JPH06236685A - Atdを生成するアドレス・バッファ - Google Patents

Atdを生成するアドレス・バッファ

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Publication number
JPH06236685A
JPH06236685A JP5343281A JP34328193A JPH06236685A JP H06236685 A JPH06236685 A JP H06236685A JP 5343281 A JP5343281 A JP 5343281A JP 34328193 A JP34328193 A JP 34328193A JP H06236685 A JPH06236685 A JP H06236685A
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JP
Japan
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transistor
coupled
collector
emitter
voltage
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Pending
Application number
JP5343281A
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English (en)
Inventor
Iii Perry H Pelley
ペリー・エイチ・ペレイ・ザ・サード
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Motorola Solutions Inc
Original Assignee
Motorola Inc
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Publication date
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Publication of JPH06236685A publication Critical patent/JPH06236685A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/06Address interface arrangements, e.g. address buffers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/18Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 半導体集積回路メモリのアクセス速度を増進
するため、より迅速にATDパルスを生成する。 【構成】 アドレス・バッファ(20)は、ある論理状態か
ら別の状態へ遷移するアドレス信号に応答してアドレス
遷移検出(ATD)パルスを提供する。アドレス・バッファ
(20)は、差動増幅器(22)、エミッタ・フォロワ・トラン
ジスタ(35)及び、2つのPチャネル・トランジスタ(36,
37)を含む。各Pチャネル・トランジスタの第1電極は、
差動増幅器(22)の出力ノ−ドに結合し、夫々の第2電極
はエミッタ・フォロワ・トランジスタ(35)のベ−スに結
合する。遅延制御信号は、レベル変換回路(60)によって
Pチャネル・トランジスタ(36,37)のゲ−トに提供さ
れ、ATDパルスは、トランジスタ(35)のエミッタで与え
られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般にアドレス遷移検出
(ATD:address transition detection)に関し、特にAT
Dを生成するアドレス・バッファに関する。
【0002】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】スタ
ティック・ランダム・アクセス・メモリのような集積回
路メモリは、アクセス・タイムを短くすることが非常に
要求される。SRAMは、マイクロプロセッサのキャッシュ
・メモリ内のようなスピ−ドが非常に重要となるプロセ
シング・システムの部分においてしばしば用いられる。
アドレス遷移検出はアクセス・タイムを減少させるため
に用いられる1つの方法であり、そのアドレスにおける
変化が検出された直後にメモリ・アクセスを始めること
によってアクセス・タイムを減少させるものである。AT
Dは、予備状態信号(preconditoning signal)および能動
的信号(activation signal)の両者をそのメモリ内に提
供することによって、メモリ・アクセス・タイムを減少
させ、消費電力もまた減少させることが可能である。AT
Dは一般にデ−タ線プリチャ−ジおよび等化信号(equali
zation signal)を提供するためメモリの中で使用され
る。さらにATDは、ワ−ド線の駆動,ビット線の駆動,
デ−タ線の感知(sensing)およびデ−タ出力のために用
いられる。
【0003】ATDを用いるメモリでは、アドレス遷移検
出器はアドレスの変化に応答してパルスを与える。各ア
ドレス信号について遷移が検出されるために別個のアド
レス遷移検出器を用いることが一般的である。たとえば
行アドレスの遷移が検出されるものであれば、アドレス
遷移検出器は各行アドレス信号について共通に用いられ
る。これらの検出器の出力はその後加算され、単独のパ
ルスを提供する。この例では、任意のアドレス信号にお
ける変化が検出されると、単独のパルスが提供される。
【0004】ATDを用いるメモリのアクセス・タイム
は、アドレスが変化した後にATDパルスを生成するまで
の時間に多大な関連性を有する。すなわち、より早くAT
Dパルスを生成することができれば、ATDを用いるメモリ
はより早くアクセスすることが可能であり、その結果メ
モリのスピ−ドを増進することが可能になる。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明により提供される
