JPH06216432A - 磁束密度検出装置 - Google Patents
磁束密度検出装置Info
- Publication number
- JPH06216432A JPH06216432A JP5007113A JP711393A JPH06216432A JP H06216432 A JPH06216432 A JP H06216432A JP 5007113 A JP5007113 A JP 5007113A JP 711393 A JP711393 A JP 711393A JP H06216432 A JPH06216432 A JP H06216432A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 低い磁束密度でも検出可能な磁束密度検出器
を提供するとともに、磁束密度検出器の用途拡大を図
る。 【構成】 ２個のホール素子ＨＤ２，ＨＤ３を用い、そ
れぞれのホール素子ＨＤ２，ＨＤ３の出力ホール電圧を
取り出す差動増幅器ＤＡ１，ＤＡ２を設け、取り出され
た出力ホール電圧を重畳する差動増幅器ＤＡ３を設け
る。
を提供するとともに、磁束密度検出器の用途拡大を図
る。 【構成】 ２個のホール素子ＨＤ２，ＨＤ３を用い、そ
れぞれのホール素子ＨＤ２，ＨＤ３の出力ホール電圧を
取り出す差動増幅器ＤＡ１，ＤＡ２を設け、取り出され
た出力ホール電圧を重畳する差動増幅器ＤＡ３を設け
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、所定の磁束密度を検出
して、電気回路の開閉を行うもので、例えばＶＴＲやＦ
ＤＤ等におけるブラシレスモータの磁極検出等に利用さ
れる磁束密度検出装置に関する。
して、電気回路の開閉を行うもので、例えばＶＴＲやＦ
ＤＤ等におけるブラシレスモータの磁極検出等に利用さ
れる磁束密度検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般的に用いられている磁束密度検出装
置は図２に示すような電気回路を有するものが知られて
いる。
置は図２に示すような電気回路を有するものが知られて
いる。
【０００３】すなわち、電源端子１および接地端子ＧＮ
Ｄ間にホール素子ＨＤ１が接続される定電圧駆動となっ
ている。ホール素子ＨＤ１の両出力端子０１，０２が各
々反転入力端子，非反転入力端子に接続されているコン
パレータＣＰ１は、磁束密度が０（ゼロ）の時にはオフ
状態であって、ハイレベル信号を出力しており、出力ト
ランジスタＱ１はオン状態となっている。磁束密度が増
加して、動作点に達した時、コンパレータＣＰ１の出力
がローレベルに変わり、出力トランジスタＱ１がオフさ
れるようになっている。
Ｄ間にホール素子ＨＤ１が接続される定電圧駆動となっ
ている。ホール素子ＨＤ１の両出力端子０１，０２が各
々反転入力端子，非反転入力端子に接続されているコン
パレータＣＰ１は、磁束密度が０（ゼロ）の時にはオフ
状態であって、ハイレベル信号を出力しており、出力ト
ランジスタＱ１はオン状態となっている。磁束密度が増
加して、動作点に達した時、コンパレータＣＰ１の出力
がローレベルに変わり、出力トランジスタＱ１がオフさ
れるようになっている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記の磁束密度検出装
置では、ホール素子の出力ホール電圧が低いために、利
用分野や取付個所が限定されるなど設計の自由度が制約
される場合があった。
置では、ホール素子の出力ホール電圧が低いために、利
用分野や取付個所が限定されるなど設計の自由度が制約
される場合があった。
【０００５】そこで、本発明は、低い磁束密度でも検出
可能な磁束密度検出装置を提供することを目的とするも
のである。
可能な磁束密度検出装置を提供することを目的とするも
のである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、ホール素子を複数個近接して配設し、前記
ホール素子の出力ホール電圧を取出す差動増幅器を設
け、各出力ホール電圧を重畳させる。
に本発明は、ホール素子を複数個近接して配設し、前記
ホール素子の出力ホール電圧を取出す差動増幅器を設
け、各出力ホール電圧を重畳させる。
【０００７】また前記複数のホール素子は１チップ構成
とするとともに、前記差動増幅器，出力トランジスタ等
の駆動回路部をも集積回路で１チップ構成とする。
とするとともに、前記差動増幅器，出力トランジスタ等
の駆動回路部をも集積回路で１チップ構成とする。
【０００８】
【作用】上記手段によって、低い磁束密度を検出するこ
とができる。
とができる。
【０００９】また、ホール素子や駆動回路部を１チップ
