JPH06201065A - 温度調整回路付き薬液弁 - Google Patents

温度調整回路付き薬液弁

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JPH06201065A
JPH06201065A JP35977892A JP35977892A JPH06201065A JP H06201065 A JPH06201065 A JP H06201065A JP 35977892 A JP35977892 A JP 35977892A JP 35977892 A JP35977892 A JP 35977892A JP H06201065 A JPH06201065 A JP H06201065A
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達美 菅沼
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 薬液弁のボディに耐腐食性樹脂を使用した場
合でも、内部を流れる薬液の温度変化を小さくすること
が可能な薬液弁を供給することを目的とする。 【構成】 温度調整回路付き薬液弁11は、薬液Fが流
入される入力ポート18と、薬液Fが流出する出力ポー
ト19と流体通路29とを形成するボディ41が樹脂で
成形されると共に、ボディ41が流体通路の近傍に温度
調整用の流体が流れる温度調整回路17を有している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造装置等に使
用される薬液等の流れを制御するための薬液弁に関し、
さらに詳細には、薬液を一定温度に保って供給可能な温
度調整回路付き薬液弁に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、半導体の製造工程等におい
て、腐食性の薬液等を搬送を制御するために薬液弁が使
用されている。この場合、薬液による腐食を防止するた
め、薬液が接触する薬液弁のボディをSUSで製作して
いる。ここで、薬液は、半導体製造工程のリソグラフィ
工程等で使用され、ウエハ上の物質と化学反応さるた
め、温度を一定に保つ必要があった。近年、半導体の高
集積化に伴い、薬液の温度調整も従来より高い精度、例
えば、30度の設定温度に対してプラスマイナス0.1
度が要求されるようになっている。
【0003】そして、薬液は、薬液弁の前後の薬液管部
において温度調整が行われていたが、薬液弁部で停止さ
れていた薬液の温度低下を防止するため、薬液弁におけ
る薬液の保温が問題となった。
【0004】このため、図5に示すように薬液弁のボデ
ィ1の周囲に中空状の金属製ブロック3を密着して取り
付け、ブロックの中空部6に温水管4により温調水Wを
流すことで、薬液弁のボディ全体を温め、薬液Fの温度
を一定に保つことが行われている。ここで、薬液Fは、
薬液流入管5により薬液弁のボディ1に形成された入力
ポートに流入され、薬液出力管7により薬液弁のボディ
1に形成された出力ポートから流出される。
【0005】ブロック3を構成する鉄および薬液弁のボ
ディ1を構成するSUSの熱伝導率は高いので、中空部
6の温調水Wの熱が迅速にボディ1を温め、薬液Fを一
定の温度に保温することができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年、
腐食性薬液の種類が多様化したこと、および半導体の高
集積化に伴うリソグラフィ工程等の高精度化の要求のた
め、薬液弁のボディにSUSを使用した場合に発生す
る、ボディ切削加工時に付着するダストやパーティクル
による薬液の汚染が問題となった。このため、耐腐食性
樹脂、例えば、PFAにより一体成形されたボディが使
用されるようになっている。
【0007】薬液弁のボディ1に樹脂を使用する場合で
も、従来と同様にボディ1の外側にブロック3を密着さ
せて、中空部6に流す温調水Wにより薬液Fを温めるこ
とが行われていた。しかし、SUSと比べて樹脂の熱伝
導率はきわめて低いため、薬液をプラスマイナス0.1
度の精度で温度制御することが難しかった。特に、薬液
弁が薬液の流れを長時間遮断した直後においては、薬液
