JPH06244938A - 試験機能を備えた電子交換装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 装置単体での試験を、試験者の熟練を要する
ことなく簡単かつ短時間に行なえ、しかも擾乱の発生を
防止して試験目的に合致した試験結果を得る。 【構成】 各インタフェース回路ＬＣ１〜ＬＣｎ，ＴＲ
Ｋ１〜ＴＲＫｍ，ＡＩＦにおける呼処理動作や障害処理
動作を模擬した試験手順を表わす試験プログラムを主記
憶装置１３に予め記憶しておき、この試験プログラムを
保守用端末２０からの指示により試験対象のインタフェ
ース回路に転送する。また、インタフェース回路に試験
実行部３５を設け、この試験実行部３５により内線およ
び局線の切り離しおよび中央制御回路１２の切り離しを
論理的に行なって試験用の信号経路を設定し、この状態
で上記転送された試験プログラムの試験手順にしたがっ
てインタフェース回路の処理動作を試験するようにして
いる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えばオフィスや事業
所などに設置される電子構内交換機に係わり、特に交換
装置単体での試験や運用中の呼処理および障害処理に関
する処理機能の試験を行なうための機能を備えた電子交
換装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】電子交換装置の試験は、機能の追加や変
更を行なった場合のみならず、データの変更や定期的な
点検などにおいても実施され、その必要性は非常に高く
なっている。

【０００３】機能の追加や変更を行なった場合、交換装
置は外部装置や実回線に接続される前に交換装置単体で
試験される。この種の試験は、例えば呼処理機能を動作
させるために、局線インタフェースに接続される局線を
折り返して他の局線インタフェースに接続することによ
り発着信を模擬したり、内線インタフェースに必要数の
内線端末または自動試験機を接続することにより行なわ
れる。また、障害処理機能については、運用状態での試
験が不可能なものがあり、そのために例えば試験のため
に本来の動作プログラムを一部変更したりハードウエア
を細工するなどといった処置が行なわれる。

【０００４】一方、運用中に実回線を接続したままデー
タの変更や定期的な点検を行なう場合には、設定データ
そのものの試験も評価の対象となるが、運用に用いるデ
ータばかりでなく試験用のデータも設定しなければなら
ない試験では、試験自体が評価結果に影響を与える。

【０００５】すなわち、呼処理の実行を伴う試験や障害
を発生させることを伴う試験を実施する場合には、本来
の試験内容ばかりでなく装置に何らかの擾乱が発生して
いることが多い。これは、単に試験の実施方法に制約を
与えるのみならず、試験結果の評価方法を複雑にし、ま
た試験結果に重要な影響を与えることがあることを意味
している。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところが、この様な従
来の電子構内交換装置には次のような改善すべき課題が
あった。すなわち、上記したように従来の電子構内交換
装置では、試験のために局線の接続替えや自動試験機な
どの接続を行なわなければならず、さらにはプログラム
の変更やハードウエアの細工等も行なわなければならな
い。このため、試験作業が極めて専門的となり、ごく限
られた保守要員や設計担当者しか試験を行なうことがで
きなかった。また、たとえ熟練した保守要員や設計担当
者が試験を行なう場合でも、容易に実施できない試験項
目があるため試験に多くの手間と時間を必要としてい
た。

【０００７】さらに、試験本来の目的以外の擾乱が起き
ることがあり、これが試験結果に影響を与えて正しい評
価を行なえなくなることがあった。例えば、任意の局線
インタフェースに接続されている局線を他の局線インタ
フェースに折り返して接続している場合には、発信呼を
発生させると同時に着信呼が発生することになり、この
ときに内部的なデータを採取すると発信呼に関するデー
タと着信呼に関するデータとの混在を招く。また、課金
情報やトラヒック測定データについても、発信呼と着信
呼の双方について採取されることになるため、採取した
データが一層混乱する。

