JPH06196671A - Master slice ic - Google Patents

Master slice ic

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JPH06196671A
JPH06196671A JP4357931A JP35793192A JPH06196671A JP H06196671 A JPH06196671 A JP H06196671A JP 4357931 A JP4357931 A JP 4357931A JP 35793192 A JP35793192 A JP 35793192A JP H06196671 A JPH06196671 A JP H06196671A
Authority
JP
Japan
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differential input
section
input stage
transistor
master slice
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4357931A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsuo Tatsuta
哲男 多津田
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH06196671A publication Critical patent/JPH06196671A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/10Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
    • H01L27/118Masterslice integrated circuits
    • H01L27/11803Masterslice integrated circuits using field effect technology
    • H01L27/11807CMOS gate arrays

Abstract

PURPOSE:To provide a master slice IC capable of preventing the deterioration of circuit characteristics due to the dispersion of device characteristics at a differential input stage by a MOS transistor. CONSTITUTION:A first PMOS transistor MP1 is formed by a drain section 2, a common source section 3 and a gate section, and a fourth PMOS transistor MP4 is shaped by a common source section 3, a drain section 4 and a gate section 1. A third PMOS transistor MP3 is formed by a drain section 5, a common source section 6 and a gate section 1, and a second PMOS transistor MP2 is formed by a common source section 6, a drain section 7 and a gate section 1. When differential input stages by the PMOS transistors are constituted, the differential input stages are formed by executing cross wirings.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、マスタースライスI
Cに関し、特に差動入力段に使用する複数のMOSトラ
ンジスタを備えたアナログ回路用マスタースライスIC
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a master slice I
Concerning C, in particular, a master slice IC for analog circuits having a plurality of MOS transistors used in a differential input stage
Regarding

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、アナログ回路用ブロックを備えた
マスタースライスICは、標準化されたトランジスタ素
子,コンデンサ素子,抵抗素子から構成されたアナログ
回路用ブロックを、チップ上に規則的に配列したマスタ
ーチップで構成され、種々の回路設計に応じて設計され
た配線形成用マスクを用いて、多品種のICを形成する
ことが広く行われている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a master slice IC provided with an analog circuit block is a master chip in which analog circuit blocks composed of standardized transistor elements, capacitor elements and resistance elements are regularly arranged on a chip. It has been widely practiced to form a wide variety of ICs by using a wiring forming mask configured in accordance with various circuit designs.

【0003】図5は、従来のマスタースライスICのア
ナログ回路用ブロックを示した概略平面図である。通
常、ブロックを表すブロック枠106 の内部には、バイポ
ーラトランジスタ101 ,MOSトランジスタ102 ,コン
デンサ103 ,そして複数の抵抗104 からなる抵抗素子ア
レー105 が設けられている。この単位ブロックを、1個
あるいは複数個使用し、内部配線を設計しておくことに
より、種々の機能をもつ回路ブロックが形成できる。こ
れらは、更にマクロブロックとして定義され、より高度
な回路ブロックを実現する時のブロック群の1つとして
も使用されようになっている。
FIG. 5 is a schematic plan view showing an analog circuit block of a conventional master slice IC. Usually, a resistor element array 105 including a bipolar transistor 101, a MOS transistor 102, a capacitor 103, and a plurality of resistors 104 is provided inside a block frame 106 representing a block. By using one or a plurality of the unit blocks and designing the internal wiring, circuit blocks having various functions can be formed. These are further defined as macroblocks, and are also used as one of a group of blocks when realizing more advanced circuit blocks.

