JPH06248241A - 複合接着シ−トの製造法 - Google Patents

複合接着シ−トの製造法

Info

Publication number
JPH06248241A
JPH06248241A JP3231493A JP3231493A JPH06248241A JP H06248241 A JPH06248241 A JP H06248241A JP 3231493 A JP3231493 A JP 3231493A JP 3231493 A JP3231493 A JP 3231493A JP H06248241 A JPH06248241 A JP H06248241A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chemical formula
chemical
diamino
group
polyimide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3231493A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3682982B2 (ja
Inventor
Shuichi Matsuura
秀一 松浦
Yoshihide Iwasaki
良英 岩崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
Priority to JP3231493A priority Critical patent/JP3682982B2/ja
Publication of JPH06248241A publication Critical patent/JPH06248241A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3682982B2 publication Critical patent/JP3682982B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/4826Connecting between the body and an opposite side of the item with respect to the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73215Layer and wire connectors

Landscapes

  • Adhesive Tapes (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】リードフレーム、金属板、セラミック板、有機
配線板等の被着体上に接着可能な複合シートの製造法を
提供する。 【構成】4、4’−ジアミノ−3、3’、5、5’−テ
トライソプロピルジフェニルメタン(IPDDM)と
N,N−ジメチルホルムアミド(DMF)ビスフェノー
ルAビストリメリテート二無水物(BABT)反応させ
てポリアミド酸を合成し、得られたポリアミド酸のワニ
スに無水酢酸及びピリジンを加え、反応させてポリイミ
ドを合成し、ポリイミドのNMPワニスをプラズマ処理
したユーピレックスSフィルム上に塗布した後、100
℃で10分、さらに300℃で10分乾燥して複合シー
トを得た。この複合シートを42アロイに重ねて350
℃、3MPaで5秒押し付けた後、90度引き剥がし強
さを測定したところ、0.8kN/mであった。 【効果】この複合シートを用いて図1のように半導体チ
ップをパッケージした後、85℃、85%RHの条件で
48h吸湿処理した後、260℃のはんだ浴につけたが
クラックは発生しなかった。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、リードフレーム、金属
板、セラミック板、有機配線板等の被着体上に接着可能
な複合シートの製造法に関する。特に本発明は、耐熱性
が優れ、吸水率の低い、半導体チップなどの接着に適し
た複合シートの製造法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体用リードフレームとチップ
の接続にはエポキシ系の熱硬化性接着剤や耐熱性ホット
メルト接着剤が使用されていた。近年、チップが大きく
なるにつれ、パッケージ中に占めるチップの割合が高く
なってきた。そのため接着剤や封止材が吸湿した場合、
はんだ接続時の熱により吸湿された水分が膨張し、その
結果パッケージにクラックが生じる現象が多発するよう
になった。この現象を防止するためには、接着剤の低吸
湿化とはんだ接続時の温度に耐えられるように高耐熱化
が必要である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は吸湿率が低
く、耐熱性が高い接着剤層を有する複合シートを提供す
るものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の第一の発明は、
表面処理した耐熱フィルムの片面または両面に、一般式
が化1または化2で表わされる構成単位を含み、ガラス
転移温度が250℃以上となるポリアミド酸またはポリ
イミドのワニスを塗布した後加熱して接着剤層を形成さ
せることを特徴とする複合接着シ−トの製造法である。
【0005】
【化9】
【0006】
【化10】
【0007】〔化9、化10において、R1、R2
3、R4はそれぞれ独立に水素もしくは炭素数1〜4の
アルキル基またはアルコキシ基であってこれらのうち少
なくとも2個以上はアルキル基またはアルコキシ基であ
り、R5 は水素または炭素数1〜4のアルキル基であ
り、Xは−CH2 −、−C(CH32−、−O−、−S
−、−CO−または−NHCO−で表わされる基で
あり、Ar1 は4価の芳香族基である。〕
【0008】本発明の第二の発明は、表面処理した耐熱
フィルムの片面または両面に、一般式が化3で表わされ
る構成単位を含む耐熱性樹脂のワニスを塗布した後加熱
して接着剤層を形成させるものであって、接着剤層の樹
脂は化4、化5、化6、化7、化8の芳香族基に連結す
る基の10〜90モル%がアミド基でありかつガラス転
移温度が250℃以上のものであることを特徴とする複
合接着シ−トの製造法である。
【0009】
【化11】
