JP2004078348A - 流体の混合による温度制御方法 - Google Patents

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Kimihito Sasao
笹尾 起美仁
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Abstract

【課題】昇温、温度制御のために循環流路を用いることができない単槽式洗浄装置及び枚葉スピン式洗浄装置等に対処するために、予め所定温度に維持された流体を混合することにより、所望の温度へ移行させる温度制御を行い、瞬時かつ連続的に洗浄装置へ供給するための流体の混合による温度制御方法を提供する。
【解決手段】それぞれ所定温度に維持された複数の流体f1,f2を各供給元11,21からそれぞれの流路上の差圧補償型定流量弁12,22の差圧を制御(絞り部13,23における開度を制御)することにより、所望の流体混合比率を満たすように所定流量を供給し、前記複数の流体f1,f2を、それぞれの差圧補償型定流量弁の二次側18,28より流体混合配管39に合流させることにより、所定温度に制御された混合流体を得る。
【選択図】    図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、予め所定温度に維持された流体を混合し、所望とする温度の混合流体を得る温度制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
MPU、メモリー等の半導体デバイスの最小加工寸法や配線間距離は、高集積化に伴い微細化の一途を辿り、従来では問題とならなかった微細なパーティクルや金属不純物等のウエハー表面上の汚染が、製品の歩留まりに大きな影響を与えるようになった。現在、半導体デバイスのウエハー表面上の洗浄には、ウエット洗浄が用いられ、とりわけ、ウエット洗浄時の洗浄精度の精密化が急務である。
【0003】
特に半導体ウエハー、液晶基板の洗浄において、より高い洗浄効果を得るために、常温より高い温度に調整された洗浄液が使用される。洗浄液中の薬液の濃度と温度は高精度で制御する必要があるため、従来、図9に示す浸漬式洗浄装置9において、洗浄槽91に水と薬液を注入後、水と薬液の混合洗浄液dを洗浄槽91に接続したポンプ92、フィルター93、ヒーター94、測温機器95からなる循環流路96を循環させることにより、混合洗浄液dの昇温、温度制御を行うものであった。
【0004】
そのため、異なる薬液、液温に調整した前記の洗浄槽を複数個用意し、ある薬液を含む洗浄槽、純水の洗浄槽、別の薬液を含む洗浄槽、純水の洗浄槽といった具合に複数の洗浄槽の間を順番にウエハーが移動する多槽式洗浄装置が用いられてきた。多槽式洗浄装置では、循環を繰り返すうちに洗浄液の薬液成分(特にアンモニア、過酸化水素)が気化し、洗浄液の薬液の濃度が変化すること、洗浄液が設定温度に達するまで洗浄対象を浸漬することができないこと、ある洗浄槽から次の洗浄槽に移動する際に洗浄対象を外気と接触すること、繰り返し薬液や純水を使用するため、洗浄対象にパーティクルの付着等の汚染が生じること等の問題が存在する。また、図9に示す浸漬式洗浄装置において、純水供給元98wと洗浄槽91を接続する配管96w、開閉バルブ97wにおいて、前記開閉バルブ97wの閉状態にあっては、配管96w内に残留する水が汚染され、雑菌が繁殖する等の汚染原因となっていた。図中、符号96sは薬液供給元98sと洗浄槽91を接続する配管、97sは薬液用の開閉バルブである。
【0005】
これらの要因に対し、単一の洗浄槽において、純水、薬液を含む洗浄液、純水と洗浄槽内の液質を逐一交換することにより、ウエハーの洗浄効果を高めた単槽式洗浄装置が主流になってきた。さらに、単槽式洗浄装置においてもウエハーの浸漬中に脱離した汚染物質が純水や洗浄液を通して該ウエハーに再付着する問題点が指摘されるようになったため、ウエハー1枚毎に、洗浄液、純水をスプレー状にして直接噴霧する枚葉スピン式洗浄装置が増加しつつある。
【0006】
しかるに、前記単槽式洗浄装置及び枚葉スピン式洗浄装置にあっては、混合洗浄液の昇温、温度制御に当たり前出の循環流路を用いることは流路構成上問題があり、瞬時かつ連続的に所望の液温に調整された洗浄液(純水)を供給する温度制御方法が切望されるに至っている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
この発明は、上記の問題に対処するため提案されたものであって、予め所定温度に維持された流体を混合することにより、所望の温度へ移行させる温度制御を行い、瞬時かつ連続的に洗浄装置へ供給するための流体の混合による温度制御方法を提供するものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