【0004】図6は、従来のアナログ回路用ブロック内
に配列されたMOSトランジスタアレーの概略平面図で
ある。図6において、111 はN型層からなるPMOSバ
ックゲート、112 はゲート部、113 はPMOSソース部
(P+ アクティブ層)、114はPMOSドレイン部(P
+ アクティブ層)で、これらで構成されるPMOSトラ
ンジスタを複数個配列して、PMOSトランジスタアレ
ー115 を形成する。また121 はNMOSソース部(N+
アクティブ層)、122 はNMOSドレイン部(N+ アク
ティブ層)で、これらとゲート部112 とで構成されるN
MOSトランジスタを複数個配列して、NMOSトラン
ジスタアレー125 を形成する。そして、このように形成
されたPMOSトランジスタアレー115 とNMOSトラ
ンジスタアレー125 からなるMOSトランジスタアレー
に、種々の回路配線を施すことにより、インバータ回路
や、双方向性スイッチ回路などを実現することができる
ようになっている。
FIG. 6 is a schematic plan view of a MOS transistor array arranged in a conventional analog circuit block. In FIG. 6, 111 is an N-type PMOS back gate, 112 is a gate portion, 113 is a PMOS source portion (P + active layer), 114 is a PMOS drain portion (P
In the active layer), a plurality of PMOS transistors composed of these are arranged to form a PMOS transistor array 115. 121 is an NMOS source part (N +
Active layers), 122 are NMOS drain parts (N + active layers), and N composed of these and the gate part 112.
A plurality of MOS transistors are arranged to form an NMOS transistor array 125. Then, by providing various circuit wirings to the MOS transistor array composed of the PMOS transistor array 115 and the NMOS transistor array 125 thus formed, it is possible to realize an inverter circuit, a bidirectional switch circuit, or the like. It has become.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、図6に示し
たような配列を施したMOSトランジスタアレーを用い
て、高入力インピーダンスのPMOSトランジスタによ
る差動入力段を構成する際、図6のMOSトランジスタ
アレーを概略的に示した図7における2つのPMOSト
ランジスタMP1,MP2を用いて、図8に示すように
配線を施して構成する。
By the way, when a differential input stage using PMOS transistors having high input impedance is formed by using the MOS transistor array having the arrangement shown in FIG. 6, the MOS transistors shown in FIG. The two PMOS transistors MP1 and MP2 in FIG. 7, which schematically show the array, are used to form the wiring as shown in FIG.

【0006】その場合、多数のPMOSトランジスタM
P1,MP2,・・・ を規則正しく配置したPMOSトラ
ンジスタアレーは、配線領域を確保するために、ある程
度、各PMOSトランジスタの素子間隔を広くとってあ
る。したがって、パターン上では同一形状のPMOSト
ランジスタでも、素子と素子が離れれば離れるほど、プ
ロセスによる単体の素子特性のばらつきが大きくなる。
すなわち、エッチング量や不純物注入量が素子によって
微妙に違ってくるため、特性のばらつきが生じる。その
ため、図8に示したようなPMOSトランジスタによる
差動入力段では、その特性ばらつきにより、入力オフセ
ット電圧が増大する。
In that case, a large number of PMOS transistors M
In the PMOS transistor array in which P1, MP2, ... Are regularly arranged, the element intervals of the PMOS transistors are widened to some extent in order to secure a wiring region. Therefore, even if the PMOS transistors have the same shape on the pattern, the more the elements are separated from each other, the greater the variation in the element characteristics of the single element due to the process.
That is, since the etching amount and the impurity implantation amount are slightly different depending on the element, variations in characteristics occur. Therefore, in the differential input stage using PMOS transistors as shown in FIG. 8, the input offset voltage increases due to the characteristic variation.

【0007】また、差動入力段の相互コンダクタンス
(gm)を向上させるため、図7に示した4つのPMO
SトランジスタMP1〜MP4を用いて、図9に示すよ
うな差動入力段を構成した場合には、素子の特性ばらつ
きによる回路特性の低下は著しく増加する。
In order to improve the transconductance (gm) of the differential input stage, four PMOs shown in FIG. 7 are used.
When the differential input stage as shown in FIG. 9 is configured using the S transistors MP1 to MP4, the deterioration of the circuit characteristics due to the variation of the characteristics of the elements is significantly increased.

【0008】同様に、図7に示した2つのNMOSトラ
ンジスタNM1,NM2を用いて、図10に示す差動入力
段を構成する場合、更には図7に示した4つのNMOS
トランジスタNM1〜NM4を用いて、図11に示す差動
入力段を構成した場合も、素子の特性ばらつきによる回
路特性の低下を阻止できない。
Similarly, when the two NMOS transistors NM1 and NM2 shown in FIG. 7 are used to form the differential input stage shown in FIG. 10, four NMOS transistors shown in FIG.
Even when the differential input stage shown in FIG. 11 is configured by using the transistors NM1 to NM4, it is not possible to prevent the deterioration of the circuit characteristic due to the characteristic variation of the elements.