【０００８】本発明は上記事情に着目してなされたもの
で、その目的とするところは、装置単体での試験を、試
験者の熟練を要することなく簡単かつ短時間に行なえる
ようにし、しかも擾乱などの発生を防止して試験目的に
合致した試験結果を得ることができる試験機能を備えた
電子交換装置を提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、記憶部に、内線および外線の各インタフェ
ースの所定の処理動作を模擬した試験手順を表わす試験
プログラムを記憶した試験プログラム記憶領域を設け、
かつ試験プログラム転送手段と、試験信号路設定手段
と、試験実行手段とを備えている。そして、保守情報入
力手段により入力された指示に応じて、上記試験プログ
ラム転送手段により上記記憶部の試験プログラム記憶領
域から各インタフェースへ試験プログラムを選択的に転
送するとともに、上記試験信号路設定手段により、内線
および外線をインタフェースから論理的に切り離す処
理、および中央制御部をインタフェースから論理的に切
り離す処理のうちの少なくとも一方を実行し、かつこの
試験信号路設定手段により試験信号路が設定された状態
で、上記試験実行手段により、上記転送された試験プロ
グラムに従ってインタフェースにおいて所定の処理に係
わる試験を実行するようにしたものである。

【００１０】

【作用】この結果本発明によれば、外線の折り返し接続
やインタフェースと中央制御部との切り離しはインタフ
ェースにおいて論理的に行なわれることになるので、試
験者は上記折り返し接続や切り離し作業を手作業で行な
う必要がなくなる。また試験プログラムに、呼処理試験
や障害処理に係わる試験の手順を記述しておくことによ
り、呼処理に関する試験は勿論のこと、障害試験につい
ても実際には実現不可能な状態を容易に模擬して試験を
行なうことが可能となり、これにより如何なる試験をも
容易に実施することができる。また、試験プログラムに
従って試験を行なうことにより、データの混乱などを生
じることがなく、また余計な擾乱を発生させることなく
本来の試験目的に合致した試験結果を得ることができ
る。

【００１１】

【実施例】以下図面を参照して本発明の実施例を説明す
る。図１は、本発明の一実施例に係わる試験機能を備え
た電子構内交換装置の構成を示す回路ブロック図であ
り、１０は交換装置本体を示している。この交換装置本
体１０は、通話路スイッチ回路１１と、複数の内線イン
タフェース回路ＬＣ１〜ＬＣｎと、複数のトランクイン
タフェース回路ＴＲＫ１〜ＴＲＫｍと、中継台インタフ
ェース回路ＡＩＦとを備えている。

【００１２】このうち通話路スイッチ回路１１は、後述
する中央制御回路１２の制御に従ってスイッチング動作
し、これにより上記内線インタフェース回路ＬＣ１〜Ｌ
Ｃｎ相互間、内線インタフェース回路ＬＣ１〜ＬＣｎと
各トランクインタフェース回路ＴＲＫ１〜ＴＲＫｍとの
間、および中継台インタフェース回路ＡＩＦと内線イン
タフェース回路ＬＣ１〜ＬＣｎおよびトランクインタフ
ェース回路ＴＲＫ１〜ＴＲＫｍとの間を選択的に接続す
る。内線インタフェース回路ＬＣ１〜ＬＣｎには、各々
内線ＩＬ１〜ＩＬｎを介して電話機などの内線端末ＴＥ
Ｌ１〜ＴＥＬｎが接続される。また上記各トランクイン
タフェース回路ＴＲＫ１〜ＴＲＫｍは、各々局線ＯＬ１
〜ＯＬｍを介して図示しない例えば公衆回線網に接続さ
れる。中継台インタフェース回路ＡＩＦには中継用内線
ＡＬを介して中継台ＡＴＴが接続される。

【００１３】また、交換装置本体１０は中央制御回路１
２を備えている。この中央制御回路１２には、バスを介
して上記通話路スイッチ回路１１および各インタフェー
ス回路ＬＣ１〜ＬＣｎ，ＴＲＫ１〜ＴＲＫｍ，ＡＩＦが
それぞれ接続され、さらに主記憶装置１３および外部イ
ンタフェース回路１４が接続されている。

【００１４】主記憶装置１３は、例えばＲＯＭやＲＡＭ
などの固体メモリ、ハードディスクまたはフロッピディ
スクを記憶媒体として用いたもので、中央制御回路１２
で使用されるプログラムやデータを記憶している。ま
た、主記憶装置１３には試験プログラム記憶領域１３ａ
が設けられている。この記憶領域１３ａには、上記各イ
ンタフェース回路ＬＣ１〜ＬＣｎ，ＴＲＫ１〜ＴＲＫ
ｍ，ＡＩＦが呼処理に係わる試験や障害処理に係わる試
験などを行なうために必要な試験プログラムが記憶して
ある。

