JPH0623327U - 電子回路故障診断装置 - Google Patents
電子回路故障診断装置Info
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- JPH0623327U JPH0623327U JP5983692U JP5983692U JPH0623327U JP H0623327 U JPH0623327 U JP H0623327U JP 5983692 U JP5983692 U JP 5983692U JP 5983692 U JP5983692 U JP 5983692U JP H0623327 U JPH0623327 U JP H0623327U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 CMOS ICを用いた回路の電源回路の故
障検出の行う。 【構成】 CMOS ICの各入力端子への診断パルス
供給手段(91)と、出力端子に設けた負荷回路(92
〜94)の出力から故障診断する判定部(95)と、故
障警報出力部(97)とで構成する。
障検出の行う。 【構成】 CMOS ICの各入力端子への診断パルス
供給手段(91)と、出力端子に設けた負荷回路(92
〜94)の出力から故障診断する判定部(95)と、故
障警報出力部(97)とで構成する。
Description
【0001】
本考案は、CMOS ICを用いた電子回路の故障診断回路に関するもので 、詳しくは電源回路の故障検出装置に関するものである。
【0002】
MOSには、図3のCMOS IC(1)に示すようなインバータ回路(1 0、20、・・・)を複数組内蔵したものがあり、このインバータ回路は、P チャンネルMOS FET(13、23、・・・)と、NチャンネルMOS FET(15、25、・・・)とが相補的に接続されており、このことからこ のようなMOSはCMOSと呼ばれている。
【0003】 MOS FETの絶縁ゲートの酸化膜の耐圧は100V近くあるが、抵抗値 が非常に高いため、静電気などにより、場合よっては1000V近い電圧が加 わりゲートが破壊される事がある。
【0004】 そこで、CMOSにおいては入出力間に保護ダイオードをつけ、電圧が高く なると、このダイオード(11、21、・・・)で放電させて、ゲートの破壊 を防止している。ダイオードのターンON時間より速いパルス状入力に対して は、500Ω〜1.5KΩ程度の抵抗(14、24、・・・)とストレー容量 で積分してからダイオード(12、22、・・・)を通じて放電させる。
【0005】 ダイオード(11、21、・・・ 12、22、・・・)はICチップ中に おける占有面積が小さいため、大きな順方向電流は流せなく、最大10mA程 度である。
【0006】
さて、CMOS IC(1)の電源は抵抗(3)を経て各インバータ共通の 電源端子(2)から供給され、図中矢印(4)の経路で電流が流れる。
【0007】 ところが、電源回路の故障で端子(2)に正常に電圧が供給されないと、一 般には電源が供給されない為、絶対に回路が動作することはないが、上記のイ ンバータ回路(10、20、・・・)に於いては動作することがある。
【0008】 これは、入力端子2(26)の入力波形が(261)の様にハイレベルにな ると、保護ダイオード(21)を経由して矢印(5)のごとく、電流が電源ラ イン(6)に供給される為である。
【0009】 この様な現象が発生しても、回路が動作しているため、直ちに故障が発見さ れず、後になって重大な事故を引き起こす危険性がある。
【0010】 上記の様な故障のもとででは、 1.複数の入力端子の入力の内1端子でもハイレベルの入力があると、上記 の様に異常な経路で電源が供給され、あたかも異状が無いかのごとくICが動 作するが、すべての入力がローレベルになると電源供給されず動作しなくなる 。 2.入力端子から電源が供給されると、該入力端子の全段の回路が過負荷と なっていずれ破壊される恐れがある。 3.保護ダイオード(11、21、・・・)が過負荷になって、破壊につな がる可能性がある。 4.入力レベルや、保護ダイオードでの電圧降下のため出力レベルが正常で なくなる。 の様な課題が起きる。
【0011】
本考案は、この様な課題を解決するためになされたもので、ゲートとドレイ ン間に絶縁破壊防止用ダイオードをそれぞれ設けた複数組のインバータ回路に 共通の電源端子から電力を供給するCMOS ICを使用した回路において、 CMOS ICの各ゲートへの診断パルス供給手段と、前記インバータ回路の 出力端子に設けた負荷回路と、前記負荷回路の出力から故障診断する判定部と で構成された事を特徴とするCMOS ICの電源回路故障診断装置である。
【0012】
以下に本考案の実施例について、図1に従って説明するが、図3と符号が共 通するものについては再説明を省略する。
【0013】 (9)は、本考案になる電源回路故障検出装置で、診断用信号発生部(91 )と、出力検出用トランジスタ(93)と負荷抵抗(94)とからなる負荷回 路と、判定部(95)と、警報装置駆動部(96)と、警報出力装置(97) とからなっている。
【0014】 本回路の動作を図2のフロー図に従って説明すると、まず故障診断モード( ステップ201)に入ると、次に診断用信号発生部(91)からすべての入力 端子(16、26、・・・)の入力レベルをローレベルにする診断信号を供給 し(ステップ202)、この時の出力端子1(17)の出力レベルを負荷回路 で検出し、判定部(95)で判定する(ステップ203)。