すなわち、請求項1の発明は、所定温度に維持された複数の流体を各供給元からそれぞれの差圧補償型定流量弁を介して所定流量を供給し、前記複数の流体をそれぞれの定流量弁の二次側にて合流混合することによって所定温度の混合流体を得ることを特徴とする流体の混合による温度制御方法に係る。
【0009】
また、請求項2の発明は、請求項1において、前記それぞれの定流量弁の一次側又は二次側流路内における各流体の温度を検知し、各流体の混合比率を算出して、前記それぞれの定流量弁を調節制御することを特徴とする流体の混合による温度制御方法に係る。
【0010】
さらに、請求項3の発明は、請求項1において、前記混合流体の温度及び流量を検知し、前記それぞれの定流量弁に対して、温度による調節制御と流量による調節制御とを個別かつ独立して行うことを特徴とする流体の混合による温度制御方法に係る。
【0011】
請求項4の発明は、請求項1において、制御初期は請求項2の制御を行い、その後は請求項3の制御を行うことを特徴とする流体の混合による温度制御方法に係る。
【0012】
請求項5の発明は、請求項1ないし4のいずれか1項において、前記複数の流体の混合停止時に、各流体を少量ずつ流通し、温度測定を継続することを特徴とする流体の混合による温度制御方法に係る。
【0013】
請求項6の発明は、請求項1ないし5のいずれか1項において、前記混合流体の流路に、他の流体が合流混合される流体の混合による温度制御方法に係る。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下添付の図面に従ってこの発明を詳細に説明する。
図1は本発明に係る洗浄装置の第一概略模式図、図2は図1に示す差圧補償型定流量弁の縦断面図、図3は洗浄装置の第二概略模式図、図4は洗浄装置の第三概略模式図、図5はフィードバック制御における流体の温度変化と混合比率を表すグラフ、図6はフィードフォワード制御とフィードバック制御を行った場合の混合流体の温度変化と混合比率を表すグラフ、図7は図1に示す定流量弁の縦断面図、図8は図7に示す定流量弁の他の実施例の縦断面図である。
【0015】
請求項1に規定する流体の混合による温度制御方法を図1に示す概略模式図を用い説明する。図1に示す洗浄装置1は、半導体ウエハーの製造において、ウエハーの洗浄に用いる洗浄液の供給、温度制御を行う装置を概略的に図示したものである。前記洗浄装置1は、洗浄槽40内に満たされた洗浄液にウエハーを浸漬する単槽式洗浄装置、もしくは洗浄液をスプレー状に噴霧する枚葉スピン式洗浄装置を表すものである。
【0016】
洗浄装置1には、予め一定温度に維持された流体を供給する供給ラインが複数設置されている。実施例においては、所望の混合流体の流体温度に対し、高温度側に設定された高温側流体供給ライン10と低温度側に設定された低温側流体供給ライン20の2ラインが接続されている。前記高温側流体供給ライン10において、高温側の所定温度に維持された高温流体供給装置(供給元)11から供給される高温度側流体f1は、差圧補償型定流量弁12内を通過し、温度センサー14、流量センサー15、定流量弁16を経由し、流体混合配管39に接続される。同様に低温側流体供給ライン20においても、低温側の所定温度に維持された低温流体供給装置(供給元)21から供給される低温度側流体f2は、差圧補償型定流量弁22内を通過し、温度センサー24、流量センサー25、定流量弁26を経由し、同流体混合配管39に接続される。図1等に表す実施例において、各流体が差圧補償型定流量弁12,22内を通過する際に生じる熱量損失を鑑み、温度センサー14,24は当該差圧補償型定流量弁の二次側(流出側)に配置するものである。
【0017】
このように、前記差圧補償型定流量弁の二次側より流出する各流体は、流体混合配管39に接続と同時に混合され所望の温度の混合流体となり、洗浄槽40内に導かれる。図1において、符号17,27は差圧補償型定流量弁の一次側流路、18,28は差圧補償型定流量弁の二次側流路、36は合流混合装置、37,38は流体注入装置、42はドレイン流路、43はバイパス流路である。
【0018】
前記の差圧補償型定流量弁12,22及び絞り部13,23の構造は高温度側,低温度側とも同一の構造であるため、高温側流体供給ライン10に配置される差圧補償型定流量弁12、絞り部13を用いてその構造を詳述する。図2に表す差圧補償型定流量弁12は、一次側と二次側の流体の圧力差により被制御流体(高温度側流体f1)の流出量を所定の流量に制御するものである。この差圧補償型定流量弁12は、バルブボディ110と、前記バルブボディ110に形成された弁作動チャンバ120と、接続流路150と、前記弁作動チャンバ120に装置された弁機構体130と、前記接続流路150に設けられた可変オリフィス等からなる絞り部13より構成される。
【0019】
バルブボディ110は、フッ素樹脂等の耐食性及び耐薬品性の高い樹脂から形成され、内部に弁作動チャンバ120が形成されている。弁作動チャンバ120は、高温度側流体f1の一次側流体の流入口111と、弁座115と、接続流路150への流出口112、接続流路150からの流入口113及び二次側流体の流出口114が形成されている。
【0020】
一次側流体の流入口111及び二次側流体の流出口114は、被制御流体を流入し流出させるための流路接続口であり、これらの流入口111及び流出口114に対しては適宜の配管が接続される。また、接続流路150への流出口112及び該接続流路150からの流入口113は、一次側流体と二次側流体との差圧を調節する絞り部13を備える接続流路150への接続口である。弁座115は、弁作動チャンバ120の内部に突出して形成され、次述する弁機構体130が装置される。
【0021】
前記弁作動チャンバ120内部に装置される弁機構体130は、バルブボディ110と同様に、この例ではフッ素樹脂等の耐食性及び耐薬品性の高い樹脂から形成され、弁部131と、該弁部131と一体に変動する第1ダイヤフラム部141ならびに第2ダイヤフラム部142ならびに第3ダイヤフラム部143を備えている。
【0022】
弁機構体130に設けられた第1ダイヤフラム部141、第2ダイヤフラム部142、第3ダイヤフラム部143は、それぞれ、可動部である薄肉の膜部からなるダイヤフラム面144,145,146と、その外縁側の外周シール部147,148,149とからなる。これらの第1,第2,第3ダイヤフラム部141,142,143は、その外周シール部147,148,149を前記バルブボディ110内部に挟着されて固定される。この例のバルブボディ110は、前記ダイヤフラム部141,142,143の外周シール部を簡単に挟着固定するために、第1バルブボディ部110a,第2バルブボディ部110b,第3バルブボディ部110c,第4バルブボディ部110dとに分割されて構成されている。
【0023】
第1ダイヤフラム部141と第3ダイヤフラム部143の各外周シール部147,149は、その外側に緩衝材であるゴムクッションGを装着してバルブボディ110に挟着固定され、第2ダイヤフラム部142の外周シール部148については、図示のように、外周シール部48を外側に開口する断面略コ字状に形成し、内側の流体と接する部分を肉厚としてその内部にクッション材DGが圧入される。
【0024】
図2から理解されるようにように弁作動チャンバ120は、第1,第2,第3ダイヤフラム部141,142,143により、空気圧チャンバ121、第1チャンバ122、第2チャンバ123、第3チャンバ124にそれぞれ区画される。また、第3ダイヤフラム部143の他面側143bには加圧チャンバ125が区画され、前記弁機構体130を所定圧力で押圧する加圧手段172が設けられている。この加圧手段172は加圧空気あるいはばね等からなり、バルブボディ110の外部から調節可能に構成されることが好ましい。
【0025】
実施例では、加圧手段172は加圧空気であり、かつ加圧チャンバ125内には補助加圧手段としてばね体176が装置されている。図2において、符号119bは加圧空気の流入口、51は電空変換器であり後述のPLC(プログラマブルロジックコンピューター)50より送信される電気信号をエア圧力に変換し制御するものである。ばね体(コイルスプリング)176はその上部のバルブボディ110に螺着された押圧部材177の進退によって該ばね体176の加圧力が調整されるようになっている。前記ばね体176は加圧手段172である加圧空気の加圧力を補助する。符号174はエア源、178はロックネジである。
【0026】
請求項2に規定する流体の混合による温度制御方法を図3に示す概略模式図を用い説明する。請求項2に規定する温度制御方法は、各流体の温度(検出値)に基づいたフィードフォワード制御により、各流体の混合比率が決定される。すなわち、前記差圧補償型定流量弁12,22の二次側流路18,28において、当該二次側流路中に設置される温度センサー14,24、流量センサー15,25のうち、温度センサー14,24のみからの検出値に基づき、混合後の流体の温度が設定温度になるように、PLC50において最適な流体同士の混合比率が算出される。次に電空変換器51,52を介し、差圧補償型定流量弁12,22に流量を変化させる信号(エア圧力)が送られ、当該弁内の差圧の制御により流量は変化し、新たな混合比率に設定し直された流体が供給される。このような制御を行うためには算術演算を行う必要があり、図示はしないがPLC内には該算術演算を行う中央演算処理装置(CPU)が設けられている。
【0027】
以下にフィードフォワード制御の具体例を示す。
流体の混合の前後において、下記のとおり規定される。
:高温度側流体の流量[g・min−1
:低温度側流体の流量[g・min−1
q:混合流体の流量[g・min−1
:高温度側流体の比熱[cal・g−1・K]
:低温度側流体の比熱[cal・g−1・K]
c:混合流体の比熱[cal・g−1・K]
:高温度側流体の温度[K]
:低温度側流体の温度[K]
t:混合流体の温度[K]
:高温度側流体の単位時間当たりに通過する熱量[cal・min−1
:低温度側流体の単位時間当たりに通過する熱量[cal・min−1
Q:混合流体の単位時間当たりに通過する熱量[cal・min−1
【0028】
この結果、(1)ないし(5)に示す関係式が得られる。
+q=q …(1)
+Q=Q …(2)
=q・c・t …(3)
=q・c・t …(4)
Q=q・c・t …(5)
(2),(3),(4)より、
Q=q・c・t+q・c・t …(6)
(5),(6)より、
q・c・t=q・c・t+q・c・t …(7)
【0029】
前記(1)と(7)からなる連立方程式より、解(q,q)が求められ、流体同士の混合比率が得られる。
【0030】
上記の関係式に具体値を代入し、q:高温度側流体の流量[g・min−1]とq:低温度側流体の流量[g・min−1]を求める。
q:混合流体の流量を10000(g・min−1
t:混合流体の温度を311K(38℃)
:高温度側流体の温度を353K(80℃)
:低温度側流体の温度を293K(20℃)
c,c,cの比熱は水のため全て1(cal・g−1・K)とする。
結果、q=3000(g・min−1),q=7000(g・min−1)になり、双方ともに3:7の混合比率とする流量制御が行われる。
【0031】
次に混合流体の総流量を10000(g・min−1)のまま変化させず、混合流体の温度tを前記311K(38℃)から341K(68℃)に変更する場合、q=8000(g・min−1),q=2000(g・min−1)となり、高温度側流体:低温度側流体=4:1の混合比率とする流量制御が実行される。
【0032】
前記のフィードフォワード制御は、混合流体の温度を新たに変更する場合、現状の混合流体の温度との乖離量(熱量)が認識された時点で上記の比較的単純なモデルを用いて演算し、その結果を実行する。このため混合流体の温度変更の指示から、実際の変更に要する時間は短縮されるきわめて応答性の速い制御である。また、フィードフォワード制御では、過去に実行されたり、頻繁に行われる混合流体の温度昇降の命令は、当該命令とともに温度昇降データ及び流量調整データとしてPLC50内のメモリー(図示せず)に蓄積される。ゆえに、過去に実行された混合流体の温度昇降の命令と同一の命令がある場合、当該蓄積データとの照会により、流量制御が行われる。
【0033】
請求項3に規定する流体の混合による温度制御方法を図4に示す概略模式図を用い説明する。請求項3に規定する温度制御方法は、混合流体の温度及び流量に基づくフィードバック制御により、各被制御流体間に成立する混合比率を制御するものである。すなわち、前記各定流量弁12,22の二次側流路18,28より送通された各流体は、流体混合配管39に接続と同時に混合される。前記流体混合配管39内には、混合流体温度センサー34及び混合流体流量センサー35が設置され、前記センサー34,35による検出値は、PLC50に送信される。PLC50において、前記の検出値を所定の設定値と同一化するため、すなわち、混合流体の温度及び流量の検出値に生じる変動(定常偏差)を平坦化しようとして、逐次差圧補償型定流量弁12,22に対し、流量を変化させる信号(エア圧力)を送り、弁内の差圧の調節により流量を変化させ、目的とする設定温度の混合流体を供給するものである。
【0034】
図4に表す洗浄装置1において行われるフィードバック制御の制御すべき変数は、混合流体の温度と流量の2つである。通常、図4に示す構成のように各流体の流量を制御することにより混合流体の温度を制御する制御方法は、互いに干渉しあう流量・温度の変数を同時に制御する多変数制御と呼ばれる。多変数制御において、緩慢な制御が許される場合であれば温度を制御し、その後流量を制御する方法が一般的である。しかし、多変数制御を用いつつ応答性を高めようとすると相互干渉によりハンチングを起こしてしまう。このようなハンチングを防ぐためには、非干渉制御である1入力1出力の制御が適している。すなわち、請求項3に規定するとおり、混合流体温度センサー34の検出値に基づく温度による調節制御と混合流体流量センサー35の検出値に基づく流量による調節制御が両者の間で独立して行われるようにPLC50から命令が送信され、差圧補償型定流量弁12,22に作用し差圧の制御より流量を適宜変更するものである。