【００１５】外部インタフェース回路１４には、保守用
端末２０が接続されている。この保守用端末２０は、例
えばパーソナルコンピ−タからなり、交換装置が有する
保守および試験機能の実行や呼処理データの設定などを
行なうために使用される。

【００１６】中央制御回路１２は、通常の交換制御手段
に加えて交換装置の機能を試験するための制御手段１２
ａを有している。この試験制御手段１２ａは、保守用端
末２０から試験の実行指示が入力された場合に、先ず主
記憶装置１３に記憶されている試験プログラムを読み出
して試験対象のインタフェース回路に転送し、この試験
プログラムの転送終了後にインタフェース回路に対し試
験の実行開始指示を与えて試験を実行させるものであ
る。

【００１７】ところで、各インタフェース回路ＬＣ１〜
ＬＣｎ，ＴＲＫ１〜ＴＲＫｍ，ＡＩＦは例えば次のよう
に構成される。図２は各インタフェース回路ＬＣ１〜Ｌ
Ｃｎ，ＴＲＫ１〜ＴＲＫｍ，ＡＩＦに共通の基本構成を
示す回路ブロック図である。各インタフェース回路ＬＣ
１〜ＬＣｎ，ＴＲＫ１〜ＴＲＫｍ，ＡＩＦは、ハードウ
エア制御部３１と、呼処理制御部３２と、障害監視部３
３と、信号制御部３４と、試験実行部３５とから構成さ
れる。

【００１８】ハードウエア制御部３１は、接続されてい
る内線ＩＬまたは局線ＯＬと交換装置内の通話路との間
の経路設定にあたり、内線ＩＬまたは局線ＯＬの状態の
変化を検出したり内線ＩＬまたは局線ＯＬの制御を行な
う。呼処理制御部３２は、内線ＩＬまたは局線ＯＬの状
態の状態にあわせ、ハードウエア制御部３１からの通知
や中央制御回路１２からの指示に従って呼処理動作を実
行する。障害監視部３３は、ハードウエア制御部３１お
よび呼処理制御部３２の動作を監視して障害を検出し、
この障害に対し所定の対応処理を実行する。また、必要
に応じて中央制御回路１２に障害の発生および復旧を通
知する。信号制御部３４は、中央制御回路１２から送ら
れた種々信号を呼処理制御部３２、障害監視部３３およ
び試験実行部３５へ分配するとともに、呼処理制御部３
２、障害監視部３３および試験実行部３５から発生され
た信号を集めて中央制御回路１２へ転送する。

【００１９】試験実行部３５は、主記憶装置１３から転
送された試験プログラムを蓄積するメモリを有する。ま
た、中央制御回路１２からの指示に従って、呼処理制御
部３２および障害監視部３３を論理的に切り離す処理
と、中央制御回路１２を切り離す処理とを選択的に実行
する。そして、この切り離しがなされた状態で、上記試
験プログラムに表される試験手順に従ってハードウエア
制御部３１を直接制御し、これにより呼処理や障害処理
を模擬した試験を行なう。

【００２０】次に、以上のように構成された装置の動作
を説明する。試験を行なうに際し、試験担当者は先ず保
守用端末２０により試験プログラムを試験対象のインタ
フェース回路へ転送させるための操作を行なう。図３
（ａ）はその操作内容の一例を示すもので、主記憶装置
１３の試験プログラム記憶領域１３ａがハードディスク
にあり、かつ「Ｓｃｒｉｐｔ＋１」と名付けられた試験
プログラムを「０１０１」なるインタフェース番号が付
されたインタフェース回路へ転送させる場合を示してい
る。保守用端末２０において上記操作が行なわれると、
中央制御回路１２は主記憶装置１３の試験プログラム記
憶領域１３ａをアクセスして試験プログラム「Ｓｃｒｉ
ｐｔ＋１」を読み出し、この試験プログラムをシステム
バスを介してインタフェース回路「０１０１」に転送す
る。この転送された試験プログラムは、インタフェース
回路の試験実行部３５内に設けられているメモリに蓄積
される。なお、この試験プログラムの転送動作は交換装
置の通常の運用動作には何ら影響を及ぼさない。