【0009】本発明は、従来のマスタースライスICに
おける上記問題点を解消するためになされたもので、M
OSトランジスタによる差動入力段部における素子特性
の比精度を低下させないようにして回路特性の低下を阻
止するようにしたマスタースライスICを提供すること
を目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems in the conventional master slice IC.
An object of the present invention is to provide a master slice IC in which the ratio precision of the element characteristics in the differential input stage section by the OS transistor is not deteriorated and the deterioration of the circuit characteristics is prevented.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段及び作用】上記問題点を解
決するため、本発明は、半導体基板上に少なくともトラ
ンジスタ素子を1個以上含む複数個のアナログ回路用ブ
ロックを規則的に配列したマスタースライスICにおい
て、前記アナログ回路用ブロック内に、差動入力段に使
用する、ソース部を共通にした2つのMOSトランジス
タからなる1組のMOSトランジスタを1組以上規則的
に配列して構成するものである。
In order to solve the above problems, the present invention provides a master slice in which a plurality of analog circuit blocks including at least one transistor element are regularly arranged on a semiconductor substrate. In the IC, one set or more of one set of MOS transistors, which are used for the differential input stage and are formed of two MOS transistors having a common source section, are regularly arranged in the analog circuit block. is there.

【0011】このように、ソース部を共通にした2つの
MOSトランジスタを用いて差動入力段に用いる1組の
MOSトランジスタを構成しているので、素子間のスペ
ースを小さくして、素子間の特性のばらつきを抑えるこ
とができる。また差動入力段に用いる複数組のMOSト
ランジスタをたすき掛け配線で差動入力段を構成できる
ように配置することにより、素子特性のばらつきを吸収
し更に特性の向上を計ることができる。
As described above, since two MOS transistors having the same source portion are used to form one set of MOS transistors used in the differential input stage, the space between the elements can be reduced to reduce the space between the elements. It is possible to suppress variations in characteristics. Further, by disposing a plurality of sets of MOS transistors used in the differential input stage so that the differential input stage can be configured by the crossover wiring, it is possible to absorb variations in element characteristics and further improve the characteristics.

【0012】[0012]

【実施例】次に実施例について説明する。図1は、本発
明に係るマスタースライスICの第1実施例を示す概略
平面図である。図1において、1はゲート部、2,4は
ドレイン部(P+ アクティブ層)、3は共通ソース部
(P+ アクティブ層)、5,7はドレイン部(P+ アク
ティブ層)、6は共通ソース部(P+ アクティブ層)、
8はバックゲート(N型層)、9はコンタクトを示して
いる。そして、ドレイン部2と共通ソース部3とゲート
部1とで第1のPMOSトランジスタMP1を形成し、
共通ソース部3とドレイン部4とゲート部1とで第4の
PMOSトランジスタMP4を形成している。同様に、
ドレイン部5と共通ソース部6とゲート部1とで第3の
PMOSトランジスタMP3を形成し、共通ソース部6
とドレイン部7とゲート部1とで第2のPMOSトラン
ジスタMP2を形成している。
EXAMPLES Next, examples will be described. FIG. 1 is a schematic plan view showing a first embodiment of a master slice IC according to the present invention. In FIG. 1, 1 is a gate part, 2 and 4 are drain parts (P + active layer), 3 is a common source part (P + active layer), 5 and 7 are drain parts (P + active layer), and 6 is common. Source part (P + active layer),
Reference numeral 8 indicates a back gate (N-type layer), and 9 indicates a contact. Then, the drain part 2, the common source part 3, and the gate part 1 form a first PMOS transistor MP1,
The common source part 3, the drain part 4, and the gate part 1 form a fourth PMOS transistor MP4. Similarly,
The drain portion 5, the common source portion 6, and the gate portion 1 form a third PMOS transistor MP3, and the common source portion 6
The drain portion 7 and the gate portion 1 form a second PMOS transistor MP2.

【0013】このように構成したマスタースライスIC
においては、第1のPMOSトランジスタMP1及び第
4のPMOSトランジスタMP4の各ソース部を共通に
し、また第2のPMOSトランジスタMP2及び第3の
PMOSトランジスタMP3の各ソース部を共通にして
いるので、素子ピッチを減少することができ、素子特性
のばらつきを低減することができる。またバックゲート
8も第1〜第4のPMOSトランジスタMP1〜MP4
について同一条件で作り込むように構成されているの
で、素子毎の特性のばらつきを殆ど抑えることができ
る。
Master slice IC constructed as described above
In, the source parts of the first PMOS transistor MP1 and the fourth PMOS transistor MP4 are made common, and the source parts of the second PMOS transistor MP2 and the third PMOS transistor MP3 are made common, The pitch can be reduced, and the variation in element characteristics can be reduced. In addition, the back gate 8 also includes the first to fourth PMOS transistors MP1 to MP4.
Since it is configured to be manufactured under the same conditions, it is possible to suppress variations in characteristics among the elements.