化することによって部品特性のバラツキを改善すること
ができるとともにオフセット電圧などの特性の劣化を抑
制することができる。
化することによって部品特性のバラツキを改善すること
ができるとともにオフセット電圧などの特性の劣化を抑
制することができる。
【００１０】
【実施例】以下本発明の実施例について図面を参照しな
がら詳細な説明をする。図１は本発明の磁束密度検出装
置の電気回路図であるが、説明を簡単にするためホール
素子２個の場合を例にとって説明する。
がら詳細な説明をする。図１は本発明の磁束密度検出装
置の電気回路図であるが、説明を簡単にするためホール
素子２個の場合を例にとって説明する。
【００１１】２個のホール素子ＨＤ２とＨＤ３は、電源
端子１及び接地端子ＧＮＤ間に並列に接続されている。
Ｉ11，Ｉ12，Ｉ21，Ｉ22はそれぞれ入力端子である。
端子１及び接地端子ＧＮＤ間に並列に接続されている。
Ｉ11，Ｉ12，Ｉ21，Ｉ22はそれぞれ入力端子である。
【００１２】またホール素子ＨＤ２とＨＤ３の両出力端
子Ｏ11，Ｏ21及びＯ12，Ｏ21は抵抗とコンパレータから
なる差動増幅器ＤＡ１，ＤＡ２の反転入力端子，非反転
入力端子に接続されるとともに、前記差動増幅器ＤＡ
１，ＤＡ２はこれらの出力電圧を重畳するため差動増幅
器ＤＡ３に接続されている。
子Ｏ11，Ｏ21及びＯ12，Ｏ21は抵抗とコンパレータから
なる差動増幅器ＤＡ１，ＤＡ２の反転入力端子，非反転
入力端子に接続されるとともに、前記差動増幅器ＤＡ
１，ＤＡ２はこれらの出力電圧を重畳するため差動増幅
器ＤＡ３に接続されている。
【００１３】そして、ホール素子ＨＤ２とＨＤ３の電源
端子側１の入力端子Ｉ11，Ｉ12がコンパレータＣＰ２の
反転入力端子に、差動増幅器ＤＡ３の出力端子が非反転
入力端子に接続されている。
端子側１の入力端子Ｉ11，Ｉ12がコンパレータＣＰ２の
反転入力端子に、差動増幅器ＤＡ３の出力端子が非反転
入力端子に接続されている。
【００１４】上記磁束密度検出装置で検出される磁束密
度は、２個のホール素子ＨＤ２，ＨＤ３を用い差動増幅
器ＤＡ１，ＤＡ２で各出力ホール電圧を取り出し、さら
に上記差動増幅器ＤＡ１，ＤＡ２の出力電圧を差動増幅
器ＤＡ３で重畳される。
度は、２個のホール素子ＨＤ２，ＨＤ３を用い差動増幅
器ＤＡ１，ＤＡ２で各出力ホール電圧を取り出し、さら
に上記差動増幅器ＤＡ１，ＤＡ２の出力電圧を差動増幅
器ＤＡ３で重畳される。
【００１５】これによりホール素子が１個の場合に比べ
て２倍の出力電圧が得られるため、ホール素子の出力ホ
ール電圧の入力電圧に対する直線性領域内では、従来の
１／２の磁束密度で概ね同等の出力電圧が得られる。ホ
ール素子をｎ個用いれば１／ｎ倍の磁束密度で同等の出
力電圧が得られることになる。従って本実施例の場合は
磁束密度検出装置の感度が従来の１個のホール素子の場
合より２倍になったと考えられる。
て２倍の出力電圧が得られるため、ホール素子の出力ホ
ール電圧の入力電圧に対する直線性領域内では、従来の
１／２の磁束密度で概ね同等の出力電圧が得られる。ホ
ール素子をｎ個用いれば１／ｎ倍の磁束密度で同等の出
力電圧が得られることになる。従って本実施例の場合は
磁束密度検出装置の感度が従来の１個のホール素子の場
合より２倍になったと考えられる。
【００１６】なお、前記２個のホール素子や駆動回路部
を１チップ化することにより、集積回路内で出力トラン
ジスタに比し、小さな面積で構成可能で、単独で構成す
るより特性のバラツキ，特性の劣化を抑制することがで
きる。
を１チップ化することにより、集積回路内で出力トラン
ジスタに比し、小さな面積で構成可能で、単独で構成す
るより特性のバラツキ，特性の劣化を抑制することがで
きる。
【００１７】
【発明の効果】本発明は上記説明したような構成になっ
ているので以下のような効果を奏する。
ているので以下のような効果を奏する。
【００１８】請求項１においては、従来検出できなかっ
た低い磁束密度まで検出され、従来感度不足で使用でき
なかった用途，取付個所，取付方法が制限されていたと
ころでも容易に利用できる。
た低い磁束密度まで検出され、従来感度不足で使用でき
なかった用途，取付個所，取付方法が制限されていたと
ころでも容易に利用できる。
【００１９】また請求項２においては、１チップ化する
ことにより装置を大きくすることなく構成することがで
きるとともに特性のバラツキ、特性の劣化を抑制するこ
とができ信頼性の高い検出装置を提供することができ
る。
ことにより装置を大きくすることなく構成することがで
きるとともに特性のバラツキ、特性の劣化を抑制するこ
とができ信頼性の高い検出装置を提供することができ
る。
【図１】本発明の磁束密度検出装置の一実施例の電気回
