｒ
（λ i ，εi ，ＴW ）（ただし、ｉ＝１，２）にそれぞ
れ置き換えたとすると、下記(3) ，(4) 式として整理さ
れる。
【００１１】
【数２】
【００１２】この(3) ，(4) 式は明らかに等しい関係に
ある。すなわち、分光放射輝度エネルギー信号Ｌi （た
だし、ｉ＝１，２）から対象とされる被測定物体での炉
壁からの反射エネルギーの値ｒ（λi ，εi ，ＴW ）を
差し引いた分に関する値の測定波長の累乗値は相等しい
という性質（その等しい値はＴS に関する値に相当）が
あるからであり、したがって、下記(5) 式として表すこ
とができる。
ある。すなわち、分光放射輝度エネルギー信号Ｌi （た
だし、ｉ＝１，２）から対象とされる被測定物体での炉
壁からの反射エネルギーの値ｒ（λi ，εi ，ＴW ）を
差し引いた分に関する値の測定波長の累乗値は相等しい
という性質（その等しい値はＴS に関する値に相当）が
あるからであり、したがって、下記(5) 式として表すこ
とができる。
【００１３】
【数３】
【００１４】そこで、何らかの測定手段により、２種類
の分光放射輝度エネルギー信号Ｌ1，Ｌ2 および炉壁温
度ＴW が得られたとすれば、上記(5) 式は下記(6) 式の
ように簡単化される。
の分光放射輝度エネルギー信号Ｌ1，Ｌ2 および炉壁温
度ＴW が得られたとすれば、上記(5) 式は下記(6) 式の
ように簡単化される。
【００１５】
【数４】
【００１６】一方、それぞれの分光放射率ε1 ，ε2 の
関係式を、オフラインでの実験により予め下記(7) 式と
して求めておく。 ｆ（ε1 ，ε2 ）＝０ ……………(7) そこで、(6) 式と(7) 式を連立させて解くことにより、
分光放射率ε1 ，ε2を求めることができる。このよう
にして分光放射率ε1 ないしε2 が求まれば、たとえば
(3) 式あるいは(4) 式から得られる下記(8) 式あるいは
(9) 式を用いることにより、求めるべき被測定物体の表
面温度ＴS を得ることができる。
関係式を、オフラインでの実験により予め下記(7) 式と
して求めておく。 ｆ（ε1 ，ε2 ）＝０ ……………(7) そこで、(6) 式と(7) 式を連立させて解くことにより、
分光放射率ε1 ，ε2を求めることができる。このよう
にして分光放射率ε1 ないしε2 が求まれば、たとえば
(3) 式あるいは(4) 式から得られる下記(8) 式あるいは
(9) 式を用いることにより、求めるべき被測定物体の表
面温度ＴS を得ることができる。
【００１７】
【数５】
【００１８】ここで、本発明の前記した従来例である特
開平３−287025号に対する優位性を示すならば、従来例
が５つの式の連立であるのに対し、本発明はたったの２
式の連立であり、かつその計算時間もおおむね２／５と
見積もることができる点である。
開平３−287025号に対する優位性を示すならば、従来例
が５つの式の連立であるのに対し、本発明はたったの２
式の連立であり、かつその計算時間もおおむね２／５と
見積もることができる点である。
【００１９】
【実施例】以下に、本発明の実施例について図面を参照
して詳しく説明する。図１は本発明による測定装置の概
要を示す構成図である。図において、１は加熱炉、２は
炉内のスキッド３上に載置されたたとえばスラブなどの
被測定物体、４は被測定物体２の表面からの熱放射のう
ち波長の異なる２種類の分光放射輝度エネルギー信号Ｌ
1 ，Ｌ2 を測定する２波長式放射温度計、５は炉内の炉
壁温度ＴW を測定する熱電対である。なお、この熱電対
５の代わりに放射温度計６を用いて直接炉壁の温度を測
定するようにしてもよい。７は演算装置であり、８は温
度制御装置である。
して詳しく説明する。図１は本発明による測定装置の概
要を示す構成図である。図において、１は加熱炉、２は
炉内のスキッド３上に載置されたたとえばスラブなどの
被測定物体、４は被測定物体２の表面からの熱放射のう
ち波長の異なる２種類の分光放射輝度エネルギー信号Ｌ
1 ，Ｌ2 を測定する２波長式放射温度計、５は炉内の炉
壁温度ＴW を測定する熱電対である。なお、この熱電対
５の代わりに放射温度計６を用いて直接炉壁の温度を測
定するようにしてもよい。７は演算装置であり、８は温
度制御装置である。
【００２０】そこで、演算装置７において被測定物体の
表面温度ＴS を求める演算手順を図２に基づいて説明す
る。 まず、予めオフラインでの実験により得られた前出
(7) 式の分光放射率ε1，ε2 の関係式を入力して記憶
させておく。 ２波長式放射温度計４からの分光放射輝度エネルギ
ー信号Ｌ1 ，Ｌ2 と熱電対５からの炉壁温度ＴW を入力
して前出(6) 式を演算してＡ1 ，Ａ2 およびＢ1，Ｂ2
の式中の定数をそれぞれ確定する。 前出(6) ，(7) 式を連立して繰り返し計算により、
分光放射率ε1 ，ε2 を数値求解する。 前出(8) 式または(9) 式に求めたε1 ，ε2 および
Ｌ1 ，Ｌ2 , ＴW のそれぞれの値を代入して、被測定物
