JPH06237507A - 磁気浮上制御方法および磁気浮上装置 - Google Patents
磁気浮上制御方法および磁気浮上装置Info
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- JPH06237507A JPH06237507A JP1996893A JP1996893A JPH06237507A JP H06237507 A JPH06237507 A JP H06237507A JP 1996893 A JP1996893 A JP 1996893A JP 1996893 A JP1996893 A JP 1996893A JP H06237507 A JPH06237507 A JP H06237507A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁性体の重量変動や磁性体に作用する外力の
変動等による磁性体の動揺を抑制し、電磁石で浮上駆動
される磁性体の位置安定性を更に高くする。 【構成】 電磁石1と鋼板2の間のギャップxおよび電
気コイル3に流れる電流値iに対応するフィ−ドバック
ゲインK1〜K4を、予めメモリ63に設定されたゲイン
グル−プdjの中から選択し、選択したフィ−ドバック
ゲインK1〜K4を用いて、電気コイル3に印加する電圧
をフィ−ドバック制御する 【効果】 動作点の変化に連動して変化した動作点に対
応するゲインが設定されるので、制御の過不足の増大が
抑制されて、円滑かつすみやかに、磁性体の浮上付勢
が、変動に対応する平衡状態に収束する。
変動等による磁性体の動揺を抑制し、電磁石で浮上駆動
される磁性体の位置安定性を更に高くする。 【構成】 電磁石1と鋼板2の間のギャップxおよび電
気コイル3に流れる電流値iに対応するフィ−ドバック
ゲインK1〜K4を、予めメモリ63に設定されたゲイン
グル−プdjの中から選択し、選択したフィ−ドバック
ゲインK1〜K4を用いて、電気コイル3に印加する電圧
をフィ−ドバック制御する 【効果】 動作点の変化に連動して変化した動作点に対
応するゲインが設定されるので、制御の過不足の増大が
抑制されて、円滑かつすみやかに、磁性体の浮上付勢
が、変動に対応する平衡状態に収束する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁性体例えば鋼板、を
電磁石によって磁気的に浮上維持する磁気浮上に関し、
特に、磁性体を目標位置に安定して維持するための制御
方法および装置に関する。
電磁石によって磁気的に浮上維持する磁気浮上に関し、
特に、磁性体を目標位置に安定して維持するための制御
方法および装置に関する。
【0002】
【従来技術】例えば特公昭59−4330号公報に、電
磁石で鋼板を吸引浮上駆動する浮上装置が開示されてい
る。この種の従来の浮上装置では、電磁石の吸引力はそ
の電気コイルの通電電流値iの2乗に比例し、電磁石/
鋼板間ギャップxの2乗に反比例する(以下非飽和関係
と称する)として、ギャップセンサでギャップxを検出
し、目標ギャップx0に対するギャップxの偏差とその
ときの通電電流値に対応する、検出ギャップxを目標値
x0とするための電気コイル印加電圧を算出して電気コ
イルに印加するフィ−ドバック制御が採用されている。
磁石で鋼板を吸引浮上駆動する浮上装置が開示されてい
る。この種の従来の浮上装置では、電磁石の吸引力はそ
の電気コイルの通電電流値iの2乗に比例し、電磁石/
鋼板間ギャップxの2乗に反比例する(以下非飽和関係
と称する)として、ギャップセンサでギャップxを検出
し、目標ギャップx0に対するギャップxの偏差とその
ときの通電電流値に対応する、検出ギャップxを目標値
x0とするための電気コイル印加電圧を算出して電気コ
イルに印加するフィ−ドバック制御が採用されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】例えば複数の並行配置
電磁石群により、鋼板を浮上維持し、他の搬送手段、例
えばリニアモ−タあるいプッシャ−等で、浮上鋼板を水
平方向に移送する場合、鋼板の移送に伴って、電磁石群
の各電磁石の浮上分担重量(浮上維持に要する磁力)が
変動する。例えば、1つの電磁石が鋼板の1m2の面積
分の重量を分担する場合、鋼板先端が到来していないと
電磁石の所要分担重量は零であるが、鋼板先端が到来し
電磁石下部領域に進入するに従がって分担重量が増す。
電磁石下部領域全体に鋼板がある間分担重量は実質上一
定であるが、鋼板尾端が電磁石下部領域に入って来ると
分担重量が低下し始める。このように、あるいは他の原
因により電磁石の分担重量が変動すると、フィ−ドバッ
ク制御の平衡状態がくずれる。すなわちフィ−ドバック
制御はいわば過渡状態となる。従来の磁気浮上制御では
このような過渡状態で鋼板の動揺(浮上方向すなわち電
磁石/鋼板間のギャップ変動)が大きいという問題があ
る。そこで、鋼板の移送に伴ない、各電磁石の分担重量
を計算し、それに対応する電磁石電流を算出して電磁石
電流値を変更することが考えられるが、電磁石群の各電
磁石につきこれを行なうことは、制御演算が煩雑に過ぎ
るとか、設計条件と操作条件とが異なることによる誤差
が大きい等の問題が考えられる。したがって、各電磁石
自身が分担重量の変化に対応して自動的に浮上磁力を調
整するのが好ましい。
電磁石群により、鋼板を浮上維持し、他の搬送手段、例
えばリニアモ−タあるいプッシャ−等で、浮上鋼板を水
平方向に移送する場合、鋼板の移送に伴って、電磁石群
の各電磁石の浮上分担重量(浮上維持に要する磁力)が
変動する。例えば、1つの電磁石が鋼板の1m2の面積
分の重量を分担する場合、鋼板先端が到来していないと
電磁石の所要分担重量は零であるが、鋼板先端が到来し
電磁石下部領域に進入するに従がって分担重量が増す。
電磁石下部領域全体に鋼板がある間分担重量は実質上一
定であるが、鋼板尾端が電磁石下部領域に入って来ると
分担重量が低下し始める。このように、あるいは他の原
因により電磁石の分担重量が変動すると、フィ−ドバッ
ク制御の平衡状態がくずれる。すなわちフィ−ドバック
制御はいわば過渡状態となる。従来の磁気浮上制御では
このような過渡状態で鋼板の動揺(浮上方向すなわち電
磁石/鋼板間のギャップ変動)が大きいという問題があ
る。そこで、鋼板の移送に伴ない、各電磁石の分担重量
を計算し、それに対応する電磁石電流を算出して電磁石
電流値を変更することが考えられるが、電磁石群の各電
磁石につきこれを行なうことは、制御演算が煩雑に過ぎ
るとか、設計条件と操作条件とが異なることによる誤差
が大きい等の問題が考えられる。したがって、各電磁石
自身が分担重量の変化に対応して自動的に浮上磁力を調
整するのが好ましい。
【0004】一方、電磁石および浮上対象鋼板には磁気
飽和があり、ギャップxが小さい領域、および、電気コ
イル電流iが大きい領域では、例えば図29の(a)お
よび(b)に示すように、ギャップ対磁気吸引力ならび
に電流値対磁気吸引力に非飽和関係は成立しない。すな
わち、ギャップxが小さい領域、および、電気コイル電
流iが大きい領域(以下飽和領域)では、被制御系(電
磁石+鋼板)が、想定した性状(応答)とは異った性状
(応答)を示すので、これがフィ−ドバック制御エラ−
となり、鋼板の位置安定性が悪化する。すなわち鋼板が
動揺し易くなる。 この従来の問題に鑑み、本発明者等
は、電磁石鉄心の比透磁率および鋼板の比透磁率を、電
磁石と鋼板でなる被制御系の、コイル電圧/ギャップ変
換モデルに導入し、かつこれにおいて電磁石のインダク
タンスLの記述にも電磁石鉄心の比透磁率および鋼板の
比透磁率を導入することにより、磁界/比透磁率曲線を
表す方程式を、被制御系の状態方程式に導入して、すな
わち電磁石および浮上対象鋼板の磁気飽和領域をもコイ
ル電圧/ギャップ変換モデルに導入して、このモデルに
対応するフィ−ドバックゲインを設定し、このフィ−ド
バックゲインを使用するフィ−ドバック制御を提案した
(特願平4−177832号)。これにより飽和領域で
の鋼板の位置安定性が向上した。しかしながら、実際の
磁気浮上においては、鋼板特に厚みが比較的に小さい鋼
板が、比較的に小さい目標ギャップでは上下(吸引)方
向に振動しやすく、十分な安定性が得られないことがあ
る。
飽和があり、ギャップxが小さい領域、および、電気コ
イル電流iが大きい領域では、例えば図29の(a)お
よび(b)に示すように、ギャップ対磁気吸引力ならび
に電流値対磁気吸引力に非飽和関係は成立しない。すな
わち、ギャップxが小さい領域、および、電気コイル電
流iが大きい領域(以下飽和領域)では、被制御系(電
磁石+鋼板)が、想定した性状(応答)とは異った性状
(応答)を示すので、これがフィ−ドバック制御エラ−
となり、鋼板の位置安定性が悪化する。すなわち鋼板が
動揺し易くなる。 この従来の問題に鑑み、本発明者等
は、電磁石鉄心の比透磁率および鋼板の比透磁率を、電
磁石と鋼板でなる被制御系の、コイル電圧/ギャップ変
換モデルに導入し、かつこれにおいて電磁石のインダク
タンスLの記述にも電磁石鉄心の比透磁率および鋼板の
比透磁率を導入することにより、磁界/比透磁率曲線を
表す方程式を、被制御系の状態方程式に導入して、すな
わち電磁石および浮上対象鋼板の磁気飽和領域をもコイ
ル電圧/ギャップ変換モデルに導入して、このモデルに
対応するフィ−ドバックゲインを設定し、このフィ−ド
バックゲインを使用するフィ−ドバック制御を提案した
(特願平4−177832号)。これにより飽和領域で
の鋼板の位置安定性が向上した。しかしながら、実際の
磁気浮上においては、鋼板特に厚みが比較的に小さい鋼
板が、比較的に小さい目標ギャップでは上下(吸引)方
向に振動しやすく、十分な安定性が得られないことがあ
る。
【0005】本発明は、磁性体の重量変動や磁性体に作
用する外力の変動等による磁性体の動揺を抑制すること
を第1の目的とし、電磁石で浮上駆動する磁性体の浮上
方向の位置安定性を更に高くすることを第2の目的とす
る。
用する外力の変動等による磁性体の動揺を抑制すること
を第1の目的とし、電磁石で浮上駆動する磁性体の浮上
方向の位置安定性を更に高くすることを第2の目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明方法は、電磁石
(3,4)の電気コイル(3)に流れる電流値(i)と、該電磁石
(3,4)とその磁力(fm)を受ける磁性体(2)の間のギャップ
(x)を検出し、これら(i,x)と目標ギャップ(G0)に対応し
て、検出ギャップ(x)が目標ギャップ(G0)に合致するよ
うに電気コイル(3)に印加する電圧をフィ−ドバック制
御する磁気浮上制御方法において、電磁石(3,4)と磁性
体(2)の間のギャップ(x)および電気コイルに流れる電流
値(i)に対応するフィ−ドバックゲイン(K1〜K4)を、予
め設定されたゲイングル−プ(dj)の中から選択し、選択
したフィ−ドバックゲイン(K1〜K4)を用いて、電気コイ
ル(3)に印加する電圧をフィ−ドバック制御することを
特徴とする。
(3,4)の電気コイル(3)に流れる電流値(i)と、該電磁石
(3,4)とその磁力(fm)を受ける磁性体(2)の間のギャップ
(x)を検出し、これら(i,x)と目標ギャップ(G0)に対応し
て、検出ギャップ(x)が目標ギャップ(G0)に合致するよ
うに電気コイル(3)に印加する電圧をフィ−ドバック制
御する磁気浮上制御方法において、電磁石(3,4)と磁性
体(2)の間のギャップ(x)および電気コイルに流れる電流
値(i)に対応するフィ−ドバックゲイン(K1〜K4)を、予
め設定されたゲイングル−プ(dj)の中から選択し、選択
したフィ−ドバックゲイン(K1〜K4)を用いて、電気コイ
ル(3)に印加する電圧をフィ−ドバック制御することを
特徴とする。
【0007】本発明方法の好ましい実施例では、電磁石
(3,4)と磁性体(2)でなる被制御系(2〜4)の、ギャップ
(x)および電気コイル電流(i)に対する、磁力飽和特性
(図12〜14)およびインダクタンス特性(図15〜17)に基づ
いて、被制御系(2〜4)の電気コイル印加電圧/磁力変換
モデル(図18のa)を、ギャップ(x)および電気コイル電流
(i)対応で確定し、各モデルに対応するフィ−ドバック
ゲイン(K1〜K4)を算出し、これらのゲインを前記ゲイン
グル−プ(dj)とする。また、この種のゲイングル−プ(d
j)を磁性体(2)の厚み対応(j=1〜n)で算出し、これらの
ゲイングル−プ(dj,j=1〜n)を前記ゲイングル−プとす
る。
(3,4)と磁性体(2)でなる被制御系(2〜4)の、ギャップ
(x)および電気コイル電流(i)に対する、磁力飽和特性
(図12〜14)およびインダクタンス特性(図15〜17)に基づ
いて、被制御系(2〜4)の電気コイル印加電圧/磁力変換
モデル(図18のa)を、ギャップ(x)および電気コイル電流
(i)対応で確定し、各モデルに対応するフィ−ドバック
ゲイン(K1〜K4)を算出し、これらのゲインを前記ゲイン
グル−プ(dj)とする。また、この種のゲイングル−プ(d
j)を磁性体(2)の厚み対応(j=1〜n)で算出し、これらの
ゲイングル−プ(dj,j=1〜n)を前記ゲイングル−プとす
る。
【0008】本発明の磁気浮上装置は、電磁石(3,4);
電磁石(3,4)とそれに対向する磁性体(2)の間のギャップ
(x)を検出するためのギャップ検出手段(7);電磁石(3,
4)の電気コイル(3)に流れる電流の値(i)を検出するため
の電流検出手段(8);電磁石(3,4)と磁性体(2)の間のギ
ャップ(x)および電気コイルに流れる電流値(i)に対応す
るフィ−ドバックゲイン(dj;複数組のK1〜K4)を、ギャ
ップ値(p)および電流値(q)対応で格納したメモリ手段(6
3);ギャップ検出手段(7)が検出したギャップ値(x=p)お
よび電流検出手段(8)が検出した電流値(i=q)に対応する
フィ−ドバックゲイン(K1〜K4)を前記メモリ手段(63)か
ら読み出すゲイン設定手段(61);与えられるギャップ目
標値(G0)に対するギャップ検出手段(7)の検出ギャップ
(x)の偏差(x1),その変化速度(dx1/dt=x1'),与えられ
る基準電流値(is)に対する電流検出手段(8)の検出電流
値(i)の偏差(i1)およびギャップ偏差(x1)の累積値(∫x1
dt)に、ゲイン設定手段(61)が読み出したフィ-ドバック
ゲイン(K1〜K4)を乗算した値(K1・x1,K2・x1',K3・i1,K4・
∫x1dt)、ならびに、与えられる基準電流値(i)、に対応
する電気コイル印加電圧を算出する電圧算出手段(61,8
0);および、電磁石(3,4)の電気コイル(3)に電圧算出手
段(61,80)が算出した電圧を印加するコイルドライバ
(5);を備える。
電磁石(3,4)とそれに対向する磁性体(2)の間のギャップ
(x)を検出するためのギャップ検出手段(7);電磁石(3,
4)の電気コイル(3)に流れる電流の値(i)を検出するため
の電流検出手段(8);電磁石(3,4)と磁性体(2)の間のギ
ャップ(x)および電気コイルに流れる電流値(i)に対応す
るフィ−ドバックゲイン(dj;複数組のK1〜K4)を、ギャ
ップ値(p)および電流値(q)対応で格納したメモリ手段(6
3);ギャップ検出手段(7)が検出したギャップ値(x=p)お
よび電流検出手段(8)が検出した電流値(i=q)に対応する
フィ−ドバックゲイン(K1〜K4)を前記メモリ手段(63)か
ら読み出すゲイン設定手段(61);与えられるギャップ目
標値(G0)に対するギャップ検出手段(7)の検出ギャップ
(x)の偏差(x1),その変化速度(dx1/dt=x1'),与えられ
る基準電流値(is)に対する電流検出手段(8)の検出電流
値(i)の偏差(i1)およびギャップ偏差(x1)の累積値(∫x1
dt)に、ゲイン設定手段(61)が読み出したフィ-ドバック
ゲイン(K1〜K4)を乗算した値(K1・x1,K2・x1',K3・i1,K4・
∫x1dt)、ならびに、与えられる基準電流値(i)、に対応
する電気コイル印加電圧を算出する電圧算出手段(61,8
0);および、電磁石(3,4)の電気コイル(3)に電圧算出手
段(61,80)が算出した電圧を印加するコイルドライバ
(5);を備える。
【0009】本発明の磁気浮上装置の好ましい実施例で
は、電磁石(3,4)と磁性体(2)でなる被制御系(2〜4)の、
ギャップ(x)および電気コイル電流(i)に対する、磁力飽
和特性(図12〜14)およびインダクタンス特性(図15〜17)
に基づいて、被制御系(2〜4)の電気コイル印加電圧/磁
力変換モデル(図18のa)を、ギャップ(x)および電気コイ
ル電流(i)対応で確定し、各モデルに対応するフィ−ド
バックゲイン(K1〜K4)を算出し、これらのゲインを前記
ゲイングル−プ(dj)としてまた、この種のゲイングル−
プ(dj)を磁性体(2)の厚み対応(j=1〜n)で算出し、これ
らのゲイングル−プ(dj,j=1〜n)をメモリ手段(63)に格
納しておく。しかして、ゲイン設定手段(61)は、与えら
れる磁性体厚(d),ギャップ検出手段(7)が検出したギャ
ップ値(x=p)および電流検出手段(8)が検出した電流値(i
=q)に対応するフィ−ドバックゲイン(K1〜K4)を前記メ
モリ手段(63)から読み出す。
は、電磁石(3,4)と磁性体(2)でなる被制御系(2〜4)の、
ギャップ(x)および電気コイル電流(i)に対する、磁力飽
和特性(図12〜14)およびインダクタンス特性(図15〜17)
に基づいて、被制御系(2〜4)の電気コイル印加電圧/磁
力変換モデル(図18のa)を、ギャップ(x)および電気コイ
ル電流(i)対応で確定し、各モデルに対応するフィ−ド
バックゲイン(K1〜K4)を算出し、これらのゲインを前記
ゲイングル−プ(dj)としてまた、この種のゲイングル−
プ(dj)を磁性体(2)の厚み対応(j=1〜n)で算出し、これ
らのゲイングル−プ(dj,j=1〜n)をメモリ手段(63)に格
納しておく。しかして、ゲイン設定手段(61)は、与えら
れる磁性体厚(d),ギャップ検出手段(7)が検出したギャ
ップ値(x=p)および電流検出手段(8)が検出した電流値(i
=q)に対応するフィ−ドバックゲイン(K1〜K4)を前記メ
モリ手段(63)から読み出す。
【0010】なお、カッコ内の記号は、図面を参照した
後述の実施例説明における対応事項又は対応要素,対応
図面等を指すものである。
後述の実施例説明における対応事項又は対応要素,対応
図面等を指すものである。
【0011】
【作用】本発明方法によれば、例えば磁性体(2)の重量
が変動するとこれによりギャップ(x)が変動しそして電
気コイル電流(i)が変動するが、これらの変動に伴って
フィ−ドバックゲイン(K1〜K4)が、変化したギャップ
(x)および電流(i)に対応するものに変更されるので、す
なわち動作点の変化に連動して変化した動作点に対応す
るゲインが設定されるので、制御の過不足の増大が抑制
されて、円滑かつすみやかに、磁性体の浮上付勢が、変
動に対応する平衡状態に収束する。すなわち、磁性体の
重量変動や磁性体に作用する外力の変動等による磁性体
の動揺を抑制する効果が高い。
が変動するとこれによりギャップ(x)が変動しそして電
気コイル電流(i)が変動するが、これらの変動に伴って
フィ−ドバックゲイン(K1〜K4)が、変化したギャップ
(x)および電流(i)に対応するものに変更されるので、す
なわち動作点の変化に連動して変化した動作点に対応す
るゲインが設定されるので、制御の過不足の増大が抑制
されて、円滑かつすみやかに、磁性体の浮上付勢が、変
動に対応する平衡状態に収束する。すなわち、磁性体の
重量変動や磁性体に作用する外力の変動等による磁性体
の動揺を抑制する効果が高い。
【0012】前述の特願平4−177832号の発明に
おいては、電磁石の電流値,鋼板厚みあるいはギャップ
の如何によらず、電磁石鉄心および鋼板の比透磁率が、
磁界/比透磁率曲線で定まるもの(磁界対応の一定値)
としているが、例えば図29の(c)に示すようにギャ
ップに対してインダクタンスに飽和特性があり、また、
図29の(d)に示すように電流に依存してインダクタ
ンスが変化しこれが非線形であるなど、磁界/比透磁率
曲線で規定されない飽和特性等があるので、これらが、
浮上磁性体の位置安定性の向上を阻害していると考えら
れる。
おいては、電磁石の電流値,鋼板厚みあるいはギャップ
の如何によらず、電磁石鉄心および鋼板の比透磁率が、
磁界/比透磁率曲線で定まるもの(磁界対応の一定値)
としているが、例えば図29の(c)に示すようにギャ
ップに対してインダクタンスに飽和特性があり、また、
図29の(d)に示すように電流に依存してインダクタ
ンスが変化しこれが非線形であるなど、磁界/比透磁率
曲線で規定されない飽和特性等があるので、これらが、
浮上磁性体の位置安定性の向上を阻害していると考えら
れる。
【0013】本発明方法の前記好ましい実施例では、被
制御系(2〜4)の、例えば図29の(a)および(b)に
示すようなギャップおよび電流に対する磁力飽和特性の
みならず、例えば図29の(c)に示すようなギャップ
に対するインダクタンス特性、また、図29の(d)に
示すような電流に依存してインダクタンスが変化しこれ
が非線形であるなど、磁力飽和特性のみならず、磁界/
比透磁率曲線(つまりは磁力飽和特性)で規定されない飽
和特性等が、フィ−ドバックゲイン(K1〜K4)に反映され
ており、これにより、浮上磁性体の位置安定性がより一
層向上する。また、磁性体(d)の厚み対応で、厚み対応
のフィ−ドバックゲイングル−プを用いるので、各種厚
みの磁性体のそれぞれに対して、上述の、磁力飽和特性
(図12〜14)およびインダクタンス特性(図15〜17)、に基
づいたフィ−ドバックゲイン(K1〜K4)があり、厚み(d)
が小さい磁性体に対してはその飽和特性等に対応するゲ
インが定まっているので、磁性体の厚み、特にそれが小
さいことによる不安定が改善され、特に厚みが比較的に
小さい鋼板を比較的に小さい目標ギャップで浮上させる
制御の安定性が向上する。
制御系(2〜4)の、例えば図29の(a)および(b)に
示すようなギャップおよび電流に対する磁力飽和特性の
みならず、例えば図29の(c)に示すようなギャップ
に対するインダクタンス特性、また、図29の(d)に
示すような電流に依存してインダクタンスが変化しこれ
が非線形であるなど、磁力飽和特性のみならず、磁界/
比透磁率曲線(つまりは磁力飽和特性)で規定されない飽
和特性等が、フィ−ドバックゲイン(K1〜K4)に反映され
ており、これにより、浮上磁性体の位置安定性がより一
層向上する。また、磁性体(d)の厚み対応で、厚み対応
のフィ−ドバックゲイングル−プを用いるので、各種厚
みの磁性体のそれぞれに対して、上述の、磁力飽和特性
(図12〜14)およびインダクタンス特性(図15〜17)、に基
づいたフィ−ドバックゲイン(K1〜K4)があり、厚み(d)
が小さい磁性体に対してはその飽和特性等に対応するゲ
インが定まっているので、磁性体の厚み、特にそれが小
さいことによる不安定が改善され、特に厚みが比較的に
小さい鋼板を比較的に小さい目標ギャップで浮上させる
制御の安定性が向上する。
【0014】本発明装置は、上述のフィ−ドバックゲイ
ンの更新を行なうものであるので、上述の方法がもたら
す作用効果が同様にもたらされる。
ンの更新を行なうものであるので、上述の方法がもたら
す作用効果が同様にもたらされる。
【0015】本願の各発明の他の目的および特徴は、図
面を参照した以下の実施例の説明より明らかになろう。
面を参照した以下の実施例の説明より明らかになろう。
【0016】
【実施例】図1に本発明装置の一実施例の概要を示し、
図2に、図1に示す制御回路6の構成を示す。制御回路
6には、オペレ−タ又はホストコンピュ−タより、浮上
駆動する鋼板2に関する情報すなわち板厚d,目標ギャ
ップG0および基準電流値isが与えられる。なお、基準
電流値isは、板厚dの鋼板(所定規格)をギャップx=
G0に維持するために電磁石(3,4)の電気コイル3
に通電する電流である。すなわち、isは、x=G0で外
乱がない場合、x=G0を定常的に維持することができ
る電流値である。制御回路6には、電磁石(3,4)の
鉄心4の下端面と浮上駆動対象の鋼板2の上面との距離
すなわちギャップxを検出するギャップセンサ7,電気
コイル3の電流値iを検出する電流センサ8、および、
電気コイル5に通電するコイルドライバ5が接続されて
いる。
図2に、図1に示す制御回路6の構成を示す。制御回路
6には、オペレ−タ又はホストコンピュ−タより、浮上
駆動する鋼板2に関する情報すなわち板厚d,目標ギャ
ップG0および基準電流値isが与えられる。なお、基準
電流値isは、板厚dの鋼板(所定規格)をギャップx=
G0に維持するために電磁石(3,4)の電気コイル3
に通電する電流である。すなわち、isは、x=G0で外
乱がない場合、x=G0を定常的に維持することができ
る電流値である。制御回路6には、電磁石(3,4)の
鉄心4の下端面と浮上駆動対象の鋼板2の上面との距離
すなわちギャップxを検出するギャップセンサ7,電気
コイル3の電流値iを検出する電流センサ8、および、
電気コイル5に通電するコイルドライバ5が接続されて
いる。
【0017】制御回路6は、CPUを主体とするデジタ
ルコンピュ−タ61,信号処理回路81,82およびP
WM(パルス幅変調)回路80で構成されている。信号
処理回路81および82はそれぞれ、ギャップセンサ7
のギャップ検出信号(アナログ)および電流センサ8の
電流検出信号(アナログ)をデジタル変換してコンピュ
−タ61に与える。PWM回路80は、コンピュ−タ6
1の出力デ−タ(指示電圧)に対応する通電デュ−ティ
を算出し、算出した通電デュ−ティの通電指示パルスを
コイルドライバ5に与える。コイルドライバ5は、直流
定電圧電源と電気コイル3の間を、通電指示パルスに応
答してオン/オフする。これにより、電気コイル3に
は、前記通電デュ−ティで直流定電圧が印加され、電気
コイル3の電圧(時系列平均値)は、該通電デュ−ティ
で定まる。すなわち、電気コイル3の印加電圧が、コイ
ルドライバ5およびPWM回路80を介して、コンピュ
−タ61により制御される。
ルコンピュ−タ61,信号処理回路81,82およびP
WM(パルス幅変調)回路80で構成されている。信号
処理回路81および82はそれぞれ、ギャップセンサ7
のギャップ検出信号(アナログ)および電流センサ8の
電流検出信号(アナログ)をデジタル変換してコンピュ
−タ61に与える。PWM回路80は、コンピュ−タ6
1の出力デ−タ(指示電圧)に対応する通電デュ−ティ
を算出し、算出した通電デュ−ティの通電指示パルスを
コイルドライバ5に与える。コイルドライバ5は、直流
定電圧電源と電気コイル3の間を、通電指示パルスに応
答してオン/オフする。これにより、電気コイル3に
は、前記通電デュ−ティで直流定電圧が印加され、電気
コイル3の電圧(時系列平均値)は、該通電デュ−ティ
で定まる。すなわち、電気コイル3の印加電圧が、コイ
ルドライバ5およびPWM回路80を介して、コンピュ
−タ61により制御される。
【0018】コンピュ−タ61は、オペレ−タ又はホス
トコンピュ−タ(図示せず)より、浮上駆動する鋼板2
に関する情報(板厚d,目標ギャップG0および基準電
流値is)が与えられるとそれを、レジスタ62に格納
し、オペレ−タ又はホストコンピュ−タよりスタ−ト指
令が到来すると、レジスタ62の情報に基づいて電気コ
イル3の印加電圧制御を開始する。この制御において
は、所定周期(サンプリング周期)で信号処理回路81
および82の検出デ−タ(ギャップxおよび電流i)を
読込み、フィ−ドバック演算により、電圧指示情報を生
成しこれをPWM回路80に出力する。この制御動作は
プログラムに従ったデジタル処理により行なわれる。こ
の制御機能を、理解を簡単にするために、図2ではハ−
ドウェアブロック(機能ブロック)で代替して示した。
以下この機能ブロックを参照してコンピュ−タ61の制
御動作を説明する。
トコンピュ−タ(図示せず)より、浮上駆動する鋼板2
に関する情報(板厚d,目標ギャップG0および基準電
流値is)が与えられるとそれを、レジスタ62に格納
し、オペレ−タ又はホストコンピュ−タよりスタ−ト指
令が到来すると、レジスタ62の情報に基づいて電気コ
イル3の印加電圧制御を開始する。この制御において
は、所定周期(サンプリング周期)で信号処理回路81
および82の検出デ−タ(ギャップxおよび電流i)を
読込み、フィ−ドバック演算により、電圧指示情報を生
成しこれをPWM回路80に出力する。この制御動作は
プログラムに従ったデジタル処理により行なわれる。こ
の制御機能を、理解を簡単にするために、図2ではハ−
ドウェアブロック(機能ブロック)で代替して示した。
以下この機能ブロックを参照してコンピュ−タ61の制
御動作を説明する。
【0019】なお、メモリ63には、板厚d1〜dnのそ
れぞれに宛てたゲイングル−プが、板厚対応で格納され
ている。これを模式的に図4に示す。ここでは、1つの
板厚に宛てたゲイングル−プを格納したメモリ領域をメ
モリテ−ブルと称する。1つの板厚djのゲイングル−
プのデ−タすなわち1つのメモリテ−ブルdjのゲイン
デ−タを、やはり模式的に図5に示す。1つの板厚dj
に対して、ギャップは、ギャップ10mm以下のp=1領
域,10mmより大きく11mm以下のp=2領域,11mmより大
きく12mm以下のp=3領域,・・・,28mmより大きく29
mm以下のp=20領域および29mmを越えるp=21領域
に区分され、電気コイル電流は、4.5A以下のq=1領
域,4.5Aより大きく5.0A以下のq=2領域,・・・,1
8.5Aより大きく19.0A以下のq=30領域および19.0Aを
越えるq=31領域に区分され、ギヤップ値(x=p)およ
び電流値(i=q)で特定される各領域に、ゲインM1,1〜M
21,31(それぞれがK1〜K4の集合)が書込まれている。こ
れらのゲインM1,1〜M21,31の算出方法(図2の90)
の内容は、図11以下の図面を参照して、後に詳しく説
明する。
れぞれに宛てたゲイングル−プが、板厚対応で格納され
ている。これを模式的に図4に示す。ここでは、1つの
板厚に宛てたゲイングル−プを格納したメモリ領域をメ
モリテ−ブルと称する。1つの板厚djのゲイングル−
プのデ−タすなわち1つのメモリテ−ブルdjのゲイン
デ−タを、やはり模式的に図5に示す。1つの板厚dj
に対して、ギャップは、ギャップ10mm以下のp=1領
域,10mmより大きく11mm以下のp=2領域,11mmより大
きく12mm以下のp=3領域,・・・,28mmより大きく29
mm以下のp=20領域および29mmを越えるp=21領域
に区分され、電気コイル電流は、4.5A以下のq=1領
域,4.5Aより大きく5.0A以下のq=2領域,・・・,1
8.5Aより大きく19.0A以下のq=30領域および19.0Aを
越えるq=31領域に区分され、ギヤップ値(x=p)およ
び電流値(i=q)で特定される各領域に、ゲインM1,1〜M
21,31(それぞれがK1〜K4の集合)が書込まれている。こ
れらのゲインM1,1〜M21,31の算出方法(図2の90)
の内容は、図11以下の図面を参照して、後に詳しく説
明する。
【0020】前述の通り、オペレ−タ又はホストコンピ
ュ−タより、浮上駆動する鋼板2に関する情報(板厚
d,目標ギャップG0および基準電流値is)が与えられ
ると、コンピュ−タ61はそれを、入力レジスタ62に
格納する。コンピュ−タ61は、所定周期(サンプリン
グ周期;例えば1〜3msec)で次の処理を行なう。
ュ−タより、浮上駆動する鋼板2に関する情報(板厚
d,目標ギャップG0および基準電流値is)が与えられ
ると、コンピュ−タ61はそれを、入力レジスタ62に
格納する。コンピュ−タ61は、所定周期(サンプリン
グ周期;例えば1〜3msec)で次の処理を行なう。
【0021】コンピュ−タ61はまず、信号処理回路8
1および82より、ギャップデ−タ(x)および電流デ−
タ(i)を読込む。そして、領域判定76により、読込ん
だギャップ(x)および電流(i)が、図5に示す領域のいず
れにあるかを判定する。この判定処理の内容を図3に示
す。この判定では、まず、読込んだギャップ(x)が、上
述のp=1〜21のいずれにあるかを判定し、続いて読
込んだ電流(i)が上述のq=1〜31のいずれにあるか
を判定する。そして、判定した領域情報p,qと、レジ
スタ62の板厚d情報より、板厚d対応のメモリテ−ブ
ル(図4のテ−ブルd1〜dnの1つ)を特定し、領域
情報p,qで該特定したメモリテ−ブル内djの1領域
を特定して、そこのゲイングル−プMp,qを読出し
て、ゲインレジスタ64に書込む。これにより、指定さ
れた板厚d,現在のギャップ(x)および電流(i)に対応す
る、ゲインK1〜K4が選択されたことになる。
1および82より、ギャップデ−タ(x)および電流デ−
タ(i)を読込む。そして、領域判定76により、読込ん
だギャップ(x)および電流(i)が、図5に示す領域のいず
れにあるかを判定する。この判定処理の内容を図3に示
す。この判定では、まず、読込んだギャップ(x)が、上
述のp=1〜21のいずれにあるかを判定し、続いて読
込んだ電流(i)が上述のq=1〜31のいずれにあるか
を判定する。そして、判定した領域情報p,qと、レジ
スタ62の板厚d情報より、板厚d対応のメモリテ−ブ
ル(図4のテ−ブルd1〜dnの1つ)を特定し、領域
情報p,qで該特定したメモリテ−ブル内djの1領域
を特定して、そこのゲイングル−プMp,qを読出し
て、ゲインレジスタ64に書込む。これにより、指定さ
れた板厚d,現在のギャップ(x)および電流(i)に対応す