路図である。
路図である。
【図２】従来の磁束密度検出装置の電気回路図である。
【符号の説明】 ＨＤ２，ＨＤ３ ホール素子 ＤＡ１，ＤＡ２，ＤＡ３ 差動増幅器 ＣＰ２ コンパレータ Ｑ２ トランジスタ Ｉ11〜Ｉ22 ホール素子の入力端子 Ｏ11〜Ｏ22 ホール素子の出力端子
Claims (2)
- 【請求項１】 ホール素子を用い、該ホール素子の出力
ホール電圧より磁束密度を検出する磁束密度検出装置に
おいて、 前記ホール素子を複数個設け、それぞれのホール素子の
出力ホール電圧を重畳する差動増幅器を設けたことを特
徴とする磁束密度検出装置。 - 【請求項２】 前記ホール素子及び差動増幅器を１チッ
プ化したことを特徴とする請求項１記載の磁束密度検出
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05007113A JP3098879B2 (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 磁束密度検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05007113A JP3098879B2 (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 磁束密度検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06216432A true JPH06216432A (ja) | 1994-08-05 |
| JP3098879B2 JP3098879B2 (ja) | 2000-10-16 |
Family
ID=11657041
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05007113A Expired - Fee Related JP3098879B2 (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 磁束密度検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3098879B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11330249A (ja) * | 1998-04-30 | 1999-11-30 | Micronas Intermetall Gmbh | 集積回路をパラメ―タ化するための方法とそのための集積回路配置構成 |
| JP2001339109A (ja) * | 2000-05-26 | 2001-12-07 | Sanken Electric Co Ltd | ホ−ル素子を備えた電流検出装置 |
| JP2014163691A (ja) * | 2013-02-21 | 2014-09-08 | Seiko Instruments Inc | 磁気センサ装置 |
| JP2014163692A (ja) * | 2013-02-21 | 2014-09-08 | Seiko Instruments Inc | 磁気センサ装置 |
-
1993
- 1993-01-20 JP JP05007113A patent/JP3098879B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11330249A (ja) * | 1998-04-30 | 1999-11-30 | Micronas Intermetall Gmbh | 集積回路をパラメ―タ化するための方法とそのための集積回路配置構成 |
| JP2001339109A (ja) * | 2000-05-26 | 2001-12-07 | Sanken Electric Co Ltd | ホ−ル素子を備えた電流検出装置 |
| JP2014163691A (ja) * | 2013-02-21 | 2014-09-08 | Seiko Instruments Inc | 磁気センサ装置 |
| JP2014163692A (ja) * | 2013-02-21 | 2014-09-08 | Seiko Instruments Inc | 磁気センサ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3098879B2 (ja) | 2000-10-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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