JPH0623327U - 電子回路故障診断装置 - Google Patents

電子回路故障診断装置

Info

Publication number
JPH0623327U
JPH0623327U JP5983692U JP5983692U JPH0623327U JP H0623327 U JPH0623327 U JP H0623327U JP 5983692 U JP5983692 U JP 5983692U JP 5983692 U JP5983692 U JP 5983692U JP H0623327 U JPH0623327 U JP H0623327U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
power supply
cmos
output
failure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5983692U
Other languages
English (en)
Other versions
JP2583338Y2 (ja
Inventor
勝敏 木崎
Original Assignee
日本電気ホームエレクトロニクス株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 filed Critical 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社
Priority to JP1992059836U priority Critical patent/JP2583338Y2/ja
Publication of JPH0623327U publication Critical patent/JPH0623327U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2583338Y2 publication Critical patent/JP2583338Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 CMOS ICを用いた回路の電源回路の故
障検出の行う。 【構成】 CMOS ICの各入力端子への診断パルス
供給手段(91)と、出力端子に設けた負荷回路(92
〜94)の出力から故障診断する判定部(95)と、故
障警報出力部(97)とで構成する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、CMOS ICを用いた電子回路の故障診断回路に関するもので 、詳しくは電源回路の故障検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
MOSには、図3のCMOS IC(1)に示すようなインバータ回路(1 0、20、・・・)を複数組内蔵したものがあり、このインバータ回路は、P チャンネルMOS FET(13、23、・・・)と、NチャンネルMOS FET(15、25、・・・)とが相補的に接続されており、このことからこ のようなMOSはCMOSと呼ばれている。
【0003】 MOS FETの絶縁ゲートの酸化膜の耐圧は100V近くあるが、抵抗値 が非常に高いため、静電気などにより、場合よっては1000V近い電圧が加 わりゲートが破壊される事がある。
【0004】 そこで、CMOSにおいては入出力間に保護ダイオードをつけ、電圧が高く なると、このダイオード(11、21、・・・)で放電させて、ゲートの破壊 を防止している。ダイオードのターンON時間より速いパルス状入力に対して は、500Ω〜1.5KΩ程度の抵抗(14、24、・・・)とストレー容量 で積分してからダイオード(12、22、・・・)を通じて放電させる。
【0005】 ダイオード(11、21、・・・ 12、22、・・・)はICチップ中に おける占有面積が小さいため、大きな順方向電流は流せなく、最大10mA程 度である。
【0006】
【考案が解決しようとする課題】
さて、CMOS IC(1)の電源は抵抗(3)を経て各インバータ共通の 電源端子(2)から供給され、図中矢印(4)の経路で電流が流れる。
【0007】 ところが、電源回路の故障で端子(2)に正常に電圧が供給されないと、一 般には電源が供給されない為、絶対に回路が動作することはないが、上記のイ ンバータ回路(10、20、・・・)に於いては動作することがある。
【0008】 これは、入力端子2(26)の入力波形が(261)の様にハイレベルにな ると、保護ダイオード(21)を経由して矢印(5)のごとく、電流が電源ラ イン(6)に供給される為である。
【0009】 この様な現象が発生しても、回路が動作しているため、直ちに故障が発見さ れず、後になって重大な事故を引き起こす危険性がある。
【0010】 上記の様な故障のもとででは、 1.複数の入力端子の入力の内1端子でもハイレベルの入力があると、上記 の様に異常な経路で電源が供給され、あたかも異状が無いかのごとくICが動 作するが、すべての入力がローレベルになると電源供給されず動作しなくなる 。 2.入力端子から電源が供給されると、該入力端子の全段の回路が過負荷と なっていずれ破壊される恐れがある。 3.保護ダイオード(11、21、・・・)が過負荷になって、破壊につな がる可能性がある。 4.入力レベルや、保護ダイオードでの電圧降下のため出力レベルが正常で なくなる。 の様な課題が起きる。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本考案は、この様な課題を解決するためになされたもので、ゲートとドレイ ン間に絶縁破壊防止用ダイオードをそれぞれ設けた複数組のインバータ回路に 共通の電源端子から電力を供給するCMOS ICを使用した回路において、 CMOS ICの各ゲートへの診断パルス供給手段と、前記インバータ回路の 出力端子に設けた負荷回路と、前記負荷回路の出力から故障診断する判定部と で構成された事を特徴とするCMOS ICの電源回路故障診断装置である。
【0012】
【実施例】
以下に本考案の実施例について、図1に従って説明するが、図3と符号が共 通するものについては再説明を省略する。
【0013】 (9)は、本考案になる電源回路故障検出装置で、診断用信号発生部(91 )と、出力検出用トランジスタ(93)と負荷抵抗(94)とからなる負荷回 路と、判定部(95)と、警報装置駆動部(96)と、警報出力装置(97) とからなっている。
【0014】 本回路の動作を図2のフロー図に従って説明すると、まず故障診断モード( ステップ201)に入ると、次に診断用信号発生部(91)からすべての入力 端子(16、26、・・・)の入力レベルをローレベルにする診断信号を供給 し(ステップ202)、この時の出力端子1(17)の出力レベルを負荷回路 で検出し、判定部(95)で判定する(ステップ203)。
【0015】 出力レベルが、ハイレベルであれば電源回路が正常であるが(ステップ20 4)、ローレベルであれば電源回路が異状であると判定し警報出力装置(97 )から異状警報を出力する(ステップ205)。
【0016】
【考案の効果】
以上説明したように、本考案を適用することによって、 CMOS ICを使用した回路において電源回路に故障が発生して、このため 1.複数の入力端子の入力の内1端子でもハイレベルの入力があると、上記 の様に異常な経路で電源が供給され、あたかも異状が無いかのごとくICが動 作するが、すべての入力がローレベルになると電源供給されず動作しなくなる 2.入力端子から電源が供給されると、該入力端子の全段の回路が過負荷と なっていずれ破壊される恐れがある 3.保護ダイオード(11、21、・・・)が過負荷になって、破壊につな がる可能性がある 4.入力レベルや、保護ダイオードでの電圧降下のため出力レベルが正常で なくなる 等の現象が発生しても、回路が動作しているため、直ちに故障が発見されず 、後になって重大な事故を引き起こす危険性があるのを未然に防止するといっ た優れた効果を発揮することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】電源故障診断装置の回路の実施例
【図2】電源故障診断装置の実施例の動作フロー図
【図3】CMOS IC回路の従来例の説明図
【符号の説明】
1 CMOS IC 3、14、24、92、94 抵抗 2 電源端子 3 電源直列抵抗 4 正常時の電流路 5 異状時の電流路 6 電源ライン 9 電源故障診断装置 10、20 インバータ回路 11、21、12、22 保護ダイオード 13、23 PチャンネルMOS FET 15、25 NチャンネルMOS FET 16、26 入力端子 17、27 出力端子 91 信号発生部 93 トランジスタ 95 判定部 96 駆動部 97 警報出力装置 161、262、・・・ 入力波形 171、272、・・・ 出力波形