入力バッファはその1形態において、差動増幅器と、第
1,第2MOSトランジスタと、エミッタ・フォロワ・トラ
ンジスタとを有する。その差動増幅器は入力信号を受信
する入力端子と、第1,第2出力ノ−ドとを有する。入力
信号は第1,第2論理状態を有する。第1MOSトランジスタ
は差動増幅器の第1出力ノ−ドに結合する第1電流電極
と、第2電流電極と、第1制御信号を受信するゲ−トとを
有する。第2MOSトランジスタは差動増幅器の第2出力ノ
−ドに結合する第1電流電極と、第2電流電極と、第2制
御信号を受信するゲ−トとを有する。エミッタ・フォロ
ワ・トランジスタは、第1,第2MOSトランジスタの両者
の第2電流電極に結合するベ−スと、エミッタとを有す
る。入力信号はその第1論理状態から第2論理状態へ遷移
し、それに応答してエミッタは出力パルスを提供する。
【0006】
【実施例】図1は本発明によるATDを生成するアドレス・
バッファ20の概略図を示す。アドレス・バッファ20は、
差動増幅器22と、エミッタ・フォロワ・トランジスタ2
9,32,35と、抵抗器30,33,38と、Pチャネル・トラ
ンジスタ36,37と、Nチャネル・トランジスタ31,34,3
9を含む。差動増幅器22は抵抗器24,25と、NPNトラ
ンジスタ26,27と、Nチャネル・トランジスタ28とを含
む。
【0007】差動増幅器22の抵抗器24は、「VDD」と記
された正の電源電圧端子に結合する第1端子と、出力ノ
−ド101に結合する第2端子を有する。抵抗器25はVDD
結合される第1端子と、出力ノ−ド102に結合する第2端
子とを有する。NPNトランジスタ26は、出力ノ−ド10
1において抵抗器24の第2端子に結合するコレクタと、
「AIN」と記されたECLレベル・シングル・エンド・ア
ドレス信号を受信するベ−スと、エミッタとを有する。
NPNトランジスタ27は、出力ノ−ド102において抵抗
器25の第2端子に結合するコレクタと、「VREF」と記さ
れた参照電圧を受信するベ−スと、NPNトランジスタ
26のエミッタに結合されるエミッタとを有する。Nチャ
ネル・トランジスタ28はNPNトランジスタ26,27のエ
ミッタに結合するドレインと、「NBIAS」と記されたバ
イアス電圧を受信するゲ−トと、「VSS」と記された負
の電源電圧端子に結合されるソ−スとを有する。ノ−ド
101,102は差動増幅器22の出力ノ−ドである。電源電圧
端子VDDは約3.0ボルトに等しい電源電圧を受信し、電
源電圧端子VSSはグランドである。
【0008】エミッタ・フォロワ・トランジスタ29はV
DDに結合されるコレクタと、出力ノ−ド101において抵
抗器24の第2端子に結合するベ−スと、エミッタとを有
する。抵抗器30は、エミッタ・フォロワ・トランジスタ
29のエミッタに結合される第1端子と、「A* 」と記され
たバッファ信号を提供する第2端子とを有する。Nチャ
ネル・トランジスタ31は、抵抗器30の第2端子に結合す
るドレインと、「CBIAS」と記された電源依存バイアス
電圧を受信するゲ−トと、VSSに結合するソ−スとを有
する。エミッタ・フォロワ・トランジスタ32はVDDに結
合するコレクタと、出力ノ−ド102において抵抗器25の
第2端子に結合するベ−スと、エミッタとを有する。エ
ミッタ・フォロワ・トランジスタ29,32,35はNPNト
ランジスタである。抵抗器33はエミッタ・フォロワ・ト
ランジスタ32のエミッタに結合する第1端子と、「A」と
記されたバッファ信号を提供する第2端子とを有する。
Nチャネル・トランジスタ34は抵抗器33の第2端子に結
合するドレインと、電源依存バイアス電圧CBIASを受信
するゲ−トと、VSSに結合するソ−スとを有する。エミ
ッタ・フォロワ・トランジスタ35は、VDDに結合するコ
レクタと、ベ−スと、エミッタとを有する。Pチャネル
・トランジスタ36は出力ノ−ド102において抵抗器25の
第2端子に結合される第1電流電極と、「FB2」と記さ
れた制御信号を受信するゲ−トと、エミッタ・フォロワ
・トランジスタ35のベ−スに結合される第2電流電極と
を有する。Pチャネル・トランジスタ37は出力ノ−ド10
1において抵抗器24の第2端子に結合する第1電流電極
と、「FB1」と記された制御信号を受信するゲ−トと、
エミッタ・フォロワ・トランジスタ35のベ−スに結合す
る第2制御電流電極とを有する。抵抗器38はエミッタ・
フォロワ・トランジスタ35のエミッタに結合する第1端
子と、「ATD*」と記されたATDパルスを提供する第2端子
とを有する。Nチャネル・トランジスタ39は抵抗器38の
第2端子に結合されるドレインと、バイアス信号CBIAS
を受信するゲ−トと、負の電源端子VSSに結合するソ−
スとを有する。(信号名の後の星印「*」は、同一名では
あるが星印「*」のないの信号の論理的補数(logical co
mplement)である。)全てのNチャネルおよびPチャネル
・トランジスタはMOS(金属酸化物半導体)トランジスタ
である。
【0009】動作時にあっては、シングル・エンドECL
レベル・アドレス信号AINは、NPNトランジスタ26の
ベ−スにおいてアドレス・バッファ20によって受信され
る。アドレス信号AINは、約1.6ボルトのECL論理ハイ
電圧と約0.8ボルトのECL論理ロ−電圧との間で振幅を
行う。Nチャネル・トランジスタ28は、バイアス電圧N
BIASを受信し、差動増幅器22のために比較的一定の電流
源を提供する。NBIASは約1.2ないし1.4ボルトにおい
て提供される。参照電圧VREFは、ECLレベル・アドレス
信号AINの論理的振幅の中点における近似的な電圧レベ
ルで、NPNトランジスタ27のベ−スに提供される。ア
ドレス信号AINが論理ロ−であり、参照信号電圧VREF
よりもマイナスであれば、NPNトランジスタ26は実質
的に非導通になり、NPNトランジスタ27が導通する。
Nチャネル・トランジスタ28を介する「I28」と記され
る電流は、NPNトランジスタ27を介して流れるように
なり、出力ノ−ド102における電圧はVDDからI2825
を引いたものに等しくなる。ただし、R25は抵抗器25の