る、ゲインK1〜K4が選択されたことになる。
【0022】コンピュ−タ61は次に、減算65により
ギャップ偏差x1=x−G0を算出し、減算68により、
現在の偏差x1より遅延67により保持する1サンプリ
ング周期前の偏差を減算して、ギャップ偏差の変化速度
dx1/dt(以下x1’と表記)を算出し、減算70に
より電流偏差i1=i−isを算出し、加算72により、
現在の偏差x1に遅延73により保持する1サンプリン
グ周期前の偏差累算値を加算して、ギャップ偏差の累算
値(積分値)∫x1dtを算出する。そして、乗算6
6,69,71および74で、これらの算出値にゲイン
レジスタのゲインデ−タK1〜K4を乗算し、減算75に
より、電気コイル3に印加すべき電圧を指定する情報 Iout=is−K1・x1−K2・x1’−K3・i1−K4・∫x1
dt を算出し、これを表わすデ−タをPWM回路80に出力
する。
ギャップ偏差x1=x−G0を算出し、減算68により、
現在の偏差x1より遅延67により保持する1サンプリ
ング周期前の偏差を減算して、ギャップ偏差の変化速度
dx1/dt(以下x1’と表記)を算出し、減算70に
より電流偏差i1=i−isを算出し、加算72により、
現在の偏差x1に遅延73により保持する1サンプリン
グ周期前の偏差累算値を加算して、ギャップ偏差の累算
値(積分値)∫x1dtを算出する。そして、乗算6
6,69,71および74で、これらの算出値にゲイン
レジスタのゲインデ−タK1〜K4を乗算し、減算75に
より、電気コイル3に印加すべき電圧を指定する情報 Iout=is−K1・x1−K2・x1’−K3・i1−K4・∫x1
dt を算出し、これを表わすデ−タをPWM回路80に出力
する。
【0023】PWM回路80は、このデ−タIoutに基
づいて、電磁石(3,4)の電気コイル3にIoutの電
流を通電するに要する電気コイル印加電圧(時系列平均
値)を与える通電(オン/オフ)デュ−ティ(パルス一
周期の間のH区間長)を算出し、該デュ−ティのパルス
をコイルドライバ5に与える。コイルドライバ5は、P
WM回路80が与えるパルスのHに応答して電気コイル
3と直流定電圧電源の間を導通(オン)とし、該パルス
のLに応答して非導通(オフ)とする。
づいて、電磁石(3,4)の電気コイル3にIoutの電
流を通電するに要する電気コイル印加電圧(時系列平均
値)を与える通電(オン/オフ)デュ−ティ(パルス一
周期の間のH区間長)を算出し、該デュ−ティのパルス
をコイルドライバ5に与える。コイルドライバ5は、P
WM回路80が与えるパルスのHに応答して電気コイル
3と直流定電圧電源の間を導通(オン)とし、該パルス
のLに応答して非導通(オフ)とする。
【0024】以上に説明した、ギャップ値xおよびコイ
ル電流値iの読込,これらの値および板厚dに対応する
フィ−ドバックゲインの設定(メモリ63より読出して
レジスタ64に格納),設定したゲインを用いたフィ−
ドバック出力値の算出とPWM回路80への出力、をコ
ンピュ−タ61が所定周期で繰返すことにより、フィ−
ドバックゲインが、時々刻々に変わるギャップおよびコ
イル電流値に対応したものに更新される。
ル電流値iの読込,これらの値および板厚dに対応する
フィ−ドバックゲインの設定(メモリ63より読出して
レジスタ64に格納),設定したゲインを用いたフィ−
ドバック出力値の算出とPWM回路80への出力、をコ
ンピュ−タ61が所定周期で繰返すことにより、フィ−
ドバックゲインが、時々刻々に変わるギャップおよびコ
イル電流値に対応したものに更新される。
【0025】これにより、例えば、目標ギャップG0=1
6mmで、ある重量の鋼板2を浮上駆動しているとき、目
標ギャップG0が15mmに変えられると、まず図2のギャ
ップ偏差x1が1mm程度に大きくなり、また、x1’=d
x1/dtもこの変化対応の大きい値になる。これによ
り、k1〜K4は負値であるのでIoutが増大し、電気コ
イル印加電圧が上昇して、コイル電流iが上昇する。こ
のコイル電流iの上昇に対応して、メモリ63に順次電
流値対応のゲインが読出されてレジスタ64に更新書込
みされる。すなわちフィ−ドバックゲインが変更され
る。一方、コイル電流iの上昇に伴ない、ギャップ16mm
から15mmに向かう。ギャップが15mmになると、ギャップ
対応でもゲインが変わり、結局、ギャップ15mmならびに
その状態で鋼板2を浮上維持するコイル電流i対応のゲ
インが、レジスタ64に格納される。すなわち、図2に
示すフィ−ドバック回路(コンピュ−タ61)のフィ−
ドバックゲインが、ギャップ15mmならびにその状態で鋼
板2を浮上維持するコイル電流i対応のゲイン、に収束
する。
6mmで、ある重量の鋼板2を浮上駆動しているとき、目
標ギャップG0が15mmに変えられると、まず図2のギャ
ップ偏差x1が1mm程度に大きくなり、また、x1’=d
x1/dtもこの変化対応の大きい値になる。これによ
り、k1〜K4は負値であるのでIoutが増大し、電気コ
イル印加電圧が上昇して、コイル電流iが上昇する。こ
のコイル電流iの上昇に対応して、メモリ63に順次電
流値対応のゲインが読出されてレジスタ64に更新書込
みされる。すなわちフィ−ドバックゲインが変更され
る。一方、コイル電流iの上昇に伴ない、ギャップ16mm
から15mmに向かう。ギャップが15mmになると、ギャップ
対応でもゲインが変わり、結局、ギャップ15mmならびに
その状態で鋼板2を浮上維持するコイル電流i対応のゲ
インが、レジスタ64に格納される。すなわち、図2に
示すフィ−ドバック回路(コンピュ−タ61)のフィ−
ドバックゲインが、ギャップ15mmならびにその状態で鋼
板2を浮上維持するコイル電流i対応のゲイン、に収束
する。
【0026】また、図6に示すように、3.5Kg〜10.0Kg
の鋼板をギャップ15mmに維持するときコイル電流が5〜1
0Aで、それぞれ最適ゲイン(K1〜K4)がM6,2〜M6,12で
ある場合、目標ギャップG0=15mmのままで、鋼板重量
が3.5Kgから10.0Kgまで次第に増大すると、フィ−ドバ
ックゲイン(レジスタ64のゲイン)が、M6,2から順
次にM6,12にまで変化する。
の鋼板をギャップ15mmに維持するときコイル電流が5〜1
0Aで、それぞれ最適ゲイン(K1〜K4)がM6,2〜M6,12で
ある場合、目標ギャップG0=15mmのままで、鋼板重量
が3.5Kgから10.0Kgまで次第に増大すると、フィ−ドバ
ックゲイン(レジスタ64のゲイン)が、M6,2から順
次にM6,12にまで変化する。
【0027】図7,図8および図9に、目標ギャップG
0=15mmに固定のまま、電磁石(3,4)に対する鋼板
2の重量を8Kgから、それぞれ10kg,12Kgお
よび16Kgに増加させたときの、ギャップ,コイル電
流およびゲインの変動を示す。これらの図中の黒三角印
が、重量変更点である。重量変化によるギャップ変化お
よびギャップ変化連動の電流変化に対応して点A〜Gで
ゲインが変更され、このゲイン変更によりギャップ変化
が抑制され、いわゆるオ−バシュ−トやアンダ−シュ−
トが抑制され、重量変化によるギャップ変動(動揺)が
小さく抑制されている。
0=15mmに固定のまま、電磁石(3,4)に対する鋼板
2の重量を8Kgから、それぞれ10kg,12Kgお
よび16Kgに増加させたときの、ギャップ,コイル電
流およびゲインの変動を示す。これらの図中の黒三角印
が、重量変更点である。重量変化によるギャップ変化お
よびギャップ変化連動の電流変化に対応して点A〜Gで
ゲインが変更され、このゲイン変更によりギャップ変化
が抑制され、いわゆるオ−バシュ−トやアンダ−シュ−
トが抑制され、重量変化によるギャップ変動(動揺)が
小さく抑制されている。
【0028】図10に、図2に示す制御回路6による、
上述のゲイン変更制御を行なった場合(ゲイン・スケジ
ュ−ル)と、ゲインを一定に維持した場合(固定ゲイ
ン)のの、鋼板の電磁石に対向する位置の重量が2倍に
変化したときのギャップ変動を示す。目標ギャップG0
=15mmで固定である。図10に示すようにゲイン・スケ
ジュール(本発明)によれば、重量変動時の振動量が、
固定ゲインの場合(比較例)の1/2以下に低減する。
上述のゲイン変更制御を行なった場合(ゲイン・スケジ
ュ−ル)と、ゲインを一定に維持した場合(固定ゲイ
ン)のの、鋼板の電磁石に対向する位置の重量が2倍に
変化したときのギャップ変動を示す。目標ギャップG0
=15mmで固定である。図10に示すようにゲイン・スケ
ジュール(本発明)によれば、重量変動時の振動量が、
固定ゲインの場合(比較例)の1/2以下に低減する。
【0029】以上に説明した、図2に示すコンピュ−タ
61によるフィ−ドバック制御の制御モデルを図18の
(a)に示す。なお、この図面において、点線ブロック
内が、電磁石(3,4)および鋼板2でなる被制御系を
示す。また、この図面においては、動作点を目標値(目
標ギャップG0,基準電流値is)とした変化量(偏差)
について展開しているので、x1ref(ギャップ偏差目標
値)は0である。参考のため図18の(b)に、従来
の、磁力飽和特性およびインダクタンス特性を考慮しな
いフィ−ドバック制御の制御モデルを示す。
61によるフィ−ドバック制御の制御モデルを図18の
(a)に示す。なお、この図面において、点線ブロック
内が、電磁石(3,4)および鋼板2でなる被制御系を
示す。また、この図面においては、動作点を目標値(目
標ギャップG0,基準電流値is)とした変化量(偏差)
について展開しているので、x1ref(ギャップ偏差目標
値)は0である。参考のため図18の(b)に、従来
の、磁力飽和特性およびインダクタンス特性を考慮しな
いフィ−ドバック制御の制御モデルを示す。
【0030】次に、上述の、本発明のフィ−ドバック制
御のために、図2に示すメモリ63に格納されるゲイン
デ−タの算出方法(図2の2点鎖線ブロック90)を詳
細に説明する。但し、今までは、状態量を〔x1,x
1’,i1,∫x1dt〕とした4次系で説明してきた
が、これは、状態量を〔x1,x1’,i1〕とした3
次系の拡張系と考えることができ、本明細書で説明して
いる内容においては、両者は変換可能であるために、3
次系で設計しても、又4次系で設計しても両者は基本的
に同じといえる。従って、以下では部分的に3次系で説
明することにする。図1に示す磁気浮上系は、非飽和モ
デル(従来:図18(b))では次式で表わされる。
御のために、図2に示すメモリ63に格納されるゲイン
デ−タの算出方法(図2の2点鎖線ブロック90)を詳
細に説明する。但し、今までは、状態量を〔x1,x
1’,i1,∫x1dt〕とした4次系で説明してきた
が、これは、状態量を〔x1,x1’,i1〕とした3
次系の拡張系と考えることができ、本明細書で説明して
いる内容においては、両者は変換可能であるために、3
次系で設計しても、又4次系で設計しても両者は基本的
に同じといえる。従って、以下では部分的に3次系で説
明することにする。図1に示す磁気浮上系は、非飽和モ
デル(従来:図18(b))では次式で表わされる。
【0031】 me・d2/dt2・x=mg+fex−fm ・・・・・(1) e=R・i+d/dt・(L(x)・i) ・・・・・(2) fm=α(i/x)2 ・・・・・(3) L=La+Lb/x ・・・・・(4) ただし、me:慣性等価質量,mg:鋼板2に対する重
力,fex:外力,fm:鋼板2に作用する吸引力,e:
コイル端子電圧,R:コイル3の直流電気抵抗,i:励
磁電流,L(x):系のインダクタンス,x:ギャップ
寸法,α=μ0n2S1/4,La:漏れインダクタンス,
Lb=μ0n2S1/2,μ0:真空の透磁率,n:コイル
3の巻数,S1:鉄心4の断面積,である。
力,fex:外力,fm:鋼板2に作用する吸引力,e:
コイル端子電圧,R:コイル3の直流電気抵抗,i:励
磁電流,L(x):系のインダクタンス,x:ギャップ
寸法,α=μ0n2S1/4,La:漏れインダクタンス,
Lb=μ0n2S1/2,μ0:真空の透磁率,n:コイル
3の巻数,S1:鉄心4の断面積,である。
【0032】平衡点からの微小な変位Δx,Δiを導入
して線形化すると次式となる。
して線形化すると次式となる。
【0033】 me・d2/dt2・Δx=Δfex−Δfm ・・・(5) Δe=RΔi+d/dt{(L0Δi−(L0−La)γΔx)}・・・(6) Δfm=β(Δi−γΔx) ・・・(7) L=La−Δx・Lb/x0 2 ・・・(8) Δe=−Ku ・・・(9) ただし、L0:x=x0のときの系のインダクタンス,γ
=i0/x0,β=2αγ/x0,i0:x=x0のときの
電流,u:制御系の入力,K:制御系のゲイン,であ
る。
=i0/x0,β=2αγ/x0,i0:x=x0のときの
電流,u:制御系の入力,K:制御系のゲイン,であ
る。
【0034】しかし、磁気飽和の影響を考慮すると式7
におけるパラメータβ,γは実際のものとずれを生じ,
また式8はギャップxのみの関数で表わせるものでなく
電流iの影響も受ける。
におけるパラメータβ,γは実際のものとずれを生じ,
また式8はギャップxのみの関数で表わせるものでなく
電流iの影響も受ける。
【0035】そこで本発明の磁気飽和を考慮した飽和モ
デル(図18(a))では、制御パラメータFx,Fi,
Lx,Liを使用してΔfm(式7),L(式8),を次
式のように表す。
デル(図18(a))では、制御パラメータFx,Fi,
Lx,Liを使用してΔfm(式7),L(式8),を次
式のように表す。
【0036】 Δfm=Fx・Δx+Fi・Δi ・・・(10) L=L0+Lx・Δx+Li・Δi ・・・(11) 式11よりΔe(式6)は、 Δe=RΔi+(L0+Li・i0)・d/dt・Δi +Lx・i0・d/dt・Δx ・・・(12) と表わされる。ここで制御パラメータFx,Fi,Lx,
Liは、
Liは、
【0037】
【数1】
【0038】と示され、制御パラメータは鋼板2の厚さ
対応で、ギャップxと電流iに対する磁気吸引力特性お
よびインダクタンス特性から算出される。そして算出さ
れた制御パラメータから状態方程式を作成し、ゲインデ
ータを算出する。この一連の流れを図11に示す。
対応で、ギャップxと電流iに対する磁気吸引力特性お
よびインダクタンス特性から算出される。そして算出さ
れた制御パラメータから状態方程式を作成し、ゲインデ
ータを算出する。この一連の流れを図11に示す。
【0039】(ステップ1,2)鋼板2の厚さdを定
め、ギャップxと電流iに対する磁気吸引力特性データ
およびインダクタンス特性データを実測し、実測データ
f0(x0,i0),L(x0,i0)を読み込む。図12
に鋼板2の厚さd=4.5mmの場合の磁気吸引力特性,
図13にd=12mmの場合の磁気吸引力特性,図14に
d=22mmの場合の磁気吸引力特性,図15にd=4.
5mmの場合のインダクタンス特性,図16にd=12mm
の場合のインダクタンス特性,および、図17にd=2
2mmの場合のインダクタンス特性を示す。
め、ギャップxと電流iに対する磁気吸引力特性データ
およびインダクタンス特性データを実測し、実測データ
f0(x0,i0),L(x0,i0)を読み込む。図12
に鋼板2の厚さd=4.5mmの場合の磁気吸引力特性,
図13にd=12mmの場合の磁気吸引力特性,図14に
d=22mmの場合の磁気吸引力特性,図15にd=4.
5mmの場合のインダクタンス特性,図16にd=12mm
の場合のインダクタンス特性,および、図17にd=2
2mmの場合のインダクタンス特性を示す。
【0040】(ステップ3,4)次に、レジスタp,q
に1をセットし、ギャップの動作点x0の各要素を示す
レジスタxp(=x1)に10(mm),電流の動作点i0の各
要素を示すレジスタiq(=i1)に4.5(A)をそれぞれ
セットする(4)。
に1をセットし、ギャップの動作点x0の各要素を示す
レジスタxp(=x1)に10(mm),電流の動作点i0の各
要素を示すレジスタiq(=i1)に4.5(A)をそれぞれ
セットする(4)。
【0041】(ステップ5)次に、実測データf0から
磁気吸引力fmおよびインダクタンスLを表す近似式を
作成する。本実施例では特にこれに限られるわけではな
いが、近似式を次式に示す最小自乗法により作成する。
磁気吸引力fmおよびインダクタンスLを表す近似式を
作成する。本実施例では特にこれに限られるわけではな
いが、近似式を次式に示す最小自乗法により作成する。
【0042】
【数2】
【0043】すなわち、図12〜図17における近似曲
面は以下のように表される。
面は以下のように表される。
【0044】鋼板2の厚さd=4.5mmの場合の磁気吸
引力fmは、 fm=+4.1045*x0*i0+1.52758*x0*i1-499.85*x1*i0+0.0364574*x0*i2 -50.7676*x1*i1+12021.6*x2*i0-0.00130941*x0*i3+0.197275*x1*i2 +302.763*x2*i1-74680.1*x3*i0, 鋼板2の厚さd=12mmの場合の磁気吸引力fmは、 fm=+28.4438*x0*i0+7.79012*x0*i1-10406.7*x1*i0+0.67599*x0*i2 -1384.51*x1*i1+1259730*x2*i0-0.0499822*x0*i3-8.69502*x1*i2 +75403.9*x2*i1-6.68205e+007*x3*i0+0.00249326*x0*i4 +0.254385*x1*i3-204.523*x2*i2-1718160*x3*i1 +1.60772e+009*x4*i0-4.98062e-005*x0*i5-0.000886115*x1*i4 -1.57581*x2*i3+4955.2*x3*i2+1.41568e+007*x4*i1 -1.43271e+010*x5*i0, 鋼板2の厚さd=22mmの場合の磁気吸引力fmは、 fm=+17.899*x0*i0+5.077*x0*i1-3254.12*x1*i0+0.190873*x0*i2 -396.502*x1*i1+164326*x2*i0-0.000465288*x0*i3-3.98487*x1*i2 +6810.08*x2*i1-2372380*x3*i0, 鋼板2の厚さd=4.5mmの場合のインダクタンスL
は、 L=+0.125172*x0*i0-0,00247345*x0*i1-0.40073*x1*i0 -2.28268e-005*x0*i2+0.0210153*x1*i1+0.79117*x2*i0, 鋼板2の厚さd=12mmの場合のインダクタンスLは、 L=+0.158966*x0*i0+0.00177313*x0*i1-3.11033*x1*i0 -0.00067853*x0*i2+0.138323*x1*i1+35.0572*x2*i0 +2.04368e-005*x0*i3-0.000350857*x1*i2-0.991749*x2*i1 -115.976*x3*i0, 鋼板2の厚さd=22mmの場合のインダクタンスLは、 L=+0.165297*x0*i0-0,000833886*x0*i1-2.03125*x1*i0 -0.00010959*x0*i2+0.0198229*x1*i1+12.7328*x2*i0, である。
引力fmは、 fm=+4.1045*x0*i0+1.52758*x0*i1-499.85*x1*i0+0.0364574*x0*i2 -50.7676*x1*i1+12021.6*x2*i0-0.00130941*x0*i3+0.197275*x1*i2 +302.763*x2*i1-74680.1*x3*i0, 鋼板2の厚さd=12mmの場合の磁気吸引力fmは、 fm=+28.4438*x0*i0+7.79012*x0*i1-10406.7*x1*i0+0.67599*x0*i2 -1384.51*x1*i1+1259730*x2*i0-0.0499822*x0*i3-8.69502*x1*i2 +75403.9*x2*i1-6.68205e+007*x3*i0+0.00249326*x0*i4 +0.254385*x1*i3-204.523*x2*i2-1718160*x3*i1 +1.60772e+009*x4*i0-4.98062e-005*x0*i5-0.000886115*x1*i4 -1.57581*x2*i3+4955.2*x3*i2+1.41568e+007*x4*i1 -1.43271e+010*x5*i0, 鋼板2の厚さd=22mmの場合の磁気吸引力fmは、 fm=+17.899*x0*i0+5.077*x0*i1-3254.12*x1*i0+0.190873*x0*i2 -396.502*x1*i1+164326*x2*i0-0.000465288*x0*i3-3.98487*x1*i2 +6810.08*x2*i1-2372380*x3*i0, 鋼板2の厚さd=4.5mmの場合のインダクタンスL
は、 L=+0.125172*x0*i0-0,00247345*x0*i1-0.40073*x1*i0 -2.28268e-005*x0*i2+0.0210153*x1*i1+0.79117*x2*i0, 鋼板2の厚さd=12mmの場合のインダクタンスLは、 L=+0.158966*x0*i0+0.00177313*x0*i1-3.11033*x1*i0 -0.00067853*x0*i2+0.138323*x1*i1+35.0572*x2*i0 +2.04368e-005*x0*i3-0.000350857*x1*i2-0.991749*x2*i1 -115.976*x3*i0, 鋼板2の厚さd=22mmの場合のインダクタンスLは、 L=+0.165297*x0*i0-0,000833886*x0*i1-2.03125*x1*i0 -0.00010959*x0*i2+0.0198229*x1*i1+12.7328*x2*i0, である。
【0045】(ステップ6)次に、制御パラメータを算
出する。これは、図12〜図17における近似曲面の動
作点における傾きを示す。鋼板2の厚さ4.5mm,12
mm,22mmで目標ギャップx0を10mm,15mm,20m
mとした場合の飽和モデルに用いる制御パラメータの算
出結果を、図19の上段に示す。下段は比較例として示
す非飽和モデルの制御パラメータである。双方のブロッ
ク線図の構成は図18(a),(b)に示すように概略
同じであるが、飽和モデルは磁気飽和を考慮しているた
めそのパラメータは異なる。特に、鋼板2の厚さが4.
5mmのように板厚が薄く磁気飽和現象が顕著な場合には
両モデルのパラメータは大きく異なる。
出する。これは、図12〜図17における近似曲面の動
作点における傾きを示す。鋼板2の厚さ4.5mm,12
mm,22mmで目標ギャップx0を10mm,15mm,20m
mとした場合の飽和モデルに用いる制御パラメータの算
出結果を、図19の上段に示す。下段は比較例として示
す非飽和モデルの制御パラメータである。双方のブロッ
ク線図の構成は図18(a),(b)に示すように概略
同じであるが、飽和モデルは磁気飽和を考慮しているた
めそのパラメータは異なる。特に、鋼板2の厚さが4.
5mmのように板厚が薄く磁気飽和現象が顕著な場合には
両モデルのパラメータは大きく異なる。
【0046】(ステップ7)次に、算出した制御パラメ
ータから状態方程式を求める。すなわち、式10,式1
2で用いられた制御パラメータを数1で示したようにか
え、これら式と、線形化された式5および式9において
状態変数を[Δx,Δx′,Δi]に選ぶと次の状態方
程式が得られる。
ータから状態方程式を求める。すなわち、式10,式1
2で用いられた制御パラメータを数1で示したようにか
え、これら式と、線形化された式5および式9において
状態変数を[Δx,Δx′,Δi]に選ぶと次の状態方
程式が得られる。
【0047】
【数3】
【0048】(ステップ8)次に、式15の状態方程式
に現代制御理論における安定化手法である最適レギュレ
ータを適用してフィードバックゲインKを決定する。
に現代制御理論における安定化手法である最適レギュレ
ータを適用してフィードバックゲインKを決定する。
【0049】最適レギュレータとは、例えば図20に示
すシステム,すなわちx′(t)=Ax(t)+Bu
(t),y(t)=Cx(t)(なおx′はxの時間に関する
一階微分,A,B,Cは定数行列を表す)に対して次式
に示す2次評価関数,
すシステム,すなわちx′(t)=Ax(t)+Bu
(t),y(t)=Cx(t)(なおx′はxの時間に関する
一階微分,A,B,Cは定数行列を表す)に対して次式
に示す2次評価関数,
【0050】
【数4】
【0051】を最小化する制御器によって構成される制
御系のことをいう。これは、平衡状態x=0を目標とす
る制御系である。上式のQ,Rはそれぞれ出力y(状態
x)と操作量uに対する重み行列であり、Qは非負定な
対称行列,Rは正定な対称行列を示す。ここでRを固定
してQを大きくすると応答性が速くなり操作量uは大き
くなる。また、Qを固定してRを大きくすると応答性が
遅くなり操作量uは小さくなる。設計者はこの性質を考
慮してQとRを決定し、次式に示すリカッチ方程式,
御系のことをいう。これは、平衡状態x=0を目標とす
る制御系である。上式のQ,Rはそれぞれ出力y(状態
x)と操作量uに対する重み行列であり、Qは非負定な
対称行列,Rは正定な対称行列を示す。ここでRを固定
してQを大きくすると応答性が速くなり操作量uは大き
くなる。また、Qを固定してRを大きくすると応答性が
遅くなり操作量uは小さくなる。設計者はこの性質を考
慮してQとRを決定し、次式に示すリカッチ方程式,
【0052】
【数5】
【0053】を解き正定対称な行列Pを求め、このPよ
り評価関数を最小にする入力である制御則,
り評価関数を最小にする入力である制御則,
【0054】
【数6】
【0055】を構成する。そして、構成された制御系が
時間応答,操作量の制限等個々の設計仕様を満さないと
きは別のQ,Rを用いて再度設計し仕様を満すまでこれ
を繰り返す。
時間応答,操作量の制限等個々の設計仕様を満さないと
きは別のQ,Rを用いて再度設計し仕様を満すまでこれ
を繰り返す。
【0056】このような現代制御理論を適用して次式に
よって定義される最適フィードバックゲインK=
[K1,K2,K3]を計算する。
よって定義される最適フィードバックゲインK=
[K1,K2,K3]を計算する。
【0057】
【数7】
【0058】K1はギャップゲイン,K2は速度ゲイン,
K3は電流ゲイン,uは電圧を示す。
K3は電流ゲイン,uは電圧を示す。
【0059】その際、評価関数Jをどのように選択する
か問題となるがここでは、
か問題となるがここでは、
【0060】
【数8】
【0061】について、
【0062】
【数9】
【0063】と選んで、最適フィードバックゲインK=
[K1,K2,K3]を求めた。鋼板2の厚さ4.5mm,
12mm,22mmで目標ギャップx0を10mm,15mm,
とした場合の飽和モデルに用いる最適フィードバックゲ
インK1,K2,K3の算出結果を制御系の極とともに、
図21の上段に示す。下段は比較例として示す非飽和モ
デルのフィードバックゲインである。
[K1,K2,K3]を求めた。鋼板2の厚さ4.5mm,
12mm,22mmで目標ギャップx0を10mm,15mm,
とした場合の飽和モデルに用いる最適フィードバックゲ
インK1,K2,K3の算出結果を制御系の極とともに、
図21の上段に示す。下段は比較例として示す非飽和モ
デルのフィードバックゲインである。
【0064】(ステップ9)算出された最適フィードバ
ックゲインK1,K2,K3は、鋼板2の厚さ(本実施例
では3種類)に対応してコンピュータ61(図2)のメ
モリ63の領域Mp,qに格納する。最初はギャップ10
mm(=x1),電流4.5A(=i1)に対応して決定さ
れた最適フィードバックゲインがメモリ領域M1,1に格
納される。 (ステップ10,12,13)次に、レジスタqの値が
31を以上であるかチェックし、31未満であるとqを
1インクレメントし、電流の動作点要素iqを0.5イ
ンクレメント,すなわち電流値を0,5A増加する。そ
して、ステップ5〜9の処理をレジスタqの値が31以
上となるまで行う。これにより、31個の動作点要素
(x1,i1),(x1,i2),(x1,i3),・・・,
(x1,i31),に対応する31個の最適フィードバッ
クゲインがメモリ領域(M1,1),(M1,2),
(M1,3),・・・,(M1,31),に格納される。
ックゲインK1,K2,K3は、鋼板2の厚さ(本実施例
では3種類)に対応してコンピュータ61(図2)のメ
モリ63の領域Mp,qに格納する。最初はギャップ10
mm(=x1),電流4.5A(=i1)に対応して決定さ
れた最適フィードバックゲインがメモリ領域M1,1に格
納される。 (ステップ10,12,13)次に、レジスタqの値が
31を以上であるかチェックし、31未満であるとqを
1インクレメントし、電流の動作点要素iqを0.5イ
ンクレメント,すなわち電流値を0,5A増加する。そ
して、ステップ5〜9の処理をレジスタqの値が31以
上となるまで行う。これにより、31個の動作点要素
(x1,i1),(x1,i2),(x1,i3),・・・,
(x1,i31),に対応する31個の最適フィードバッ
クゲインがメモリ領域(M1,1),(M1,2),
(M1,3),・・・,(M1,31),に格納される。
【0065】(ステップ11,14,15)ステップ1
0でレジスタqの値が31以上となると、レジスタpの
値が21以上であるかチェックし、21未満であるとp
を1インクレメントし,レジスタqに1を再セットし、
ギャップの動作点要素xpを1インクレメント,すなわ
ちギャップ値を1mm増加し,電流の動作点要素iqに
4.5Aを再セットする。そして、ステップ5〜9の処
理をレジスタqの値が31以上,およびレジスタpの値
が21以上となるまで行う。すなわち、電流を4.5A
から0.5A刻みで19.5Aまで増加,ギャップを1
0mmから1mm刻みで30mmまで増加させながら各要素に
対応するゲインK(K1,K2,K3)を決定し、メモリ
63に板厚dに対応して格納する。これにより、本実施
例では図5に示すように、651(=31×21)個の
動作点要素(xp,iq)に対応する最適フィードバック
ゲインがメモリ領域(M1,1),(M1,2),・・・
(Mp,q),・・・,(M21,31),にそれぞれ格納さ
れる。
0でレジスタqの値が31以上となると、レジスタpの
値が21以上であるかチェックし、21未満であるとp
を1インクレメントし,レジスタqに1を再セットし、
ギャップの動作点要素xpを1インクレメント,すなわ
ちギャップ値を1mm増加し,電流の動作点要素iqに
4.5Aを再セットする。そして、ステップ5〜9の処
理をレジスタqの値が31以上,およびレジスタpの値
が21以上となるまで行う。すなわち、電流を4.5A
から0.5A刻みで19.5Aまで増加,ギャップを1
0mmから1mm刻みで30mmまで増加させながら各要素に
対応するゲインK(K1,K2,K3)を決定し、メモリ
63に板厚dに対応して格納する。これにより、本実施
例では図5に示すように、651(=31×21)個の
動作点要素(xp,iq)に対応する最適フィードバック
ゲインがメモリ領域(M1,1),(M1,2),・・・
(Mp,q),・・・,(M21,31),にそれぞれ格納さ
れる。
【0066】以上のようにして算出されたフィードバッ
クゲインを使用してフィードバック制御した場合の磁気
浮上の飽和モデルでの時間応答特性を図22(a)〜図
27(a)に示し、非飽和モデルでの時間応答特性を図
22(b)〜図27(b)に示す。図22〜図24は目
標ギャップx0を15mmとした場合であり、図25〜図
27は磁気飽和現象の顕著に現れる目標ギャップx0を
10mmとした場合である。また、同様の実験を目標ギャ
ップx0を20mmにした場合についても行い、各々の浮
上状態での振動解析結果を図28に示す。
クゲインを使用してフィードバック制御した場合の磁気
浮上の飽和モデルでの時間応答特性を図22(a)〜図
27(a)に示し、非飽和モデルでの時間応答特性を図
22(b)〜図27(b)に示す。図22〜図24は目
標ギャップx0を15mmとした場合であり、図25〜図
27は磁気飽和現象の顕著に現れる目標ギャップx0を
10mmとした場合である。また、同様の実験を目標ギャ
ップx0を20mmにした場合についても行い、各々の浮
上状態での振動解析結果を図28に示す。
【0067】これら結果から、磁気飽和をより現実に近
い形、すなわち吸引力特性およびインダクタンス特性の
実測値に基づいて制御ゲイン設計に必要な制御パラメー
タを算出してモデルに組み込むことで浮上状態での振動
が大幅に、しかも早期に低減されることがわかる。
い形、すなわち吸引力特性およびインダクタンス特性の
