JPH06230998A - Electronic equipment - Google Patents

Electronic equipment

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Publication number
JPH06230998A
JPH06230998A JP5014475A JP1447593A JPH06230998A JP H06230998 A JPH06230998 A JP H06230998A JP 5014475 A JP5014475 A JP 5014475A JP 1447593 A JP1447593 A JP 1447593A JP H06230998 A JPH06230998 A JP H06230998A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
connector
main body
external device
interface cable
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5014475A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Sakamoto
裕志 坂本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP5014475A priority Critical patent/JPH06230998A/en
Publication of JPH06230998A publication Critical patent/JPH06230998A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Information Transfer Systems (AREA)

Abstract

PURPOSE:To easily test operation by performing switching between normal operation and a test mode by connecting the opposite side to a connecting side of the connector hood of an interface cable in normal time. CONSTITUTION:This equipment consists of a circuit 1 where an I/O part 8 such as a dip switch 6 for making test operation effective and unused pins in a main body part connector 4 are connected on a wired-OR basis and the interface cable 3 having the same connector shape at both its ends where the main body part connector 4 and an external device connector 5 are connected differently. Then the interface cable 3 has its side A connected to the main body part connector 4 and its side B connected to the external device connector 5 in normal operation. In test mode, the side B is connected to the main body part connector 4 and the side A is connected to the external device connector 5. Therefore, the test mode and normal operation can be switched by one interface cable 3 without setting the dip switch and without connecting any dedicated connector hood.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はパーソナルコンピュータ
やワードプロセッサなどの本体装置とプリンタ、モニタ
などの外部装置を接続する手段として外部I/Oコネク
タを有する電子機器に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic device having an external I / O connector as means for connecting a main body device such as a personal computer and a word processor to an external device such as a printer and a monitor.

【0002】[0002]

【従来の技術】パーソナルコンピュータやワードプロセ
ッサなどは装置機能としての動作以外に通常、工場出荷
時或いは工程検査時にテスト動作を行いメモリテスト
や、個別の機能テストなど(以下テストモードと記す)
を行う。このテストモードは通常動作時ユーザには判ら
ないようにするため検査工程に於いてテストモードに入
るために本体内部の特定のスイッチ(ディップスイッ
チ)を切り換えたり、外部コネクタの未使用ピンを利用
してテストモードに入るためにコネクタ内部でテストビ
ットとグランドを結線した専用コネクタを付加してスイ
ッチと同様の切り換えを行なうなどの方法をとってい
た。
2. Description of the Related Art A personal computer, a word processor, etc. usually perform a test operation at the time of factory shipment or process inspection in addition to the operation as a device function, such as a memory test or an individual function test (hereinafter referred to as a test mode).
I do. In this test mode, in order to make it invisible to the user during normal operation, in order to enter the test mode during the inspection process, a specific switch (DIP switch) inside the main unit is switched or an unused pin of the external connector is used. In order to enter the test mode, a special connector in which the test bit and the ground are connected inside the connector is added and switching is performed in the same manner as the switch.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記従来
の技術に於いて本体内部の特定のスイッチを切り換える
方法は工場検査終了後、本来の通常動作を行わせるため
に再度スイッチを切り換える必要があり、これを忘れた
場合テストモードで動作する装置が市場、ユーザに出荷
されるといった不具合が発生する。また装置の小型化に
伴いプリント基板上にスイッチを配置する事もスペース
的に容易では無くなってきた。
However, in the method of switching a specific switch inside the main body in the above-mentioned conventional technique, it is necessary to switch the switch again to perform the normal normal operation after the factory inspection is completed. If you forget, there will be a problem that the device that operates in the test mode will be shipped to the market and users. In addition, it has become difficult to arrange a switch on a printed circuit board because of the downsizing of the device.

【0004】次に専用のコネクタを付加してテストモー
ドに入る方法は専用のコネクタを別途製作する必要があ
り、そのうえ専用のコネクタが手元に無い場合はテスト
モードに入れないという不具合が発生する。
Next, in the method of adding a dedicated connector to enter the test mode, it is necessary to separately manufacture the dedicated connector, and if the dedicated connector is not at hand, the test mode cannot be entered.

【0005】本発明はこの点に鑑み、動作のテストが容
易に行うことのできる電子機器を提供することを目的と
する。
In view of this point, an object of the present invention is to provide an electronic device whose operation can be easily tested.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明はテスト動作を有効にするディップスイッチ等
のI/Oポートと本体部コネクタ内の未使用ピンをワイ
ヤードOR接続した回路と、本体部コネクタと外部装置
コネクタを接続し結線を異とした両端のコネクタ形状を
同一とするインターフェイスケーブルにより構成されて
いる。
In order to solve this problem, the present invention provides a circuit in which an I / O port such as a DIP switch which enables a test operation and an unused pin in a main body connector are wired-OR connected, The main body connector and the external device connector are connected to each other, and they are configured by an interface cable having the same connector shape at both ends with different wirings.

【0007】[0007]

【作用】この構成により基板上に配置されたスイッチを
切り換える事なく或いは専用のコネクタを接続する事な
く機器本来の通常動作と検査用のテストモードの切り換
えをインターフェイスケーブルのコネクタフードの通常
動作時に接続する側とは逆の側を接続する事によりコネ
クタフード内で結線された信号によりテストモードに入
ることができる。
With this configuration, the switching between the normal operation of the device and the test mode for inspection is performed during normal operation of the connector hood of the interface cable without switching the switches arranged on the board or connecting a dedicated connector. The test mode can be entered by connecting the side opposite to the side to be connected by the signal connected in the connector hood.

【0008】[0008]

【実施例】以下、本発明の一実施例における電子機器に
ついて、図面を参照しながら説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT An electronic device according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0009】図1は本実施例の電子機器の構成のブロッ
ク図を示す。図1に於いて1はパーソナルコンピュータ
などの本体装置、2は本体装置1と接続されるプリンタ
などの外部装置で両者の接続にはインターフェイスケー
ブル3が使用される。4は本体装置1に設けられた本体
部コネクタで、5は外部装置2に設けられた外部装置コ
ネクタで形状は同一である。6は本体装置1内に設けら
れたテストモードと通常動作モードを切り換えるディッ
プスイッチで片側はグラウンドに接続され、他方は抵抗
7でプルアップされ、本体部コネクタ4からの1つのピ
ンとワイヤードOR接続され(*TEST)信号aを構
成する。(*TEST)信号aはI/Oポート8を介
し、CPU9のデータバスbに接続され、I/Oリード
信号cによりCPU9に入力され読み出される。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the electronic equipment of this embodiment. In FIG. 1, 1 is a main body device such as a personal computer, 2 is an external device such as a printer connected to the main body device 1, and an interface cable 3 is used to connect them. Reference numeral 4 denotes a main body connector provided in the main body device 1, and 5 denotes an external device connector provided in the external device 2, which have the same shape. Reference numeral 6 is a DIP switch provided in the main unit 1 for switching between a test mode and a normal operation mode, one side is connected to the ground, the other is pulled up by a resistor 7, and one pin from the main body connector 4 is wired-OR connected. (* TEST) Configure signal a. The (* TEST) signal a is connected to the data bus b of the CPU 9 via the I / O port 8 and input to and read from the CPU 9 by the I / O read signal c.

【0010】図2は本実施例におけるインターフェイス
ケーブル3の結線を示す図である。ここでは9ピンのコ
ネクタを用い、インターフェイスに必要な信号をsig
nal1〜signal7として示している。以上のよ
うに構成された電子機器のテスト動作設定方法について
図1をもとに実施例を述べる。
FIG. 2 is a diagram showing the connection of the interface cable 3 in this embodiment. Here, using a 9-pin connector, the signals required for the interface are sig
It is shown as nal1 to signal7. An example of a test operation setting method for the electronic device configured as described above will be described with reference to FIG.

【0011】電源投入時、CPU9はI/Oリード信号
cにて制御されるI/Oポート8とデータバスbを介し
て(*TEST)信号aの状態を読む。
When the power is turned on, the CPU 9 reads the state of the (* TEST) signal a through the I / O port 8 controlled by the I / O read signal c and the data bus b.

【0012】例えばディップスイッチ6がOFFで本体
部コネクタ4にインターフェイスケーブル3が接続され
ていない或いはインターフェイスケーブル3のA側が接
続されているとき(*TEST)信号aは抵抗7により
“High”レベルになる。この時は通常動作としてC
PU9は認識しテストモードには入らない。次にディッ
プスイッチ6がONの時、本体部コネクタ4の接続状態
に係わりなく(*TEST)信号aは“Low”になり
CPU9はテストモードに入る。同様に本体部コネクタ
4にインターフェイスケーブル3のB側が接続されてい
る時、ディップスイッチ6の状態に係わらず(*TES
T)信号aは“Low”になる。このときもテストモー
ドに入る。
For example, when the DIP switch 6 is OFF and the interface cable 3 is not connected to the main body connector 4 or the A side of the interface cable 3 is connected (* TEST), the signal a is set to the "High" level by the resistor 7. Become. At this time, the normal operation is C
PU9 recognizes and does not enter the test mode. Next, when the DIP switch 6 is ON, the signal a becomes "Low" regardless of the connection state of the main body connector 4 and the CPU 9 enters the test mode. Similarly, when the B side of the interface cable 3 is connected to the body connector 4, regardless of the state of the DIP switch 6 (* TES
T) The signal a becomes "Low". At this time, the test mode is entered.

【0013】インターフェイスケーブル3は通常動作
時、A側が本体部コネクタ4に接続され、B側は外部装
置コネクタ5に接続される。テストモード時はB側が本
体部コネクタ4に他方A側が外部装置コネクタ5に接続
される。
In normal operation, the interface cable 3 is connected to the main body connector 4 on the A side and is connected to the external device connector 5 on the B side. In the test mode, the B side is connected to the main body connector 4 and the A side is connected to the external device connector 5.

【0014】[0014]

【発明の効果】以上のように本発明はインターフェイス
ケーブルの接続方向を指定する事により、煩わしいディ
ップスイッチの設定や専用のコネクタフードを接続する
事なしにテストモードと通常動作の切り換えを1本の通
常動作用のインターフェイスケーブルで行う事ができ、
検査終了後のディップスイッチの切り換え忘れや専用の
コネクタフードを作る必要がなく信頼性の高い安価な優
れた電子機器を実現するものである。
As described above, according to the present invention, by designating the connection direction of the interface cable, it is possible to switch between the test mode and the normal operation without the troublesome setting of the DIP switch and the connection of the dedicated connector hood. You can do it with the interface cable for normal operation,
It is possible to realize an excellent electronic device which is highly reliable and inexpensive without having to forget to switch the DIP switch after the inspection or make a dedicated connector hood.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例における電子機器の構成を示
す図
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an electronic device according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例における電子機器のインター
フェイスケーブル3の結線図
FIG. 2 is a connection diagram of an interface cable 3 of an electronic device according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 本体装置 2 外部装置 3 インターフェイスケーブル 4 本体部コネクタ 5 外部装置コネクタ 6 ディップスイッチ 7 抵抗 8 I/Oポート 9 CPU a (*TEST)信号 b データバス c I/Oリード信号 1 Main unit 2 External unit 3 Interface cable 4 Main unit connector 5 External unit connector 6 DIP switch 7 Resistance 8 I / O port 9 CPU a (* TEST) signal b Data bus c I / O read signal

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】CPUと、前記CPUにローカルデータバ
スにより接続され前記CPUより読み出し可能なI/O
ポートと、外部装置と接続するために設けられた本体部
コネクタと、前記I/Oポートの任意の信号と前記本体
部コネクタの任意の信号をワイヤードORで接続された
テスト信号と、前記本体部コネクタと同一の形状を有す
る前記外部装置内に設けられた外部装置コネクタと、前
記本体部コネクタと前記外部装置コネクタを接続するイ
ンターフェイスケーブル或いはインターフェイスコネク
タフードより構成され生産時、或いは機器初期化時本体
のスイッチ等を変更する事無く通常の機器動作とは異な
るテスト動作、イニシャル動作を容易に行える事を特徴
とする電子機器。
1. A CPU and an I / O which is connected to the CPU via a local data bus and is readable by the CPU.
A port, a main body connector provided to connect to an external device, a test signal in which an arbitrary signal of the I / O port and an arbitrary signal of the main body connector are connected by wired OR, and the main body portion An external device connector having the same shape as the connector and provided in the external device, and an interface cable or an interface connector hood for connecting the main body connector and the external device connector. An electronic device characterized by being able to easily perform test operations and initial operations that differ from normal device operations without changing the switches, etc.
【請求項2】上記本体部コネクタに接続される側のケー
ブル端のコネクタフードと上記外部装置コネクタに接続
される他端コネクタフードの結線を異として構成され双
方のコネクタフードは物理的に同形状で方向性を有しな
いインターフェイスケーブルを備えた請求項1記載の電
子機器。
2. A connector hood at the cable end on the side connected to the main body connector and a connector hood on the other end connected to the external device connector are configured so as to have different wires, and both connector hoods are physically the same shape. The electronic device according to claim 1, further comprising an interface cable having no directivity.
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