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ゲートとドレイン間に絶縁破壊防止用ダ
    イオードをそれぞれ設けた複数組のインバータ回路に共
    通の電源端子から電力を供給するCMOS ICを使用
    した回路の故障診断装置であって、 前記CMOS ICの各ゲートへの診断パルス供給手段
    と、前記インバータ回路の出力端子に設けた負荷回路
    と、前記負荷回路の出力から故障診断する判定部とで構
    成された事を特徴とするCMOS ICの電源回路故障
    診断装置。
JP1992059836U 1992-08-25 1992-08-25 電子回路故障診断装置 Expired - Fee Related JP2583338Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1992059836U JP2583338Y2 (ja) 1992-08-25 1992-08-25 電子回路故障診断装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1992059836U JP2583338Y2 (ja) 1992-08-25 1992-08-25 電子回路故障診断装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0623327U true JPH0623327U (ja) 1994-03-25
JP2583338Y2 JP2583338Y2 (ja) 1998-10-22

Family

ID=13124712

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1992059836U Expired - Fee Related JP2583338Y2 (ja) 1992-08-25 1992-08-25 電子回路故障診断装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2583338Y2 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5650629A (en) * 1979-10-01 1981-05-07 Hitachi Ltd Complementary mos integrated circuit
JPS6157717U (ja) * 1984-09-19 1986-04-18
JPH03278114A (ja) * 1990-03-27 1991-12-09 Nec Corp 出力回路

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5650629A (en) * 1979-10-01 1981-05-07 Hitachi Ltd Complementary mos integrated circuit
JPS6157717U (ja) * 1984-09-19 1986-04-18
JPH03278114A (ja) * 1990-03-27 1991-12-09 Nec Corp 出力回路

Also Published As

Publication number Publication date
JP2583338Y2 (ja) 1998-10-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5296119B2 (ja) パワー・スイッチの構造および方法
US20040125521A1 (en) Electrostatic discharge protection circuit
US20060113838A1 (en) Power semiconductor device
US8934204B2 (en) Protection circuit for semiconductor integrated circuit and driving method therefor
JPH02266712A (ja) 半導体装置
JPH09205727A (ja) 短絡保護を有するパワートランジスタ
CN110785933A (zh) 半导体开关元件的短路保护电路
JP2000012853A (ja) 半導体装置
US5483406A (en) Overvoltage protection circuit
US20050184710A1 (en) Overcurrent protection circuit and semiconductor apparatus
JP3469373B2 (ja) 半導体パワーモジュールおよび複合パワーモジュール
JP2009207077A (ja) 半導体集積回路装置
US5654863A (en) Integrated circuit having a gate oxide
JPH04114221A (ja) コンピュータに於けるキースイツチ入力部の異常検出方法
US7057867B1 (en) Electrostatic discharge (ESD) protection clamp circuitry
JP2522466B2 (ja) 電力用半導体装置
JPH0623327U (ja) 電子回路故障診断装置
JP2621481B2 (ja) 駆動回路の診断方式
US20220345125A1 (en) Circuit arrangement for controlling a plurality of semiconductor switches connected in parallel
JPH05206748A (ja) 電界効果トランジスタのための保護回路
JP2001177387A (ja) 負荷駆動装置
JP3764259B2 (ja) インバータ装置
US11728803B2 (en) Multichannel switch integrated circuit
JP3152000B2 (ja) パワートランジスタ保護回路
US11549998B1 (en) Driver device having an NMOS power transistor and a blocking circuit for stress test mode, and method of stress testing the driver device

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees