JPH06235697A - Ic検査装置 - Google Patents

Ic検査装置

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JPH06235697A
JPH06235697A JP2122093A JP2122093A JPH06235697A JP H06235697 A JPH06235697 A JP H06235697A JP 2122093 A JP2122093 A JP 2122093A JP 2122093 A JP2122093 A JP 2122093A JP H06235697 A JPH06235697 A JP H06235697A
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JP
Japan
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color
image
bad mark
colored
area
Prior art date
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Pending
Application number
JP2122093A
Other languages
English (en)
Inventor
Masao Nagamoto
正雄 長本
Kenji Okamoto
健二 岡本
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ICパターンを色付バッドマークと誤判定す
ることがないIC検査装置を提供すること。 【構成】 ICウエハーをカラー撮像しカラー映像信号
7を発信するカラー撮像手段6と、前記ICウエハーの
不良IC3に付けられた色付バッドマーク4の色分布内
の予め指定された色の画像を、前記カラー映像信号7か
ら抽出し色抽出データとして発信する色抽出手段8と、
前記色抽出データの画像輪郭を追跡する輪郭追跡手段1
0と、前記画像輪郭内の面積を演算する面積演算手段1
1と、演算された面積を、予め指示された基準面積と比
較して、色付バッドマーク4の有無を判定する第1判定
手段1とを有することを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ICウエハーから不良
ICを除去するために、ICウエハー内に在るICに、
不良を表示する色付バッドマークの在り無しを判定する
IC検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】この種のIC検査装置の従来例を図8〜
図12に基づいて説明する。
【0003】加工中のICウエハー上には加工工程中の
多数のICがあるが、検査工程で特性不良と判定された
ICには、通常、その検査工程でカラーインクによる色
付バッドマーク32が付けられている。従って、前記I
Cウエハーを加工する次の工程では、前記のバッドマー
クが付いた不良ICを検出して加工対象から外す必要が
ある。
【0004】図8において、前記のICウエハー上のI
C33を走査しながら不良ICを検出する場合、照明手
段34が照明し、モノクロカメラ35が撮像しモノクロ
映像信号36を発信する。前記モノクロ映像信号36
は、図9の42に示すモノクロ画像であり、IC33上
に色付バッドマーク32が付いていても、モノクロなの
で、色付バッドマーク32の輝度のみに対応したモノク
ロ画像になっている。
【0005】2値化手段37が、前記映像信号36を、
A/D変換し、予め与えられた2値化レベルによって、
図10の43に示す2値化画像に変換する。色付バッド
マーク32があれば、この時点では、色付バッドマーク
32はローレベル「0」になっている。
【0006】通常は、白黒反転手段38を設け、白黒反
転手段38が、前記図10の2値化画像43を、図11
の44に示すように、白黒反転する。これによって、図
10の色付バッドマーク32のモノクロ画像は図11の
ハイレベル「1」の白のバッドマーク45になってい
る。
【0007】カウンタ手段39が、図11に示す予め与
えられた窓枠部46内について、ハイレベル「1」の画
素をカウントして、バッドマーク45の面積を演算す
る。
【0008】判定手段40が、バッドマーク45の面積
を、予め指示された基準面積と比較して、基準面積の許
容範囲内か否かを判断し、許容範囲内にあれば色付バッ
ドマーク32在りと判定する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかし、図8に示すよ
うに、従来例のモノクロカメラ35による撮像では、加
工工程中のICウエハーに光を当てる照明手段34の光
量と角度を如何に調節しても、IC回路が多層に重なっ