抵抗値である。出力ノ−ド101における電圧がほぼVD D
に等しいのは、NPNトランジスタ26を通じる電流がほ
ぼ実質的にゼロだからである。同様に、アドレス信号A
INが論理ハイ電圧に等しく、VREFよりマイナスであれ
ば、NPNトランジスタ26は導通し、NPNトランジス
タ27は実質的に非導通になる。電流I28はNPNトラン
ジスタ26を介して流れ、出力ノ−ド101における電圧は
DDからI2824を引いたものに等しくなる。ここでR
24は抵抗器24の抵抗値である。出力ノ−ド102における
電圧は近似的にVDDに等しくなる。したがって、ノ−ド
101,102における論理ハイおよび論理ロ−電圧の間の差
は、抵抗器24または25の何れかを介する電圧降下に等し
くなる。好適実施例では、R24は近似的にR25に等し
い。
【0010】エミッタ・フォロワ・トランジスタ29のエ
ミッタは、出力ノ−ド101における電圧から1つのベ−ス
・エミッタ・ダイオ−ド電圧降下(VBE)を引いたものに
等しい電圧を提供する。ここで1つのVBEは約0.8ボル
トに等しい。トランジスタ32のエミッタは出力ノ−ド10
2における電圧から1つのVBEを引いたものに等しい電圧
を提供する。抵抗器30,33は、エミッタ・フォロワ・ト
ランジスタ29,32によって与えられる電圧を減少させる
ことによって、レベル・シフト機能を実行する。レベル
・シフトの総量すなわち抵抗器30,33によって提供され
る電圧降下は、Nチャネル・トランジスタ31,34によっ
て提供される電流の総量および抵抗器30,33の抵抗値に
依存する。
【0011】好適実施例では、バッファ信号A,A*
約1.6ボルトの中間論理ハイ電圧と約1.0ボルトの論理
ロ−電圧との間で振幅するように抵抗器30,33は設定さ
れる。電源依存バイアス電圧CBIASはVDDと共に変化
し、Nチャネル・トランジスタ31,34によって提供され
る電流の総量を決定する。Nチャネル・トランジスタ3
1,34は電流源として機能する。たとえば、VDDが3.3
ボルトであるように選ばれていると、そのVDDは2.8ボ
ルトと4.0ボルトとの間でゆらぎを有する。VDDが増加
するとバイアス電圧CBIASを増加させ、VDDが減少する
とバイアス電圧CBIASは減少する。CBIASが増加すると
き、Nチャネル・トランジスタ31,34によって提供され
る電流は増加する。電流が増加すると抵抗器30,33を介
する電圧降下も増加する。同様に、VDDが減少するとバ
イアス電圧CBIASが減少し、抵抗器30,33を介する電圧
降下を減少させる。これはNチャネル・トランジスタ3
1,34がほとんど電流を供給しないためである。したが
って、バッファ信号A,A* はVSSまたはグランドに関
して一定値をとり、VDDの変化に依存しない。CBIAS
提供する回路は以下に説明するとおり図2に描かれてい
る。バッファ信号A,A* はVSSを参照値とするので、
バッファ・マ−ジンおよび増加した信号の振幅は低い電
源電圧であってもその後の段において実現される。
【0012】エミッタ・フォロワ・トランジスタ35は、
Pチャネル・トランジスタ36,37によってノ−ド101,1
02の両者に結合される。エミッタ・フォロワ・トランジ
スタ35のベ−スにおける電圧は、出力ノ−ド101または
出力ノ−ド102における電圧に等しく、これはトランジ
スタ36,37の何れが導通しているかに依存する。電源電
圧は約3.0ボルトに等しいので、Pチャネル・トランジ
スタ36,37が導通しているとき、これらを介する電圧降
下がほとんどないことは重要である。電源電圧が約3.0
ボルトに等しいとき、Pチャネル・トランジスタ36,37
のしきい電圧は約1.0ボルトである。抵抗器38およびN
チャネル・トランジスタ39は、レベル・シフトすなわち
抵抗器30,33に対して既に述べたような電圧降下機能を
提供する。
【0013】制御信号FB1,FB2はBICMOSレベル論理信号
におけるものであり、それぞれPチャネル・トランジス
タ37,36のゲ−トに与えられる。BICMOS回路はバイポ−
ラ・トランジスタおよび相補性金属酸化物半導体(CMOS)
を同一の集積回路上に包含することによって構成され
る。この場合、BICMOS論理ハイ電圧はVDDから1つのV
BEを引いたものに等しく、BICMOS論理ロ−電圧はVSS
1つのVBEを加えたものに等しい。アドレス信号AINが1
つの論理状態から他のものに変化した後、制御信号F
B1,FB2は所定の期間または遅延させる間論理状態を変
化させる。好適実施例では、制御信号FB1,FB2は、レベ
ル変換器60(図3に示される)によってフィ−ド・バック
信号として提供される。アドレス信号AINが1つの論理
状態から次の論理状態へ変化するとき、制御信号FB1,F
B2が論理状態を変化させる前に約1.2ないし1.4ナノ秒
の伝播遅延が存在する。別の実施例では、制御信号F
B1,FB2は、必要となる信号の振幅がPチャネル・トラ
ンジスタ36,37を適切に変化させる限り、他のソ−スか
ら提供することも可能である。また、アドレス・バッフ
ァ20は入力バッファであり、アドレス信号の遷移を検出
することを制限しないことに留意すべきである。あるい
はまたデ−タ信号のような他の種類の入力信号の遷移を
さらに検出することも可能である。
【0014】図2は本発明による電源依存バイアス電圧
発生回路40の概略図である。電源依存バイアス電圧回路
40は抵抗器41,54,NPNトランジスタ44,差動増幅器
46,Nチャネル・トランジスタ42,45,57,電流ミラ−
52を含む。差動増幅器46はPチャネル・トランジスタ4
7,48,NPNトランジスタ49,50,Nチャネル・トラ
ンジスタ51を含む。Pチャネル・トランジスタ47,48は
差動増幅器46に対して抵抗器として機能する。電流ミラ
−52はPチャネル・トランジスタ53,56を含む。
【0015】抵抗器41はVDDに結合する第1端子と、第2
端子とを有する。Nチャネル・トランジスタ42は、抵抗
器41の第2端子に結合するドレインと、NBIASを受信す
るゲ−トと、VSSに結合するソ−スとを有する。NPN
トランジスタ44はVDDに結合するコレクタと、抵抗器41
