JPH06241954A - 回転体の異常診断装置 - Google Patents
回転体の異常診断装置Info
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- JPH06241954A JPH06241954A JP5027862A JP2786293A JPH06241954A JP H06241954 A JPH06241954 A JP H06241954A JP 5027862 A JP5027862 A JP 5027862A JP 2786293 A JP2786293 A JP 2786293A JP H06241954 A JPH06241954 A JP H06241954A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＡＥ信号のバックノイズに影響されることな
く、正確な異常診断を行うことができる回転体の異常診
断装置を提供する。 【構成】 この異常診断装置が備えるコンピュータが内
蔵するプログラムは、軸受からのアコースティックエミ
ッションを検出するＡＥセンサからのＡＥ信号を受け
て、上記ＡＥ信号の低周波数帯域の成分に対する上記Ａ
Ｅ信号の高周波数帯域の成分の成分比Ｖb／Ｖaを算出す
る成分比算出手段を構成するステップＳ１〜Ｓ６と、こ
の成分比Ｖb／Ｖaと所定の基準値とを比較し、成分比Ｖ
b／Ｖaが所定の基準値を越えたときに、軸受が異常であ
ると判断する比較判断手段を構成するステップＳ７とを
備えている。
く、正確な異常診断を行うことができる回転体の異常診
断装置を提供する。 【構成】 この異常診断装置が備えるコンピュータが内
蔵するプログラムは、軸受からのアコースティックエミ
ッションを検出するＡＥセンサからのＡＥ信号を受け
て、上記ＡＥ信号の低周波数帯域の成分に対する上記Ａ
Ｅ信号の高周波数帯域の成分の成分比Ｖb／Ｖaを算出す
る成分比算出手段を構成するステップＳ１〜Ｓ６と、こ
の成分比Ｖb／Ｖaと所定の基準値とを比較し、成分比Ｖ
b／Ｖaが所定の基準値を越えたときに、軸受が異常であ
ると判断する比較判断手段を構成するステップＳ７とを
備えている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、アコースティックエ
ミッション(ＡＥ)を利用して、回転体の異常を検出する
回転体の異常診断装置に関する。
ミッション(ＡＥ)を利用して、回転体の異常を検出する
回転体の異常診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の回転体の異常診断装置と
しては、例えば、ＡＥセンサによって軸受からのＡＥを
検出し、帯域フィルタによって上記ＡＥセンサが出力し
たＡＥ信号から回転体の異常に関連する所定の周波数帯
域の成分Ｖb(図３(Ａ)に示す６００ｋＨｚ付近の帯域の
成分)を取り出し、比較判断手段によって上記所定の周
波数帯域の成分Ｖbが所定の閾値を越えたか否かを判断
し、図３(Ｃ)に示すように、上記所定の周波数帯域の成
分Ｖbが所定の閾値を越えたときに表示装置で軸受の異
常が発生したことを表示するようにしたものがある。
しては、例えば、ＡＥセンサによって軸受からのＡＥを
検出し、帯域フィルタによって上記ＡＥセンサが出力し
たＡＥ信号から回転体の異常に関連する所定の周波数帯
域の成分Ｖb(図３(Ａ)に示す６００ｋＨｚ付近の帯域の
成分)を取り出し、比較判断手段によって上記所定の周
波数帯域の成分Ｖbが所定の閾値を越えたか否かを判断
し、図３(Ｃ)に示すように、上記所定の周波数帯域の成
分Ｖbが所定の閾値を越えたときに表示装置で軸受の異
常が発生したことを表示するようにしたものがある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
回転体の異常診断装置では、軸受のＡＥのバックノイズ
が増加して、図３(Ｂ)に示すように、ＡＥ信号の全周波
数帯域に亘って振幅が増加し、６００ｋＨｚにおける振
幅が、上記閾値を越えると、軸受の異常が発生していな
い場合にも、軸受の異常が発生したことを表示してしま
うという問題がある。
回転体の異常診断装置では、軸受のＡＥのバックノイズ
が増加して、図３(Ｂ)に示すように、ＡＥ信号の全周波
数帯域に亘って振幅が増加し、６００ｋＨｚにおける振
幅が、上記閾値を越えると、軸受の異常が発生していな
い場合にも、軸受の異常が発生したことを表示してしま
うという問題がある。
【０００４】そこで、この発明の目的は、ＡＥ信号のバ
ックノイズに影響されることなく、正確な異常診断を行
うことができる回転体の異常診断装置を提供することに
ある。
ックノイズに影響されることなく、正確な異常診断を行
うことができる回転体の異常診断装置を提供することに
ある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明の回転体の異常診断装置は、回転体からの
アコースティックエミッションを検出してＡＥ信号を出
力するＡＥセンサと、上記ＡＥセンサからのＡＥ信号を
受けて、上記ＡＥ信号の低周波数帯域の成分に対する上
記ＡＥ信号の高周波数帯域の成分の成分比を算出し、こ
の成分比を表す成分比信号を出力する成分比算出手段
と、上記成分比算出手段からの成分比信号を受けて、こ
の成分比信号と所定の基準値とを比較し、上記成分比信
号が所定の基準値を越えたときに、上記回転体が異常で
あると判断する比較判断手段とを備えたことを特徴とし
ている。
め、この発明の回転体の異常診断装置は、回転体からの
アコースティックエミッションを検出してＡＥ信号を出
力するＡＥセンサと、上記ＡＥセンサからのＡＥ信号を
受けて、上記ＡＥ信号の低周波数帯域の成分に対する上
記ＡＥ信号の高周波数帯域の成分の成分比を算出し、こ
の成分比を表す成分比信号を出力する成分比算出手段
と、上記成分比算出手段からの成分比信号を受けて、こ
の成分比信号と所定の基準値とを比較し、上記成分比信
号が所定の基準値を越えたときに、上記回転体が異常で
あると判断する比較判断手段とを備えたことを特徴とし
ている。
【０００６】
【作用】上記構成の回転体の異常診断装置は、上記成分
比算出手段が出力する成分比信号が所定の基準値を越え
たとき、即ち、上記ＡＥ信号の低周波数帯域の成分に対
する上記ＡＥ信号の高周波数帯域の成分の成分比が所定
の値を越えたときに、上記比較判断手段は上記回転体が
異常であると判断する。
比算出手段が出力する成分比信号が所定の基準値を越え
たとき、即ち、上記ＡＥ信号の低周波数帯域の成分に対
する上記ＡＥ信号の高周波数帯域の成分の成分比が所定
の値を越えたときに、上記比較判断手段は上記回転体が
異常であると判断する。
【０００７】従って、本発明によれば、上記ＡＥ信号の
バックノイズが増加して、上記ＡＥ信号の全周波数帯域
に亘って振幅が増加しても上記成分比は変化しないの
で、ＡＥ信号のバックノイズに影響されることなく、回
転体の異常に対応する高周波数帯域のＡＥ信号成分に基
づいて正確な異常診断を行うことができる。
バックノイズが増加して、上記ＡＥ信号の全周波数帯域
に亘って振幅が増加しても上記成分比は変化しないの
で、ＡＥ信号のバックノイズに影響されることなく、回
転体の異常に対応する高周波数帯域のＡＥ信号成分に基
づいて正確な異常診断を行うことができる。
【０００８】
【実施例】以下、この発明を図示の実施例により詳細に
説明する。
説明する。
【０００９】図１に、本発明の一実施例である軸受の異
常診断装置のブロック図を示す。図１に示すように、こ
の実施例は、ＡＥセンサ１１と、プリアンプ１２と、低
域バンドパスフィルタ１５と、高域バンドパスフィルタ
１６と、メインアンプ１７,１８と、減衰度比較回路１
９と、ホストコンピュータ２０と、表示装置２１とを備
えている。
常診断装置のブロック図を示す。図１に示すように、こ
の実施例は、ＡＥセンサ１１と、プリアンプ１２と、低
域バンドパスフィルタ１５と、高域バンドパスフィルタ
１６と、メインアンプ１７,１８と、減衰度比較回路１
９と、ホストコンピュータ２０と、表示装置２１とを備
えている。
【００１０】上記ＡＥセンサ１１は、軸受(図示せず)に
取り付けられて、軸受から発生するＡＥを検出して、Ａ
Ｅ信号を出力する。上記プリアンプ１２は、ＡＥセンサ
１１からのＡＥ信号を増幅する。上記低域バンドパスフ
ィルタ１５は、上記プリアンプ１２が出力するＡＥ信号
の低域周波数成分(５０ｋＨｚ帯域の成分)だけを通過さ
せる。また、上記高域バンドパスフィルタ１６は、上記
プリアンプ１２が出力するＡＥ信号の高域周波数成分
(６００ｋＨｚ帯域の成分)だけを通過させる。また、上