【0035】
請求項3に規定した本発明の非干渉制御によるフィードバック制御について図5を用い説明する。例えば、混合流体の温度をT1からT2に上昇させようとする場合、混合流体温度センサー34の検出値に従い、PLC50にて混合流体の現状温度T1と変更後温度T2間の温度差より低温度側の差圧補償型定流量弁22に対し、差圧変更の信号(エア圧力)が送られ、時点tより低温度側流体f2の流量p2を速やかに減少させる。同時に混合流体流量センサー35の検出値に従い、PLC50にて混合流体の流量を昇温前と同一にするように高温度側の差圧補償型定流量弁12に対し、フィードバック制御に基づく差圧変更の信号(エア圧力)が送られ、高温度側流体f1の流量p1を速やかに増加させる。この結果、時点tにおいて、高温度側流体f1の流量p’1、低温度側流体f2の流量p’2に流量制御が完了し、目標とする設定温度T2に昇温される。
【0036】
すなわち、混合流体の温度を昇温する場合、混合流体温度センサー34の検出値から、差圧補償型定流量弁22を制御し、混合流体流量センサー35の検出値から、差圧補償型定流量弁12を制御する1入力1出力の制御が行われるものである。図中の斜線部分の高さは、当該時点における混合流体の総流量である。なお、図示はしないが混合流体の温度を降温する場合も同様に、混合流体温度センサー34の検出値から、差圧補償型定流量弁22を制御し、混合流体流量センサー35の検出値から、差圧補償型定流量弁12を制御し流量をほぼ変化させずに降温を行う。
【0037】
請求項4に規定する流体の混合による温度制御方法を図6に示すグラフを用い説明する。図6に示すグラフは、混合流体の温度をT1からT2に昇温させ、温度をT2に安定化させようとする場合の各流体の時間経過と流量の変化を表すものである。すなわち、混合流体の温度制御初期(時点taからtcまで)においては、前述した請求項2に規定するフィードフォワード制御(FF)により、瞬時に流量比率が変更される。その後(時点tc以降)、請求項3に規定するフィードバック制御(FB)により設定温度に安定化するように流量制御が行われる。
【0038】
具体的に述べると、混合流体の温度がT1の時、高温度側流体f1の流量r1と低温度側流体f2の流量r2は、r1<r2である。混合流体の温度をT2に昇温する場合、まず、前出のPLC50において、前述のフィードフォワード制御(FF)に基づく流量変更の信号が、差圧補償型定流量弁12,22のそれぞれに対し送信(エア圧力による圧送)され、時点taにおいて、即座に前記差圧補償型定流量弁の差圧が変更され、高温度側流体f1の流量r’1と低温度側流体f2の流量r’2は、r’1>r’2に流量が変化する。混合流体は温度上昇し始め、設定温度T2に対し低温度側から接近する温度に達する。その後所定時間経過もしくは所定流量送通により温度の安定し始める時点tcを迎える。
【0039】
時点tcからは、混合流体温度センサー34、混合流体流量センサー35の検出値に基づき、前述のフィードバック制御(FB)により、差圧補償型定流量弁12,22の差圧が適宜変更され、高温度側流体f1の流量r”1と低温度側流体f2の流量r”2に流量が変化する。このようにして最終的に時点tdにおいて、混合流体の温度がT2に平坦化するように制御される。なお、図中の斜線部分の高さは、当該時点における混合流体の総流量である。
【0040】
請求項5に規定する温度制御方法について図1及び図7,図8を用いて説明する。前記洗浄装置1を構成する高温度側流体供給ライン10及び低温度側流体供給ライン20の二次側の流量センサー15,25の下流には図7及び図8に示す定流量弁16,26が設置され、流体混合配管39への各流体の混合供給停止時に各流体を少量ずつ流通するものである。図7に示す定流量弁26は、バイパス流路230(図1のバイパス流路43に相当)と定圧流量制御弁240を備え、バイパス流路230は、フッ素樹脂等の耐蝕性及び耐薬品性の高い樹脂からなるボディ本体211内部に形成される。バイパス流路の流入部231と流出部232との間に挟まれた前記主流路220内には弁部221が設けられている。また、バイパス流路230は、定流量弁26内の主流路220に低温度側流体f2の流入部231と流出部232を有し、前記流出部232には適宜の口径を有するオリフィスOが取り付けられている。
【0041】
図中の符号222はダイヤフラム部、223は弁部221と一体に形成されたピストン、224はピストン223が嵌挿されるシリンダ部、225はピストン223を調圧するばね体、Pは前記ピストン223と前記シリンダ部224内壁との間の空間への加圧空気の供給及び前記空間からの加圧空気の排出を行う加圧空気の流出入口、P1は前記ダイヤフラム部222の後側(外側)空間の空気を定流量弁26外部へ出し入れするための呼吸孔である。前記加圧空気の流出入口Pに対し、図示はしない加圧空気供給手段より所定圧力で加圧空気が供給され弁体221の昇降を制御(流体の送通及び送通停止)する。
【0042】
バイパス流路弁240は、ボディ本体211と同様にフッ素樹脂等の耐蝕性及び耐薬品性の高い樹脂により形成され、弁軸241とバイパス流路230に設けられた流入部側バイパス弁室234の弁座233を開閉する弁部242と前記流入部231側に配された第1ダイヤフラム部243と前記流出部232側に配された第2ダイヤフラム部244とを有する弁機構体を含んでいる。なお、図中の符号247は、後述する駆動機構262を構成するばね体と当接するばね受け部である。また、前記第1ダイヤフラム部243と駆動機構252との間には、ばね受け部材253が装着されている。
【0043】
前記第1ダイヤフラム部243は、前記弁部242の流入部231側に弁軸241と一体に形成され、バイパス流路230の流入部231側に装着されている。前記第2ダイヤフラム部244は、前記弁軸241の一端側(流出部232側)のばね受け部247と一体に形成され、バイパス流路230の流出部232側に装着されている。
【0044】
前記第1、第2ダイヤフラム部243,244のそれぞれを流入部側バイパス弁室234,流出部側バイパス弁室235側へ付勢する駆動機構252,262として、この実施例では、それぞればね体が配設され、シリンダ部261に加圧力調整部材270が螺合されるように設けられている。前記加圧力調整部材270は、駆動機構262としてのばね体に対し、適宜移動調整可能とされ、作業者が回動等の操作する操作部271と、その反対側の端部に前記ばね体(駆動機構262)のばね受け部分272と、長さ方向に螺合されて加圧力調整部材270を固定するロックナット273が設けられている。
【0045】
前記流体混合配管39への流体の供給を停止する場合、定流量弁26の弁部221が主流路弁座226に着座し、低温度側流体f2の主流路流入部227から主流路流出部228への送通が停止する。このとき主流路220に設けられたバイパス流路230の流入部231から流出部232方向に低温度側流体f2は連続して供給され、送通停止時においても常時少量の低温度側流体f2が主流路流出部228に流入し続ける。そのため、流体が滞留や逆流することがなくなり、流体の汚染リスクは減少する。さらに混合流体が送通している場合と比較しても流体混合配管39内の温度変化を抑制し、継続して温度測定を可能にするものである。
【0046】
図8に示す定流量弁16においては、図7の定流量弁と異なり、バイパス流路の流出部332は主流路流出部228に接続されず、定流量弁16の外部に導かれ、図1に示すドレイン流路42に接続される場合を示すものである。すなわち、定流量弁16で前記流体混合配管39へ流体の供給を停止する場合、定流量弁16の弁部221が主流路弁座226に着座し、高温度側流体f1の主流路流入部227から主流路流出部228への送通が停止する。このとき、高温度側流体f1は主流路220に設けられたバイパス流路330の流入部331から流出部332方向に連続して供給され、同時に定流量弁16の外部のドレイン流路42を経由し廃棄される。
【0047】
高温度側流体f1を流体混合配管39へ図7の定流量弁26を用いて供給すると、高温度側流体f1が流入し続けるため、混合流体送通停止時の流体混合配管39内の温度が上昇しがちになる。この点について、図8の定流量弁16を用いると混合流体送通停止時に高温度側流体f1は、滞留や逆流することなく、また流体混合配管39に合流することなく外部に排出される。なお、この図8について、前述の図7と同一部材については同一符号を付し、その説明は省略する。
【0048】
請求項6に記載の温度制御方法は、前述の混合流体にさらに薬液等の他の流体を添加混合するものである。図1に示すとおり、洗浄槽40に接続する流体混合配管39には、高温,低温度側流体f1,f2と異なる他の流体を合流混合するための合流混合装置36が取り付けられている。前記合流混合装置36には、流体注入装置37,38が接続され、ウエハーの洗浄の際に用いるアンモニア水、過酸化水素水、オゾン水、水素水、酸素水、界面活性剤等の薬液、オゾン、水素、酸素等のガスが前記流体注入装置から合流混合装置に供給される。なお、合流混合装置36では、設定温度に制御された混合流体の温度に影響を与えない範囲内で前出の薬液が添加混合される。
