JPH06201317A - レーザ干渉計のアライメント装置 - Google Patents

レーザ干渉計のアライメント装置

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JPH06201317A
JPH06201317A JP35852192A JP35852192A JPH06201317A JP H06201317 A JPH06201317 A JP H06201317A JP 35852192 A JP35852192 A JP 35852192A JP 35852192 A JP35852192 A JP 35852192A JP H06201317 A JPH06201317 A JP H06201317A
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Masami Yoneda
正美 米田
Shunichi Akaogi
俊一 赤荻
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 被検体と基準板との間のアライメントを容易
に行うことができるようにする。 【構成】 被検体5が装着されている可動台20に設け
たブラケット26に、第1の回動軸24と直交する位置
に設けられ、リング体23に軸回りに回動自在に係合し
ている第2の回動軸25と、第1の回動軸24及び第2
の回動軸の装着部とそれぞれ90°位相をずらせた位置
に一対の引っ張りばね28とからなる自在継手21によ
り、可動台20は水平状態に保持されており、その外周
側の一部に上下いずれかの方向に力を作用させることに
よって、任意の方向に傾けることができるようになって
いる。この可動台20に回転テーブル30に支承されて
いるローラ32を転動させ、またこの回転テーブル30
を昇降させることによって、被検体5が装着されている
可動台20を、その中心軸線はその軸回りには非回転状
態に保持して、任意の方向に、任意の角度傾動させるよ
うに構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、平行平面ガラス等の精
密光学製品の表面状態を検査するために用いられるレー
ザ干渉計において、被検体と、基準板との間でアライメ
ントを行うためのレーザ干渉計のアライメント装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】精密光学製品の表面状態を検査するため
に、レーザ干渉計が用いられるが、このレーザ干渉計
は、概略図1に示した構造となっている。図中におい
て、1はレーザ光源を示し、このレーザ光源1から出射
されるレーザ光は、発散レンズ2によって発散されて、
コリメータレンズ3を介することにより平行光となされ
る。コリメータレンズ3を通過したレーザ光は基準板4
に入射され、その基準面4aで一部が反射する。また、
基準板4を通過した光は被検体5に照射されて、その被
検面5aで一部反射する。コリメータレンズ3と発散レ
ンズ2との間にハーフミラー6を設けて、基準板4の基
準面4aからの反射光及び被検体5の被検面5aからの
反射光をこのハーフミラー6に反射させて、結像レンズ
7を介して干渉縞結像手段8に導き、この干渉縞結像手
段8において、両反射光による干渉縞を結像させるよう
にする。
【0003】ここで、被検体5は支持台9上に装着され
るが、この被検体5の被検面5aと基準板4の基準面4
aとが所定の位置関係になっていなければ、干渉縞撮像
手段8に干渉縞を結像させることができない。そこで、
被検体5と基準板4との間のアライメントを行うため
に、アライメント機構が設けられる。このアライメント
機構としては、第2のハーフミラー10と、集光レンズ
11及びアライメントスクリーン12で構成される。第
2のハーフミラー10は、発散レンズ2とハーフミラー
6との間の位置に配置されており、レーザ光源1からの
光は第2のハーフミラー10を通過するが、戻り光はこ
の第2のハーフミラー10に反射するようになってい
る。また、アライメントスクリーン12は集光レンズ1
1の焦点位置に配置されており、第2のハーフミラー1
0からの反射光はこのアライメントスクリーン12の所
定の位置に集光される。
【0004】そこで、ハーフミラー6を光路外に変位さ
せた状態で、レーザ光源1からレーザ光を出射させる
と、このレーザ光は基準板4の基準面4aで一部が反射
し、また被検体5の被検面5aでも一部が反射する。そ
して、これらの反射光は第2のハーフミラー10に反射
して、集光レンズ11で集光されて、アライメントスク
リーン12上に集光スポットが映し出される。ここで、
基準板4と被検体5との間の光路はコリメータレンズ3
によって平行光束化されているから、両反射光は共にア
ライメントスクリーン12を含む面に集光される。基準
板4はアライメントスクリーン12と一体的に組み付け
られており、このために基準板4からの反射光は、この
アライメントスクリーン12の所定の位置に集光され
る。従って、支持台9を適宜の方向及び角度に傾ける
と、被検体5の被検面5aからの反射光の集光点位置が
移動し、このスポットが基準板4からの集光点と重なり
合う位置となると、被検体5と基準板4との間のアライ
メントが行われたことになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述したア
ライメント操作は、被検体5からの集光点がアライメン
トスクリーン12上に映し出された状態となっておれ
ば、この集光点を基準板4の集光点と一致させるように
調整する操作は簡単に行うことができるが、被検体5か
らの集光点がアライメントスクリーン12の範囲外にあ
る状態では、支持台9をどの方向にどれだけ動かせば良
いかが判明しない。従って、手探りの状態で、支持台9
を様々な方向に動かさなければならず、この操作は極め
て面倒でもあり、また長い時間が必要となる等といった
問題点がある。
【0006】本発明は以上の点に鑑みてなされたもので
あって、その目的とするところは、被検体と基準板との
間のアライメントを容易に行うことができるようにする
ことにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明は、被検体が設置される可動台を、自在
継手を介して支持部材に非回転状態で、任意の方向に傾
動可能に連結すると共に、この可動台に上下動及び円運
動する傾動駆動手段を係合させて設ける構成としたこと
をその特徴とするものである。
【0008】
【作用】被検体と基準板との間のアライメントを行うに
当っては、被検体の中心軸線をあらゆる方向に任意の角
度傾ける必要がある。また、この中心軸線を傾ける際に
は、この中心軸線が回転しないように保持しなければな
らない。これらの要請を満足させ、しかもこのアライメ
ント操作を簡単な機構によって自動的に行うことができ
るようにするために、被検体を可動台上に設置して、こ
の可動台を自在継手によって中心軸線が回転しない状態
で、任意の方向に、また任意の角度傾動させることがで
きるようにしている。しかも、この可動台には傾動駆動
手段が係合している。傾動駆動手段を上下動させると、
可動台はその高さ位置に応じた角度だけ傾動する。ま
た、この傾動駆動手段を円運動させると、可動台の傾き
方向が変化する。
【0009】従って、被検体を可動台上に設置して、こ
の可動台を水平状態となるように傾動駆動手段の高さ位
置を調整する。この状態で、傾動駆動手段を回転させる
と共に上下方向に変位させる。これによって、可動台に
設置されている被検体の中心軸線は垂直方向から渦巻き
状の軌跡を通るように傾動変位する。この動作の途中の
位置でアライメントスクリーンに被検体からの反射光の
集光点が映し出されるようになる。この集光点がアライ
メントスクリーンに映し出されると、その位置で傾動駆
動手段を停止させ、可動台の位置を微調整して、アライ
メントスクリーン上の被検体の反射光の集光点を基準板
からの反射光の集光点位置と一致するように変位させる
ことによって、被検体の中心軸線が基準板の中心軸線と
一致する状態となる。
【0010】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例を説明
する。なお、レーザ干渉計の光学システム自体は前述し
た従来技術のものと同じであるので、光学システムを構
成する各部材については、図1に示したものと同一の符
号を用いるようになし、その説明は省略し、図2乃至図
4に被検体5を基準板4に対してアライメントする際
に、この被検体5を変位させる機構のみを示す。
【0011】而して、図2に示したように、被検体5が
設置される部材として可動台20を用いる。この可動台
20は任意の方向に、任意の角度傾けることができるよ
うになっている。このために、可動台20は、図3及び
図4に示したように、自在継手21を介して支持ポスト
22に支承する構成となっている。自在継手21はリン
グ体23と、相互に直交する2組の回動軸24,25か
ら構成される。これら回動軸24,25はそれぞれ1対
設けられており、第1の回動軸24は、リング体23の
内面側から内方に突出する状態に取り付けられ、その先
端部は球面となって支持ポスト22に形成した凹球面形
状となった受け部22aに係合させて、その軸回りに回
動自在となっている。これによって、リング体23はこ
の第1の回動軸24を中心として傾動可能となってい
る。一方、第2の回動軸25は可動台20の下面に設け
たブラケット26に固着して設けられており、第1の回
動軸24と直交する位置において、内方に向けて延在さ
れている。そして、この回動軸25の先端部も球面形状
となって、リング体23の外面に設けた凹球面形状の受
け部23aに、軸回りに回動自在に係合しており、これ
により可動台20はリング体23に対してこの第2の回
動軸25を中心として傾動可能となっている。従って、
可動台20は支持ポスト22に対して、任意の方向に、
任意の角度傾動させることができることになる。
【0012】可動台20の下方位置にはばね受け台27
が設けられており、このばね受け台27とリング体23
との間には、第1の回動軸24の装着部と90°位相を
ずらせた位置に一対の引っ張りばね28が張設され、ま
た可動台20とばね受け台27との間にも、第2の回動
軸25と90°位相をずらせた位置に一対の引っ張りば
ね29が張設されている。従って、可動台20に荷重が
作用しない状態では、この2組の引っ張りばね28,2
9の作用によって、可動台20は水平状態に保持されて
おり、その外周側の一部に上下いずれかの方向に力を作
用させることによって、自在に傾けることができるよう
になっている。
【0013】可動台20を傾動させるために、ばね受け
台27の下方位置には回転テーブル30が支持ポスト2
2に挿嵌されている。そして、この回転テーブル30上
にはアーム31が立設されており、アーム31の先端に
はローラ32が、可動台20の外周側の位置における下
面に当接する状態に装着されている。回転テーブル30
の下部にはリングギヤ33が連設されており、このリン
グギヤ33は、回転テーブル30の下方位置において、
支持ポスト22に沿って昇降可能に設けた昇降プレート
34に装着したモータ35に連結した駆動ギヤ36と噛
合しており、モータ35を作動させると、回転テーブル
30が回転してローラ32が可動台20の下面に沿って
転動することになる。
【0014】昇降プレート34はリニアアクチュエータ
37により昇降駆動されるようになっており、これと共
に回転テーブル30も昇降せしめられて、ローラ32の
高さ位置を変化させるようになっている。このために、
昇降プレート34には、その内周側に連結用リング部3
8が連設されており、この連結用リング部38が支持ポ
スト22に挿通されており、また回転テーブル30はこ
の連結用リング部38に軸受39を介して回転自在に連
結され、これによって昇降プレート34を上下動させた
時には、回転テーブル30も連動して上下動するように
なっている。ただし、昇降プレート34は回転テーブル
30の回転時にも非回転状態に保持されるようになって
おり、この昇降プレート34の回転を規制し、かつ上下
方向にガイドするために、ガイドロッド40が支持ポス
ト22を取り付けたベースプレート41から立設されて
おり、このガイドロッド40が昇降プレート34に挿通
されている。
【0015】本実施例は以上のように構成されるもので
あって、可動台20上に被検体5を設置して、レーザ干
渉計に装着した基準板4に所定の間隔を置いて対面させ
た状態で、レーザ光源1からレーザ光を出射させて、こ
のレーザ光の一部を基準板4の基準面4aに反射させ、
また基準板4を通過する光の一部を被検体5の被検面5
aで反射させて、この両反射光の間で生じる干渉縞を干
渉縞撮像手段8に結像させることによって、被検体5の
被検面5aの表面の仕上げ精度等の検査を行うことがで
きる。
【0016】可動台20に設置される被検体5の検査を
正確に行うには、この被検体5の中心軸線と基準板4の
中心軸線とが正確に一致していなければならない。この
ために、両中心軸線の位置合わせ、即ちアライメントを
行う必要がある。このアライメントを行うに当っては、
まずハーフミラー6を光路外に変位させた状態でレーザ
光源1からレーザ光を出射させる。これによって、一部
が基準板4の基準面4aに反射し、また基準板4を通過
する光の一部が反射する。この反射光は第2のハーフミ
ラー10に反射して、集光レンズ11を介してアライメ
ントスクリーン12に映し出される。ここで、基準板4
からの反射光はアライメントスクリーン12上の所定の
位置に映し出される。ただし、被検体5は可動台20上
に設置されており、この可動台20はレーザ干渉計とは
別個に設けられているから、被検体5からの反射光の光
路は必ずしも基準板4からの反射光の光路とは一致して
いるとは限らない。そこで、両反射光のスポットを一致
させるように可動台20の位置調整を行うが、この位置
調整は両反射スポットがアライメントスクリーン12上
に映し出されておれば、格別困難なく行うことができ
る。しかしながら、アライメントスクリーン12上に被
検体5から反射スポットが映し出されていない場合に
は、どの方向にどれだけ位置ずれしているかが判明しな
い。
【0017】そこで、モータ35を作動させて、回転テ
ーブル30を回転させることによって、ローラ32を可
動台20の下面に沿って転動させ、またリニアアクチュ
エータ37を作動させて、昇降プレート34と共に回転
テーブル30を上昇させる。これによって、自在継手2
1に連結されている可動台20が傾動することになり、
しかもこの傾動方向がローラ32の転動と共に360°
変化する。この結果、図5乃至図8に示したように、可
動台20上に設置されている被検体5の中心軸線Aが鉛
直状態から渦巻き状に旋回する軌跡を描くように傾動変
位し、その旋回半径は回転テーブル30の上昇と共に大
きくなっていく。ただし、この中心軸線Aはその軸回り
には非回転状態に保持される。そして、可動台20をあ
る程度傾動させると、やがてはアライメントスクリーン
12上にスポットが映し出される。その位置でモータ3
5及びリニアアクチュエータ37を停止させる。このよ
うに、アライメントスクリーン12上に両方の集光スポ
ットが現れると、どの方向にどれだけ動かせば、2つの
スポットが一致するかを判断できるようになり、例えば
可動台20に、またベースプレート41に微調整機構を
設けておく等によって、被検体5の中心軸線を基準板4
の中心軸線と一致するように調整できる。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、被検体
が設置される可動台を自在継手を介して支持部材に非回
転状態で任意の方向に傾動可能に連結すると共に、この
可動台に上下動及び円運動する傾動駆動手段を係合させ
て設ける構成としたので、被検体と基準板との中心軸線
が大きくずれていたとしても、傾動駆動手段によって、
被検体の中心軸線をその軸回りに非回転状態に保持した
状態で、渦巻き状に旋回する軌跡で移動させることがで
きるので、極めて容易に、しかも速やかに被検体の中心
軸線が基準板の中心軸線と一致する状態となるようにア
ライメントを行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】レーザ干渉計を用いた被検体の検査装置の光学
システムを示す概略説明図である。
【図2】本発明の一実施例を示すアライメント装置の構
成説明図である。
【図3】自在継手の構成説明図である。
【図4】一部を省略して示す図2のX−X断面図であ
る。
【図5】被検体の傾動状態を示す説明図である。
【図6】被検体の別の傾動状態を示す説明図である。
【図7】被検体のさらに別の傾動状態を示す説明図であ
る。
【図8】被検体のもう一つの傾動状態を示す説明図であ
る。
【符号の説明】
1 レーザ光源 4 基準板 5 被検体 10 第2のハーフミラー 11 集光レンズ 12 アライメントスクリーン 20 可動台 21 自在継手 22 支持ポスト 23 リング体 24 第1の回動軸 25 第2の回動軸 27 ばね受け台 28,29 引っ張りばね 30 回転テーブル 32 ローラ 34 昇降プレート 35 モータ 37 リニアアクチュエータ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光源からの光をコリメータレンズ
    によって平行光とした上で、基準板に一部を反射させ、
    この基準板の透過光を被検体に照射して、その反射光と
    基準板からの反射光との間で生じる干渉縞に基づいて被
    検体の表面状態の検査を行うレーザ干渉計であって、レ
    ーザ光源からコリメータレンズに至る光路にハーフミラ
    ーを介装して、このハーフミラーからの反射光をアライ
    メントスクリーンに投影させて、前記基準板と被検体と
    の間のアライメントを行うものにおいて、前記被検体が
    設置される可動台を、自在継手を介して支持部材に非回
    転状態で任意の方向に傾動可能に連結すると共に、この
    可動台に上下動及び円運動する傾動駆動手段を係合させ
    て設ける構成としたことを特徴とするレーザ干渉計のア
    ライメント装置。
  2. 【請求項2】 前記自在継手は、前記支持部材にリング
    体を囲繞させて、その間を軸回りに回動自在な一対から
    なる第1の回動軸を介して連結し、またリング体と可動
    台との間に前記第1の回動軸と直交する方向に設けら
    れ、軸回りに回動自在な一対からなる第2の回動軸を介
    して連結することにより形成され、またリング体の第1
    の回動軸と直交する位置と、可動台の第2の回動軸と直
    交する位置とにそれぞれバランス用のばねを装着する構
    成としたことを特徴とする請求項1記載のレーザ干渉計
    のアライメント装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100434866B1 (ko) * 2001-11-28 2004-06-07 (주) 인텍플러스 피조 간섭계용 위상천이 구동장치
KR100745395B1 (ko) * 2006-02-10 2007-08-02 삼성전자주식회사 분광 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 분광 검사 장치

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KR100434866B1 (ko) * 2001-11-28 2004-06-07 (주) 인텍플러스 피조 간섭계용 위상천이 구동장치
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