記メインアンプ１７は、上記低域バンドパスフィルタ１
５の出力信号を増幅し、上記メインアンプ１８は、上記
高域バンドパスフィルタ１６の出力信号を増幅する。
取り付けられて、軸受から発生するＡＥを検出して、Ａ
Ｅ信号を出力する。上記プリアンプ１２は、ＡＥセンサ
１１からのＡＥ信号を増幅する。上記低域バンドパスフ
ィルタ１５は、上記プリアンプ１２が出力するＡＥ信号
の低域周波数成分(５０ｋＨｚ帯域の成分)だけを通過さ
せる。また、上記高域バンドパスフィルタ１６は、上記
プリアンプ１２が出力するＡＥ信号の高域周波数成分
(６００ｋＨｚ帯域の成分)だけを通過させる。また、上
記メインアンプ１７は、上記低域バンドパスフィルタ１
５の出力信号を増幅し、上記メインアンプ１８は、上記
高域バンドパスフィルタ１６の出力信号を増幅する。
【００１１】また、上記減衰度比較回路１９には、上記
高域バンドパスフィルタ１６からＡＥ信号の高域周波数
成分が入力されると共に、上記低域バンドパスフィルタ
１５からＡＥ信号の低域周波数成分が入力される。この
減衰度比較回路１９は、上記低周波数成分に対する上記
高周波数成分の成分比を演算し、たとえば、図３(Ａ)に
示すような軸受正常時のＡＥ信号波形における上記成分
比と、図３(Ｃ)に示すような軸受異常時のＡＥ信号波形
における成分比とを比較できるようになっている。
高域バンドパスフィルタ１６からＡＥ信号の高域周波数
成分が入力されると共に、上記低域バンドパスフィルタ
１５からＡＥ信号の低域周波数成分が入力される。この
減衰度比較回路１９は、上記低周波数成分に対する上記
高周波数成分の成分比を演算し、たとえば、図３(Ａ)に
示すような軸受正常時のＡＥ信号波形における上記成分
比と、図３(Ｃ)に示すような軸受異常時のＡＥ信号波形
における成分比とを比較できるようになっている。
【００１２】また、上記ホストコンピュータ２０は、上
記メインアンプ１７,減衰度比較回路１９を経由して、
上記ＡＥ信号の低域周波数成分を取り込み、上記メイン
アンプ１８,減衰度比較回路１９を経由して、上記ＡＥ
信号の高域周波数成分を取り込むようになっている。
記メインアンプ１７,減衰度比較回路１９を経由して、
上記ＡＥ信号の低域周波数成分を取り込み、上記メイン
アンプ１８,減衰度比較回路１９を経由して、上記ＡＥ
信号の高域周波数成分を取り込むようになっている。
【００１３】そして、上記表示装置２１は、上記ホスト
コンピュータ２０の制御によって、上記軸受の異常を表
示するようになっている。
コンピュータ２０の制御によって、上記軸受の異常を表
示するようになっている。
【００１４】上記構成の軸受の異常診断装置によれば、
上記ＡＥセンサ１１が出力したＡＥ信号は、上記プリア
ンプ１２で増幅され、低域バンドパスフィルタ１５およ
び高域バンドパスフィルタ１６に入力される。そして、
上記低域バンドパスフィルタ１５に入力されたＡＥ信号
は、低域周波数成分だけが通過させられて、メインアン
プ１７に入力される。また、上記高域バンドパスフィル
タ１６に入力されたＡＥ信号は、高域周波数成分だけが
通過させられて、メインアンプ１８に入力される。
上記ＡＥセンサ１１が出力したＡＥ信号は、上記プリア
ンプ１２で増幅され、低域バンドパスフィルタ１５およ
び高域バンドパスフィルタ１６に入力される。そして、
上記低域バンドパスフィルタ１５に入力されたＡＥ信号
は、低域周波数成分だけが通過させられて、メインアン
プ１７に入力される。また、上記高域バンドパスフィル
タ１６に入力されたＡＥ信号は、高域周波数成分だけが
通過させられて、メインアンプ１８に入力される。
【００１５】そして、上記メインアンプ１７から出力さ
れたＡＥ信号の低域周波数成分および上記メインアンプ
１８から出力されたＡＥ信号の高域周波数成分は、上記
減衰度比較回路１９を経由して、上記ホストコンピュー
タ２０に入力される。
れたＡＥ信号の低域周波数成分および上記メインアンプ
１８から出力されたＡＥ信号の高域周波数成分は、上記
減衰度比較回路１９を経由して、上記ホストコンピュー
タ２０に入力される。
【００１６】上記ホストコンピュータ２０が、上記ホス
トコンピュータ２０が内蔵するメモリに格納したプログ
ラムに基づいて実行する信号処理動作を、図２に示すフ
ローチャートを参照しながら説明する。