の第2端子に結合するベ−スと、ノ−ド103に結合するエ
ミッタとを有する。Nチャネル・トランジスタ45は、出
力ノ−ド103においてNPNトランジスタ44のエミッタ
に結合するドレインと、電源依存バイアス電圧CBIAS
受信するゲ−トと、VSSに結合するソ−スとを有する。
【0016】差動増幅器46のPチャネル・トランジスタ
47は、VDDに結合するソ−スと、ゲ−トと、ドレインと
を有する。Pチャネル・トランジスタ48はVDDに結合す
るソ−スと、Pチャネル・トランジスタ47のゲ−トに結
合するゲ−トおよびドレインとを有する。NPNトラン
ジスタ49は、Pチャネル・トランジスタ47のドレインに
結合するコレクタと、ノ−ド103においてNPNトラン
ジスタ44のエミッタに結合するベ−スと、エミッタとを
有する。NPNトランジスタ50は、Pチャネル・トラン
ジスタ48のドレインに結合するコレクタと、ノ−ド104
に結合するベ−スと、NPNトランジスタ49のエミッタ
に結合するエミッタとを有する。Nチャネル・トランジ
スタ51は、NPNトランジスタ49,50のエミッタに結合
するドレインと、バイアス電圧NBIASを受信するゲ−ト
と、VSSに結合するソ−スとを有する。
【0017】電流ミラ−52のPチャネル・トランジスタ
53はVDDに結合するソ−スと、Pチャネル・トランジス
タ47のドレインに結合するゲ−トと、ノ−ド104におい
てNPNトランジスタ50のベ−スに結合するドレインと
を有する。Pチャネル・トランジスタ56はVDDに結合す
るソ−スと、Pチャネル・トランジスタ53のゲ−トに結
合するゲ−トと、電源依存バイアス電圧CBIASを提供す
るドレインとを有する。抵抗器54はノ−ド104において
トランジスタ50のベ−スに結合する第1端子と、
「VBG」と記されているバンド・ギャップ電圧を受信す
る第2端子とを有する。Nチャネル・トランジスタ57
は、Pチャネル・トランジスタ56のドレインに結合する
ゲ−トおよびドレインと、VSSに結合するソ−スとを有
する。
【0018】動作時にあっては、Nチャネル・トランジ
スタ42は抵抗器41に対して比較的一定の電流源を提供
し、VDDに関して比較的一定の抵抗器41を介した電圧降
下を形成する。NPNトランジスタ44はノ−ド103にお
いてNPNトランジスタ49のベ−スに電圧を提供し、こ
れは抵抗器41の第2端子における電圧から1つのVBEを引
いたものに近似的に等しいものである。抵抗器41を介す
る電圧降下はVDDに関して比較的一定であるので、ノ−
ド103における電圧もまたVDDに関して比較的一定であ
る。Pチャネル・トランジスタ47,48は電流ミラ−を形
成し、NPNトランジスタ50のコレクタ電流がNPNト
ランジスタ49のコレクタ電流に従うようにする。Pチャ
ネル・トランジスタ53および抵抗器54は、NPNトラン
ジスタ50のベ−スからNPNトランジスタ49のコレクタ
までのフィ−ドバック経路を形成する。したがってノ−
ド104における電圧は、ノ−ド103における電圧変化に追
従し、ノ−ド103,104における電圧は近似的に等しくな
る。
【0019】バンドギャップ電圧VBGは、通常のバンド
ギャップを生成する参照電圧であり、抵抗器54の第2端
子に提供される。バンドギャップを生成する参照電圧
は、電源電圧,温度およびプロセスにおける変化に実質
的に依存しない。したがって、抵抗器54を介する電圧降
下はVDDに比例して変化し、Pチャネル・トランジスタ
53を介するドレイン・ソ−ス電流をVDDの変化と共に変
化させる。Pチャネル・トランジスタ53,56は電流ミラ
−52を形成する。Pチャネル・トランジスタ53を介する
ドレイン・ソ−ス電流が変化するにつれて、Pチャネル
・トランジスタ56を介するドレイン・ソ−ス電流はドレ
イン・ソ−ス電流においてその変化を「ミラ−(mirro
r)」する。Nチャネル・トランジスタ57のゲ−ト・ソ−
ス電圧は電源依存バイアス電圧CBIASを提供する。Nチ
ャネル・トランジスタ57は飽和状態を持続する。したが
って、Nチャネル・トランジスタ57のドレイン・ソ−ス
電流はVDDと共に変化する。VDDが増加すれば電源依存
バイアス電圧CBIASは増加し、VDDが減少するとバイア
ス電圧CBIASは減少する。
【0020】いくつかの集積回路装置の特性は、温度,
プロセスまたは電源の変化によって変化する。電源依存
バイアス電圧発生回路40は、アドレス・バッファ20の温
度変化に適合する。電源依存バイアス電圧発生回路40の
NPNトランジスタ44は、図1に示すアドレス・バッフ
ァ20のNPNトランジスタ29,32,35のVBEの電圧シフ
トに追従する。Nチャネル・トランジスタ31,34,39に
よってトランジスタ29,32,35に与えられる電流が、電
源,温度,プロセス変化と共に変化するとき、Nチャネ
ル・トランジスタ45によってNPNトランジスタ44に与
えられる電流もまた変化し、NPNトランジスタ29,32
を介するVBEの電圧降下をNPNトランジスタ44を介す
る電圧降下と同一のものにする。また追従する電圧は、
Nチャネル・トランジスタ45にバイアス電圧CBIASを提
供することによって与えることが可能である。さらに抵
抗器54は抵抗器30,33,38の温度変化にも追従する。
【0021】図3は、本発明によるレベル変換器60の部
分概略図である。レベル変換器60は、差動増幅器61,交
差結合プルアップ回路67,NPNトランジスタ71,72,
73,74,交差結合半ラッチ(cross coupled half latch)
75を含む。差動増幅器61は、抵抗器62,63,NPNトラ
ンジスタ64,65,Nチャネル・トランジスタ66を含む。
交差結合半ラッチ75はNPNトランジスタ76,77,Nチ
ャネル・トランジスタ78,79を含む。
【0022】差動増幅器61の抵抗器62は、「VDD」と記
された電源電圧端子に結合する第1端子と、第2端子とを
有する。抵抗器63はVDDに結合する第1端子と第2端子と
を有する。NPNトランジスタ64は、抵抗器62の第2端
子に結合するコレクタと、バッファ信号Aを受信するベ
−スと、エミッタとを有する。NPNトランジスタ65は