【0010】〔化11において、R6、R7、R8、R9
それぞれ独立に水素もしくは炭素数1〜4のアルキル基
またはアルコキシ基であってこれらのうち少なくとも2
個以上はアルキル基またはアルコキシ基であり、Xは−
CH2 −、−C(CH32−、−O−、−SO2 −、
−CO−または−NHCO−で表わされる基であり、Z
は化12、化13、化14、化15、化16
【0011】
【化12】
【0012】
【化13】
【0013】
【化14】
【0014】
【化15】
【0015】
【化16】
【0016】(化12、化13、化14、化15、化1
6においてAr2 は2〜4価の芳香族基、R10は水素ま
たは炭素数1〜4のアルキル基である。)で表わされる
基である。]
【0017】第一の発明について説明する。第一の発明
において用いられる接着剤は、一般式が化17または化
18で表わされる構成単位を含み、ガラス転移温度が2
50℃以上となるポリアミド酸またはポリイミドのワニ
スより形成される。
【0018】
【化17】
【0019】
【化18】
【0020】〔化17、化18において、R1、R2、R
3、R4はそれぞれ独立に水素もしくは炭素数1〜4のア
ルキル基またはアルコキシ基であってこれらのうち少な
くとも2個以上はアルキル基またはアルコキシ基であ
り、R5 は水素または炭素数1〜4のアルキル基であ
り、Xは−CH2−、−C(CH32 −、−O−、−S
2 −、−CO−または−NHCO−で表わされる基で
あり、Ar1 は4価の芳香族基である。〕
【0021】前記のポリアミド酸またはポリイミドは酸
二無水物と一般式が化19
【化19】 〔化19においてYはアミノ基またはイソシアネート基
を示し、R11、R12、R13、R14はそれぞれ独立に水素
もしくは炭素数1〜4のアルキル基またはアルコキシ基
をであって、これらのうち少なくとも2個以上はアルキ
ル基またはアルコキシ基であり、Xは−CH2 −、−C
(CH32−、−O−、−SO2−、−CO−または−
NHCO−で表される基である。〕で表されるジアミン
またはジイシシアネートとから合成される。
【0022】化19で表される化合物のうちYがアミノ
基であるものとしては4,4’−ジアミノ−3,3’,
5,5’−テトラメチルジフェニルメタン、4,4’−
ジアミノ−3,3’,5,5’−テトラエチルジフェニ
ルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’,5,5’−
テトラn−プロピルジフェニルメタン、4,4’−ジア
ミノ−3,3’,5,5’−テトライソプロピルジフェ
ニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’,5,5’
−テトラブチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ
−3,3’−ジメチル−5,5’−ジエチルジフェニル
メタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジメチル−
5,5’−ジイソプロピルジフェニルメタン、4,4’
−ジアミノ−3,3’−ジエチル−5,5’−ジイソプ
ロピルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,5
−ジメチル−3’,5’−ジエチルジフェニルメタン、
4,4’−ジアミノ−3,5−ジメチル−3’,5’−
ジイソプロピルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ
−3,5−ジエチル−3’,5’−ジイソプロピルジフ
ェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,5−ジエチル
−3’,5’−ジブチルジフェニルメタン、4,4’−
ジアミノ−3,5−ジイソプロピル−3’,5’−ジブ
チルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’
−ジイソプロピル−5,5’−ジブチルジフェニルメタ
ン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジメチル−5,
5’−ジブチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ
−3,3’−ジエチル−5,5’−ジブチルジフェニル
メタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジメチルジフ
ェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジエチ
ルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−
ジn−プロピルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ
−3,3’−ジイソプロピルジフェニルメタン、4,
4’−ジアミノ−3,3’−ジブチルジフェニルメタ
ン、4,4’−ジアミノ−3,3’,5−トリメチルジ
フェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’,5−
トリエチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−
3,3’,5−トリn−プロピルジフェニルメタン、
4,4’−ジアミノ−3,3’,5−トリイソプロピル
ジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’,5
−トリブチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−
3−メチル−3’−エチルジフェニルメタン、4,4’
−ジアミノ−3−メチル−3’−イソプロピルジフェニ
ルメタン、4,4’−ジアミノ−3−エチル−3’−イ
ソプロピルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3
−エチル−3’−ブチルジフェニルメタン、4,4’−
ジアミノ−3−イソプロピル−3’−ブチルジフェニル
メタン、4,4’−ジアミノ−2,2’−ビス(3,
3’,5,5’−テトラメチルジフェニル)イソプロパ
ン、4,4’−ジアミノ−2,2’−ビス(3,3’,
5,5’−テトラエチルジフェニル)イソプロパン、
4,4’−ジアミノ−2,2’−ビス(3,3’,5,
5’−テトラn−プロピルジフェニル)イソプロパン、
4,4’−ジアミノ−2,2’−ビス(3,3’,5,
5’−テトライソプロピルジフェニル)イソプロパン、
4,4’−ジアミノ−2,2’−ビス(3,3’,5,
5’−テトラブチルジフェニル)イソプロパン、4,
4’−ジアミノ−3,3’,5,5’−テトラメチルジ
フェニルエーテル、4,4’−ジアミノ−3,3’,
5,5’−テトラエチルジフェニルエーテル、4,4’
−ジアミノ−3,3’,5,5’−テトラn−プロピル
ジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノ−3,3’,
5,5’−テトライソプロピルジフェニルエーテル、
4,4’−ジアミノ−3,3’,5,5’−テトラブチ
ルジフェニルエーテル、4,4’−ジアミノ−3,
3’,5,5’−テトラメチルジフェニルスルホン、
4,4’−ジアミノ−3,3’,5,5’−テトラエチ
ルジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノ−3,
3’,5,5’−テトラn−プロピルジフェニルスルホ
ン、4,4’−ジアミノ−3,3’,5,5’−テトラ
イソプロピルジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノ
−3,3’,5,5’−テトラブチルジフェニルスルホ
ン、4,4’−ジアミノ−3,3’,5,5’−テトラ
メチルジフェニルケトン、4,4’−ジアミノ−3,
3’,5,5’−テトラエチルジフェニルケトン、4,
4’−ジアミノ−3,3’,5,5’−テトラn−プロ
ピルジフェニルケトン、4,4’−ジアミノ−3,
3’,5,5’−テトライソプロピルジフェニルケト
ン、4,4’−ジアミノ−3,3’,5,5’−テトラ
ブチルジフェニルケトン、4,4’−ジアミノ−3,
3’,5,5’−テトラメチルベンズアニリド、4,
4’−ジアミノ−3,3’,5,5’−テトラエチルベ
ンズアニリド、4,4’−ジアミノ−3,3’,5,
5’−テトラn−プロピルベンズアニリド、4,4’−
ジアミノ−3,3’,5,5’−テトライソプロピルベ
ンズアニリド、4,4’−ジアミノ−3,3’,5,
5’−テトラブチルベンズアニリド等がある。
【0022】前記の化19で表される化合物のうち、Y
がイソシアネート基であるものとしては、上記に例示し
たジアミンにおいて、アミノ基をイソシアネート基に換
えたものを例示することができる。化19で表されるジ
アミンと併用するジアミンとしては、パラフェニレンジ
アミン、メタフェニレンジアミン、メタトルイレンジア
ミン、4、4’ージアミノジフェニルエーテル(DD
E)、4、4’ージアミノジフェニルメタン、4、4’
ージアミノジフェニルスルホン、3、3’ージアミノジ
フェニルスルホン、4、4’ージアミノベンゾフェノ
ン、3、3’ージアミノベンゾフェノン、1、4ービス
(4ーアミノクミル)ベンゼン(BAP),1、3ービ
ス(4ーアミノクミル)ベンゼン,1、3ービス(3ー
アミノフェノキシ)ベンゼン、1、4ービス(3ーアミ
ノフェノキシ)ベンゼン、1、4ービス(4ーアミノフ
ェノキシ)ベンゼン、2、2ービス[4ー(4ーアミノ
フェノキシ)フェニル]プロパン(BAPP)、2、2
ービス[4ー(3ーアミノフェノキシ)フェニル]プロ
パン、ビス[4ー(3ーアミノフェノキシ)フェニル]
スルホン(mーAPPS)、ビス[4ー(4ーアミノフ
ェノキシ)フェニル]スルホン,2、2ービス[4ー
(4ーアミノフェノキシ)フェニル]ヘキサフルオロプ
ロパン、および化20で表されるシロキサンジアミンが
ある。
【0023】
【化20】 〔化20においてR15およびR18は2価の有機基、R16
およびR17は1価の有機基であり、mは1〜100の整
数である。〕
【0024】化20中のR15およびR19としてはそれぞ
れ独立にトリメチレン基、テトラメチレン基、フェニレ
ン基、トルイレン基等があり、R16およびR17としては
それぞれ独立にメチル基、エチル基、フェニル基等があ
り、複数個のR16および複数個のR17はそれぞれ同一で
も異なっていても良い。化20のシロキサンジアミンに
おいて、R1 およびR4 がどちらもトリメチレン基であ
り、R2 およびR3 がどちらもメチル基である場合に、
mが1のもの、平均10前後のもの、平均20前後のも
の、平均30前後のもの、平均50前後のものおよび平
均100前後のものは、それぞれLPー7100、Xー
22ー161AS,Xー22ー161A、Xー22ー1
61B、Xー22ー161CおよびXー22ー161E
(いずれも信越化学工業株式会社商品名)として市販さ
れている。
【0025】酸無水物としては、ピロメッリット酸二無
水物、3、3’、4、4’ーベンゾフェノンテトラカル
ボン酸二無水物(BTDA)、3、3’、4、4’ービ
フェニルテトラカルボン酸二無水物、2、2ービスフタ
ル酸ヘキサフルオロイソプロピリデン二無水物、ビス
(3、4ージカルボキシフェニル)エーテル二無水物、
ビス(3、4ージカルボキシフェニル)スルホン二無水
物、4、4’ービス(3、4ージカルボキシフェノキ
シ)ジフェニルスルホン二無水物、2、2ービス[4ー
(3、4ージカルボキシフェノキシ)フェニル]プロパ
ン二無水物、エチレングリコールビストリメリテート二
無水物(EBTA)、デカメチレングリコールビストリ
メリテート二無水物(DBTA)、ビスフェノールAビ
ストリメリテート二無水物(BABT),2、2ービス
[4ー(3、4ージカルボキシフェニルベンゾイルオキ
シ)フェニル]ヘキサフルオロプロパン二無水物、4、
4’ー[1、4ーフェニレンビス(1ーメチルエチリデ
ン)]ビスフェニルビストリメリテート二無水物等が使
用される。
【0026】これらのジアミン、酸無水物のなかから、
得られるポリイミドのTgが250℃以上になるように
モノマーを適宜選択する。ポリイミドはポリアミド酸の
熱または化学閉環によって得られる。本発明において用
いられるワニスは必ずしも100%イミド化されていな
くても良いが、完全にイミド化されていることが望まし
い。
【0027】本発明において用いられる耐熱フィルム