トコンピュータ２０が内蔵するメモリに格納したプログ
ラムに基づいて実行する信号処理動作を、図２に示すフ
ローチャートを参照しながら説明する。
【００１７】まず、ステップＳ１では、上記ＡＥ信号の
低域周波数成分を取り込む。次に、ステップＳ２に進
み、このときまでに、取り込んだＡＥ信号の低域周波数
成分の平均値を算出する。次に、ステップＳ３に進み、
上記ＡＥ信号の高域周波数成分を取り込む。次に、ステ
ップＳ４に進み、このときまでに、取り込んだＡＥ信号
の高域周波数成分の平均値を算出する。
低域周波数成分を取り込む。次に、ステップＳ２に進
み、このときまでに、取り込んだＡＥ信号の低域周波数
成分の平均値を算出する。次に、ステップＳ３に進み、
上記ＡＥ信号の高域周波数成分を取り込む。次に、ステ
ップＳ４に進み、このときまでに、取り込んだＡＥ信号
の高域周波数成分の平均値を算出する。
【００１８】次に、ステップＳ５に進み、上記低域周波
数成分の平均値の算出及び上記高域周波数成分の平均値
の算出を８回実行したか否かを判断し、８回実行したと
判断したときには、ステップＳ６に進み、８回実行して
いないと判断したときには、ステップＳ１に戻る。
数成分の平均値の算出及び上記高域周波数成分の平均値
の算出を８回実行したか否かを判断し、８回実行したと
判断したときには、ステップＳ６に進み、８回実行して
いないと判断したときには、ステップＳ１に戻る。
【００１９】ステップＳ６では、上記８回取り込んで平
均したＡＥ信号の高域周波数成分Ｖbを上記８回取り込
んで平均したＡＥ信号の低域周波数成分Ｖaで除した値
Ｖb／Ｖaを算出する。つまり、上記低域成分Ｖaに対す
る上記高域成分Ｖbの成分比を算出する。
均したＡＥ信号の高域周波数成分Ｖbを上記８回取り込
んで平均したＡＥ信号の低域周波数成分Ｖaで除した値
Ｖb／Ｖaを算出する。つまり、上記低域成分Ｖaに対す
る上記高域成分Ｖbの成分比を算出する。
【００２０】次に、ステップＳ７に進み、上記成分比Ｖ
b／Ｖaが所定の閾値を越えたか否かを判断し、上記成分
比Ｖb／Ｖaが所定の閾値を越えたと判断したときには、
ステップＳ９に進み、上記成分比Ｖb／Ｖaが所定の閾値
を越えていないと判断したときには、ステップＳ８に進
む。
b／Ｖaが所定の閾値を越えたか否かを判断し、上記成分
比Ｖb／Ｖaが所定の閾値を越えたと判断したときには、
ステップＳ９に進み、上記成分比Ｖb／Ｖaが所定の閾値
を越えていないと判断したときには、ステップＳ８に進
む。
【００２１】ステップＳ８では、表示装置２１に軸受が
正常であることを表示させる。また、ステップＳ９で
は、表示装置２１に軸受が異常であることを表示させ
る。
正常であることを表示させる。また、ステップＳ９で
は、表示装置２１に軸受が異常であることを表示させ
る。
【００２２】次に、ステップＳ１０に進み、異常診断動
作を終了するか否かを判断し、異常診断動作を終了する
と判断したときには終了し、異常診断動作を終了しない
と判断したときにはステップＳ１に戻る。
作を終了するか否かを判断し、異常診断動作を終了する
と判断したときには終了し、異常診断動作を終了しない
と判断したときにはステップＳ１に戻る。
【００２３】この実施例では、上記ステップＳ１からス
テップＳ６が成分比算出手段を構成し、上記ステップＳ
７が比較判断手段を構成している。
テップＳ６が成分比算出手段を構成し、上記ステップＳ
７が比較判断手段を構成している。
【００２４】このように、この実施例の軸受の異常診断
装置は、上記ＡＥ信号の低周波数帯域の成分Ｖaに対す
る上記ＡＥ信号の高周波数帯域の成分Ｖbの成分比Ｖb／
Ｖaが所定の閾値を越えたときに、上記軸受が異常であ
ると判断する。
装置は、上記ＡＥ信号の低周波数帯域の成分Ｖaに対す
る上記ＡＥ信号の高周波数帯域の成分Ｖbの成分比Ｖb／
Ｖaが所定の閾値を越えたときに、上記軸受が異常であ
ると判断する。
【００２５】ここで、上記ＡＥセンサ１１が出力するＡ
Ｅ信号の周波数スペクトル例を図３に示す。図３(Ａ)に
示すＡＥ信号の周波数スペクトルは、軸受が正常である
ときの周波数スペクトルを示している。図３(Ａ)に示す
ように、低周波数の５０ｋＨｚにおけるピークは、軸受
の正常時のノイズに対応している。また、図３(Ｂ)に示
すＡＥ信号の周波数スペクトルは、軸受は正常であり、
バックノイズが増加したときのＡＥ信号の周波数スペク
トルを示している。この場合には、図３(Ａ)に示す周波
数スペクトルに比べて、全周波数帯域に亘って振幅が増
加する。また、図３(Ｃ)に示すＡＥ信号の周波数スペク
トルは、軸受が異常であるときの周波数スペクトルを示
している。この場合には、図３(Ａ)に示す周波数スペク
トルに比べて、高周波数の６００ｋＨｚにおける振幅の
みが増加する。つまり、高周波数の６００ｋＨｚにおけ
るピークが、軸受の異常に対応している。
Ｅ信号の周波数スペクトル例を図３に示す。図３(Ａ)に
示すＡＥ信号の周波数スペクトルは、軸受が正常である
ときの周波数スペクトルを示している。図３(Ａ)に示す
ように、低周波数の５０ｋＨｚにおけるピークは、軸受
の正常時のノイズに対応している。また、図３(Ｂ)に示
すＡＥ信号の周波数スペクトルは、軸受は正常であり、
バックノイズが増加したときのＡＥ信号の周波数スペク
トルを示している。この場合には、図３(Ａ)に示す周波
数スペクトルに比べて、全周波数帯域に亘って振幅が増
加する。また、図３(Ｃ)に示すＡＥ信号の周波数スペク
トルは、軸受が異常であるときの周波数スペクトルを示
している。この場合には、図３(Ａ)に示す周波数スペク
トルに比べて、高周波数の６００ｋＨｚにおける振幅の
みが増加する。つまり、高周波数の６００ｋＨｚにおけ
るピークが、軸受の異常に対応している。
【００２６】図３を参照すればわかるように、上記ＡＥ
信号のバックノイズが増加して、図３(Ｂ)に示すよう
に、上記ＡＥ信号の全周波数帯域に亘って振幅が増加し
ても、上記成分比Ｖb／Ｖaは変化しない。したがって、
成分比Ｖb／Ｖaに基づいて軸受の異常を診断するこの実
施例によれば、ＡＥ信号のバックノイズに影響されるこ
となく、成分比Ｖb／Ｖaが上記所定の閾値を越えたとき
にのみ軸受が異常であると判断し、軸受の正確な異常診
断を行うことができる。
信号のバックノイズが増加して、図３(Ｂ)に示すよう
に、上記ＡＥ信号の全周波数帯域に亘って振幅が増加し
ても、上記成分比Ｖb／Ｖaは変化しない。したがって、
成分比Ｖb／Ｖaに基づいて軸受の異常を診断するこの実
施例によれば、ＡＥ信号のバックノイズに影響されるこ
となく、成分比Ｖb／Ｖaが上記所定の閾値を越えたとき
にのみ軸受が異常であると判断し、軸受の正確な異常診
断を行うことができる。
【００２７】
【発明の効果】以上より明らかなように、この発明の回
転体の異常診断装置は、成分比算出手段が出力する成分
比信号が所定の基準値を越えたとき、すなわち、ＡＥセ
ンサが出力するＡＥ信号の低周波数帯域の成分に対する
上記ＡＥ信号の高周波数帯域の成分の成分比が所定の値
を越えたときに、比較判断手段が回転体が異常であると
判断する。
転体の異常診断装置は、成分比算出手段が出力する成分
比信号が所定の基準値を越えたとき、すなわち、ＡＥセ
ンサが出力するＡＥ信号の低周波数帯域の成分に対する
上記ＡＥ信号の高周波数帯域の成分の成分比が所定の値
を越えたときに、比較判断手段が回転体が異常であると
判断する。
【００２８】従って、本発明によれば、上記ＡＥ信号の
バックノイズが増加して、上記ＡＥ信号の全周波数帯域
に亘って振幅が増加しても上記成分比は変化しないの
で、ＡＥ信号のバックノイズに影響されることなく、回
転体の異常に対応する高周波数帯域のＡＥ信号成分に基
づいて正確な異常診断を行うことができる。
バックノイズが増加して、上記ＡＥ信号の全周波数帯域
に亘って振幅が増加しても上記成分比は変化しないの
で、ＡＥ信号のバックノイズに影響されることなく、回
転体の異常に対応する高周波数帯域のＡＥ信号成分に基
づいて正確な異常診断を行うことができる。
【図１】 この発明の回転体の異常診断装置の実施例の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】 上記実施例の動作を説明するフローチャート
である。
である。
【図３】 ＡＥセンサが出力するＡＥ信号の周波数スペ
クトルを示す図である。
クトルを示す図である。
１１…ＡＥセンサ、１２…プリアンプ、１５…低域バン
ドパスフィルタ、１６…高域バンドパスフィルタ、１
７，１８…メインアンプ、１９…減衰度比較回路、２０
…ホストコンピュータ、２１…表示装置。
ドパスフィルタ、１６…高域バンドパスフィルタ、１
７，１８…メインアンプ、１９…減衰度比較回路、２０