【0014】更に、図2に示すように、4つのPMOS
トランジスタMP1〜MP4を結線して差動入力段を構
成する場合、4つのPMOSトランジスタMP1〜MP
4は、たすき掛け状に配線が施されるので、素子特性の
ばらつきにより発生するMOSトランジスタによる差動
入力段の入力オフセット電圧を、一層低く抑えることが
できる。なお、図2において、P1,P2は差動入力端
子である。
Further, as shown in FIG. 2, four PMOSs are provided.
When connecting the transistors MP1 to MP4 to form a differential input stage, four PMOS transistors MP1 to MP4
In No. 4, since the wiring is provided in a crossing shape, the input offset voltage of the differential input stage due to the MOS transistors, which is generated due to the variation in the element characteristics, can be further suppressed. In FIG. 2, P1 and P2 are differential input terminals.

【0015】図3は、第2実施例を示す概略平面図で、
11はゲート部、12,14はドレイン部(N+ アクティブ
層)、13は共通ソース部(N+ アクティブ層)、15,17
はドレイン部(N+ アクティブ層)、16は共通ソース部
(N+ アクティブ層)、18はバックゲート(P型層)、
19はコンタクトを示している。そして、ドレイン部12と
共通ソース部13とゲート部11とで第1のNMOSトラン
ジスタMN1を形成し、共通ソース部13とドレイン部14
とゲート部11とで第4のNMOSトランジスタMN4を
形成している。同様に、ドレイン部15と共通ソース部16
とゲート部11とで第3のNMOSトランジスタMN3を
形成し、共通ソース部16とドレイン部17とゲート部11と
で第2のNMOSトランジスタMN2を形成している。
FIG. 3 is a schematic plan view showing the second embodiment.
11 is a gate portion, 12 and 14 are drain portions (N + active layer), 13 is a common source portion (N + active layer), 15 and 17
Is a drain portion (N + active layer), 16 is a common source portion (N + active layer), 18 is a back gate (P-type layer),
Reference numeral 19 indicates a contact. The drain section 12, the common source section 13 and the gate section 11 form a first NMOS transistor MN1, and the common source section 13 and the drain section 14 are formed.
And the gate portion 11 form a fourth NMOS transistor MN4. Similarly, the drain section 15 and the common source section 16
And the gate section 11 form a third NMOS transistor MN3, and the common source section 16, the drain section 17 and the gate section 11 form a second NMOS transistor MN2.

【0016】このように各NMOSトランジスタMN1
〜MN4を構成することにより、第1実施例と同様に、
素子ピッチを縮小し、素子特性のばらつきを低減するこ
とができる。また図4に示すように、4つのNMOSト
ランジスタMN1〜MN4を結線して差動入力段を構成
する場合、4つのNMOSトランジスタMN1〜MN4
は、たすき掛け状に配線が施されるので、素子特性のば
らつきにより発生するMOSトランジスタによる差動入
力段の入力オフセット電圧を、一層低く抑えることがで
きる。なお、図4において、N1,N2は差動入力端子
である。
In this way, each NMOS transistor MN1
~ By configuring MN4, as in the first embodiment,
It is possible to reduce the element pitch and reduce variations in element characteristics. Further, as shown in FIG. 4, when four NMOS transistors MN1 to MN4 are connected to form a differential input stage, four NMOS transistors MN1 to MN4 are used.
Since the wiring is provided in a crossover shape, it is possible to further suppress the input offset voltage of the differential input stage due to the MOS transistors, which is caused by the variation in the element characteristics. In FIG. 4, N1 and N2 are differential input terminals.

【0017】[0017]

【発明の効果】以上実施例に基づいて説明したように、
本発明によれば、1組のMOSトランジスタのソースを
共通にして構成したので、素子ピッチが縮小され、素子
特性のばらつきを低減し、MOSトランジスタによる差
動入力段の特性を向上させることができる。また複数組
のMOSトランジスタを、たすき掛け配線で差動入力段
を構成するように配置することにより、素子特性のばら
つきを吸収することができ、MOSトランジスタの差動
入力段の特性を一層向上させることができる。
As described above on the basis of the embodiments,
According to the present invention, since the sources of one set of MOS transistors are made common, the element pitch can be reduced, the variation in element characteristics can be reduced, and the characteristics of the differential input stage by the MOS transistors can be improved. . Also, by disposing a plurality of sets of MOS transistors so as to form a differential input stage with a crossover wiring, it is possible to absorb variations in element characteristics, and further improve the characteristics of the differential input stage of the MOS transistor. be able to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るマスタースライスICの第1実施
例を示す概略平面図である。
FIG. 1 is a schematic plan view showing a first embodiment of a master slice IC according to the present invention.