ているIC部分の内部にIC回路の影が発生し、この影
が、図12(a)に示すように、黒っぽいICパターン
31になって見える。このICパターン31は、種々の
大きさの面積を有するモノクロ画像となるので、図12
(a)に示すように、その面積が色付バッドマーク32
の面積に類似した場合には、図12(a)のA−A断面
の輝度は図12(b)に示すようになりICパターン3
1と色付バッドマーク32との輝度が類似し、これを2
値化しても、図12(c)に示すように、ICパターン
31と色付バッドマーク32との面積が類似するので、
ICパターン31と色付バッドマーク32との識別が困
難になり、誤判定が発生するという問題点がある。
【0010】本発明は、上記の問題点を解決し、ICパ
ターンを色付バッドマークと誤判定することがないIC
検査装置を提供することを課題としている。
【0011】
【課題を解決するための手段】本願第1発明のIC検査
装置は、上記の課題を解決するために、ICウエハーを
カラー撮像しカラー映像信号を発信するカラー撮像手段
と、前記ICウエハーの不良ICに付けられた色付バッ
ドマークの色分布内の予め指定された色の画像を、前記
カラー映像信号から抽出し色抽出データとして発信する
色抽出手段と、前記色抽出データの画像輪郭を追跡する
輪郭追跡手段と、前記画像輪郭内の面積を演算する面積
演算手段と、演算された面積を、予め指示された基準面
積と比較して、色付バッドマークの有無を判定する第1
判定手段とを有することを特徴とする。
【0012】本願第2発明のIC検査装置は、上記の課
題を解決するために、ICウエハーをカラー撮像しカラ
ー映像信号を発信するカラー撮像手段と、前記ICウエ
ハーの不良ICに付けられた色付バッドマークの色分布
内の予め指定された色の画像を、前記カラー映像信号か
ら抽出し色抽出データとして発信する色抽出手段と、前
記色抽出データの画像輪郭を追跡する輪郭追跡手段と、
追跡された画像輪郭に外接する四角形を演算する外接四
角形演算手段と、前記外接四角形の縦横寸法を演算する
寸法演算手段と、演算された縦横寸法を、予め指示され
た基準寸法と比較して、色付バッドマークの有無を判定
する第2判定手段とを有することを特徴とする。
【0013】
【作用】前記のように、加工工程中のICウエハーに照
明光を当てると、ICウエハーの各ICの積層された多
層回路が、照明光に対して各IC内部で影を発生し、こ
の影が黒っぽいICパターンになって見えるという現象
がある。このICパターンを、従来例のモノクロ画像で
処理すると、黒っぽい画像として処理される。一方、加
工工程中のICウエハーの検査工程で検出された不良I
Cに付けられた色付バッドマークを、従来例のモノクロ
画像で処理すると、輝度のみによる画像処理になるの
で、ICパターンと同様に黒っぽい画像として処理さ
れ、前記ICパターンの画像と色付バッドマークの画像
との識別が困難になり、ICパターンを色付バッドマー
クと誤認するという問題点がある。
【0014】本発明は、色付バッドマークは一般にカラ
ーインクを使用してマークしているので、そのカラーイ
ンクの色分布内にある特定の色を抽出して、この特定の
色による画像処理を行い、前記のように黒っぽく見える
ICパターンと色付バッドマークとの識別を確実に行っ
ている。この場合、カラーインクの色分布内にある特定
の色を抽出して画像処理を行っているので、モノクロの
場合と比較して、画像処理のハード、ソフト共にそれほ
ど複雑化させずに画像処理できる。
【0015】本願第1発明は、カラー撮像手段が、IC
ウエハーをカラー撮像しカラー映像信号を発信して、モ
ノクロの場合のICパターンの誤認問題を解決すると共
に、色抽出手段が、ICウエハーの不良ICに付けられ
た色付バッドマークの色分布内の予め指定された色の画
像を、前記カラー映像信号から抽出して色抽出データと
して画像処理を行っているので、従来例のモノクロの場
合と比較して、画像処理のハード、ソフト共にそれほど
複雑化させずに画像処理して、色付バッドマークの判定
ができる。
【0016】そして、輪郭追跡手段が、前記色抽出デー
タの画像輪郭を追跡し、面積演算手段が、前記画像輪郭
内の面積を演算し、第1判定手段が、演算された面積
を、予め指示された基準面積と比較して色付バッドマー
クの有無を判定している。上記によって、ICパターン
との誤認なく、確実に、色付バッドマークの在り無しを
判定できる。
【0017】本願第2発明は、カラー撮像手段と、色抽
出手段と、輪郭追跡手段とは本願第1発明と同様である
が、下記が本願第1発明と異なる。
【0018】外接四角形演算手段が、色抽出データの追
跡された画像輪郭に外接する四角形を演算し、寸法演算
手段が、前記外接四角形の縦横寸法を演算し、第2判定
手段が、演算された縦横寸法を、予め指示された基準寸
法と比較して、色付バッドマーク有無を判定している。