【００２１】次に試験担当者は、保守用端末２０におい
て、試験実行状態の設定あるいは解除を行なうための指
示操作を行なう。この指示操作の内容には、番号を指定
したインタフェース回路に対し、回線を切り離して試験
を行なうか、中央制御回路１２側を切り離して試験を行
なうか、さらには設定中の試験実行状態を解除して通常
の運用状態に復帰させるかの３種類がある。図３（ｂ）
はそのうちの一つを示すもので、インタフェース回路
「０１０１」に対し回線の切り離しを指示する場合を示
している。この指示操作がなされると、中央制御回路１
２からインタフェース回路「０１０１」に対し回線の切
り離し指示が送られる。このため、インタフェース回路
「０１０１」では、試験実行部３５により呼処理制御部
３２および障害監視部３３がハードウエア制御部３１か
ら切り離される。この回線側の切り離しが行なわれる
と、それ以後の回線の状態の変化や回線から受信された
信号は中央制御回路１２には通知されない。また、イン
タフェース回路において検出される障害は復旧状態とな
り、試験手順に障害発生を模擬する手順が記述されてい
なければ障害状態になることはなく、また回線に対し制
御が行なわれることもない。

【００２２】また、保守用端末２０において中央制御回
路１２の切り離しが指示されると、インタフェース回路
では試験実行部３５により中央制御回路１２を切り離す
ための処理が行なわれる。この中央制御回路１２の切り
離しがなされると、それ以後試験実行状態の解除以外の
指示は無効となり、またインタフェース回路から中央制
御回路１２への通知は試験プログラムに記述されている
ものに限って行なわれる。つまり、中央制御回路１２で
は、該当するインタフェース回路を障害閉塞状態として
取り扱う。

【００２３】上記のように試験実行状態の設定が終了す
ると、続いて試験担当者は保守用端末２０において例え
ば図３（ｃ）に示すごとく試験の実行指示を入力する。
そうすると、中央制御回路１２からインタフェース回路
に対し実行指示が送られる。その結果、インタフェース
回路の試験実行部３５では、先に転送された試験プログ
ラムにより表わされる試験手順に従って試験が実行され
る。

【００２４】試験手順の実行状態はポインタテーブルに
より管理される。ポインタテーブルは、例えば図４
（ａ）に示すごとく実行中の試験手順の位置を示すポイ
ンタを回路番号（チャネル番号）に対応付けて記憶した
ものである。また、試験手順は例えば図４（ｂ）に示す
ように、行番号（１，２，３，…）に対応付けて回路番
号、命令名およびオペランドをそれぞれ記憶したものと
なっている。行番号は、上記ポインタテーブルで使用さ
れる値で、実行中または次に実行される命令の行番号が
ポインタテーブルに書き込まれている。命令名には、信
号送出（ｓｅｎｄ）、応答待ち（ｗａｉｔ）、待ち（ｐ
ａｕｓｅ）などがある。オペランドは命令の内容を示す
もので、例えば信号送出（ｓｅｎｄ）のオペランドが
“着信要求”であれば、インタフェース回路が“着信要
求”の信号を送出することを意味している。

【００２５】図５は、インタフェース回路の試験実行部
３５における試験の実行手順を示すフローチャートであ
る。すなわち、先に述べたように中央制御回路１２から
試験手順の実行指示が到来すると、試験実行部３５は先
ずステップ５ａで回路番号（チャネル番号）を１に初期
設定し、続いてステップ５ｂを経てステップ５ｃに移行
してここで回路番号（チャネル番号）＝１に新しい受信
信号があるか否かを調べる。新しい受信信号がない場合
には、ステップ５ｄに移行してここで命令を読み込み、
この命令が応答待ち（ｗａｉｔ）や待ち（ｐａｕｓｅ）
のような不実行の命令でなければ、ステップ５ｅにてこ
の命令を実行する。この実行が終了すると試験実行部３
５は、ステップ５ｆでポインタテーブルを更新し、しか
るのちステップ５ｇで回路番号を次の値にインクリメン
トして上記ステップ５ｂに戻る。そして、次の回路番号
（チャネル番号）について同様の手順を実行する。な
お、命令が上記応答待ち（ｗａｉｔ）や待ち（ｐａｕｓ
ｅ）のような不実行の命令だった場合には、ポインタテ
ーブルを更新せずにそのままステップ５ｇに移行し、こ
こで回路番号（チャネル番号）のインクリメントを行な
ってステップ５ｂに戻る。

【００２６】一方、上記ステップ５ｃにおいて新しい受
信信号があることが確認された場合には、試験実行部３
５はステップ５ｈに移行して、ここで命令が応答待ち
（ｗａｉｔ）であるか否かを判定する。そして、応答待
ち（ｗａｉｔ）であると判定されると、ステップ５ｉで
受信信号がオペランドに記述されているものと一致する
か否かを判定し、一致すればステップ５ｊに移行してこ
こでポインタテーブルの更新を行ない、しかるのちステ
ップ５ｂに戻る。これに対し、命令が応答待ち（ｗａｉ
ｔ）以外の命令であるか、もしくは受信信号がオペラン
ドに記述されているものと一致しなければ、試験実行部
３５はポインタテーブルの更新を行なわずにそのままス
テップ５ｂに戻る。以後同様に試験実行部３５は、上記
手順をすべての回路番号（チャネル番号）について実行
する。

【００２７】図６は、試験手順の一例として、ＩＳＤＮ
用のトランクインタフェース回路に対し発信したのち切
断するまでの信号の流れを模擬する試験手順を示したも
のである。ＩＳＤＮの場合には、ＳＥＴＵＰまたはＣＡ
ＬＬ ＰＲＯＣのチャネル番号にＣＡＬＬ ＲＥＦＥＲ
ＥＮＣＥ番号を対応させることにより、試験手順はチャ
ネル番号により処理される。この例では、１０秒間の通
話後に切断され、試験手順終了後にメッセージが出力さ
れる。

【００２８】試験が終了し、試験担当者が保守用端末２
０により試験実行状態の解除指示を入力すると、その旨
の指示が中央制御回路１２からインタフェース回路に通
知される。この結果インタフェース回路の各部３１〜３
５は、試験実行状態を解除して通常の運用状態に復帰す
る。なお、その再障害監視部３３は運用状態に復帰する
前に障害の発生状態を調べ、その結果を中央制御回路１
２に通知するための処理を実行する。

【００２９】このように本実施例の電子構内交換装置で
は、各インタフェース回路ＬＣ１〜ＬＣｎ，ＴＲＫ１〜
ＴＲＫｍ，ＡＩＦにおける呼処理動作や障害処理動作を
模擬した試験手順を表わす試験プログラムを主記憶装置
１３に予め記憶しておき、この試験プログラムを保守用
端末２０の操作により試験対象のインタフェース回路に
転送している。また、インタフェース回路に試験実行部
３５を設け、この試験実行部３５により内線および局線
の切り離しおよび中央制御回路１２の切り離しを論理的
に行なって試験用の信号経路を設定し、この状態で上記
転送された試験プログラムの試験手順にしたがってイン
タフェース回路の処理動作を試験するようにしている。

【００３０】したがって本実施例であれば、試験実行状
態として回線側を切り離す設定を行なうことにより、回
線に接続された装置が試験時には接続できない場合の試
験や、実際には発生させることが困難な障害を模擬する
試験、繰り返し動作を必要とする試験、複雑な手順を必
要とする試験などを、データの擾乱などを発生すること
なく確実に実施することができる。また、中央制御回路
１２側を切り離す設定を行なうことにより、内線端末Ｔ
ＥＬ１〜ＴＥＬｎ側の試験を行なったり、他の交換機に
接続した場合の試験などを行なうことができる。

【００３１】また、上記切り離し等が論理的に行なわれ
るので、試験担当者は上記切り離し作業等を手作業で行
なう必要がなくなり、さらに試験は試験プログラムの試
験手順にしたがって自動的に実行されるので、試験担当
者は試験手順に応じて信号の入力操作などを全く行なう
必要もなくなる。すなわち、試験のために必要だった手
間のかかる諸作業を省略することができ、これにより試
験担当者の負担を大幅に軽減するとともに、試験を能率
良く正確に実行することができる。