【図2】図1に示した第1実施例のPMOSトランジス
タを用いて構成した差動入力段の構成例を示す回路図で
ある。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration example of a differential input stage configured using the PMOS transistor of the first embodiment shown in FIG.

【図3】本発明の第2実施例を示す概略平面図である。FIG. 3 is a schematic plan view showing a second embodiment of the present invention.

【図4】図3に示した第2実施例のNMOSトランジス
タを用いて構成した差動入力段の構成例を示す回路図で
ある。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration example of a differential input stage configured using the NMOS transistor of the second embodiment shown in FIG.

【図5】従来のマスタースライスICのアナログ回路用
ブロックを示した概略平面図である。
FIG. 5 is a schematic plan view showing an analog circuit block of a conventional master slice IC.

【図6】従来のMOSトランジスタアレーを示す概略平
面図である。
FIG. 6 is a schematic plan view showing a conventional MOS transistor array.

【図7】従来のMOSトランジスタアレーを示す概略ブ
ロック図である。
FIG. 7 is a schematic block diagram showing a conventional MOS transistor array.

【図8】図7に示したMOSトランジスタアレーを用い
て構成したPMOSトランジスタによる差動入力段の構
成例を示す回路図である。
8 is a circuit diagram showing a configuration example of a differential input stage using PMOS transistors configured by using the MOS transistor array shown in FIG.

【図9】図7に示したMOSトランジスタアレーを用い
て構成したPMOSトランジスタによる差動入力段の他
の構成例を示す回路図である。
9 is a circuit diagram showing another configuration example of a differential input stage using PMOS transistors configured by using the MOS transistor array shown in FIG.

【図10】図7に示したMOSトランジスタアレーを用い
て構成したNMOSトランジスタによる差動入力段の構
成例を示す回路図である。
10 is a circuit diagram showing a configuration example of a differential input stage using NMOS transistors configured using the MOS transistor array shown in FIG. 7.

【図11】図7に示したMOSトランジスタアレーを用い
て構成したNMOSトランジスタによる差動入力段の他
の構成例を示す回路図である。
11 is a circuit diagram showing another configuration example of a differential input stage using NMOS transistors configured using the MOS transistor array shown in FIG. 7.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ゲート部 2,4 ドレイン部 3 共通ソース部 5,7 ドレイン部 6 共通ソース部 8 バックゲート 9 コンタクト 1 gate part 2,4 drain part 3 common source part 5,7 drain part 6 common source part 8 back gate 9 contact

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体基板上に少なくともトランジスタ
素子を1個以上含む複数個のアナログ回路用ブロックを
規則的に配列したマスタースライスICにおいて、前記
アナログ回路用ブロック内に、差動入力段に使用する、
ソース部を共通にした2つのMOSトランジスタからな
る1組のMOSトランジスタを1組以上規則的に配列し
て構成したことを特徴とするマスタースライスIC。
1. A master slice IC in which a plurality of analog circuit blocks including at least one transistor element are regularly arranged on a semiconductor substrate, and is used as a differential input stage in the analog circuit block. ,
A master slice IC, characterized in that one set or more of one set of MOS transistors having two common source parts is regularly arranged.
【請求項2】 前記差動入力段に使用する複数組のMO
Sトランジスタは、たすき掛け配線で差動入力段を構成
できるように配置されていることを特徴とする請求項1
記載のマスタースライスIC。
2. A plurality of sets of MOs used in the differential input stage
The S-transistor is arranged so that a differential input stage can be configured with a cross wiring.
The described master slice IC.
【請求項3】 前記MOSトランジスタは、PMOSト
ランジスタであることを特徴とする請求項1又は2記載
のマスタースライスIC。
3. The master slice IC according to claim 1, wherein the MOS transistor is a PMOS transistor.
【請求項4】 前記MOSトランジスタは、NMOSト
ランジスタであることを特徴とする請求項1又は2記載
のマスタースライスIC。
4. The master slice IC according to claim 1, wherein the MOS transistor is an NMOS transistor.
JP4357931A 1992-12-25 1992-12-25 Master slice ic Withdrawn JPH06196671A (en)

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