JPH0620480A - 半導体メモリ装置 - Google Patents

半導体メモリ装置

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Publication number
JPH0620480A
JPH0620480A JP4196394A JP19639492A JPH0620480A JP H0620480 A JPH0620480 A JP H0620480A JP 4196394 A JP4196394 A JP 4196394A JP 19639492 A JP19639492 A JP 19639492A JP H0620480 A JPH0620480 A JP H0620480A
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JP
Japan
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read
data line
write
common data
write common
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Pending
Application number
JP4196394A
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English (en)
Inventor
Takashi Yamaguchi
孝志 山口
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0620480A publication Critical patent/JPH0620480A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明の目的は半導体メモリ装置中のリード
ライト共通データ線の信号伝達時間を短縮することであ
る。 【構成】 インバータ回路群I1,I2とトランスファ
ーゲートQ1,Q2で構成された増幅回路7がリードラ
イト共通データ線RWBに接続されている。この増幅回
路7はリードライト共通データ線RWBを読み出しまた
は書き込みデータに応じ、プルアップまたはプルダウン
し、信号の伝達時間を短縮する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体メモリ装置に関
し、特にリードライト共通データ線上のデータ伝達時間
の改善に関する。
【0002】
【従来の技術】まず、従来の半導体メモリ装置について
図面を用いて説明する。図3は従来の半導体メモリ装置
を表すブロック図である。
【0003】図3において、1はメモリセルアレイ、2
はロウデコーダ、3はカラムスイッチ、4はカラムデコ
ーダ、5はセンスアンプ回路、6は入力データドライバ
ー回路、8は出力データバッファ回路、9は入力データ
バッファ回路である。
【0004】次にWLはワード線、BL,BL*(*は
相補信号を表しており、オーバーバーに相当する。)は
ビット線、DB,DB*はデータバス線、Yjはカラム
スイッチ選択信号線、RWBはリードライト共通データ
線、DOUTは出力データ端子、DINは入力データ端
子である。
【0005】図3の読み出し動作について説明する。ま
ず、メモリセルアレイ1が選択されたとすると、ロウデ
コーダ2で選択された1本のワード線WLがハイレベル
になり、そのワード線WLに接続されたメモリセルの情
報がビット線BL,BL*に現れる。
【0006】次にカラムデコーダ4で選択された1本の
カラムスイッチ選択信号Yjがカラムスイッチ3を介し
て1組のビット線上の情報をデータバス線DB,DB*
に伝達する。データバス線DB,DB*の情報はセンス
アンプ回路5で増幅されて、リードライト共通データ線
RWBに伝えられる。
【0007】最後にリードライト共通データ線RWBの
情報は出力データバッファ回路8でさらに増幅され、メ
モリセルの読み出し情報が出力データ端子DOUTに出
力される。
【0008】次に従来例の書き込み動作について説明す
る。まず、外部より入力データ端子DINに与えられた
書き込みデータ信号は、入力データバッファ回路9で増
幅され、リードライト共通データ線RWBに伝えられ
る。リードライト共通データ線RWBの情報は入力デー
タドライバー回路6でさらに増幅され、データバス線D
B,DB*に伝えられる。
【0009】ところで、ロウデコーダ2はワード線WL
を1本選択しており、カラムデコーダ4およびカラムス
イッチ3が1組のビット線BL,BL*を選択している
から、データバス線DB,DB*上の情報、すなわち入
力データ端子に与えられた書き込みデータ信号がメモリ
セルに書き込まれる。
【0010】以上説明したように、従来の半導体メモリ
装置の読み出しおよび書き込み動作においては、必ずリ
ードライト共通データ線RWBを介して、データが伝達
される。このリードライト共通データ線RWBは半導体
メモリ装置内の長い配線であり、例えばチップの長辺が
10mmなら4〜6mmにもなる。その結果配線の寄生
容量や寄生抵抗が大きく、信号遅延が発生しやすい。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】この従来の半導体メモ
リ装置では、リードライト共通データ線RWBの配線の
寄生容量および寄生抵抗が大きいので、伝達信号の遅延
が大きくなり、データの読み出しおよび書き込みに要す
るアクセス時間が長いという問題点があった。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の要旨は、メモリ
セルアレイと、該メモリセルアレイに接続されたセンス
アンプと、メモリセルアレイに接続された書き込み回路
と、センスアンプと書き込み回路をデータ入出力手段に
接続するリードライト共通データ線とを備えた半導体メ
モリ装置において、制御クロック信号に応答して上記リ
ードライト共通データ線上のデータを増幅し、該増幅さ
れたデータをリードライト共通データ線に戻す増幅回路
を設けたことである。
【0013】
【発明の作用】センスアンプまたはデータ入出力手段か
らリードライト共通データ線上にデータが供給される
と、制御クロック信号が増幅回路を活性化し、リードラ
イト共通データ線をプルアップまたはプルダウンする。
【0014】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
【0015】図1は本発明の第1実施例の半導体メモリ
装置を示すブロック図である。
【0016】図1において、従来例と同一部分は同一符
号を付してその説明は省略する。
【0017】第1実施例と従来例との相違点は、リード
ライト共通データ線RWBに入力および出力を接続され
た増幅回路7を挿入した点である。増幅回路7におい
て、I1〜I3はインバータ回路、Q1はNチャンネル
型MOSFET、Q2はPチャンネル型MOSFET、
φは増幅回路7の制御クロック信号である。
【0018】次に第1実施例の動作について説明する。
読み出し動作および書き込み動作は、基本的に従来例に
関する説明と同様なので、相違点のみ説明する。
【0019】まず、読み出し動作時、センスアンプ回路
5の出力がリードライト共通データ線RWBに伝達され
た時、制御クロック信号φがロウレベルからハイレベル
になるようにタイミング設定すると、リードライト共通
データ線RWBを入力とするインバータI1,I2は該
リードライト共通データ線RWB上のデータを増幅し、
FETQ1,Q2を介してリードライト共通データ線R
WBをプルアップまたはプルダウンする。その結果、セ
ンスアンプ回路5からデータ出力バッファ回路8への伝
達時間を大幅に短縮できる。
【0020】次に書き込み動作時には、入力データバッ
ファ回路9の出力がリードライト共通データ線RWBに
伝達したときに、制御クロック信号φがロウレベルから
ハイレベルになるようにタイミング設定すると、リード
ライト共通データ線RWBを入力とするインバータI
1,I2はそのデータを増幅し、FETQ1,Q2を介
してリードライト共通データ線RWBをプルアップまた
はプルダウンし、データ入力バッファ回路9からデータ
入力ドライバー回路6への伝達時間を大幅に短縮する。
【0021】読み出し時および書き込み時共にリードラ
イト共通データ線RWBの伝達時間は、従来例の場合に
は5ns〜10ns程度であるが、本実施例によると、
これを約2ns〜5ns短縮することが可能である。
【0022】次に本発明の第2実施例について説明す
る。図2は本発明の第2実施例を示すブロック図であ
る。第2実施例と第1実施例の相違点は、増幅回路群7
中のインバータ数を2段から4段に増した点である。
【0023】本実施例では、インバータが4段に増えた
ので、リードライト共通データ線RWBの波形の立ち上
がり、立ち下がりが遅い場合でも波形整形が良好にでき
る利点がある。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、リードラ
イト共通データ線RWBに増幅回路を接続することによ
り、読み出し及び書き込み動作時にリードライト共通デ
ータ線RWBの伝達時間を大幅に短縮できるという効果
を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明は第1実施例を示すブロック図である。
【図2】本発明の第2実施例を示すブロック図である。
【図3】従来例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 メモリセルアレイ 2 ロウデコーダ 3 カラムスイッチ 4 カラムデコーダ 5 センスアンプ回路 6 DINドライバー回路 7 増幅回路 8 DOUTバッファ回路 9 DINバッファ回路 WL ワード線 BL,BL* ビット線 Yj カラムスイッチ選択信号 DB,DB* データバス線 RWB リードライト共通データ線 φ クロック信号 DOUT データアウト端子 DIN データイン端子 I1〜I5 インバータ Q1,Q2 MOSトランジスタ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 メモリセルアレイと、該メモリセルアレ
    イに接続されたセンスアンプと、メモリセルアレイに接
    続された書き込み回路と、センスアンプと書き込み回路
    をデータ入出力手段に接続するリードライト共通データ
    線とを備えた半導体メモリ装置において、制御クロック
    信号に応答して上記リードライト共通データ線上のデー
    タを増幅し、該増幅されたデータをリードライト共通デ
    ータ線に戻す増幅回路を設けたことを特徴とする半導体
    メモリ装置。
  2. 【請求項2】 上記増幅回路はリードライト共通データ
    線に入力ノードを接続されたインバータ回路群と、上記
    制御クロック信号に応答して上記インバータ回路群の出
    力ノードを上記リードライト共通データ線に接続するト
    ランスファーゲートとを有する請求項1記載の半導体メ
    モリ装置。
JP4196394A 1992-06-30 1992-06-30 半導体メモリ装置 Pending JPH0620480A (ja)

Priority Applications (1)

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JP4196394A JPH0620480A (ja) 1992-06-30 1992-06-30 半導体メモリ装置

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JP4196394A JPH0620480A (ja) 1992-06-30 1992-06-30 半導体メモリ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0620480A true JPH0620480A (ja) 1994-01-28

Family

ID=16357142

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4196394A Pending JPH0620480A (ja) 1992-06-30 1992-06-30 半導体メモリ装置

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JP (1) JPH0620480A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4974001A (en) * 1988-12-08 1990-11-27 Nikon Corporation Diaphragm device

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