【００３２】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではない。例えば、試験担当者からの試験に関する種
々の指示操作は、電子構内交換装置本体１０に付設され
た保守用端末２０を使用する以外に、電子構内交換装置
本体１０に対し通信回線を介して接続された遠隔保守用
端末を使用して行なってもよい。

【００３３】また、前記実施例では、試験実行状態の設
定／解除や、試験プログラムの実行／停止の指示を試験
担当者が保守用端末２０から入力するようにした場合に
ついて説明したが、試験プログラムに含めて自動的に実
行させるようにしてもよい。

【００３４】その他、試験プログラムの試験手順および
その内容、試験プログラムを記憶するための手段、試験
信号路設定手段および試験実行手段の動作手順や内容、
電子交換機の種類やその回路構成等についても、本発明
の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。

【００３５】

【発明の効果】以上詳述したように本発明は、記憶部
に、内線および外線の各インタフェースの所定の処理動
作を模擬した試験手順を表わす試験プログラムを記憶し
ておき、保守情報入力手段により入力された指示に応じ
て、上記試験プログラムを各インタフェースへ選択的に
転送するとともに、内線および外線をインタフェースか
ら論理的に切り離す処理、および中央制御部をインタフ
ェースから論理的に切り離す処理のうちの少なくとも一
方を実行し、かつこの処理により試験信号路が設定され
た状態で、上記転送された試験プログラムに従ってイン
タフェースにおいて所定の処理に係わる試験を実行する
ようにしたものである。

【００３６】したがって本発明によれば、装置単体での
試験を、試験者の熟練を要することなく簡単かつ短時間
に行なうことができ、しかも擾乱などの発生を防止して
試験目的に合致した試験結果を得ることができる試験機
能を備えた電子交換装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例に係わる試験機能を備えた電
子構内交換装置の構成を示す回路ブロック図。

【図２】図１に示した電子構内交換装置におけるインタ
フェース回路の基本構成を示す回路ブロック図。

【図３】保守用端末から入力される試験に係わる指示内
容の一例を示す図。

【図４】インタフェース回路における試験手順の実行処
理を説明するための図。

【図５】インタフェース回路における試験プログラムの
実行手順を示すフローチャート。

【図６】試験手順の具体例を示す図。

【符号の説明】

１０…電子構内交換装置本体 １１…通話路スイ
ッチ回路 １２…中央制御回路 １２ａ…試験制御
手段 １３…主記憶装置 １３ａ…試験プロ
グラム記憶部 １４…外部インタフェース回路 ２０…保守用端末 ３１…ハードウエア制御部 ３２…呼処理制御
部 ３３…障害監視部 ３４…信号処理部 ３５…試験実行部 ＬＣ１〜ＬＣｎ…内線インタフェース回路 ＴＲＫ１〜ＴＲＫｍ…トランクインタフェース回路 ＡＩＦ…中継台インタフェース回路 ＴＥＬ１〜ＴＥＬｎ…内線端末 ＩＬ１〜ＩＬｎ…内線 ＯＬ１〜ＯＬｍ…
局線 ＡＬ…中継台用内線

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 各々内線を介して通信端末が接続される
   複数の内線インタフェースと、各々外線に接続される複
   数のトランクインタフェースと、これらのインタフェー
   スを制御する中央制御部と、この中央制御部が使用する
   プログラムおよびデータを記憶した記憶部と、保守情報
   入力手段とを備えた電子交換装置において、 前記記憶部に設けられ、前記各インタフェースの所定の
   処理動作を模擬した試験手順を表わす試験プログラムを
   記憶した試験プログラム記憶領域と、 前記保守情報入力手段により入力された指示に応じて、
   前記記憶部の試験プログラム記憶領域に記憶されている
   試験プログラムを前記各インタフェースに選択的に転送
   するための試験プログラム転送手段と、 前記インタフェースから内線および外線を論理的に切り
   離す処理、および前記インタフェースから中央制御部を
   論理的に切り離す処理のうちの少なくとも一方を実行す
   るための試験信号路設定手段と、 この試験信号路設定手段により試験信号路が設定された
   状態で、前記試験プログラム転送手段により転送された
   試験プログラムに従って、前記インタフェースにおいて
   所定の処理に係わる試験を実行するための試験実行手段
   とを備えたことを特徴とする試験機能を備えた電子交換
   装置。