抵抗器63の第2端子に結合するコレクタと、バッファ信
号A* を受信するベ−スと、NPNトランジスタ64のエ
ミッタに結合するエミッタとを有する。Nチャネル・ト
ランジスタ66は、トランジスタ64,65のエミッタに結合
するドレインと、バイアス電圧NBIASを受信するゲ−ト
と、VSSに結合するソ−スとを有する。
【0023】交差結合プルアップ回路67は、Pチャネル
・トランジスタ68,69を含む。Pチャネル・トランジス
タ68は、VDDに結合するソ−スと、ノ−ド105において
NPNトランジスタ73のエミッタに結合するゲ−トと、
抵抗器63の第2端子に結合するドレインとを有する。P
チャネル・トランジスタ69は、VDDに結合するソ−ス
と、ノ−ド106においてトランジスタ74のエミッタに結
合するゲ−トと、抵抗器62の第2端子に結合するドレイ
ンとを有する。
【0024】NPN・トランジスタ71は、VDDに結合す
るコレクタと、「VCLAMP」と記されたバイアス電圧を
受信するベ−スと、抵抗器62の第2端子に結合するエミ
ッタとを有する。NPNトランジスタ72は、VDDに結合
するコレクタと、バイアス電圧VCLAMPを受信するベ−
スと、抵抗器63の第2端子に結合するエミッタとを有す
る。エミッタ・フォロワ・トランジスタ73はNPNトラ
ンジスタであり、VDDに結合するコレクタと、抵抗器62
の第2端子に結合するベ−スと、ノ−ド105において制御
信号FB2を提供するエミッタとを有する。エミッタ・フ
ォロワ・トランジスタ74もまたNPNトランジスタであ
り、VDDに結合するコレクタと、抵抗器63の第2端子に結
合するべ−スと、ノ−ド106において制御信号FB1を提供
するエミッタとを有する。NPNトランジスタ76は、ノ
−ド105においてエミッタ・フォロワ・トランジスタ73
のエミッタに結合するベ−スおよびコレクタと、エミッ
タとを有する。NPNトランジスタ77は、ノ−ド106に
おいてエミッタ・フォロワ・トランジスタ74のエミッタ
に結合するベ−スおよびコレクタと、エミッタとを有す
る。NPNトランジスタ76,77はダイオ−ド結合された
トランジスタであり、ダイオ−ドとして機能する。Nチ
ャネル・トランジスタ78は、NPNトランジスタ76のエ
ミッタに結合するドレインと、NPNトランジスタ77の
コレクタに結合するゲ−トと、VSSに結合するソ−スと
を有する。Nチャネル・トランジスタ79は、NPNトラ
ンジスタ77のエミッタに結合するドレインと、NPNト
ランジスタ76のコレクタに結合するゲ−トと、VSSに結
合するソ−スとを有する。
【0025】動作時にあっては、レベル変換器60は図1
のアドレス・バッファ20からバッファ信号A,A* を受
信し、ノ−ド106,105においてそれぞれ制御信号FB1,F
B2を提供する。ノ−ド105,106における信号は、図示さ
れてはいないがアドレス・プリデコ−ダのようなその後
に続くアドレス・デコ−ド回路にも提供される。バッフ
ァ信号A,A* は差動信号であり、これらは約1.6ボル
トの中間論理ハイ電圧および約1.0ボルトの中間論理ロ
−電圧の間で振幅を行う。もしバッファ信号Aが中間論
理ハイ電圧であり、バッファ信号A* が中間論理ロ−電
圧におけるものであれば、Nチャネル・トランジスタ66
を介するI66で示される電流はNPNトランジスタ64を
介して流れるようになり、エミッタ・フォロワ・トラン
ジスタ73のベ−スにおける電圧は減少し、その結果エミ
ッタ・フォロワ・トランジスタ73は実質的に非導通にな
る。エミッタ・フォロワ・トランジスタ74のベ−スにお
ける電圧は増加し、エミッタ・フォロワ・トランジスタ
74を導通させる。トランジスタ74が導通すると、ノ−ド
106はVDDから1つのVBEを引いたものに近似的に等しい
論理ハイ電圧になる。
【0026】ノ−ド106が論理ハイ電圧であり、エミッ
タ・フォロワ・トランジスタ73が実質的に非導通である
とき、Nチャネル・トランジスタ78は導通し、ノ−ド10
5における電圧を論理ロ−電圧に減少させる。ノ−ド105
が約0.6ボルトの論理ロ−電圧に減少すると、ダイオ−
ド結合されたNPNトランジスタ76は実質的に非導通に
なり、Nチャネル・トランジスタ78を実質的に非導通に
する。もしNチャネル・トランジスタ78が導通状態を維
持すれば、電流は不確定に流れ続け、消費電力を増加さ
せるであろう。ノ−ド105はロ−電圧であるので、Nチ
ャネル・トランジスタ79のゲ−トにおける電圧はNチャ
ネル・トランジスタ79を実質的に非導通にさせるために
十分なロ−電圧である。また、ノ−ド105におけるロ−
電圧は、交差結合プルアップ回路67のPチャネル・トラ
ンジスタ68を導通させ、このことはエミッタ・フォロワ
・トランジスタ74のベ−スにおける電圧をより迅速に増
加させるために有益である。
【0027】もしバッファ信号Aが中間論理ロ−であ
り、バッファ信号A* が中間論理ハイであれば、Nチャ
ネル・トランジスタ66を介するI66で示される電流はN
PNトランジスタ65を介して流れるようになる。エミッ
タ・フォロワ・トランジスタ74のベ−スにおける電圧は
減少し、その結果エミッタ・フォロワ・トランジスタ74
は実質的に非導通になる。エミッタ・フォロワ・トラン
ジスタ73のベ−スにおける電圧は論理ハイであり、エミ
ッタ・フォロワ・トランジスタ73は導通するようにな
り、ノ−ド105はVDDから1つのVBEを引いたものに等し
い論理ハイ電圧である。ノ−ド105が論理ハイ電圧であ
り、エミッタ・フォロワ・トランジスタ74が非導通であ
るとき、Nチャネル・トランジスタ79は導通し、その結
果ノ−ド106における電圧を論理ロ−に減少させる。ノ
−ド106はロ−であるので、Nチャネル・トランジスタ7
8は実質的に非導通である。ノ−ド106における電圧が論
理ロ−に減少すると、Pチャネル・トランジスタ69は導
通する。このことはNPNトランジスタ73のベ−スにお
ける電圧をより急速に増加させるために有益である。
【0028】他の実施例では、Pチャネル・トランジス
タ68,69のゲ−トは、それぞれ抵抗器62,63の第2端子
に結合される。これはより高い電圧をトランジスタ68,
69のゲ−トに提供し、その結果それらをほとんど導通さ