実測値に基づいて制御ゲイン設計に必要な制御パラメー
タを算出してモデルに組み込むことで浮上状態での振動
が大幅に、しかも早期に低減されることがわかる。
【0068】なお、本実施例ではフィードバックゲイン
Kを状態方程式に現代制御理論における最適レギュレー
タを適用して決定したが、これに限らず例えば、状態方
程式にH∞最適制御や極配置を適用して決定してもよ
く,あるいは伝達関数に自動制御理論を適用して決定し
てもよい。
Kを状態方程式に現代制御理論における最適レギュレー
タを適用して決定したが、これに限らず例えば、状態方
程式にH∞最適制御や極配置を適用して決定してもよ
く,あるいは伝達関数に自動制御理論を適用して決定し
てもよい。
【0069】
【発明の効果】以上の通り本発明方法によれば、動作点
の変化に連動して変化した動作点に対応するゲインが設
定されるので、制御の過不足の増大が抑制されて、円滑
かつすみやかに、磁性体の浮上付勢が、変動に対応する
平衡状態に収束する。すなわち、磁性体の重量変動や磁
性体に作用する外力の変動等による磁性体の動揺を抑制
する効果が高い。
の変化に連動して変化した動作点に対応するゲインが設
定されるので、制御の過不足の増大が抑制されて、円滑
かつすみやかに、磁性体の浮上付勢が、変動に対応する
平衡状態に収束する。すなわち、磁性体の重量変動や磁
性体に作用する外力の変動等による磁性体の動揺を抑制
する効果が高い。
【0070】本発明方法の前記好ましい実施例では、磁
力飽和特性のみならず、磁界/比透磁率曲線(つまりは
磁力飽和特性)で規定されない飽和特性等が、フィ−ド
バックゲイン(K1〜K4)に反映されており、これにより、
浮上磁性体の位置安定性がより一層向上する。また、磁
性体(d)の厚み対応で、厚み対応のフィ−ドバックゲイ
ングル−プを用いるので、各種厚みの磁性体のそれぞれ
に対して、上述の、磁力飽和特性(図12〜14)およびイン
ダクタンス特性(図15〜17)、に基づいたフィ−ドバック
ゲイン(K1〜K4)があり、厚み(d)が小さい磁性体に対し
てはその飽和特性等に対応するゲインが定まっているの
で、磁性体の厚み、特にそれが小さいことによる不安定
が改善され、特に厚みが比較的に小さい鋼板を比較的に
小さい目標ギャップで浮上させる制御の安定性が向上す
る。
力飽和特性のみならず、磁界/比透磁率曲線(つまりは
磁力飽和特性)で規定されない飽和特性等が、フィ−ド
バックゲイン(K1〜K4)に反映されており、これにより、
浮上磁性体の位置安定性がより一層向上する。また、磁
性体(d)の厚み対応で、厚み対応のフィ−ドバックゲイ
ングル−プを用いるので、各種厚みの磁性体のそれぞれ
に対して、上述の、磁力飽和特性(図12〜14)およびイン
ダクタンス特性(図15〜17)、に基づいたフィ−ドバック
ゲイン(K1〜K4)があり、厚み(d)が小さい磁性体に対し
てはその飽和特性等に対応するゲインが定まっているの
で、磁性体の厚み、特にそれが小さいことによる不安定
が改善され、特に厚みが比較的に小さい鋼板を比較的に
小さい目標ギャップで浮上させる制御の安定性が向上す
る。
【0071】本発明装置は、上述のフィ−ドバックゲイ
ンの更新を行なうものであるので、上述の方法がもたら
す効果が同様にもたらされる。
ンの更新を行なうものであるので、上述の方法がもたら
す効果が同様にもたらされる。
【図1】 本発明を使用する磁気浮上装置の構成概要を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図2】 図1に示す制御回路6の構成概要を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図3】 図2に示す領域判定回路76における判定処
理の内容を示すフローチャートである。
理の内容を示すフローチャートである。
【図4】 図2に示すメモリ63のメモリ領域を模式的
に示すブロック図である。
に示すブロック図である。
【図5】 図4に示すメモリ63のメモリテーブルdj
の内容を示すブロック図である。
の内容を示すブロック図である。
【図6】 図5に示すメモリテーブルdjの一部を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図7】 外乱入力として8kgの対象物重量を20%
増加(10kg)した場合のギャップ,励磁電流および
ゲインの変動を示すグラフである。
増加(10kg)した場合のギャップ,励磁電流および
ゲインの変動を示すグラフである。
【図8】 外乱入力として8kgの対象物重量を50%
増加(12kg)した場合のギャップ,励磁電流および
ゲインの変動を示すグラフである。
増加(12kg)した場合のギャップ,励磁電流および
ゲインの変動を示すグラフである。
【図9】 外乱入力として8kgの対象物重量を100
%増加(16kg)した場合のギャップ,励磁電流およ
びゲインの変動を示すグラフである。
%増加(16kg)した場合のギャップ,励磁電流およ
びゲインの変動を示すグラフである。
【図10】 外乱入力として対象物重量を100%増加
した場合の固定ゲインとゲイン・スケジュールにおける
振動量を示すグラフである。
した場合の固定ゲインとゲイン・スケジュールにおける
振動量を示すグラフである。
【図11】 図2に示す板厚対応のゲインK算出部90
における処理動作を示すフローチャートである。
における処理動作を示すフローチャートである。
【図12】 図1に示す鋼板2の厚さ4.5mmの場合の
ギャップx,電流i,吸引力fmの関係を表す近似曲面
を示すグラフである。
ギャップx,電流i,吸引力fmの関係を表す近似曲面
を示すグラフである。
【図13】 図1に示す鋼板2の厚さ12mmの場合のギ
ャップx,電流i,吸引力fmの関係を表す近似曲面を
示すグラフである。
ャップx,電流i,吸引力fmの関係を表す近似曲面を
示すグラフである。
【図14】 図1に示す鋼板2の厚さ22mmの場合のギ
ャップx,電流i,吸引力fmの関係を表す近似曲面を
示すグラフである。
ャップx,電流i,吸引力fmの関係を表す近似曲面を
示すグラフである。
【図15】 図1に示す鋼板2の厚さ4.5mmの場合の
ギャップx,電流i,インダクタンスLの関係を表す近
似曲面を示すグラフである。
ギャップx,電流i,インダクタンスLの関係を表す近
似曲面を示すグラフである。
【図16】 図1に示す鋼板2の厚さ12mmの場合のギ
ャップx,電流i,インダクタンスLの関係を表す近似
曲面を示すグラフである。
ャップx,電流i,インダクタンスLの関係を表す近似
曲面を示すグラフである。
【図17】 図1に示す鋼板2の厚さ22mmの場合のギ
ャップx,電流i,インダクタンスLの関係を表す近似
曲面を示すグラフである。
ャップx,電流i,インダクタンスLの関係を表す近似
曲面を示すグラフである。
【図18】 (a)は飽和モデルのシステムを示すブロ
ック線図,および(b)は非飽和モデルのシステムを示
すブロック線図である。
ック線図,および(b)は非飽和モデルのシステムを示
すブロック線図である。
【図19】 飽和モデルの制御パラメータおよび非飽和
モデルの制御パラメータを比較して示す表である。
モデルの制御パラメータを比較して示す表である。
【図20】 状態空間表現されたシステムの一例を示す
ブロック線図である。
ブロック線図である。
【図21】 飽和モデルのフィードバックゲイン,制御
系の極および非飽和モデルのフィードバックゲイン,制
御系の極を比較して示す表である。
系の極および非飽和モデルのフィードバックゲイン,制
御系の極を比較して示す表である。
【図22】 図1に示す鋼板2の厚さ4.5mm,目標ギ
ャップ15mmの場合の磁気浮上の時間応答特性を示すグ
ラフであり、(a)は飽和モデル,(b)は非飽和モデ
ルのものを示す。
ャップ15mmの場合の磁気浮上の時間応答特性を示すグ
ラフであり、(a)は飽和モデル,(b)は非飽和モデ
ルのものを示す。
【図23】 図1に示す鋼板2の厚さ12mm,目標ギャ
ップ15mmの場合の磁気浮上の時間応答特性を示すグラ
フであり、(a)は飽和モデル,(b)は非飽和モデル
のものを示す。
ップ15mmの場合の磁気浮上の時間応答特性を示すグラ
フであり、(a)は飽和モデル,(b)は非飽和モデル
のものを示す。
【図24】 図1に示す鋼板2の厚さ22mm,目標ギャ
ップ15mmの場合の磁気浮上の時間応答特性を示すグラ
フであり、(a)は飽和モデル,(b)は非飽和モデル
のものを示す。
ップ15mmの場合の磁気浮上の時間応答特性を示すグラ
フであり、(a)は飽和モデル,(b)は非飽和モデル
のものを示す。
【図25】 図1に示す鋼板2の厚さ4.5mm,目標ギ
ャップ10mmの場合の磁気浮上の時間応答特性を示すグ
ラフであり、(a)は飽和モデル,(b)は非飽和モデ
ルのものを示す。
ャップ10mmの場合の磁気浮上の時間応答特性を示すグ
ラフであり、(a)は飽和モデル,(b)は非飽和モデ
ルのものを示す。
【図26】 図1に示す鋼板2の厚さ12mm,目標ギャ
ップ10mmの場合の磁気浮上の時間応答特性を示すグラ
フであり、(a)は飽和モデル,(b)は非飽和モデル
のものを示す。
ップ10mmの場合の磁気浮上の時間応答特性を示すグラ
フであり、(a)は飽和モデル,(b)は非飽和モデル
のものを示す。
【図27】 図1に示す鋼板2の厚さ22mm,目標ギャ
ップ10mmの場合の磁気浮上の時間応答特性を示すグラ
フであり、(a)は飽和モデル,(b)は非飽和モデル
のものを示す。
ップ10mmの場合の磁気浮上の時間応答特性を示すグラ
フであり、(a)は飽和モデル,(b)は非飽和モデル
のものを示す。
【図28】 飽和モデルと非飽和モデルの振動解析結果
を示す表である。
を示す表である。
【図29】 磁気飽和現像を考慮した場合(実測値)と
考慮しない場合(理論値)の吸引力特性およびインダク
タンス特性を示すグラフであり、(a)はギャップxと
吸引力fmの関係,(b)は電流iと吸引力fmの関係,
(c)はギャップxとインダクタンスLの関係,および
(d)は電流iとインダクタンスLの関係を示す。
考慮しない場合(理論値)の吸引力特性およびインダク
タンス特性を示すグラフであり、(a)はギャップxと
吸引力fmの関係,(b)は電流iと吸引力fmの関係,
(c)はギャップxとインダクタンスLの関係,および
(d)は電流iとインダクタンスLの関係を示す。