体の表面温度ＴS を求める。 得られた表面温度ＴS を温度制御装置８に出力す
る。
表面温度ＴS を求める演算手順を図２に基づいて説明す
る。 まず、予めオフラインでの実験により得られた前出
(7) 式の分光放射率ε1，ε2 の関係式を入力して記憶
させておく。 ２波長式放射温度計４からの分光放射輝度エネルギ
ー信号Ｌ1 ，Ｌ2 と熱電対５からの炉壁温度ＴW を入力
して前出(6) 式を演算してＡ1 ，Ａ2 およびＢ1，Ｂ2
の式中の定数をそれぞれ確定する。 前出(6) ，(7) 式を連立して繰り返し計算により、
分光放射率ε1 ，ε2 を数値求解する。 前出(8) 式または(9) 式に求めたε1 ，ε2 および
Ｌ1 ，Ｌ2 , ＴW のそれぞれの値を代入して、被測定物
体の表面温度ＴS を求める。 得られた表面温度ＴS を温度制御装置８に出力す
る。
【００２１】このようにして、本発明によれば、圧延前
における被測定物体２の温度条件を正しく把握すること
ができる。これによって、従来はばらばらであった被測
定物体２の加熱炉出側温度に対して圧延条件を変更する
ことで対応していたのに対し、被測定物体２を所定の温
度に確実に制御することができるし、どのような履歴で
加熱されたかも明確になる。たとえば材料内の結晶粒の
分散程度なども加熱ヒートパターンがわかればラボデー
タと照らし合わせてある程度は把握することが可能にな
る。それによって、最適な圧延条件が決定することが可
能になる。
における被測定物体２の温度条件を正しく把握すること
ができる。これによって、従来はばらばらであった被測
定物体２の加熱炉出側温度に対して圧延条件を変更する
ことで対応していたのに対し、被測定物体２を所定の温
度に確実に制御することができるし、どのような履歴で
加熱されたかも明確になる。たとえば材料内の結晶粒の
分散程度なども加熱ヒートパターンがわかればラボデー
タと照らし合わせてある程度は把握することが可能にな
る。それによって、最適な圧延条件が決定することが可
能になる。
【００２２】なお、上記実施例はスラブを静止した状態
で加熱する加熱炉を対象にして説明したが、本発明はこ
れに限るものではなく、たとえばスラブが低速で搬送さ
れる連続式加熱炉とかあるいはコイルが連続熱処理され
る連続焼鈍炉にも適用し得ることはいうまでもない。ま
た、上記実施例においては２波長式放射温度計を用いた
場合について説明したが、本発明はこの２波長式放射温
度計以外に異なった２つの観測角度ないしは異なった２
つの偏光角度の放射エネルギーを観測する放射温度計を
用いてもほとんど同様の温度検出を行うことができる。
なお、この場合は、測定波長はλ1 ＝λ2 ≡λであるの
で、本発明の式の簡素化された特別な場合として本発明
に含まれるものである。
で加熱する加熱炉を対象にして説明したが、本発明はこ
れに限るものではなく、たとえばスラブが低速で搬送さ
れる連続式加熱炉とかあるいはコイルが連続熱処理され
る連続焼鈍炉にも適用し得ることはいうまでもない。ま
た、上記実施例においては２波長式放射温度計を用いた
場合について説明したが、本発明はこの２波長式放射温
度計以外に異なった２つの観測角度ないしは異なった２
つの偏光角度の放射エネルギーを観測する放射温度計を
用いてもほとんど同様の温度検出を行うことができる。
なお、この場合は、測定波長はλ1 ＝λ2 ≡λであるの
で、本発明の式の簡素化された特別な場合として本発明
に含まれるものである。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
炉内の被測定物体温度をオンラインで測定することがで
きるので、加熱温度履歴が明らかになってその後のプロ
セスすなわち圧延プロセスで決定される物体の特性を向
上することが可能となる。つまり、圧延前の条件である
温度条件が正しく把握される。また最適な炉温制御がで
きるので省エネルギーの効果も期待することができる。
炉内の被測定物体温度をオンラインで測定することがで
きるので、加熱温度履歴が明らかになってその後のプロ
セスすなわち圧延プロセスで決定される物体の特性を向
上することが可能となる。つまり、圧延前の条件である
温度条件が正しく把握される。また最適な炉温制御がで
きるので省エネルギーの効果も期待することができる。
【図１】本発明による測定装置の概要を示す構成図であ
る。
る。
【図２】本発明の演算手順を示す流れ図である。
１ 加熱炉 ２ 被測定物体 ４ ２波長式放射温度計 ５ 熱電対 ６ 放射温度計 ７ 演算装置 ８ 温度制御装置
Claims (4)
- 【請求項１】 加熱炉内の被測定物体表面から発する
異なる２波長の分光放射輝度エネルギーを検出するとと
もに、前記加熱炉の炉壁温度を検知し、これらのそれぞ
れの分光放射輝度エネルギー値から物体表面反射エネル
ギー値を差し引いた量に関する値の測定波長の累乗値は
相等しいという関係式と、予めオフラインで求められた
前記被測定物体の２波長での分光放射率の関係式とを連
立させて分光放射率を求めて表面温度を演算することを
特徴とする加熱炉内の物体温度測定方法。 - 【請求項２】 前記被測定物体表面から発する異なる
２つの観測角度あるいは偏光角度の分光放射輝度エネル
ギーを検出することを特徴とする請求項１記載の加熱炉
内の物体温度測定方法。 - 【請求項３】 加熱炉内の被測定物体表面から発する
分光放射輝度エネルギーから異なる２波長で検出する２
波長放射温度計と、前記加熱炉の炉壁温度を検知する温
度計と、これらの検知信号により前記物体表面温度を演
算する演算装置とからなり、該演算装置において前記２
波長放射温度計からのそれぞれの分光放射輝度エネルギ
ー信号から物体表面反射エネルギー値を差し引いた量に
関する値の測定波長の累乗値は相等しいという関係式
と、予めオフラインで求められた前記被測定物体の２波
長での分光放射率の関係式とを連立させて分光放射率を
求めて表面温度を演算するように構成したことを特徴と
する加熱炉内の物体温度測定装置。 - 【請求項４】 前記２波長放射温度計の代わりに異な
る２つの観測角度あるいは偏光角度の分光放射輝度エネ
ルギーを検出する放射温度計を用いることを特徴とする
請求項３記載の加熱炉内の物体温度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5047829A JPH06258142A (ja) | 1993-03-09 | 1993-03-09 | 加熱炉内の物体温度測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5047829A JPH06258142A (ja) | 1993-03-09 | 1993-03-09 | 加熱炉内の物体温度測定方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06258142A true JPH06258142A (ja) | 1994-09-16 |
Family
ID=12786250
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5047829A Pending JPH06258142A (ja) | 1993-03-09 | 1993-03-09 | 加熱炉内の物体温度測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06258142A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19536236A1 (de) * | 1995-09-28 | 1997-04-03 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Innenwandtemperaturen bei mehrwändigen Gefäßen, insbesondere von Hochtemperaturaggregaten, wie z. B. Öfen in der Metallurgie oder der chemischen Verfahrenstechnik |
| DE19536237A1 (de) * | 1995-09-28 | 1997-04-03 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Innentemperaturen bei hüttentechnischen Anlagen |
| EP1302758A2 (en) * | 2001-10-10 | 2003-04-16 | Noritake Co., Limited | Temperature measuring method and apparatus |
-
1993
- 1993-03-09 JP JP5047829A patent/JPH06258142A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19536236A1 (de) * | 1995-09-28 | 1997-04-03 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Innenwandtemperaturen bei mehrwändigen Gefäßen, insbesondere von Hochtemperaturaggregaten, wie z. B. Öfen in der Metallurgie oder der chemischen Verfahrenstechnik |
| DE19536237A1 (de) * | 1995-09-28 | 1997-04-03 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Innentemperaturen bei hüttentechnischen Anlagen |
| DE19536236B4 (de) * | 1995-09-28 | 2005-06-09 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Innenwandtemperaturen bei mehrwändigen Gefäßen, insbesondere von Hochtemperaturaggregaten, wie z. B. Öfen in der Metallurgie oder der chemischen Verfahrenstechnik |
| DE19536237B4 (de) * | 1995-09-28 | 2005-06-09 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Innentemperaturen bei hüttentechnischen Anlagen |
| EP1302758A2 (en) * | 2001-10-10 | 2003-04-16 | Noritake Co., Limited | Temperature measuring method and apparatus |
| US6786634B2 (en) | 2001-10-10 | 2004-09-07 | Noritake Co., Limited | Temperature measuring method and apparatus |
| EP1302758A3 (en) * | 2001-10-10 | 2005-03-16 | Noritake Co., Limited | Temperature measuring method and apparatus |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0335224B1 (en) | Radiation thermometry | |
| US7661876B2 (en) | Infrared target temperature correction system and method | |
| US5326172A (en) | Multiwavelength pyrometer for gray and non-gray surfaces in the presence of interfering radiation | |
| JPH06258142A (ja) | 加熱炉内の物体温度測定方法および装置 | |
| JPS6049246B2 (ja) | 赤外線による温度測定方法における測定値補償方法 | |
| JPH07270130A (ja) | 酸化膜厚さ測定方法 | |
| WO2002075264A1 (en) | Temperature measuring method and apparatus and semiconductor heat treatment apparatus | |
| JPS634651B2 (ja) | ||
| Saunders | Reflection errors and uncertainties for dual and multiwavelength pyrometers | |
| JPH0843212A (ja) | 多色放射温度計の温度測定方法及び装置 | |
| Chen et al. | Design of Temperature Control System Based on Vacuum Furnace | |
| JPS6411691B2 (ja) | ||
| JPH05231944A (ja) | 多波長を用いた放射測温方法 | |
| JPH08219891A (ja) | 鋼板の表面性状測定方法及び鋼板温度測定方法 | |
| JPH02138836A (ja) | 放射測温装置 | |
| JPH0682044B2 (ja) | 酸化膜計測装置及び薄鋼板の連続加熱バーナー制御装置 | |
| JPH05273045A (ja) | 透明性薄膜に被覆された物体の温度測定装置 | |
| JPH05142052A (ja) | プロセス材料の物性値・表面温度測定装置 | |
| JPH04276527A (ja) | 炉内温度計 | |
| JPH06331447A (ja) | 放射温度計の精度評価方法および装置 | |
| JPH03287025A (ja) | 物体の温度と放射率および周囲温度の測定方法および装置 | |
| JPH10324926A (ja) | 連続加熱炉の総括熱吸収率予測方法および鋼片温度予測方法 | |
| KR100940741B1 (ko) | 강종별 복사율 측정장치 | |
| JPH0413910A (ja) | 酸化膜厚さ分布測定装置 | |
| JPH03287024A (ja) | 物体の温度と放射率の同時測定方法および装置 |