せず、エミッタ・フォロワ・トランジスタ73,74に与え
るベ−ス駆動電流量を減少させる。
【0029】交差結合半ラッチ75は消費電力を減少させ
る利益を提供する。Nチャネル・トランジスタ78,79は
交差結合であり、ノ−ド105,106の電圧を論理ロ−に減
少させる必要性のあるときのみ導通させる。ダイオ−ド
結合されたNPNトランジスタ76,77はリ−ク電流が流
れることを防止し、Nチャネル・トランジスタ78,79が
論理ロ−状態の間非導通であることを保証する。
【0030】抵抗器62,63は電源の変化を適切に補償す
るよう設計される。これらは、ダイオ−ド結合されたN
PNトランジスタ76,77が高い電源電圧において導通す
ることを防止するため比較的大きい値に設計される。電
源電圧が増加するにつれて、ノ−ド105,106における電
圧は増加する傾向になる。もしノ−ド105,106における
論理ロ−電圧が約0.6ボルトより増加すれば、ダイオ−
ド結合されたNPNトランジスタ76,77のベ−ス・エミ
ッタ電圧も約0.6ボルト以上に増加し、それらが実質的
に非導通であるべきときにNチャネル・トランジスタ7
8,79は少なくとも部分的には導通するであろう。しか
しながら、もし抵抗器62,63が大きすぎる場合は、レベ
ル変換器60の速度に不都合な影響を及ぼすであろう。
【0031】極めて高速な動作を行う場合、差動増幅器
61および交差結合プルアップ回路67によって、調整され
た電源電圧を提供することが可能になる。調整された電
源電圧を用いれば、減少した電源の変化により抵抗器6
2,63のサイズを減少させることが可能になる。
【0032】NPNトランジスタ71,72およびバイアス
電圧VCLAMPから構成されるクランプ回路は、NPNト
ランジスタ64,65がその飽和領域で動作することを防止
する。一般にベ−ス・エミッタおよびベ−ス・コレクタ
接合に約0.7ボルト以上の順方向バイアスが印加される
とき、バイポ−ラ・トランジスタは飽和領域で動作す
る。そのNPNトランジスタ64,65のベ−ス・コレクタ
接合はいくつかの異なる条件の結果として順方向バイア
スされるようになる。たとえば、もしバッファ信号A,
* が電源のゆらぎにより高い電圧レベルに増加する
と、NPNトランジスタ64,65は飽和領域で動作するこ
とになる。またNチャネル・トランジスタ66によって与
えられるドレイン・ソ−ス電流が変化すると、NPNト
ランジスタ64,65のコレクタ電圧は、そのNPNトラン
ジスタ64,65が飽和領域で動作することになるレベルに
減少する。バイアス電圧VCLAMPは約2.1ボルトでNP
Nトランジスタ71,72のベ−スに提供され、NPNトラ
ンジスタ64,65のコレクタが約1.3ボルト以下に進むこ
とを防止する。このことはNPNトランジスタ64,65を
能動的動作領域におくこととなる。その能動的動作領域
でNPNトランジスタ64,65が動作することにより、動
作速度を向上させるという利益が得られる。
【0033】図4は本発明による図1のアドレス・バッフ
ァ20における種々のタイミング図を示すものである。
(図4のタイミング図はスケ−ルを示すものではない。)
時刻t1以前では、アドレス信号AINは論理ロ−状態であ
る。図1において、アドレス信号AINが論理ロ−である
とき、出力ノ−ド102は論理ロ−であり、出力ノ−ド101
は論理ハイである。制御信号FB1が論理ロ−電圧であれ
ば、Pチャネル・トランジスタ37(図1)は導通する。P
チャネル・トランジスタ37は出力ノ−ド101における電
圧をエミッタ・フォロワ・トランジスタ35のベ−スに提
供し、エミッタ・フォロワ・トランジスタ35を論理ハイ
におけるものにする。したがって、時刻t1に先だってAT
DパルスATD*は論理ハイ電圧で提供される。
【0034】時刻t1において、アドレス信号AINは論理
ハイ電圧に遷移し、その結果時刻t2において示されるよ
うにノ−ド101,102の論理状態を反転させる。出力ノ−
ド101における電圧が論理ロ−電圧に減少するので、エ
ミッタ・フォロワ・トランジスタ35のベ−スにおける電
圧は減少し始める。これはPチャネル・トランジスタ37
が導通し、エミッタ・フォロワ・トランジスタ35のエミ
ッタにおける電圧を減少させるためである。このことは
図4において論理ロ−電圧に減少する波形ATD*として描
かれている。
【0035】時刻t3において、制御信号FB1,FB2の論理
状態を変化させ、Pチャネル・トランジスタ36を導通さ
せ、Pチャネル・トランジスタ37を実質的に非導通にす
る。この時刻までに、ノ−ド101,102における電圧は完
全にそれらの新たな論理状態に遷移する。その結果Pチ
ャネル・トランジスタ36が導通するとき、エミッタ・フ
ォロワ・トランジスタ35のベ−スにおける電圧は迅速に
立ち上がり、エミッタ・フォロワ・トランジスタ35のエ
ミッタにおける電圧は速やかに論理ハイになる。ATDパ
ルスATD*は時刻t4において示されるように論理ハイ電圧
に向かって増加する。時刻t1から時刻t3までの間の時間
間隔は約1・2ないし1・4ナノ秒である。ATDパルスATD*
の立ち上がりエッジは、その立ち下がりエッジに比較し
て極めて迅速に論理ハイに増加していることに留意され
たい。ATDパルスATD*の立ち上がりエッジが集積回路メ
モリの予備状態信号および能動的信号を開始するので、
このことは好適実施例において問題とはならない。他の
実施例では、ATDパルスATD*は、制御信号FB1をPチャネ
ル・トランジスタ36のゲ−トに提供し、制御信号FB2
Pチャネル・トランジスタ37のゲ−トに提供することに
よって正のパルスとして与えることが可能である。
【0036】時刻t5では、アドレス信号AINは論理ハイ
から論理ロ−に遷移し、その結果時刻t6において出力ノ
−ド102は論理ロ−に遷移し、出力ノ−ド101は論理ハイ
に遷移する。出力ノ−ド102における電圧が論理ロ−に
減少するので、エミッタ・フォロワ・トランジスタ35
(図1)のベ−スにおける電圧は減少し始め、時刻t6以後
に示されるようにATDパルスATD*を落とし始める。この
時点において、制御信号FB1は以前として論理ハイ電圧