このように、バッドマーク在り無しを、画像の形状で判
断しているので、本願第1発明の面積による判定より
も、信頼性が向上する。
【0019】
【実施例】本発明のIC検査装置の一実施例を図1〜図
7に基づいて説明する。
【0020】図1において、ICウエハー上のIC3
を、照明手段5が照明し、カラー撮像手段6が撮像しカ
ラー映像信号7を発信する。色抽出手段8が、前記IC
ウエハー上の不良ICに付けられた色付バッドマーク4
に使用したカラーインクの色分布内の色で、予め、制御
部14から指定されている色の画像を、前記カラー映像
信号7から色抽出データとして抽出し、この色抽出デー
タを発信する。
【0021】この色抽出データによる画像は、図2に示
す色抽出画像15になり、この画像は、IC3の画像の
中に、バッドマーク4の画像と、ノイズ27とを含んで
いる。
【0022】平滑化手段9が、色抽出データを受信し、
面積が小さいノイズ27を除去して平滑化し、図3に示
す平滑化画像16を出力する。
【0023】輪郭追跡手段10が、予め、制御部14か
ら与えられた窓枠21内の平滑化画像16の輪郭を、図
4に示す輪郭22のように追跡し、輪郭データを、面積
演算手段11及び外接四角形演算手段12に出力する。
【0024】面積演算手段11が、前記輪郭22内の画
素の数をカウントすることによって、図4の輪郭22内
の面積を、図5の面積26に示すように演算し、面積2
6を出力する。
【0025】第1判定手段1が、演算された面積26
が、予め、制御部14から与えられている基準面積の許
容範囲内か否かを判断し、許容範囲内にあればバッドマ
ーク在りと判定する。これを、演算された面積26を
S、基準面積をSK 、許容差をCS として数式で表す
と、
【0026】
【数1】
【0027】となる。
【0028】外接四角形演算手段12が、図6に示すよ
うに、輪郭画像17について、予め、制御部14から与
えられた窓枠21内の輪郭22に外接する外接四角形2
3を演算し、外接四角形23のデータを出力する。
【0029】寸法演算手段13は、図7に示すように、
輪郭画像17について、予め、制御部14から与えられ
た窓枠21内の前記外接四角形23の横寸法24と、縦
寸法25とを演算し、横寸法24と縦寸法25とのデー
タを出力する。
【0030】第2判定手段2が、演算された横寸法24
と縦寸法25とを、予め、制御部14から与えられてい
る基準寸法の許容範囲内か否かを判断し、許容範囲内に
あればバッドマーク在りと判定する。これを、横寸法2
4をLX 、縦寸法25をLY、基準横寸法をLXK、基準
縦寸法をLYK、許容差をCL として数式で表すと、
【0031】
【数2】
【0032】となる。
【0033】本発明のIC検査装置は、上記の実施例に
限らず種々の態様が可能である。例えば、ICウエハー
の不良ICに付けられた色付バッドマークに使用するカ
ラーインクの色分布内の予め指定された色を使用した画
像処理を目的に合わせて行うことができれば、色抽出手
段、平滑化手段、輪郭追跡手段、面積演算手段、第1判
定手段、外接四角形演算手段、寸法演算手段、第2判定
手段等の設計は自由である。
【0034】
【発明の効果】本発明のIC検査装置は、従来例のIC
検査装置が、画像処理において、モノクロ画像の輝度情
報のみを使用しているので、ICパターンと色付バッド
マークとの識別が困難な場合があるのに対して、ICウ
エハーの不良ICに付けられた色付バッドマークに使用
するカラーインクの色分布内の予め指定された色を使用
して画像処理をすることによって、比較的簡単なハード
とソフトで、ICパターンと色付バッドマークとの識別
を確実に行え、信頼性が高いバッドマークの検出ができ
るという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
【図2】色抽出データによる色付バッドマークとノイズ
とを示す図である。
【図3】図2の平滑化画像を示す図である。
【図4】図3の平滑化画像の輪郭追跡を示す図である。
【図5】図4の輪郭内の面積を示す図である。
【図6】図4の輪郭の外接四角形を示す図である。
【図7】図5の外接四角形の横寸法と縦寸法とを示す図
である。
【図8】従来例の構成を示すブロック図である。
【図9】モノクロ画像による色付バッドマークを示す図
である。
【図10】図9の2値化画像を示す図である。
【図11】図10の白黒反転画像を示す図である。
【図12】ICパターンと色付バッドマークとを示す図
である。
【符号の説明】
1 第1判定手段 2 第2判定手段 4 色付バッドマーク 6 カラー撮像手段 7 カラー画像信号 8 色抽出手段 10 輪郭追跡手段 11 面積演算手段 12 外接四角形演算手段 13 寸法演算手段 14 制御部 15 色抽出画像 17 輪郭画像 22 輪郭 23 外接四角形 24 横寸法 25 縦寸法 26 面積