【0049】
なお、本発明は、上記実施例に限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲において構成の一部を適宜に変更して実施することができる。例えば、実施例においては、高温度側、低温度側の2種類の流体を用いたが、3種類以上の温度域の流体としても良い。また、各温度側流体供給ライン上の差圧補償型定流量弁の二次側に配置した温度センサーを該差圧補償型定流量弁の一次側に配置することも可能である。さらに、実施例では、図中のPLC50から送られる命令は、電空変換器51,52を介して差圧補償型定流量弁に流量変化の信号(エア圧力)として送られ、弁内の差圧を制御することにより流量を変化させるものについて例示するが、前記絞り部13,23に対しても同様の信号(エア圧力)を送り、絞り部の開度を制御することにより流量を変化させるようにすることも可能である。
【0050】
【発明の効果】
以上図示し説明したように、請求項1の発明によると、予め所定温度に維持された複数の流体は、定流量弁の二次側から供給され、流体混合配管に合流と同時に混合されるため、正確に温度制御された混合流体の供給に要する時間を短縮することができる。とりわけ、従来技術として図示したように洗浄槽に接続する循環流路、温度調整用のポンプ、ヒーター等を省略することができるため、単槽式洗浄装置及び枚葉スピン式洗浄装置等の瞬時かつ連続的に温度制御された流体を供給しなければならない洗浄装置に適する。さらに、循環流路がないため、液だまりや接触する部品数も減り清浄度が高まる。
【0051】
また、請求項2の発明によると、定流量弁の二次側に設置した温度センサーの検出値より、混合流量比率を算出しフィードフォワード制御を用いて、各流体の流量を制御するため、きわめて応答性の高い制御が可能となる。
【0052】
さらに、請求項3の発明によると、各流体が混合された後の温度及び流量の検出値に基づき、特に1入力1出力制御によるフィードバック制御を行うため、非干渉制御が可能となり、ハンチングを防ぎながら所定温度まで速やかに移行することができる。
【0053】
請求項4の発明によると、各流体を混合する制御初期において、請求項2に掲げるフィードフォワード制御を行い、その後に請求項3に掲げるフィードバック制御を行うため、フィードフォワード制御の特質であるオフセット(制御誤差)をフィードバック制御により制御することができる。従って、設定温度の変更に伴う差圧補償型定流量弁の差圧調節あるいは絞り部の開度調節から実際の温度変更に要する時間を短縮し、混合流体の設定温度を正確に維持することができる。
【0054】
請求項5の発明によると、複数の流体の混合が停止中においても、各流体は、定流量弁内のバイパス流路を経由することにより、少量ながら混合流体の流路内に流入し続けることができる。また、バイパス流路を経由して流体をドレイン流路への排出することができる。このため、流体の温度に応じ、混合流体の流路への流通あるいはドレイン流路への流通の選択が可能となり、配管(混合流体の流路)内の温度変化を抑制することができる。さらに、各流体は流路内に滞留しなくなり、雑菌の発生や不純物の混入等の汚染原因が解消される。
【0055】
請求項6の発明によると、すでに混合流体の流路において所定温度に調整された混合流体に薬液等の他の流体が混合されるため、洗浄槽に調温済みの薬液混合流体を速やかに供給することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る洗浄装置の第一概略模式図である。
【図2】図1に示す差圧補償型定流量弁の縦断面図である。
【図3】洗浄装置の第二概略模式図である。
【図4】洗浄装置の第三概略模式図である。
【図5】フィードバック制御における流体の温度変化と混合比率を表すグラフである。
【図6】フィードフォワード制御とフィードバック制御を行った場合の混合流体の温度変化と混合比率を表すグラフである。
【図7】図1に示す定流量弁の縦断面図である。
【図8】図7に示す定流量弁の他の実施例の縦断面図である。
【図9】従来の洗浄装置の概略模式図である。
【符号の説明】
1 洗浄装置
11 高温流体供給装置
21 低温流体供給装置
12,22 差圧補償型定流量弁
13,23 絞り部
14,24 温度センサー
15,25 流量センサー
16,26 定流量弁
34 混合流体温度センサー
35 混合流体流量センサー
36 合流混合装置
40 洗浄槽
50 PLC(プログラマブルロジックコントローラー)
230,330 バイパス流路
f1 高温度側流体
f2 低温度側流体

Claims (6)