であり、制御信号FB2は論理ロ−電圧であり、その結果
Pチャネル・トランジスタ37を導通させ、Pチャネル・
トランジスタ36を実質的に非導通に維持する。時刻t7に
おいて、制御信号FB1,FB2の論理状態を変化させ、Pチ
ャネル・トランジスタ36を導通させPチャネル・トラン
ジスタ37を実質的に非導通にする。この時刻までに、出
力ノ−ド101,102における電圧はそれらの新しい論理状
態に完全に遷移し、Pチャネル・トランジスタ36が導通
するとき、エミッタ・フォロワ・トランジスタ35のベ−
スにおける電圧が急速に立ち上がり、その結果エミッタ
・フォロワ・トランジスタ35は速やかに導通するように
なる。ATDパルスATD*のこの立ち上がりエッジは時刻t8
で示されるように論理ハイ電圧に増加する。
【0037】ATDパルスATD*の立ち下がりエッジは、ノ
−ド101,102の何れかが論理ロ−電圧に遷移することに
よって生じる。そのATDパルスATD*の立ち上がりエッジ
は制御信号FB1,FB2の両者の遷移によって生じる。ATD
パルスATD*は、アドレス信号AINが論理ハイから論理ロ
−または論理ロ−から論理ハイへ論理状態をそれぞれ変
化させるたびにアドレス・バッファ20によって提供され
る。ATDパルスATD*は抵抗器24,25,33,38によって制
御される論理レベルにおいて提供され、論理ロ−におい
て能動的である。しかし他の実施例では、ATDパルスATD
*は論理ハイ・パルスとして提供することも可能であ
り、および/またはその製品に依存して異なる論理レベ
ルで提供することも可能である。
【0038】アドレス・バッファ20は、アドレス信号A
INが論理状態を変化させた後極めて迅速にATDパルスを
提供する。これは、そのパルスが分離されたATDパルス
発生装置によるものではなくアドレス・バッファにおい
て生成されるためである。さらに、アドレス・バッファ
20はATDパルスを発生する集積回路メモリ上で僅かな領
域しか必要としない。これは付随するATDパルス発生回
路を必要としないためである。
【0039】
【発明の効果】以上本発明を特定の実施例について説明
してきたが、本発明が種々の用途に改良され、既に述べ
たもの以外の多くの実施例に適用することが可能である
ことは当業者にとって自明であろう。例えばアドレス・
バッファは、ECLではなくGTL(ガンニング・トランシ−
バ論理:Gunning transceiver logic),TTL(トランジス
タ・トランジスタ論理)またはCMOS(相補性金属酸化物半
導体)のような論理レベルでアドレス信号を受信するた
めに変形することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるATDを生成するアドレス・バッファ
の概略図を示す。
【図2】本発明による電源依存バイアス電圧発生装置の
概略図である。
【図3】本発明によるレベル変換器の概略図である。
【図4】本発明による図1のATDを生成するアドレス・バ
ッファにおける種々の信号のタイミング図を示す。
【符号の説明】
20アドレス・バッファ 22差動増幅器 24,25 抵抗器 26,27 バイポ−ラ・トランジスタ 101,102 回路ノ−ド 36,37MOSトランジスタ 29,32,35 エミッタ・フォロワ・トランジスタ 60レベル変換器

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力信号を受信する入力端子を有する差
    動増幅器(22)であって、前記入力信号は第1,第2論理状
    態を有し、前記差動増幅器(22)は第1,第2出力ノ−ド(1
    01,102)を有する差動増幅器;前記差動増幅器(22)の前
    記第1出力ノ−ド(101)に結合する第1電流電極と、第2電
    流電極と、第1制御信号を受信するゲ−トとを有する第1
    MOSトランジスタ(37);前記差動増幅器(22)の前記第2出
    力ノ−ド(102)に結合する第1電流電極と、第2電流電極
    と、第2制御信号を受信するゲ−トとを有する第2MOSト
    ランジスタ(36);および前記第1,第2MOSトランジスタ
    (37,36)の両者の前記第2電流電極に結合するベ−スと、
    前記第1論理状態から前記第2論理状態へ遷移する前記入
    力信号に応答して出力パルスを提供するエミッタとを有
    するエミッタ・フォロワ・トランジスタ(35);から構成
    されることを特徴とする入力バッファ(20)
  2. 【請求項2】 第1,第2抵抗器(24,25)と、第1,第2バイ
    ポ−ラ・トランジスタ(26,27)とを有する差動増幅器(2
    2)であって、前記第1抵抗器(24)は第1電源電圧端子と前
    記第1バイポ−ラ・トランジスタ(26)のコレクタとの間
    に結合され、前記第2抵抗器(25)は前記第1電源電圧端子
    と前記第2バイポ−ラ・トランジスタ(27)のコレクタと
    の間に結合され、前記差動増幅器(22)は前記第1,第2論
    理状態を有するアドレス信号を受信する差動増幅器;前
    記第1バイポ−ラ・トランジスタ(26)の前記コレクタに
    結合する第1電流電極と、第2電流電極と、第1遅延制御
    信号を受信するゲ−トとを有する第1MOSトランジスタ(3
    7);前記第2バイポ−ラ・トランジスタ(27)の前記コレ
    クタに結合する第1電流電極と、第2電流電極と、第2遅
    延制御信号を受信するゲ−トとを有する第2MOSトランジ
    スタ(36);前記第1電源電圧端子に結合するコレクタ
    と、前記第1,第2MOSトランジスタ(37,36)の両者の前記
    第2電流電極に結合するベ−スと、前記ATDパルスを提供
    するエミッタとを有する第1エミッタ・フォロワ・トラ
    ンジスタ(35);電源電圧端子に結合するコレクタと、前
    記差動増幅器(22)の前記第1出力ノ−ド(101)に結合する
    ベ−スと、第1バッファ論理信号を提供するエミッタと
    を有する第2エミッタ・フォロワ・トランジスタ(29);
    前記電源電圧端子に結合するコレクタと、前記差動増幅
    器(22)の前記第2出力ノ−ド(102)に結合するベ−スと、
    第2バッファ論理信号を提供するエミッタとを有する第3
    エミッタ・フォロワ・トランジスタ(32);および前記第
    1,第2バッファ論理信号を受信し、前記第1,第2遅延制
    御信号を提供するレベル変換器(60);から構成されるこ
    とを特徴とするATD(アドレス遷移検出)パルスを生成す
    るアドレス・バッファ(20)。
  3. 【請求項3】 第1,第2抵抗器(24,25)と第1,第2バイポ
    −ラ・トランジスタ(26,27)とを有する差動増幅器(22)
    であって、前記第1抵抗器(24)は電源電圧端子と前記第1
    バイポ−ラ・トランジスタ(26)のコレクタとの間に結合
    され、前記第2抵抗器(25)は前記電源電圧端子と前記第2
    バイポ−ラ・トランジスタ(27)のコレクタとの間に結合
    され、前記差動増幅器(22)は第1,第2論理状態を有する
    ECLレベル・アドレス信号を受信する差動増幅器;前記
    第1バイポ−ラ・トランジスタ(26)の前記コレクタに結
    合する第1電流電極と、第2電流電極と、第1遅延制御信
    号を受信するゲ−トとを有する第1Pチャネル・トラン
    ジスタ(37);前記第2バイポ−ラ・トランジスタ(27)の
    前記コレクタに結合する第1電流電極と、第2電流電極
    と、第2遅延制御信号を受信するゲ−トとを有する第2P
    チャネル・トランジスタ(36);前記電源電圧端子に結合
    するコレクタと、前記第1,第2トランジスタ(37,36)の
    両者の前記第2電流電極に結合するベ−スと、前記ECLレ
    ベル・アドレス信号が前記第1論理状態から前記第2論理
    状態へ遷移するときにATDパルスを提供するエミッタと
    を有する第1エミッタ・フォロワ・トランジスタ(35);
    前記電源電圧端子に結合するコレクタと、前記第1バイ
    ポ−ラ・トランジスタ(26)の前記コレクタに結合するベ
    −スと、第1バッファ論理信号を提供するエミッタとを
    有する第2エミッタ・フォロワ・トランジスタ(29);お
    よび前記電源電圧端子に結合するコレクタと、前記第2
    バイポ−ラ・トランジスタ(27)の前記コレクタに結合す
    るベ−スと、第2バッファ論理信号を提供するエミッタ
    とを有する第3エミッタ・フォロワ・トランジスタ(3
    2);から構成されることを特徴とするATD(アドレス遷移
    検出)を生成するアドレス・バッファ(20)。
JP5343281A 1993-01-22 1993-12-17 Atdを生成するアドレス・バッファ Pending JPH06236685A (ja)

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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100268929B1 (ko) * 1997-12-22 2000-12-01 김영환 어드레스 천이 검출회로
AU6040999A (en) * 1998-09-14 2000-04-03 Microsoft Corporation Input device with forward/backward control
JP4216415B2 (ja) 1999-08-31 2009-01-28 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
US20020135403A1 (en) * 2000-06-02 2002-09-26 Enam Syed K. Trigger circuit
US6633191B2 (en) * 2001-02-05 2003-10-14 Vitesse Semiconductor Corporation Clock buffer with DC offset suppression
US10340919B2 (en) * 2017-11-29 2019-07-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited Circuit for monitoring transient time in analog and digital systems
US10395700B1 (en) * 2018-03-20 2019-08-27 Globalfoundries Inc. Integrated level translator

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4716550A (en) * 1986-07-07 1987-12-29 Motorola, Inc. High performance output driver
JPH0612632B2 (ja) * 1987-02-27 1994-02-16 日本電気株式会社 メモリ回路
US4766333A (en) * 1987-03-09 1988-08-23 Inmos Corporation Current sensing differential amplifier
US4922461A (en) * 1988-03-30 1990-05-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Static random access memory with address transition detector
KR930006970B1 (ko) * 1990-11-30 1993-07-24 현대전자산업 주식회사 어드레스 천이 검출회로
US5202594A (en) * 1992-02-04 1993-04-13 Motorola, Inc. Low power level converter

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