JPH01214045A - Semiconductor integrated circuit device - Google Patents

Semiconductor integrated circuit device

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JPH01214045A
JPH01214045A JP63038850A JP3885088A JPH01214045A JP H01214045 A JPH01214045 A JP H01214045A JP 63038850 A JP63038850 A JP 63038850A JP 3885088 A JP3885088 A JP 3885088A JP H01214045 A JPH01214045 A JP H01214045A
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JP
Japan
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resistance
basic cell
transistor element
constituted
source
Prior art date
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Pending
Application number
JP63038850A
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Japanese (ja)
Inventor
Yasumi Konno
金野 康己
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Original Assignee
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd filed Critical NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Priority to JP63038850A priority Critical patent/JPH01214045A/en
Publication of JPH01214045A publication Critical patent/JPH01214045A/en
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Abstract

PURPOSE:To obtain a master-slice system semiconductor integrated circuit device at a high yield by a method wherein a basic cell is constituted by a MOS transistor element and a bipolar transistor element, and resistance between a source and a drain of the MOS transistor element not used as a transistor can be used as a resistance. CONSTITUTION:A basic cell is constituted by a MOS transistor element and a bipolar transistor element; resistance between a source and a drain of the MOS transistor element not used as a transistor can be utilized as a resistance. For example, the basic cell is constituted by two pieces of NPN-type bipolar transistors Bi-Tr1, Bi-Tr2 and three pieces each of P-channel MOS transistors P-MOS1-P-MOS3 and N-channel MOS transistors N-MOS1-N-MOS3. When an inverter circuit as shown in the figure is to be constituted, resistances R1-R4 are constituted by resistance between individual drains and sources of the MOS transistors P-MOS2, P-MOS3 and N-MOS2, NMOS3.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はバイポーラ・CMO3型マスタースライス方弐
の半導体集積回路装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a bipolar CMO3 type master slice semiconductor integrated circuit device.

〔従来の技術] 近年、大規模集積回路(LSI)の製造コストの低減、
製造時間の短縮を図るために、トランジスタ、抵抗等の
素子を予め複数個形成しておき、任意のパターンに形成
した配線層でこれらの素子を接続することにより、種々
の回路構成のLSIを実現するマスタースライス方式が
採用されている。
[Prior art] In recent years, the manufacturing cost of large-scale integrated circuits (LSI) has been reduced;
In order to shorten manufacturing time, LSIs with various circuit configurations can be realized by forming multiple elements such as transistors and resistors in advance and connecting these elements with wiring layers formed in arbitrary patterns. The master slice method is adopted.

この方式では、素子を形成するための拡散系等のマスク
を作り直すことなく、単に配線層を形成するマスクを交
換するだけで、多品種のLSIを短期間に製造すること
が可能である。
With this method, it is possible to manufacture a wide variety of LSIs in a short period of time by simply replacing masks for forming wiring layers without having to recreate masks for diffusion systems and the like for forming elements.

第3図は従来のバイポーラ・CMO3型マスダマスター
スライス方式LSIバイポーラトランジスタとNチャン
ネル及びPチャンネルの各MOSトランジスタを夫々素
子とするLSIの一例の基本セルを示すパターン図であ
る。
FIG. 3 is a pattern diagram showing a basic cell of an example of a conventional bipolar/CMO3 mass damastor slice type LSI bipolar transistor and an N-channel and P-channel MOS transistor as elements, respectively.

この基本セルは、エミッタコンタクトE、コレクタコン
タクトC,ベースコンタクトBから成る2個のNPN型
バイポーラトランジスタBi−Trl、Bi−Tr2と
、ソース及びドレインコンタクトSDCを有する3個の
PチャンネルMOSトランジスタP−MO3I、P−M
OS2.P−MOS3と、ソース及びドレインコンタク
トSDCを有する3個のNチャンネルMOSトランジス
タN−MO3I、N−MO32,N−MO33と、抵抗
端子Tを有する4個の拡散層抵抗R1゜R2,R3,R
4から成っている。
This basic cell consists of two NPN bipolar transistors Bi-Trl and Bi-Tr2 each having an emitter contact E, a collector contact C, and a base contact B, and three P-channel MOS transistors P- having source and drain contacts SDC. MO3I, P-M
OS2. P-MOS3, three N-channel MOS transistors N-MO3I, N-MO32, N-MO33 having source and drain contacts SDC, and four diffusion layer resistors R1° R2, R3, R having resistance terminals T.
It consists of 4.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来のバイポーラ・CMO3型マスクスライス
方式の基本セル構造を用いて、第4図に示スバイボーラ
・0MO3型のインバーター回路を実現させる場合には
、第3図に細線で示した配線パターンLを形成すればよ
い。VDDは電源ライン、GNDは接地ライン、Wはこ
れらラインのコンタクトである。
When realizing the bipolar CMO3 type inverter circuit shown in FIG. 4 using the basic cell structure of the conventional bipolar CMO3 type mask slicing method described above, the wiring pattern L shown by the thin line in FIG. Just form it. VDD is a power supply line, GND is a ground line, and W is a contact between these lines.