  1. 所定温度に維持された複数の流体を各供給元からそれぞれの差圧補償型定流量弁を介して所定流量を供給し、前記複数の流体をそれぞれの定流量弁の二次側にて合流混合することによって所定温度の混合流体を得ることを特徴とする流体の混合による温度制御方法。
  2. 請求項1において、前記それぞれの定流量弁の一次側又は二次側流路内における各流体の温度を検知し、各流体の混合比率を算出して、前記それぞれの定流量弁を調節制御することを特徴とする流体の混合による温度制御方法。
  3. 請求項1において、前記混合流体の温度及び流量を検知し、前記それぞれの定流量弁に対して、温度による調節制御と流量による調節制御とを個別かつ独立して行うことを特徴とする流体の混合による温度制御方法。
  4. 請求項1において、制御初期は請求項2の制御を行い、その後は請求項3の制御を行うことを特徴とする流体の混合による温度制御方法。
  5. 請求項1ないし4のいずれか1項において、前記複数の流体の混合停止時に、各流体を少量ずつ流通し、温度測定を継続することを特徴とする流体の混合による温度制御方法。
  6. 請求項1ないし5のいずれか1項において、前記混合流体の流路に、他の流体が合流混合される流体の混合による温度制御方法。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006313882A (ja) * 2005-03-30 2006-11-16 Supercritical Systems Inc プロセスチャンバの等温制御
KR100798813B1 (ko) * 2006-07-25 2008-01-28 삼성전자주식회사 정전척 어셈블리 및 정전척 온도 제어방법
JP2010019560A (ja) * 2008-07-08 2010-01-28 Advance Denki Kogyo Kk 非接触式温度検出装置
JP2011211092A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および処理液温度測定方法
JP2013232649A (ja) * 2012-04-30 2013-11-14 Semes Co Ltd 基板処理装置及びその処理流体供給方法
JP2015524723A (ja) * 2012-08-13 2015-08-27 ザイラテルム・ゲーエムベーハー 薬液の温度を調節する方法及び装置
JP2015167161A (ja) * 2014-03-03 2015-09-24 東京エレクトロン株式会社 液処理装置、液処理方法及び記憶媒体
JP2016108732A (ja) * 2014-12-02 2016-06-20 日本海上工事株式会社 アスファルトマスチックの打設方法
JP2016189434A (ja) * 2015-03-30 2016-11-04 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006313882A (ja) * 2005-03-30 2006-11-16 Supercritical Systems Inc プロセスチャンバの等温制御
KR100798813B1 (ko) * 2006-07-25 2008-01-28 삼성전자주식회사 정전척 어셈블리 및 정전척 온도 제어방법
JP2010019560A (ja) * 2008-07-08 2010-01-28 Advance Denki Kogyo Kk 非接触式温度検出装置
JP2011211092A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および処理液温度測定方法
JP2013232649A (ja) * 2012-04-30 2013-11-14 Semes Co Ltd 基板処理装置及びその処理流体供給方法
JP2015524723A (ja) * 2012-08-13 2015-08-27 ザイラテルム・ゲーエムベーハー 薬液の温度を調節する方法及び装置
JP2015167161A (ja) * 2014-03-03 2015-09-24 東京エレクトロン株式会社 液処理装置、液処理方法及び記憶媒体
JP2016108732A (ja) * 2014-12-02 2016-06-20 日本海上工事株式会社 アスファルトマスチックの打設方法
JP2016189434A (ja) * 2015-03-30 2016-11-04 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置

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