1:電磁石 2:鋼板 3:コイル 4:鉄心 5:コイルドライバ 6:制御回路 7:ギャップセンサ 8:電流センサ 61:コンピュータ 63:メモリ 76:領域判定回路 80:PWM回路 81,82:信号処理回路 90:板厚対応の
ゲインK算出部
ゲインK算出部
【手続補正書】
【提出日】平成5年7月23日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図19
【補正方法】変更
【補正内容】
【図19】 飽和モデルの制御パラメータおよび非飽和
モデルの制御パラメータを比較して示す図表である。
モデルの制御パラメータを比較して示す図表である。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図21
【補正方法】変更
【補正内容】
【図21】 飽和モデルのフィードバックゲイン,制御
系の極および非飽和モデルのフィードバックゲイン,制
御系の極を比較して示す図表である。
系の極および非飽和モデルのフィードバックゲイン,制
御系の極を比較して示す図表である。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図28
【補正方法】変更
【補正内容】
【図28】 飽和モデルと非飽和モデルの振動解析結果
を示す図表である。
を示す図表である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤 崎 敬 介 富津市新富20−1 新日本製鐵株式会社技 術開発本部内 (72)発明者 和 嶋 潔 富津市新富20−1 新日本製鐵株式会社技 術開発本部内 (72)発明者 梅 津 健 司 富津市新富20−1 新日本製鐵株式会社技 術開発本部内
Claims (7)
- 【請求項1】電磁石の電気コイルに流れる電流値と、該
電磁石とその磁力を受ける磁性体の間のギャップを検出
し、これらと目標ギャップに対応して、検出ギャップが
目標ギャップに合致するように電気コイルに印加する電
圧をフィ−ドバック制御する磁気浮上制御方法におい
て、 電磁石と磁性体の間のギャップおよび電気コイルに流れ
る電流値に対応するフィ−ドバックゲインを、予め設定
されたゲイングル−プの中から選択し、選択したフィ−
ドバックゲインを用いて、電気コイルに印加する電圧を
フィ−ドバック制御することを特徴とする磁気浮上制御
方法。 - 【請求項2】前記電磁石および磁性体でなる被制御系の
ギャップおよび電気コイル電流に対する、磁力飽和特性
およびインダクタンス特性、に基づいて、被制御系の電
気コイル印加電圧/磁力変換モデルを、ギャップ値およ
び電気コイル電流値対応で確定し、各モデルに対応する
フィ−ドバックゲインを算出し、これらのゲインを前記
ゲイングル−プとする、請求項1記載の磁気浮上制御方
法。 - 【請求項3】前記電磁石と磁性体からなる被制御系の前
記ギャップおよび電気コイル電流の各値に対する磁性体
に及ぶ磁力を実測し、実測データから磁力飽和特性を表
す第1近似式を得、ギャップおよび電気コイル電流の各
値に対する電気コイルのインダクタンスを実測し、実測
データからインダクタンス特性を表す第2近似式を得
て、第1近似式および第2近似式から前記被制御系の電
気コイル印加電圧/磁力変換モデルを、ギャップ値およ
び電流値対応で確定し、各モデルに対応するフィ−ドバ
ックゲインを算出し、これらのゲインを前記ゲイングル
−プとする、請求項1又は請求項2記載の磁気浮上制御
方法。 - 【請求項4】磁性体の厚み対応で、厚み対応のゲイング
ル−プをメモリ手段に予め格納しておき、実際に浮上駆
動する磁性体の厚みに対応するゲイングル−プを、フィ
−ドバック制御に使用するゲイングル−プに設定する、
請求項1,請求項2又は請求項3記載の磁気浮上制御方
法。 - 【請求項5】電磁石;電磁石とそれに対向する磁性体の
間のギャップを検出するためのギャップ検出手段;電磁
石の電気コイルに流れる電流の値を検出するための電流
検出手段;電磁石と磁性体の間のギャップおよび電気コ
イルに流れる電流値に対応するフィ−ドバックゲイン
を、ギャップ値および電流値対応で格納したメモリ手
段;ギャップ検出手段が検出したギャップ値および電流
検出手段が検出した電流値に対応するフィ−ドバックゲ
インを前記メモリ手段から読み出すゲイン設定手段;
与えられるギャップ目標値に対するギャップ検出手段の
検出ギャップの偏差,その変化速度,与えられる基準電
流値に対する電流検出手段の検出電流値の偏差およびギ
ャップ偏差の累積値、にゲイン設定手段が読み出したフ
ィ−ドバックゲインを乗算した値、ならびに、与えられ
る基準電流値、に対応する電気コイル印加電圧を算出す
る電圧算出手段;および、 電磁石の電気コイルに電圧算出手段が算出した電圧を印
加するコイルドライバ;を備える磁気浮上装置。 - 【請求項6】電磁石;電磁石とそれに対向する磁性体の
間のギャップを検出するためのギャップ検出手段;電磁
石の電気コイルに流れる電流の値を検出するための電流
検出手段;磁性体の厚み,電磁石と磁性体の間のギャッ
プおよび電気コイルに流れる電流値に対応するフィ−ド
バックゲインを、磁性体の厚み,ギャップ値および電流
値対応で格納したメモリ手段;与えられる厚み,ギャッ
プ検出手段が検出したギャップ値および電流検出手段が
検出した電流値に対応するフィ−ドバックゲインを前記
メモリ手段から読み出すゲイン設定手段;与えられるギ
ャップ目標値に対するギャップ検出手段の検出ギャップ
の偏差,その変化速度,与えられる基準電流値に対する
電流検出手段の検出電流値の偏差およびギャップ偏差の
累積値、にゲイン設定手段が読み出したフィ−ドバック
ゲインを乗算した値、ならびに、与えられる基準電流
値、に対応する電気コイル印加電圧を算出する電圧算出
手段;および、 電磁石の電気コイルに電圧算出手段が算出した電圧を印
加するコイルドライバ;を備える磁気浮上装置。 - 【請求項7】前記メモリ手段のフィ−ドバックゲイン
は、前記電磁石および磁性体でなる被制御系のギャップ
および電気コイル電流に対する、磁力飽和特性およびイ
ンダクタンス特性、に基づいて、ギャップ値および電気
コイル電流値対応で確定された、前記電磁石および磁性
体を含む被制御系の電気コイル印加電圧/磁力変換各モ
デルに対応するフィ−ドバックゲインである、請求項5
又は請求項6記載の磁気浮上装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1996893A JPH06237507A (ja) | 1993-02-08 | 1993-02-08 | 磁気浮上制御方法および磁気浮上装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1996893A JPH06237507A (ja) | 1993-02-08 | 1993-02-08 | 磁気浮上制御方法および磁気浮上装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06237507A true JPH06237507A (ja) | 1994-08-23 |
Family
ID=12013995
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1996893A Withdrawn JPH06237507A (ja) | 1993-02-08 | 1993-02-08 | 磁気浮上制御方法および磁気浮上装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06237507A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010178550A (ja) * | 2009-01-30 | 2010-08-12 | Mitsubishi Electric Corp | 電磁石の固定鉄心と可動鉄心間のギャップ検出方法及び検出装置 |
KR101031851B1 (ko) * | 2008-11-14 | 2011-05-02 | 한국전기연구원 | 선형유도전동기의 수직력 제어 방법 |
CN112840214A (zh) * | 2018-12-27 | 2021-05-25 | 株式会社日立高新技术 | 运送装置、以及具备其的检体分析系统、检体前处理装置 |
CN115320398A (zh) * | 2022-08-18 | 2022-11-11 | 中国人民解放军国防科技大学 | 基于广义内模控制算法的磁浮列车悬浮系统的控制方法 |
CN116774588A (zh) * | 2023-07-25 | 2023-09-19 | 石家庄铁道大学 | Ems型磁悬浮列车悬浮架双重交叉耦合自适应反步控制方法 |
-
1993
- 1993-02-08 JP JP1996893A patent/JPH06237507A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101031851B1 (ko) * | 2008-11-14 | 2011-05-02 | 한국전기연구원 | 선형유도전동기의 수직력 제어 방법 |
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CN112840214A (zh) * | 2018-12-27 | 2021-05-25 | 株式会社日立高新技术 | 运送装置、以及具备其的检体分析系统、检体前处理装置 |
CN112840214B (zh) * | 2018-12-27 | 2024-05-07 | 株式会社日立高新技术 | 运送装置、以及具备其的检体分析系统、检体前处理装置 |
CN115320398A (zh) * | 2022-08-18 | 2022-11-11 | 中国人民解放军国防科技大学 | 基于广义内模控制算法的磁浮列车悬浮系统的控制方法 |
CN116774588A (zh) * | 2023-07-25 | 2023-09-19 | 石家庄铁道大学 | Ems型磁悬浮列车悬浮架双重交叉耦合自适应反步控制方法 |
CN116774588B (zh) * | 2023-07-25 | 2024-01-23 | 石家庄铁道大学 | Ems型磁悬浮列车悬浮架双重交叉耦合自适应反步控制方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000509 |