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ICウエハーをカラー撮像しカラー映像
    信号を発信するカラー撮像手段と、前記ICウエハーの
    不良ICに付けられた色付バッドマークの色分布内の予
    め指定された色の画像を、前記カラー映像信号から抽出
    し色抽出データとして発信する色抽出手段と、前記色抽
    出データの画像輪郭を追跡する輪郭追跡手段と、前記画
    像輪郭内の面積を演算する面積演算手段と、演算された
    面積を、予め指示された基準面積と比較して、色付バッ
    ドマークの有無を判定する第1判定手段とを有すること
    を特徴とするIC検査装置。
  2. 【請求項2】 ICウエハーをカラー撮像しカラー映像
    信号を発信するカラー撮像手段と、前記ICウエハーの
    不良ICに付けられた色付バッドマークの色分布内の予
    め指定された色の画像を、前記カラー映像信号から抽出
    し色抽出データとして発信する色抽出手段と、前記色抽
    出データの画像輪郭を追跡する輪郭追跡手段と、追跡さ
    れた画像輪郭に外接する四角形を演算する外接四角形演
    算手段と、前記外接四角形の縦横寸法を演算する寸法演
    算手段と、演算された縦横寸法を、予め指示された基準
    寸法と比較して、色付バッドマークの有無を判定する第
    2判定手段とを有することを特徴とするIC検査装置。
JP2122093A 1993-02-09 1993-02-09 Ic検査装置 Pending JPH06235697A (ja)

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JP2122093A JPH06235697A (ja) 1993-02-09 1993-02-09 Ic検査装置

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JP2122093A JPH06235697A (ja) 1993-02-09 1993-02-09 Ic検査装置

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JPH06235697A true JPH06235697A (ja) 1994-08-23

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ID=12048937

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JP2122093A Pending JPH06235697A (ja) 1993-02-09 1993-02-09 Ic検査装置

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JP (1) JPH06235697A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114612474A (zh) * 2022-05-11 2022-06-10 杭州众硅电子科技有限公司 一种晶圆清洁干燥模组状态检测方法、装置及平坦化设备

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114612474A (zh) * 2022-05-11 2022-06-10 杭州众硅电子科技有限公司 一种晶圆清洁干燥模组状态检测方法、装置及平坦化设备
CN114612474B (zh) * 2022-05-11 2023-12-19 杭州众硅电子科技有限公司 一种晶圆清洁干燥模组状态检测方法、装置及平坦化设备

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