の温度の低下が大きく、半導体製造工程に悪影響を与
え、半導体製品の歩留まりを悪くしていた。
【0008】本発明は、上述した問題点を解決するため
になされたものであり、薬液弁のボディに耐腐食性樹脂
を使用した場合でも、内部を流れる薬液の温度変化を小
さくすることが可能な薬液弁を供給することを目的とす
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明の温度調整回路付き薬液弁は、流体が流入さ
れる入力ポートと、流体が流出する出力ポートと、入力
ポートから出力ポートとを連通させる流体通路と、流体
通路上にあって作動気体の圧力で駆動されるダイヤフラ
ムにより開閉されて、入力ポートと出力ポートの連通を
切り換える弁体とを有する薬液弁であって、入力ポート
と出力ポートと流体通路とを形成するボディが樹脂で成
形されると共に、ボディが流体通路の近傍に温度調整用
の流体が流れる温度調整回路を有している。
【0010】
【作用】上記の構成よりなる本発明の温度調整回路付き
薬液弁のボディに形成される入力ポートから流入された
薬液等の流体は、流体通路を経て出力ポートから流出さ
れる。また、入力ポートから出力ポートとを連通させる
流体通路と、流体通路上にあって作動気体の圧力で駆動
されるダイヤフラムにより開閉される弁体は、入力ポー
トと出力ポートの連通を切り換える。入力ポートと出力
ポートと流体通路とが樹脂で一体成形されてなるボディ
の温度調整回路には、温調水が流れ入力ポート、流体通
路、および出力ポートを流れる流体を一定の温度に保温
している。
【0011】
【実施例】以下、本発明を具体化した一実施例である温
度調整回路付き薬液弁について図面を参照しながら説明
する。図1に本発明の一実施例である温度調整回路付き
薬液弁11の形状的構成を断面図で示す。
【0012】薬液弁11は、上半分の弁体駆動部40と
下半分のボディである弁本体41とより構成されてい
る。弁体駆動部40の中心には、弁体20を固定して保
持するピストンロッド32が上下に摺動可能に付設され
ている。ピストンロッド32の上面には、復帰バネ26
がピストンロッド32を下向きに付勢するように取り付
けられている。復帰バネ26が取り付けられている空間
は密閉されシリンダ上室36を形成している。シリンダ
上室36には、圧縮空気用の上ポート25が付設されて
いる。
【0013】シリンダの下側にシリンダ下室35が形成
されている。シリンダ下室35には、圧縮空気用の下ポ
ート34が付設されている。弁体20の周囲には、ダイ
ヤフラム21が取り付けられており、薬液Fが漏れるの
を防止している。弁体20は、ピストンロッド32が下
側にあるとき、弁座22に当接している。
【0014】次に、温度調整回路付き薬液弁11の右側
に付設されている液垂れ防止弁12について説明する。
液垂れ防止弁12は、薬液Fの流れを薬液弁11が遮断
したときに、半導体製造工程でウエハ上に薬液が垂れる
のを防止するため、薬液を少し吸引し薬液Fが供給ノズ
ル先端から少し後退される機能を果たす弁である。液垂
れ防止弁12のボディは薬液弁11のボディと一体とな
り、弁本体41を形成している。
【0015】液垂れ防止弁12には、弁体23を固定し
て保持するピストンロッド37が上下に摺動可能に付設
されている。ピストンロッド37の下面には、復帰バネ
28がピストンロッド37を上向きに付勢するように取
り付けられている。復帰バネ28が取り付けられている
空間は密閉されシリンダ下室39を形成している。シリ
ンダ下室39には、圧縮空気用の下ポート38が付設さ
れている。
【0016】シリンダの上側にシリンダ上室33が形成
されている。シリンダ上室33には、圧縮空気用の上ポ
ート30が付設されている。弁体23の周囲には、ダイ
ヤフラム24が取り付けられており、薬液Fが漏れるの
を防止している。
【0017】次に、薬液弁11のボディである弁本体4
1について説明する。本実施例では、薬液弁11のボデ
ィである弁本体41が液垂れ防止弁12のボディと一体
的に形成されている。弁本体41には、入力ポート1
8、流体通路29および出力ポート19が成形され、ま
た両ポートを連通させる弁座22が設けられている。