…ホストコンピュータ、２１…表示装置。
Claims (1)
- 【請求項１】 回転体からのアコースティックエミッシ
ョンを検出してＡＥ信号を出力するＡＥセンサと、 上記ＡＥセンサからのＡＥ信号を受けて、上記ＡＥ信号
の低周波数帯域の成分に対する上記ＡＥ信号の高周波数
帯域の成分の成分比を算出し、この成分比を表す成分比
信号を出力する成分比算出手段と、 上記成分比算出手段からの成分比信号を受けて、この成
分比信号と所定の基準値とを比較し、上記成分比信号が
所定の基準値を越えたときに、上記回転体が異常である
と判断する比較判断手段とを備えたことを特徴とする回
転体の異常診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02786293A JP3205109B2 (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 回転体の異常診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02786293A JP3205109B2 (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 回転体の異常診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06241954A true JPH06241954A (ja) | 1994-09-02 |
| JP3205109B2 JP3205109B2 (ja) | 2001-09-04 |
Family
ID=12232724
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02786293A Expired - Fee Related JP3205109B2 (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 回転体の異常診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3205109B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3842108A1 (de) * | 1987-12-16 | 1989-07-06 | Fuji Heavy Ind Ltd | Leistungsuebertragungssystem fuer ein kraftfahrzeug mit automatischem getriebe |
| US6173613B1 (en) * | 1996-04-30 | 2001-01-16 | Harold L. Dunegan | Measuring crack growth by acoustic emission |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102528895B (zh) * | 2010-12-15 | 2013-12-04 | 展望 | 制作石头的方法及该方法使用的素园造石机 |
-
1993
- 1993-02-17 JP JP02786293A patent/JP3205109B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3842108A1 (de) * | 1987-12-16 | 1989-07-06 | Fuji Heavy Ind Ltd | Leistungsuebertragungssystem fuer ein kraftfahrzeug mit automatischem getriebe |
| US6173613B1 (en) * | 1996-04-30 | 2001-01-16 | Harold L. Dunegan | Measuring crack growth by acoustic emission |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3205109B2 (ja) | 2001-09-04 |
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