【0015】 出力レベルが、ハイレベルであれば電源回路が正常であるが(ステップ20 4)、ローレベルであれば電源回路が異状であると判定し警報出力装置(97 )から異状警報を出力する(ステップ205)。
【0016】
以上説明したように、本考案を適用することによって、 CMOS ICを使用した回路において電源回路に故障が発生して、このため 1.複数の入力端子の入力の内1端子でもハイレベルの入力があると、上記 の様に異常な経路で電源が供給され、あたかも異状が無いかのごとくICが動 作するが、すべての入力がローレベルになると電源供給されず動作しなくなる 2.入力端子から電源が供給されると、該入力端子の全段の回路が過負荷と なっていずれ破壊される恐れがある 3.保護ダイオード(11、21、・・・)が過負荷になって、破壊につな がる可能性がある 4.入力レベルや、保護ダイオードでの電圧降下のため出力レベルが正常で なくなる 等の現象が発生しても、回路が動作しているため、直ちに故障が発見されず 、後になって重大な事故を引き起こす危険性があるのを未然に防止するといっ た優れた効果を発揮することが可能である。
【図1】電源故障診断装置の回路の実施例
【図2】電源故障診断装置の実施例の動作フロー図
【図3】CMOS IC回路の従来例の説明図
1 CMOS IC 3、14、24、92、94 抵抗 2 電源端子 3 電源直列抵抗 4 正常時の電流路 5 異状時の電流路 6 電源ライン 9 電源故障診断装置 10、20 インバータ回路 11、21、12、22 保護ダイオード 13、23 PチャンネルMOS FET 15、25 NチャンネルMOS FET 16、26 入力端子 17、27 出力端子 91 信号発生部 93 トランジスタ 95 判定部 96 駆動部 97 警報出力装置 161、262、・・・ 入力波形 171、272、・・・ 出力波形
Claims (1)
- 【請求項1】 ゲートとドレイン間に絶縁破壊防止用ダ
イオードをそれぞれ設けた複数組のインバータ回路に共
通の電源端子から電力を供給するCMOS ICを使用
した回路の故障診断装置であって、 前記CMOS ICの各ゲートへの診断パルス供給手段
と、前記インバータ回路の出力端子に設けた負荷回路
と、前記負荷回路の出力から故障診断する判定部とで構
成された事を特徴とするCMOS ICの電源回路故障
診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1992059836U JP2583338Y2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 電子回路故障診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1992059836U JP2583338Y2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 電子回路故障診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0623327U true JPH0623327U (ja) | 1994-03-25 |
JP2583338Y2 JP2583338Y2 (ja) | 1998-10-22 |
Family
ID=13124712
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1992059836U Expired - Fee Related JP2583338Y2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 電子回路故障診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2583338Y2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5650629A (en) * | 1979-10-01 | 1981-05-07 | Hitachi Ltd | Complementary mos integrated circuit |
JPS6157717U (ja) * | 1984-09-19 | 1986-04-18 | ||
JPH03278114A (ja) * | 1990-03-27 | 1991-12-09 | Nec Corp | 出力回路 |
-
1992
- 1992-08-25 JP JP1992059836U patent/JP2583338Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5650629A (en) * | 1979-10-01 | 1981-05-07 | Hitachi Ltd | Complementary mos integrated circuit |
JPS6157717U (ja) * | 1984-09-19 | 1986-04-18 | ||
JPH03278114A (ja) * | 1990-03-27 | 1991-12-09 | Nec Corp | 出力回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2583338Y2 (ja) | 1998-10-22 |
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