【0018】次に、弁本体41内を流れる薬液Fの温度
を一定に保つための温度調整回路17について説明す
る。弁本体41の下部には、温度調整回路17を形成す
るための温調ブロック13,14が付設されている。弁
本体41は、樹脂の一体成形で製作されており、薬液が
流れる入力ポート18、流体通路29および出力ポート
19の近傍には、温調水Wが流れる温度調整回路17
a,17b,17cが形成されている。また、図2のA
A断面図および図3のBB断面図に示すように、弁座2
2の近傍にも、温度調整回路17d,17e,17f,
17gが形成されている。
【0019】温度調整回路17には、温調水入力ポート
15および温調水出力ポート16が連通している。これ
らの温度調整回路17は、内部に温調水Wを流すことに
より、薬液Fを温めるためのものであると共に、弁本体
41を樹脂成形するときに樹脂の使用量を減らしてコス
トダウンする効果を果たしている。
【0020】次に、上記構成を有する温度調整回路17
の作用を説明する。温調水入力ポート15からは、薬液
Fを30度より若干オフセットした温度に迅速かつ高速
に達するために、温調水を供給している。温度調整回路
17は、薬液Fの通路である入力ポート18、流体通路
29、出力ポート19の近傍に位置しており、温調水が
弁本体41の樹脂壁を介して薬液Fを温める。
【0021】薬液Fの温度は、図示しない温度計により
測定され、フィードバック回路により温調水の温度を調
整することにより薬液Fの温度を30度に保つことが行
われている。本実施例の温度調整回路17によれば、温
度調整回路17が薬液Fの通路である入力ポート18、
流体通路29、出力ポート19の近傍に位置しているの
で、薬液Fの温度制御を迅速に行うことができるため、
薬液Fの温度調整を精確に行うことができる。
【0022】図4を用いて、本実施例の温度調整回路の
効果を実験値により説明する。実験値は、薬液弁の弁本
体41の内部に30度の薬液Fを残留させた状態で、種
々の条件により、時間の経過とともに薬液Fの温度がど
の様に低下するかを測定したものである。この様な実験
を行ったのは、半導体工程において薬液Fの温度低下が
大きく問題となるのは、薬液Fの供給を長時間停止して
いた場合だからである。
【0023】本実施例のPFA樹脂のボディを用いた温
度調整回路付きの薬液弁の結果をAに示す。従来技術で
説明したようにSUSのボディを用いて図5に示す温度
調整回路を使用した場合の結果をBに示す。また、SU
Sのボディを用いて温度調整回路を使用しなかった場合
の結果をCに示す。PFA樹脂のボディを用いて温度調
整回路を使用しなかった場合の結果をDに示す。
【0024】実験結果が示すように、本実施例の温度調
整回路付きの薬液弁によれば、薬液F使用を5分以上停
止していても、薬液Fの温度を常に30度プラスマイナ
ス0.1度の範囲に維持することができる。また、本実
施例の薬液弁では、弁本体41に樹脂の一体成形品を使
用しているので、SUSの削り出しのボディと比べて、
不純物やパーティカルの発生が少なく、半導体工程に悪
影響を与えることがなく、半導体製品の歩留まりを高く
することができる。
【0025】次に、上記構成を有する薬液弁の動作につ
いて説明する。図1は、薬液弁11のシリンダ上室36
に圧縮空気が流入している状態を示している。ピストン
ロッド32は、復帰バネ26による下向きの付勢力を加
えて下向きに付勢され、弁体20が弁座22に当接して
いる。これにより、入力ポート18と出力ポート19と
は連通していない。
【0026】一方、半導体の製造工程に薬液Fを供給す
る場合は、シリンダ上室36への空気が遮断され、シリ
ンダ下室35へ圧縮空気が流入される。圧縮空気がピス
トンロッド32を上向きに押す力は、復帰バネ26のば
ね力よりも強いので、ピストンロッド32は、上側に移
動する。これにより、弁体20が弁座22から離れ、入
力ポート18と出力ポート19とが連通する。
【0027】次に、半導体の製造工程への薬液Fの供給
を遮断する場合は、シリンダ下室35への空気が遮断さ
れ、シリンダ上室36へ圧縮空気が流入される。そし
て、ピストンロッド32は下側に移動する。これによ
り、弁体20が弁座22と当接し、入力ポート18と出