は、ポリイミド、ポリアミドや、ポリサルフォン、ポリ
フェニレンサルファイド、ポリエーテルエーテルケト
ン、ポリアリレートなどのエンジニアリングプラスチッ
ク等のフィルムが挙げられるが、ガラス転移温度(T
g)、吸水率、熱膨張係数の点からポリイミドフィルム
が好ましい。Tgが250℃以上、吸水率が2%以下、
熱膨張係数が3x10−5℃−1以下のフィルムが特に
好ましい。耐熱フィルムは接着剤との接着力を増すため
に表面処理が必要である。表面処理の方法としては、ア
ルカリ処理、シランカップリング処理等の化学処理、サ
ンドブラスト等の物理処理、プラズマ処理、コロナ処理
等のいずれの処理も使用可能であるが、接着剤の種類に
応じて最も適した処理を用いればよい。本発明の接着剤
については、化学処理またはプラズマ処理が特に適して
いる。接着剤はポリイミド単独でも良いし、ポリイミド
とポリマレイミドとの混合物、あるいは更にエポキシ樹
脂や硬化剤、硬化促進剤などを添加して用いても良い。
またセラミック粉、ガラス粉などのフィラーやカップリ
ング剤を添加しても良い。ポリアミド酸ワニスまたはポ
リイミドワニスを耐熱フィルムに塗布する方法は特に制
限はない。ドクターブレードやナイフコーター、ダイコ
ーター等いずれの方法で塗布しても良い。またワニス中
にフィルムを通して塗工しても良いが、厚みの制御が難
しいので好ましくはない。接着剤を塗布したフィルムを
溶剤の除去やイミド化のために熱処理するが、熱処理温
度はポリアミド酸であるかポリイミドであるかで異な
る。ポリアミド酸ワニスの場合にはイミド化させるため
にTg以上の温度が必要であるが、イミドワニスの場合
には溶剤が除去できる温度であればよい。接着剤と耐熱
フィルムの接着力を向上させるためには250℃以上の
温度で熱処理することが好ましい。
【0028】本発明の第二の発明において用いられる接
着剤は、一般式が化21で表わされる構成単位を含む耐
熱性樹脂のワニスを耐熱フィルムに塗布した後加熱して
接着剤層を形成させるものであって、接着剤層の樹脂は
化22、化23、化24、化25、化26の芳香族基に
連結する基の10〜90モル%がアミド基でありかつガ
ラス転移温度が250℃以上のものである。
【0029】
【化21】
【0030】〔化21において、R6 、R7 、R8 、R
9 はそれぞれ独立に水素もしくは炭素数1〜4のアルキ
ル基またはアルコキシ基であってこれらのうち少なくと
も2個以上はアルキル基またはアルコキシ基であり、X
は−CH2 −、−C(CH32 −、−O−、−SO2
−、−CO−または−NHCO−で表わされる基であ
り、Zは化22、化23、化24、化25、化26
【0031】
【化22】
【0032】
【化23】
【0033】
【化24】
【0034】
【化25】
【0035】
【化26】
【0036】(化22、化23、化24、化25、化2
6においてAr2 は2〜4価の芳香族基、R10は水素ま
たは炭素数1〜4のアルキル基である。)で表わされる
基である。〕
【0037】上記の接着剤は酸無水物またはジカルボン
酸またはそのアミド形成性誘導体と化19で表される第
一の発明で使用されるものと同じジアミンまたはジイシ
シアネートとから合成される。上記ジアミンとは、第一
の発明で化19で表されるジアミンと併用するジアミン
として例示されたジアミンと同じものが併用される。酸
無水物としては、第一の発明で使用される酸無水物が同
様に使用される。ジカルボン酸またはそのアミド形成性
誘導体としては、テレフタル酸、イソフタル酸、ビフェ
ニルカルボン酸、フタル酸、ナフタレンジカルボン酸、
ジフェニルエーテルジカルボン酸等があり、これらのジ
カルボン酸のアミド形成性誘導体としては、これらのジ
カルボン酸のジクロリド、ジアルキルエステル等があ
る。
【0038】またジアミン、ジカルボン酸の一部をアミ
ノ安息香酸等のアミノカルボン酸で置き換えても良い。
これらのジアミン、酸無水物、ジカルボン酸のなかか
ら、得られる樹脂のTgが250℃以上になるようにモ
ノマーを適宜選択する。ポリイミドとポリアミドを混合
する場合には混合後の接着剤のTgが250℃以上にな
れば良い。アミド基は(a)〜(e)の基の合計の10
〜90モル%であり、好ましくは20〜70モル%、よ
り好ましくは30〜50モル%である。10%より少な
いと接着力が小さく、90%より多いと吸水率が大きく
なる。ポリイミドはポリアミド酸の熱または化学閉環に
よって得られる。本発明において用いられるワニスは必
ずしも100%イミド化されていなくても良いが、完全
にイミド化されていることが望ましい。接着剤はポリア
ミドイミド単独でも良いし、ポリイミドとポリアミドと
の混合物、あるいは更にエポキシ樹脂や硬化剤、硬化促
進剤などを添加して用いても良い。またセラミック粉、
ガラス粉などのフィラーやカップリング剤を添加しても
良い。
【0039】耐熱性接着剤ワニスを耐熱フィルムに塗布
する方法は特に制限はない。ドクターブレードやナイフ
コーター、ダイコーター等いずれの方法で塗布しても良
い。またワニス中にフィルムを通して塗工しても良い
が、厚みの制御が難しいので好ましくはない。接着剤を
塗布したフィルムを溶剤の除去やイミド化のために熱処
理するが、熱処理温度はポリアミド酸ワニスであるかポ
リイミドワニスであるかで異なる。ポリアミド酸ワニス
の場合にはイミド化させるためにTg以上の温度が必要
であるが、イミドワニスの場合には溶剤が除去できる温
度であれば良い。接着剤と耐熱フィルムの接着力を向上
させるためには250℃以上の温度で熱処理することが
好ましい。
【0040】以上本発明の第一の発明、第二の発明で得
られた複合接着シートは、リードフレーム、セラミック
板、金属板、金属箔、プラスチックフィルム、プラスチ
ック板、積層板などの被着体に重ねるか、被着体の間に
挟んで接着剤の溶融温度以上の温度で加熱、加圧するこ
とによって接着される。図1は本発明の複合接着シ−ト
によってLSIチップ2とリ−ドフレ−ム3を接着させ
た断面図で、5はワイヤ、6は封止材である。
【0041】
【実施例】
実施例1 攪拌機、温度計、窒素ガス導入管、塩化カルシウム管を
備えた四つ口フラスコに、4、4’ージアミノー3、
3’、5、5’ーテトライソプロピルジフェニルメタン
(IPDDM)3.66g(10ミリモル),および
N,Nージメチルホルムアミド(DMF)28.3gを
入れ、溶解した。次に、5℃を越えないように冷却しな
がらビスフェノールAビストリメリテート二無水物(B
ABT)5.76g(10ミリモル)を少しずつ加えた
後、5℃を越えないように冷却しながら1時間、次い
で、室温で6時間反応させてポリアミド酸を合成した。
得られたポリアミド酸のワニスに無水酢酸2.55gお
よびピリジン1.98gを加え、室温で3時間反応させ
てポリイミドを合成した。得られたポリイミドのワニス
を水に注いで得られる沈殿を分離、粉砕、乾燥してポリ
イミド粉末を得た。このポリイミド粉末をDMFに0.
1g/dlの濃度で溶解し、30℃で測定したときの還
元粘度は0.57dl/gであった。また、このポリイ
ミド粉末を種々の有機溶剤に5wt%の濃度になるよう
に添加して室温で溶解状態を観察することによって溶解
性試験を行なった。その結果、該ポリイミド粉末は、D
MF、N−メチルピロリドン(NMP)、塩化メチレ
ン、ジオキサン、THF、トルエンに可溶であった。さ
らに、このポリイミド粉末をDMFに溶解し、得られた
ワニスをガラス板上に流延した。100℃で10分乾燥
した後、剥離し、鉄枠にとめて250℃で1時間乾燥し
てフィルムを得た。このようにして得られたフィルムを
用いてペネトレーション法により荷重25kg/cm
2 、昇温速度10℃/分の条件でポリイミドのガラス転
移温度(Tg)を測定したところ261℃であった。熱
分解温度は405℃であった。フィルムを25℃の水中
に24時間浸漬したときの吸水率は0.3%であった。
また得られたフィルムを180度の角度に折り曲げて可
とう性試験を行なったところ、フィルムは割れず良好な
可とう性を示した。ポリミドのNMPワニスをプラズマ
処理したユーピレックスSフィルム上に塗布した後、1
00℃で10分、さらに300℃で10分乾燥して複合
シートを得た。この複合シートを42アロイに重ねて3
50℃、3MPaで5秒おしつけた後、90度引きはが
し強さを測定したところ、0.8kN/mであった。こ
の複合シートを用いて図1のように半導体チップをパッ
ケージした後、85℃、85%RHの条件で48h吸湿
処理した後、260℃のはんだ浴につけたがクラックは
発生しなかった。
【0042】実施例2 ビス(3、4ージカルボキシフェニル)スルホン二無水
物(DSDA)3.58g(10ミリモル)、IPDD
M 1.83g(5ミリモル)、2、2ービス[4ー
(4ーアミノフェノキシ)フェニル]プロパン(BAP
P)2.05g(5ミリモル)を用いる以外は実施例1
と同様にしてポリアミド酸ワニスを得た。このポリアミ
ド酸ワニスを実施例1と同様にしてポリイミド粉末を得
た。還元粘度は1.39dl/g,Tgは268℃、熱分解
温度は410℃であった。また吸水率は0.7%であっ
た。上記ポリアミド酸ワニスを用いて、100℃10
分、300℃15分熱処理する以外は実施例1と同様に
して複合シートを得た。42アロイとの接着力は1.2
kN/mであり、実施例1と同様にして得た半導体パッケー
ジは吸湿後のはんだ処理によってクラックは発生しなか
った。
【0043】実施例3 BABTのかわりに3、3’、4、4’ーベンゾフェノ
ンテトラカルボン酸二無水物(BTDA)3.22g
(10ミリモル)、DMFのかわりにNMP20.6g
を使用する以外は実施例1と同様にしてポリアミド酸ワ
ニスを得た。このワニスにキシレン 10gを添加して
180℃で5時間加熱してポリイミドワニスを得た。還
元粘度は0.48dl/g,Tgは300℃、熱分解温度は
405℃であった。また吸水率は1.0%であった。ア
ルカリ処理後、シランカップリング処理したカプトンフ
ィルムに上記ポリイミドワニスを塗布し、100℃10
分、275℃10分熱処理して複合シートを得た。42
アロイとの接着力は0.92kN/mであり、実施例1と同
様にして得た半導体パッケージは吸湿後のはんだ処理に
よってクラックは発生しなかった。
【0044】実施例4 BABT 5.76g(10ミリモル)、IPDDM
2.38g(6.5ミリモル)、メタトルイレンジアミ
ン(MTDA)0.43g(3.5ミリモル)を用いる
以外は実施例1と同様にしてポリイミド粉末を得た。還
元粘度は0.61dl/g,Tgは275℃、熱分解温度は
415℃であった。また吸水率は0.5%であった。上
記ポリミドのNMPワニスをアルカリ処理したユーピレ
ックスSフィルム上に塗布した後、100℃で10分、
さらに300℃で10分乾燥して複合シートを得た。4
2アロイとの接着力は0.85kN/mであり、実施例1と
同様にして得た半導体パッケージは吸湿後のはんだ処理
によってクラックは発生しなかった。
【0045】実施例5 DSDA 3.58g(10ミリモル)、IPDDM
0.92g(2.5ミリモル)、BAPP 3.08g
(7.5ミリモル)を用いる以外は実施例3と同様にし
てポリイミド粉末を得た。還元粘度は1.16dl/g,T
gは256℃、熱分解温度は440℃であった。また吸
水率は1.2%であった。上記ポリミドのDMAcワニ
スをプラズマ処理したユーピレックスSフィルム上に塗
布した後、100℃で10分、さらに250℃で10分
乾燥して複合シートを得た。42アロイとの接着力は
1.35kN/mであり、実施例1と同様にして得た半導体
パッケージは吸湿後のはんだ処理によってクラックは発
生しなかった。
【0046】比較例1 DSDA 3.58g(10ミリモル)、IPDDM
0.55g(1.5ミリモル)、m−APPS 3.6
7g(8.5ミリモル)を用いる以外は実施例1と同様
にしてポリイミド粉末を得た。還元粘度は0.65dl/
g,Tgは232℃、熱分解温度は455℃であった。
また吸水率は2.2%であった。上記ポリミドのNMP
ワニスをプラズマ処理したユーピレックスSフィルム上
に塗布した後、100℃で10分、さらに300℃で1
0分乾燥して複合シートを得た。42アロイとの接着力
は1.05kN/mであった。実施例1と同様にして得た半
導体パッケージは吸湿後のはんだ処理によってクラック
が発生した。
【0047】比較例2 BAPP 4.10g(10ミリモル)をDMF 2
4.5gに溶解し、トリエチルアミン 2.02g(2
0ミリモル)を添加した後、5℃以下に冷やしながらイ
ソフタル酸クロリド 2.03g(10ミリモル)を少
しづつ添加した。5℃以下で5時間反応した後、実施例
1と同様にしてポリアミド粉末を得た。還元粘度は0.
50dl/g,Tgは219℃、熱分解温度は425℃であ
った。また吸水率は2.2%であった。上記ポリミドの
NMPワニスをプラズマ処理したユーピレックスSフィ
ルム上に塗布した後、100℃で10分、さらに300
℃で10分乾燥して複合シートを得た。42アロイとの
接着力は1.55kN/mであった。実施例1と同様にして
得た半導体パッケージは吸湿後のはんだ処理によってク
ラックが発生した。
【0048】合成例1 攪拌機、温度計、窒素ガス導入管、塩化カルシウム管を
備えた四つ口フラスコに、4、4’ージアミノー3、
3’、5、5’ーテトライソプロピルジフェニルメタン
(IPDDM)3.66g(10ミリモル),および
N,Nージメチルホルムアミド(DMF)28.3gを
入れ、溶解した。次に、5℃を越えないように冷却しな
がらビスフェノールAビストリメリテート二無水物(B
ABT)5.76g(10ミリモル)を少しずつ加えた
後、5℃を越えないように冷却しながら1時間、次い
で、室温で6時間反応させてポリアミド酸を合成した。
得られたポリアミド酸のワニスに無水酢酸2.55gお
よびピリジン1.98gを加え、室温で3時間反応させ
てポリイミドを合成した。得られたポリイミドのワニス
を水に注いで得られる沈殿を分離、粉砕、乾燥してポリ
イミド粉末を得た。このポリイミド粉末をDMFに0.
1g/dlの濃度で溶解し、30℃で測定したときの還
元粘度は0.57dl/gであった。さらに、このポリ
イミド粉末をDMFに溶解し、得られたワニスをガラス
板上に流延した。100℃で10分乾燥した後、剥離
し、鉄枠にとめて250℃で1時間乾燥してフィルムを
得た。このようにして得られたフィルムを用いてペネト
レーション法により荷重25kg/cm2 、昇温速度1
0℃/分の条件でポリイミドのガラス転移温度(Tg)
を測定したところ261℃であった。熱分解温度は40
5℃であった。フィルムを25℃の水中に24時間浸漬
したときの吸水率は0.3%であった。
【0049】合成例2 2、2ービス[4ー(4ーアミノフェノキシ)フェニ
ル]プロパン(BAPP)4.10g(10ミリモル)
をDMF24.5gに溶解し、トリエチルアミン2.0
2g(20ミリモル)を添加した後、5℃以下に冷やし
ながらイソフタル酸クロリド2.03g(10ミリモ
ル)を少しづつ添加した。5℃以下で5時間反応した
後、合成例1と同様にしてポリアミド粉末を得た。還元
粘度は0.50dl/g,Tgは219℃、熱分解温度は4
25℃であった。また吸水率は2.2%であった。
【0050】合成例3 4、4’ージアミノジフェニルスルホン1.74g(7
ミリモル)、BAPP1.23g(3ミリモル)をDM
F20gに溶解し、トリエチルアミン2.02g(20
ミリモル)を添加した後、5℃以下に冷やしながらイソ
フタル酸クロリド2.03g(10ミリモル)を少しづ
つ添加した。5℃以下で5時間反応した後、合成例1と
同様にしてポリアミド粉末を得た。還元粘度は0.45
dl/g,Tgは260℃、熱分解温度は435℃であっ
た。また吸水率は2.5%であった。
【0051】実施例6 合成例1のポリイミド85wt%と合成例2のポリアミ
ド15wt%とを混合したDMFワニスをプラズマ処理
したユーピレックスSフィルム上に塗布した後、100
℃で10分、さらに250℃で10分乾燥して複合シー
トを得た。この複合シートを42アロイに重ねて350
℃、3MPaで5秒おしつけた後、90度引きはがし強
さを測定したところ、1.2kN/mであった。なお、
ブレンドフィルムのTgは255℃、吸水率は0.6%
であった。この複合シートを用いて図1のように半導体
チップをパッケージした後、85℃、85%RHの条件
で48h吸湿処理した後、260℃のはんだ浴につけた
がクラックは発生しなかった。
【0052】比較例3 合成例2のポリアミドのDMFワニスを実施例1と同様
にして複合シートを得た。42アロイとの接着力は1.
55kN/mであった。実施例1と同様にして得た半導体パ
ッケージは吸湿後のはんだ処理によってクラックが発生
した。
【0053】比較例4 合成例1のポリイミドのDMFワニスを実施例1と同様
にして複合シートを得た。しかしユーピレックスフィル
ムとの接着力が弱く、ときどき剥離する場合があった。
【0054】実施例7 合成例1のポリイミド60wt%と合成例3のポリアミ
ド40wt%とを混合したNMPワニスを用い、100
℃、10分、さらに300℃、10分で熱処理する以外
は実施例1と同様にして複合シートを得た。この複合シ
ートの42アロイとの接着力は1.6kN/mであっ
た。なお、ブレンドフィルムのTgは260℃、吸水率
は1.1%であった。この複合シートを用いて実施例1
と同様にして得た半導体パッケージは吸湿後のはんだ処
理によってもクラックが発生しなかった。
【0055】実施例8 IPDDM1.83g(5ミリモル)、BAPP2.0
5g(5ミリモル)、無水トリメリット酸クロリド0.
64g(3ミリモル)、トリエチルアミン0.30g
(3ミリモル)、NMP30gを用いる以外は合成例2
と同様にしてポリアミド酸ワニスを得た。このワニスに
5℃以下でビス(3、4ージカルボキシフェニル)スル
ホン二無水物(DSDA)2.51g(7ミリモル)を
少しずつ添加した後、5℃以下で5時間反応した。その
後、無水酢酸、ピリジンを添加して合成例1と同様にし
てポリアミドイミド粉末を得た。このポリアミドイミド
の還元粘度は0.65dl/g,Tgは257℃、熱分解温
度は385℃であった。また吸水率は1.0%であっ
た。アルカリ処理後、シランカップリング処理したカプ
トンフィルムに上記のポリアミドイミドをDMAcに溶
解したワニスを塗布し、100℃10分、275℃10
分熱処理して複合シートを得た。42アロイとの接着力
は1.4kN/mであり、実施例1と同様にして得た半導体
パッケージは吸湿後のはんだ処理によってクラックは発
生しなかった。
【0056】
【発明の効果】本発明の複合シートは吸湿率が低く、耐
熱性が高いので、半導体パッケージの信頼性向上に効果
がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】複合シ−トの使用状態を示す断面図である。
【符号の説明】
1.複合シ−ト 2.LSIチップ 3.リ−ドフレ−ム

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】表面処理した耐熱フィルムの片面または両
    面に、一般式が化1または化2で表わされる構成単位を
    含み、ガラス転移温度が250℃以上となるポリアミド
    酸またはポリイミドのワニスを塗布した後加熱して接着
    剤層を形成させることを特徴とする複合接着シ−トの製
    造法。 【化1】 【化2】 〔化1、化2において、R1、R2、R3、R4はそれぞれ
    独立に水素もしくは炭素数1〜4のアルキル基またはア
    ルコキシ基であってこれらのうち少なくとも2個以上は
    アルキル基またはアルコキシ基であり、R5 は水素また
    は炭素数1〜4のアルキル基であり、Xは−CH2 −、
    −C(CH32−、−O−、−SO2−、−CO−また
    は−NHCO−で表わされる基であり、Ar1 は4価の
    芳香族基である。〕
  2. 【請求項2】表面処理した耐熱フィルムの片面または両
    面に、一般式が化3で表わされる構成単位を含む耐熱性
    樹脂のワニスを塗布した後加熱して接着剤層を形成させ
    るものであって、接着剤層の樹脂は化4、化5、化6、
    化7、化8の芳香族基に連結する基の10〜90モル%
    がアミド基でありかつガラス転移温度が250℃以上の
    ものであることを特徴とする複合接着シ−トの製造法。 【化3】 〔化3において、R6、R7、R8、R9はそれぞれ独立に
    水素もしくは炭素数1〜4のアルキル基またはアルコキ
    シ基であってこれらのうち少なくとも2個以上はアルキ
    ル基またはアルコキシ基であり、Xは−CH2 −、−C
    (CH32−、−O−、−SO2 −、−CO−または−
    NHCO−で表わされる基であり、Zは化4、化5、化
    6、化7、化8 【化4】 【化5】 【化6】 【化7】 【化8】 (化4、化5、化6、化7、化8においてAr2 は2〜
    4価の芳香族基、R10は水素または炭素数1〜4のアル
    キル基である。)で表わされる基である。〕
JP3231493A 1993-02-22 1993-02-22 複合接着シ−トの製造法 Expired - Lifetime JP3682982B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3231493A JP3682982B2 (ja) 1993-02-22 1993-02-22 複合接着シ−トの製造法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3231493A JP3682982B2 (ja) 1993-02-22 1993-02-22 複合接着シ−トの製造法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002293803A Division JP3661678B2 (ja) 2002-10-07 2002-10-07 複合接着シ−ト

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06248241A true JPH06248241A (ja) 1994-09-06
JP3682982B2 JP3682982B2 (ja) 2005-08-17

Family

ID=12355482

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3231493A Expired - Lifetime JP3682982B2 (ja) 1993-02-22 1993-02-22 複合接着シ−トの製造法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3682982B2 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000061658A1 (fr) * 1999-04-09 2000-10-19 Kaneka Corporation Resine polyimide, composition de resine a resistance amelioree a l'humidite la comprenant, solution adhesive, colle en film adhesif en couches et leurs procedes de production
JP2001064618A (ja) * 1999-08-25 2001-03-13 Hitachi Chem Co Ltd 半導体用接着フィルム、半導体用接着フィルム付きリードフレーム及びこれを用いた半導体装置
US6717242B2 (en) 1995-07-06 2004-04-06 Hitachi Chemical Company, Ltd. Semiconductor device and process for fabrication thereof
US6825249B1 (en) 1994-12-26 2004-11-30 Hitachi Chemical Co., Ltd. Laminating method of film-shaped organic die-bonding material, die-bonding method, laminating machine and die-bonding apparatus, semiconductor device, and fabrication process of semiconductor device
US7057265B2 (en) 1995-07-06 2006-06-06 Hitachi Chemical Co., Ltd. Semiconductor device and process for fabrication thereof
JP2009141373A (ja) * 2008-12-22 2009-06-25 Hitachi Chem Co Ltd 半導体装置の製造方法

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6825249B1 (en) 1994-12-26 2004-11-30 Hitachi Chemical Co., Ltd. Laminating method of film-shaped organic die-bonding material, die-bonding method, laminating machine and die-bonding apparatus, semiconductor device, and fabrication process of semiconductor device
US6717242B2 (en) 1995-07-06 2004-04-06 Hitachi Chemical Company, Ltd. Semiconductor device and process for fabrication thereof
US7012320B2 (en) 1995-07-06 2006-03-14 Hitachi Chemical Company, Ltd. Semiconductor device and process for fabrication thereof
US7057265B2 (en) 1995-07-06 2006-06-06 Hitachi Chemical Co., Ltd. Semiconductor device and process for fabrication thereof
US7078094B2 (en) 1995-07-06 2006-07-18 Hitachi Chemical Co., Ltd. Semiconductor device and process for fabrication thereof
US7387914B2 (en) 1995-07-06 2008-06-17 Hitachi Chemical Company, Ltd. Semiconductor device and process for fabrication thereof
US7781896B2 (en) 1995-07-06 2010-08-24 Hitachi Chemical Co., Ltd. Semiconductor device and process for fabrication thereof
WO2000061658A1 (fr) * 1999-04-09 2000-10-19 Kaneka Corporation Resine polyimide, composition de resine a resistance amelioree a l'humidite la comprenant, solution adhesive, colle en film adhesif en couches et leurs procedes de production
US6693162B2 (en) 1999-04-09 2004-02-17 Kaneka Japan Corporation Polyimide resin and resin composition, adhesive solution, film-state joining component,and adhesive laminate film improved in moisture resistance using it, and production methods therefor
JP2001064618A (ja) * 1999-08-25 2001-03-13 Hitachi Chem Co Ltd 半導体用接着フィルム、半導体用接着フィルム付きリードフレーム及びこれを用いた半導体装置
JP2009141373A (ja) * 2008-12-22 2009-06-25 Hitachi Chem Co Ltd 半導体装置の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3682982B2 (ja) 2005-08-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5251508B2 (ja) 耐熱性フィルム金属箔積層体、およびその製造方法
CN107207747B (zh) 利用交联型水溶性热塑性聚酰胺酸的热熔接多层聚酰亚胺膜及其制备方法
JP4925619B2 (ja) ポリイミド樹脂およびそれを用いた導体付きフィルム
CN101027341A (zh) 具有高粘接性的聚酰亚胺薄膜的制造方法
WO2006011513A1 (ja) 高い接着性を有するポリイミドフィルムおよびその製造方法
JP2011101977A (ja) ポリイミド金属積層体およびポリイミド接着シート
JP4205993B2 (ja) 金属積層体
KR100243731B1 (ko) 내열성 접착제
JPH10265760A (ja) フィルム接着剤とその製造方法
JP3682982B2 (ja) 複合接着シ−トの製造法
JP2943953B2 (ja) 耐熱性接着剤
JPH02115265A (ja) 耐熱性フイルムおよびその積層物
JP2952868B2 (ja) 耐熱性の接着剤
JP2597215B2 (ja) ポリイミドシロキサン組成物および固化膜
JPH11335652A (ja) フィルム接着剤
JP3356096B2 (ja) 接着剤の必須成分として使用されるポリイミドシロキサン
JPH08245942A (ja) 耐熱性接着剤
JP3411709B2 (ja) 複合接着シートの製造法
JP3661678B2 (ja) 複合接着シ−ト
JPH0423879A (ja) 耐熱性イミド接着剤
JP3109707B2 (ja) 耐熱性接着剤及びそれを含む半導体パッケージ
JPH051224A (ja) 熱硬化性樹脂組成物及びフイルム状接着剤
JP2671162B2 (ja) 耐熱性樹脂接着剤
JP3031027B2 (ja) 耐熱性接着剤組成物
JPH10120785A (ja) ポリイミド樹脂組成物およびフィルム接着剤とその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050524

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090603

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100603

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100603

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110603

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110603

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120603

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120603

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130603

Year of fee payment: 8

EXPY Cancellation because of completion of term