JPH06223390A - 光学ヘッドのオフセット修正回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 予め設定した光記憶媒体の物理的特性の異な
る他の着脱自在な未設定の光記憶媒体に対してもオフセ
ットキャンセルを行うことを目的とする。 【構成】 所定の周波数を参照用試験信号ＴＳとして発
生させる試験信号発生器１５と、直流オフセット除去ア
ンプ１４からの出力と上記試験信号発生器１５とを切換
スイッチ１６で切り換え、試験信号発生器１５側に切り
換えた際に直流オフセット除去アンプ１４からの出力を
レベル比較部１７でレベル差を係数制御回路１８に供給
して補正係数Ｋ_C を乗算器１３に供給することにより、
直流オフセットを除去した信号をアクチュエータ１９に
供給している。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、データ信号を記録する
トラックの両側に設けた案内溝と、オフセットを除去す
るために設けたミラー領域とを有する光記憶媒体を用い
て、上記光ディスクに出射したレーザ光の戻り光を２分
割された受光素子で検出する２分割光検出手段から得ら
れたプッシュプル信号に含まれるオフセット成分をキャ
ンセルする光学ヘッドのオフセット修正回路に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスク記録再生装置は、光ディスク
に照射された集光ビームスポットを常時記録トラック上
に位置させるためトラッキングサーボをかけている。こ
のトラッキングサーボは、ビームスポットの記録トラッ
クからのずれをトラッキングエラー信号として検出し、
集光したビームスポットを一定の偏差内で移動させるサ
ーボである。

【０００３】上述したトラッキングサーボのためのトラ
ッキングエラー信号の検出方法には、例えばプッシュプ
ル法、スリービーム法等がある。

【０００４】上記プッシュプル法は、光ディスクの基板
からの反射光を戻り光として２分割光検出器に供給し、
受光素子で光電変換した光量差に基づく差信号をトラッ
キングエラー信号としてサーボ制御する方式である。こ
のプッシュプル方式によるトラッキングサーボ制御で
は、トラッキング制御に伴い対物レンズが変動し、２分
割光検出器の中心と回折光中心が一致しなくなるとトラ
ッキングエラー信号に直流変動成分が含まれることがあ
る。この直流変動成分が、直流オフセットである。

【０００５】直流オフセットは、上述した対物レンズの
光軸ずれの他に、光ディスクの半径方向の傾き、光ディ
スクの溝形状のアンバランスや光ディスクのアドレス領
域とデータ領域で生じるオフセットの差等が原因で生じ
る。これらの原因による直流オフセットを除去するため
に、図４に示すオフセット除去回路が例えば光ディスク
記録再生装置に用いられている。

【０００６】図４において、２分割光検出器１０は、受
光検出した光を光電変換してオフセット除去回路内の差
信号出力アンプ１１にそれぞれ供給する。差信号出力ア
ンプ１１は、直流オフセット除去アンプ１４の非反転端
子に供給すると共に、ミラー部切換スイッチ１２ａの一
端側に供給している。ミラー部切換スイッチ１２ａは、
光ディスクのミラー部をビームスポットが通過する度に
オン状態に切り換えている。このようにミラー部切換ス
イッチ１２ａを介してミラー部からの情報がホールド部
１２ｂの非反転端子に供給される。

【０００７】このミラー部からの情報は、ビームスポッ
トの変位した移動量だけを情報として有している。この
ミラー部からの情報は、プッシュプル方式を採用するこ
とにより生じるオフセットである。直流オフセット除去
アンプ１４は、反転端子に上記ホールド部１２ｂからの
直流オフセット成分に乗算器１３を介してＫ倍し、トラ
ッキングエラー信号の直流オフセット成分と同じ振幅の
信号された信号を入力している。直流オフセット除去ア
ンプ１４は、これらの信号の入力して差信号を出力して
直流オフセットがキャンセルされたトラッキングエラー
信号をアクチュエータに供給している。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したプ
ッシュプル方式における直流オフセット除去に要する係
数Ｋは、予め例えば工場出荷時に設定された常に一定の
固定値である。

【０００９】ところが、上述した係数Ｋは、光ディスク
の案内溝であるグルーブの条件により異なることが知ら
れている。従って、上記光ディスクの直流オフセット除
去用の係数Ｋは、予め測定された設定値に対応する光デ
ィスクに対してしか有効でない。また、最近、従来のグ
ルーブ等の設定条件と異なる光ディスクが市場に供給さ
れきている。

【００１０】このように光ディスク記録再生装置は、光
ディスクの物理的特性に応じて直流オフセットを除去す
るための係数Ｋを記憶しておき、ミラー部から得られる
信号に上記係数Ｋを乗算してトラッキングサーボを行っ
ているので、光ディスクの物理的特性の異なる光ディス
クを装着して使用する場合、直流オフセットが除去でき
なくなってしまう。

【００１１】そこで、本発明は、上述したような実情に
鑑みてなされたものであり、予め設定した光記憶媒体の
物理的特性と一致する光記憶媒体に対して直流オフセッ
トを除去するだけでなく、光記憶媒体の物理的特性の異
なる他の着脱自在な未設定の光記憶媒体に対しても簡単
にオフセットキャンセルを行うことができる光学ヘッド
のオフセット修正回路を提供することを目的とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明に係る光学ヘッド
のオフセット修正回路は、データ信号を記録するトラッ
クの両側に設けた案内溝と、オフセットを除去するため
に設けたミラー領域とを有する光記憶媒体を用いて、上
記光ディスクに出射したレーザ光の戻り光を２分割され
た受光素子で検出する２分割光検出手段から得られたプ
ッシュプル信号に含まれるオフセット成分をキャンセル
する光学ヘッドのオフセット修正回路において、上記２
分割光検出手段から出力される信号に基づいて差信号を
出力する差信号出力手段と、上記光記憶媒体のミラー領
域からの得られる信号をサンプルホールドするサンプル
ホールド手段と、該サンプルホールド手段からの出力信
号に係数を乗算する係数乗算器と、該係数乗算器からの
出力と上記差信号出力手段からの出力を合成する合成手
段と、 所定の周波数を参照用試験信号として発生させ
る試験信号発生手段と、 上記合成手段からの出力と上
記試験信号発生手段とを切り換える切換手段と、該切換
手段からの出力に応じて動作するアクチュエータと、上
記光記憶媒体の最内周位置及び最外周位置での上記合成
手段から出力される信号のエンベロープのレベルを比較
するレベル比較手段と、該レベル比較手段で検出したレ
ベルの比較結果に応じて上記係数乗算器の係数を補正す
る補正係数を供給する補正係数供給手段とを有すること
により、上述の課題を解決する。

【００１３】ここで、光学ヘッドのオフセット修正回路
は、連続サーボ方式の光記憶媒体を駆動するドライバ装
置に直流オフセットを除去するため用いる。また、上記
光記憶媒体には、照射されるレーザ光の波長λに対して
λ／６〜λ／８のグルーブを有している。

【００１４】また、光学ヘッドのオフセット修正回路に
おいて、上記試験信号発生手段は、上記試験信号発生手
段が出力する安定位相の周波数を選択して上記アクチュ
エータの応答波形と上記試験信号発生手段の出力波形と
の位相関係を同相、または逆相関係にすることにより、
上述の課題を解決する。

【００１５】

【作用】本発明に係る光学ヘッドのオフセット修正回路
は、トラックの両側に設けた案内溝及びミラー部を有す
る光記憶媒体を用いて、２分割光検出手段で光電変換し
た信号を差信号出力手段に供給して直流オフセットを含
むトラッキングエラー信号を合成手段に供給し、上記合
成手段にレベル比較手段で検出したレベルの比較結果に
応じた上記係数乗算器への補正係数値を供給することに
より、乗算器の係数を適切な値に自動設定してトラッキ
ングエラー信号にのっている直流変動成分の除去を行っ
ている。

【００１６】また、本発明に係る光学ヘッドのオフセッ
ト修正回路において、上記試験信号発生手段は、上記試
験信号発生手段が出力する安定位相の周波数を選択して
上記アクチュエータの応答波形と上記試験信号発生手段
の出力波形との位相関係を同相、または逆相関係にする
ことにより、案内溝の条件が異なる光記憶媒体に対して
上記アクチュエータの応答波形に応じた乗算器に対する
補正係数の増減方向を試験信号の位相タイミングで検出
して自動設定することができる。

【００１７】

【実施例】以下、本発明に係る光学ヘッドのオフセット
修正回路の一実施例について、図面を参照しながら説明
する。光記憶媒体として光ディスクには、一対の案内溝
（以下グルーブという）の間にデータ信号を記録する領
域として記録トラックが配されている。光ディスクに
は、上記一対のグルーブをなくして、ミラー部を設けて
いる光ディスクがある。このような光ディスクを使用す
る光ディスク記録再生装置は、この光ディスクのミラー
部からの戻り光量を利用してビームスポットの移動量を
検出してトラッキング制御に含まれる直流オフセット成
分を除去している。

【００１８】光ディスク記録再生装置に用いている光学
ヘッドのオフセット修正回路は、実際に光ディスクから
の反射光を光電変換した信号のミラー部領域をサンプリ
ングし、この信号に係数Ｋをかけた信号を用いて上記ト
ラッキングエラー信号に含まれる直流オフセット成分を
除去している。

【００１９】しかしながら、前述したように係数Ｋは、
光ディスクの物理的特性に依存していることにより、測
定する光ディスクに固有の値として現れる値である。従
って、光ディスク記録再生装置は、直流オフセット成分
を含まないトラッキングエラー信号に応じてトラッキン
グサーボ制御を行う場合、記憶した係数Ｋに対応してい
ない光ディスクに対して直流オフセット成分を除去した
トラッキングサーボ制御ができないことになる。これ
は、直流オフセット成分を含まないトラッキングサーボ
を可能にする光ディスクに制限が設けられることにな
り、使用可能な光ディスクの自由度を低いものにしてし
まっている。

【００２０】そこで、本発明に係る光学ヘッドのオフセ
ット修正回路は、光ディスクの物理的特性に対応した係
数Ｋの値を自動的に設定して光ディスクの使用環境の自
由度を高めようとするものである。本発明に係る光学ヘ
ッドのオフセット修正回路の概略的なブロック図を図１
に示す。

【００２１】本発明の光学ヘッドのオフセット修正回路
は、主に、２分割光検出器１０、差信号出力アンプ１
１、サンプルホールド部１２、係数乗算器１３、直流オ
フセットキャンセル用アンプ１４、試験信号発生器１
５、切換スイッチ１６、レベル比較部１７、係数制御回
路１８及びアクチュエータ１９で構成している。この
他、位相補償回路２０、アンプ２１も用いてもよい。

【００２２】上記２分割光検出器１０は、光ディスクに
出射したレーザ光の戻り光を２分割された受光素子で検
出する２分割光検出手段として用いている。上記差信号
出力アンプ１１は、２分割光検出器１０から出力される
一対の信号に基づいて差信号を出力する差信号出力手段
として用いている。

【００２３】上記サンプルホールド部１２は、光ディス
クのミラー領域Ｍを走査して得られる信号をサンプルホ
ールドするサンプルホールド手段である。このサンプル
ホールド部１２は、ミラー部切換スイッチ１２ａと、サ
ンプルホールド回路１２ｂとで構成している。上記ミラ
ー部切換スイッチ１２ａは、入力端子２２を介して供給
されるミラー部検出信号に応じてオン状態に切り換えて
いる。

【００２４】上記係数乗算器１３は、サンプルホールド
部１２のサンプルホールド回路１２ｂからの出力信号に
係数Ｋを乗算している。上記直流オフセットキャンセル
用アンプ１４は、係数乗算器１３からの出力と上記差信
号出力アンプ１１からの出力を合成する合成手段として
用いている。直流オフセットキャンセル用アンプ１４
は、係数乗算器１３からの出力を反転端子側に供給し、
差信号出力アンプ１１からの出力を例えば位相補償回路
２０を介して非反転端子側に供給している。

【００２５】また、直流オフセットキャンセル用アンプ
１４は、乗算器１３からの出力信号を反転端子側に供給
している。直流オフセットキャンセル用アンプ１４は、
トラッキングエラー信号に含まれる直流オフセットを除
去するように処理して位相補償回路２０に出力すると共
に、レベル比較部１７に出力信号を供給している。位相
補償回路２０は、位相調整されたトラッキングエラー信
号を切換スイッチ１６の端子ａ側に供給している。

【００２６】また、切換スイッチ１６の端子ｂ側には、
所定の周波数を参照用試験信号として発生させる試験信
号発生手段である試験信号発生器（以下ＳＧという）１
５から試験信号が供給されている。ここで、上記切換ス
イッチ１６は、上記直流オフセットキャンセル用アンプ
１４からの出力と上記試験信号発生手段とを切り換える
切換手段として用いている。

【００２７】上記アクチュエータ１９は、切換スイッチ
１６からアンプ２１を介した出力に応じて動作する。ま
た、上記直流オフセットキャンセル用アンプ１４は、出
力される信号のエンベロープにおける上記アクチュエー
タ１９の上記光ディスクの最内周と最外周位置でのレベ
ルＰ₁ 、Ｐ₂ を比較するレベル比較手段としてレベル比
較部１７に供給している。

【００２８】係数制御回路１８は、上記レベル比較部１
７で検出したレベルの比較結果に応じて上記係数乗算器
１３の係数を補正する補正係数を供給する補正係数供給
手段として用い、後述する条件に応じて補正係数を係数
乗算器１３に出力している。この光学ヘッドのオフセッ
ト修正回路の動作について図１〜図３を参照しながら説
明する。

【００２９】光学ヘッドのオフセット修正回路による直
流オフセットを含まない安定したサーボ制御を行う上で
前記アクチュエータ１９の性能は、重要な意味を有して
いる。一般に、アクチュエータは、外乱に対して３つの
伝達関数を基に動作している。これら３つの伝達関数
は、トラッキングエラー信号検出の伝達関数、アクチュ
エータの伝達関数及び位相補償回路系の伝達関数であ
る。ここで、光ヘッドのアクチュエータは、質量・コン
プライアンス系で、いわゆる２次系と言われる一般的な
伝達特性を図２に示す。

【００３０】アクチュエータには、サーボシステム上、
適切な共振周波数ｆ_C 及びＱを有し、２次共振が上記共
振周波数ｆ_C 以上１０ｋＨｚ程度までなく、位相特性
（遅れ）が良好で十分な感度を有していること等の条件
が要求される。このような条件を満足する方式の例とし
てガルバノミラータイプや２軸アクチュエータがある。
これらの方式の共振周波数は、それぞれ１００Ｈｚ程
度、〜２０Ｈｚ程度になっている。図２（Ａ）は、アク
チュエータの周波数−ゲインの関係を示している。図２
（Ａ）の共振周波数以上の高い周波数における伝達特性
は、１２ｄＢ／ＯＣＴで低下する特性を示している。

【００３１】図２（Ｂ）は、アクチュエータの周波数−
位相遅延関係を示している。アクチュエータは、図２
（Ｂ）において位相遅延が図２（Ａ）の共振周波数ｆ_C
で−９０゜になり、この共振周波数ｆ_C を境にしてその
前後ではそれぞれ０゜、−１８０゜に漸近していく特性
を有している。

【００３２】ここで、試験信号発生器１５が出力する周
波数ｆ_S は、図２（Ｂ）に示す２つの安定に漸近してい
く安定位相である０゜近傍の上記共振周波数ｆ_C より極
端に低い周波数関係に設定する。この実施例では、共振
周波数ｆ_C と試験信号の周波数ｆ_S との周波数関係は、
例えば図３（ａ）に示すようにこの関係を用いて説明す
る。

【００３３】なお、試験信号発生器１５の出力周波数ｆ
_S は、安定位相である−１８０゜近傍の周波数を設定し
てもよい。このときの周波数ｆ_S は、共振周波数ｆ_C よ
りかなり高い周波数になる。

【００３４】実際、図１の直流オフセットキャンセル用
アンプ１４は、係数Ｋの任意の値に応じて例えば図３
（ｂ）に示す直流オフセット成分を含んだ波形信号を出
力する。上記直流オフセットキャンセル用アンプ１４の
反転端子側に供給される入力信号は、入力端子２２から
供給される制御信号に応じてミラー部切換スイッチ１２
ａをオン／オフしてオン時にサンプルし、ホールド回路
１２ｂでホールドした信号を乗算器１３に供給し、この
入力信号に係数Ｋがかけられた信号である。レベル比較
部１７は、直流オフセットキャンセル用アンプ１４から
出力されるこの波形信号を入力する。ここで、入力され
た図３（ｂ）に示す出力波形のエンベロープとしては、
上側エンベロープ信号Ｅ_U と下側エンベロープ信号Ｅ_D
が考えられる。

【００３５】この実施例において、レベル比較部１７
は、上側エンベロープ信号Ｅ_U を用いる。レベル比較部
１７は、上側エンベロープ検出回路１７ａ、最外周位置
レベル検出回路１７ｂ、最内周位置レベル検出回路１７
ｃ及びレベル差比較回路１７ｄで構成している。上側エ
ンベロープ検出回路１７ａは、直流オフセットキャンセ
ル用アンプ１４からの出力信号を入力して上側エンベロ
ープ信号Ｅ_U を検出して最外周位置レベル検出回路１７
ｂと最内周位置レベル検出回路１７ｃとに上側エンベロ
ープ信号Ｅ_U をそれぞれ供給する。

【００３６】最外周位置レベル検出回路１７ｂは、光デ
ィスクの最外周位置における上側エンベロープ信号Ｅ_U
のレベルＰ₁ を検出する。また、最内周位置レベル検出
回路１７ｃは、光ディスクの最内周位置における上側エ
ンベロープ信号Ｅ_U のレベルＰ₂ を検出する。最外周位
置レベル検出回路１７ｂと最内周位置レベル検出回路１
７ｃは、それぞれ上側エンベロープ信号Ｅ_U で検出して
レベルをレベル差比較回路１７ｄに供給している。レベ
ル差比較回路１７ｄは、供給された各レベルＰ₁ 、Ｐ₂
を基にレベル差（Ｐ₁ −Ｐ₂ ）を求めて係数制御回路１
８に出力している。

【００３７】係数制御回路１８は、供給されたレベル差
（Ｐ₁ −Ｐ₂ ）を基にこのレベル差がゼロになるように
係数Ｋに対して供給する補正係数Ｋ_C の増減方向を決め
て、乗算器１３に出力している。直流オフセットキャン
セル用アンプ１４は、差信号出力アンプ１１の出力信号
から光ディスクのミラー部をサンプリングし、ホールド
した信号に係数Ｋが乗算された信号を直流オフセット成
分として引いている。従って、直流オフセットキャンセ
ル用アンプ１４の出力にレベル差（Ｐ₁ −Ｐ₂）がある
ことは、直流オフセット成分の除去が適切でないことを
意味している。例えばレベル差（Ｐ₁ −Ｐ₂ ）が正の値
になった（（Ｐ₁ −Ｐ₂ ）＞０）のとき、直流オフセッ
ト成分の除去する量が少ない、すなわち係数Ｋが小さい
ことを意味している。従って、係数制御回路１８では、
係数Ｋを大きくするために補正係数Ｋ_C の値を大きくす
ればよい。

【００３８】また、例えばレベル差（Ｐ₁ −Ｐ₂ ）が負
の値になった（（Ｐ₁ −Ｐ₂ ）＜０）のとき、直流オフ
セット成分の除去する量が多い、すなわち係数Ｋが大き
いことを意味している。従って、係数制御回路１８で
は、係数Ｋを小さくするために補正係数Ｋ_C の値を小さ
くすればよい。

【００３９】係数制御回路１８は、このように係数Ｋに
対して供給する補正係数Ｋ_C の値をレベル差（Ｐ₁ −Ｐ
₂ ）の極性に応じて補正する係数増減方向を決めてい
る。実際にこの補正係数Ｋ_C を決定するためには、アク
チュエータ１９が現在内周側、外周側のどちらの方向に
移動させているかに依存する。

【００４０】光学ヘッドのオフセット修正回路は、例え
ば光ディスクの条件が異なる場合、一定時間調整するた
め必要に応じて試験信号発生器１５から試験信号を出力
し、上述した操作を繰り返すことによって、現在、使用
している光ディスクに対して適切な（上記レベル差（Ｐ
₁ −Ｐ₂ ）をゼロとするような）係数Ｋに自動的にお調
整されることにより、直流オフセット成分の除去が可能
となる。このように係数Ｋを変更する自動調整により、
物理的な特性が異なる光ディスクを用いた場合でも直流
オフセット成分が除去でき、使用する光ディスクの自由
度を高めることもできる。

【００４１】また、補正係数Ｋ_C は、上述した方法に限
定されるものでなく、レベル比較部１７内の最外周位置
レベル検出回路１７ｂ、最内周位置レベル検出回路１７
ｃに試験信号発生器１５から試験信号ＴＳを供給し、上
記試験信号ＴＳの基準位相で上側エンベロープ信号Ｅ_U
をサンプルし、レベル差を係数制御回路１８に供給して
求めてもよい。上記試験信号ＴＳの基準位相は、試験信
号ＴＳを余弦信号とした場合、ピークレベル及びボトム
レベルになる位相０゜及び１８０゜である。

【００４２】また、共振周波数ｆ_C より大きい位相が１
８０゜遅れを起こす近傍の周波数ｆ_S を用いた場合、試
験信号ＴＳのピークレベルのタイミングでサンプリング
してアクチュエータ１９を移動させてもアクチュエータ
１９は、アクチュエータの特性である位相遅れのため、
光ディスクの最内周に位置している。このことを考慮し
て使用する試験信号の周波数ｆ_S に応じて係数制御回路
１８の補正係数Ｋ_C を選択すれば、光学ヘッドのオフセ
ット修正回路は、上記周波数ｆ_S を用いても係数Ｋの値
を調整することができる。

【００４３】なお、上述した係数Ｋの調整は、完全にレ
ベル差がゼロにしなくとも、ある範囲、あるいは一定時
間調整を行うことによっても、十分に調整することがで
きる。また、前述した実施例ではエンベロープ信号の上
側Ｅ_U を用いたが、エンベロープ信号の下側Ｅ_D のピー
クレベル、ボトムレベルをサンプルホールドしてレベル
差から係数Ｋを調整してもよい。

【００４４】このように構成することにより、光ディス
クの物理的な条件に依存することなく、自動的に直流オ
フセットをキャンセルさせることができ、使用する光デ
ィスクの自由度を高めている。

【００４５】

【発明の効果】本発明に係る光学ヘッドのオフセット修
正回路によれば、データ信号を記録するトラックの両側
に設けた案内溝と、オフセットを除去するために設けた
ミラー領域とを有する光記憶媒体を用いて、上記光ディ
スクに出射したレーザ光の戻り光を２分割された受光素
子で検出する２分割光検出手段から得られたプッシュプ
ル信号に含まれるオフセット成分をキャンセルする光学
ヘッドのオフセット修正回路において、上記２分割光検
出手段から出力される信号に基づいて差信号を出力する
差信号出力手段と、上記光記憶媒体のミラー領域からの
得られる信号をサンプルホールドするサンプルホールド
手段と、該サンプルホールド手段からの出力信号に係数
を乗算する係数乗算器と、該係数乗算器からの出力と上
記差信号出力手段からの出力を合成する合成手段と、所
定の周波数を参照用試験信号として発生させる試験信号
発生手段と、上記合成手段からの出力と上記試験信号発
生手段とを切り換える切換手段と、該切換手段からの出
力に応じて動作するアクチュエータと、上記光記憶媒体
の最内周位置及び最外周位置での上記合成手段から出力
される信号のエンベロープのレベルを比較するレベル比
較手段と、該レベル比較手段で検出したレベルの比較結
果に応じて上記係数乗算器の係数を補正する補正係数を
供給する補正係数供給手段とを有することにより、光デ
ィスクの物理的な条件に依存することなく、自動的に直
流オフセットをキャンセルさせることができる。

【００４６】また、上記試験信号発生手段は、上記試験
信号発生手段が出力する安定位相の周波数を選択して上
記アクチュエータの応答波形と上記試験信号発生手段の
出力波形との位相関係を同相、または逆相関係にするこ
とにより、案内溝の条件が異なる光記憶媒体に対して上
記アクチュエータの応答波形に応じた乗算器に対する補
正係数の増減方向を試験信号の位相タイミングで検出
し、補正係数の大きさ及び方向を考慮して求めても自動
的に直流オフセットをキャンセルさせることができ、使
用できる光ディスクの自由度を高めることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光学ヘッドのオフセット修正回路
の概略的な構成を示すブロック回路図である。

【図２】（Ａ）は周波数−ゲイン特性を示し、（Ｂ）は
周波数−位相特性を示した光学ヘッドを移動させるアク
チュエータの特性図である。

【図３】図１に示した光学ヘッドのオフセット修正回路
における各部からの出力波形を用いてオフセット修正す
るための動作を説明する模式的な出力波形図である。

【図４】従来の光学ヘッドのオフセット修正回路の概略
適な構成を示した回路図である。

【符号の説明】

１０・・・・・２分割光検出器 １１・・・・・差信号出力アンプ １２・・・・・サンプルホールド部 １３・・・・・係数乗算器 １４・・・・・直流オフセットキャンセル用アンプ １５・・・・・試験信号発生器 １６・・・・・切換スイッチ １７・・・・・レベル比較部 １７ａ・・・・上側エンベロープ検出回路 １７ｂ・・・・最外周位置レベル検出回路 １７ｃ・・・・最内周位置レベル検出回路 １７ｄ・・・・レベル差比較回路 １８・・・・・係数制御回路 １９・・・・・アクチュエータ ２０・・・・・位相補償回路 ２１・・・・・アンプ ２２・・・・・入力端子

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 データ信号を記録するトラックの両側に
   設けた案内溝と、オフセットを除去するために設けたミ
   ラー領域とを有する光記憶媒体を用いて、上記光ディス
   クに出射したレーザ光の戻り光を２分割された受光素子
   で検出する２分割光検出手段から得られたプッシュプル
   信号に含まれるオフセット成分をキャンセルする光学ヘ
   ッドのオフセット修正回路において、 上記２分割光検出手段から出力される信号に基づいて差
   信号を出力する差信号出力手段と、 上記光記憶媒体のミラー領域からの得られる信号をサン
   プルホールドするサンプルホールド手段と、 該サンプルホールド手段からの出力信号に係数を乗算す
   る係数乗算器と、 該係数乗算器からの出力と上記差信号出力手段からの出
   力を合成する合成手段と、 所定の周波数を参照用試験信号として発生させる試験信
   号発生手段と、 上記合成手段からの出力と上記試験信号発生手段とを切
   り換える切換手段と、 該切換手段からの出力に応じて動作するアクチュエータ
   と、 上記光記憶媒体の最内周位置及び最外周位置での上記合
   成手段から出力される信号のエンベロープのレベルを比
   較するレベル比較手段と、 該レベル比較手段で検出したレベルの比較結果に応じて
   上記係数乗算器の係数を補正する補正係数を供給する補
   正係数供給手段とを有することを特徴とする光学ヘッド
   のオフセット修正回路。
2. 【請求項２】 上記試験信号発生手段は、上記試験信号
   発生手段が出力する安定位相の周波数を選択して上記ア
   クチュエータの応答波形と上記試験信号発生手段の出力
   波形との位相関係を同相、または逆相関係にすることを
   特徴とする請求項１記載の光学ヘッドのオフセット修正
   回路。