力ポート19とが遮断される。
【0028】薬液Fが遮断されたとき、半導体製造工程
に薬液Fを供給しているノズルの先端部に薬液Fが液滴
状で残る場合が多い。これを放置しておくと、薬液Fが
供給されてはいけない時に、薬液Fの液滴が落下してし
まう恐れがある。本実施例では、その恐れを防止するた
めに、薬液弁11により薬液Fが遮断されたときに、液
垂れ防止弁のシリンダ下室39に圧縮空気を流入して弁
体23およびダイヤフラム24を上向きに移動させ、薬
液Fがノズルの内部に吸引されるようにしている。
【0029】これにより、不必要なときに、薬液Fのノ
ズルから薬液Fが落下するのを防止することができる。
【0030】上記に説明してきたように、本発明の温度
調整回路付き薬液弁によれば、薬液Fの所定の温度に精
度良く維持することができる。また、所定の温度に迅速
に薬液の温度を調整することができる。また、SUSの
削り出しのボディと比べて、不純物やパーティカルの発
生が少ない。
【0031】本実施例では、薬液弁について説明してき
たが、本発明の実施は、薬液だけでなく、薬ガス等の全
ての流体の弁に使用することができる。また、リソグラ
フィ工程のみでなく、ウエット工程にも使用できる。ま
た、結露を防止するための手段として利用することも可
能である。
【0032】
【発明の効果】以上説明したことから明かなように、本
発明の温度調整回路付き薬液弁によれば、入力ポートと
出力ポートと流体通路とを形成するボディが樹脂で成形
されると共に、ボディが流体通路の近傍に温度調整用の
流体が流れる温度調整回路を有しているので、薬液Fの
所定の温度に精度良く維持することができると共に、S
USの削り出しのボディと比べて、不純物やパーティカ
ルの発生が少ないため、半導体工程に悪影響を与えるこ
とがなく、半導体製品の歩留まりを高くすることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である薬液弁の構成を示す断
面図である。
【図2】図1に示す薬液弁のAA断面を示す断面図であ
る。
【図3】図1に示す薬液弁のBB断面を示す断面図であ
る。
【図4】薬液弁内に残留した薬液の温度低下を示すデー
タ図である。
【図5】従来の薬液弁の温度調整回路の構成を示す斜視
図である。
【符号の説明】
11 薬液弁 12 液垂れ防止弁 13 温調ブロック 14 温調ブロック 15 温調水入力ポート 16 温調水出力ポート 17 温度調整回路 18 入力ポート 19 出力ポート 20 弁体 21 ダイヤフラム 22 弁座 26 復帰バネ 29 流体通路 32 ピストンロッド 35 シリンダ下室 36 シリンダ上室 40 弁体駆動部 41 弁本体

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 流体が流入される入力ポートと、流体が
    流出する出力ポートと、入力ポートから出力ポートとを
    連通させる流体通路と、流体通路上にあって作動気体の
    圧力で駆動されるダイヤフラムにより開閉されて、該入
    力ポートと該出力ポートの連通を切り換える弁体とを有
    する薬液弁において、 前記入力ポートと前記出力ポートと前記流体通路とを形
    成するボディが樹脂で成形されると共に、 前記ボディが前記流体通路の近傍に温度調整用の流体が
    流れる温度調整回路を有することを特徴とする温度調整
    回路付き薬液弁。
JP35977892A 1992-12-28 1992-12-28 温度調整回路付き薬液弁 Expired - Lifetime JP2698741B2 (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5837970A (en) * 1995-04-20 1998-11-17 Jilek; Gerard T. Method and apparatus for controlled delivery of heat energy into a mechanical device
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