ところで、この種の大規模集積回路は、1チツプで大機
能をもたせるためにゲート数を増加することが要求され
ることが多く、ゲート数増加に比例して基本セル数が増
えることは否定できない。
By the way, in this type of large-scale integrated circuit, it is often required to increase the number of gates in order to provide large functions on one chip, and it cannot be denied that the number of basic cells increases in proportion to the increase in the number of gates. .

このため、上述した従来のバイポーラ・CMO3型マス
ダマスタースライス方式セル構造では、バイポーラトラ
ンジスタ、MO3トランジスタ及び抵抗の3種類の素子
を基本セル内に一定量配備する必要があり、基本セルの
占有面積が大きくなり、大容量化が難しくなる。特にバ
イポーラ・0MO3型の基本セルは面積が大きくなり、
これによりチップ面積も大きくなり、歩留りが低下する
という問題が生じる。
For this reason, in the conventional bipolar/CMO3 type mass damastor slice type cell structure described above, it is necessary to arrange a certain amount of three types of elements, a bipolar transistor, an MO3 transistor, and a resistor, in the basic cell, and the area occupied by the basic cell is reduced. This makes it difficult to increase capacity. In particular, the basic cell of bipolar/0MO3 type has a large area,
This causes the problem that the chip area also increases and the yield decreases.

本発明の目的は、マスタースライス方式におけるこの様
な問題を解決し、高歩留りのマスタースライス方式半導
体集積回路装置を提供することにある。
An object of the present invention is to solve such problems in the master slice method and to provide a high yield master slice method semiconductor integrated circuit device.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の半導体集積回路装置は、MOSトランジスタ素
子とバイポーラトランジスタ素子とで基本セルを構成し
、トランジスタとして用いないMOSトランジスタ素子
のソース・ドレイン間抵抗を回路の抵抗として利用し得
るように構成している。
The semiconductor integrated circuit device of the present invention is configured such that a basic cell is composed of a MOS transistor element and a bipolar transistor element, and the source-drain resistance of the MOS transistor element that is not used as a transistor can be used as a circuit resistance. There is.

〔作用〕[Effect]

上述した構成では、不使用のMO3トランジスタにおけ
るソース・ドレイン抵抗を単体の抵抗の代わりに利用で
き、基本セルとしての単体抵抗素子を不要とする。
In the above-described configuration, the source/drain resistance of the unused MO3 transistor can be used in place of a single resistor, thereby eliminating the need for a single resistance element as a basic cell.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明を図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.

第1図は、本発明の一実施例の基本セルを示すパターン
図である。この基本セルは、エミッタコンタクトE、コ
レクコンタクトC,ベースコンタクトBから成る2個の
NPN型バイポーラトランジスタBi−Tri、Bi−
Tr2と、ソース及びドレインのコンタクトSDCを有
する3個のPチャンネルMO3トランジスタP−MO3
I、P−MO32,P−MOS3と、ソース及びドレイ
ンのコンタクトSDCを有する3個のNチャンネルMO
Sトラフジ、l’N−MO3I、N−MOS2、N−M
OS3から成り、従来のように単体の抵抗素子は設けて
いない。
FIG. 1 is a pattern diagram showing a basic cell according to an embodiment of the present invention. This basic cell consists of two NPN bipolar transistors Bi-Tri and Bi-
Tr2 and three P-channel MO3 transistors P-MO3 with source and drain contacts SDC
I, P-MO32, P-MOS3 and three N-channel MOs with source and drain contacts SDC
S Torafuji, l'N-MO3I, N-MOS2, N-M
It consists of OS3 and does not have a single resistance element unlike the conventional one.

なお、前記Pチャンネル及びNチャンネルの各MO3ト
ランジスタのゲートにはゲートコンタクトGを設けてい
ることは勿論である。
It goes without saying that a gate contact G is provided at the gate of each of the P-channel and N-channel MO3 transistors.

したがって、この構成の基本セルで抵抗を実現する場合
には、不使用のMOSトランジスタのソース及びドレイ
ンの拡散抵抗を抵抗として利用し、ソース及びドレイン
に夫々2つずつ設けられたコンタクt−S D Cに回
路を接続してこれを単体の抵抗素子として構成できる。
Therefore, when realizing a resistance with a basic cell with this configuration, the diffused resistance of the source and drain of an unused MOS transistor is used as a resistance, and two contacts t-S D are provided on each source and drain. By connecting a circuit to C, this can be configured as a single resistance element.

そこで、第1図の基本セルにおいて、第4図に示した回
路を構成する場合には、PチャンネルMO3トランジス
タP−MO32及びP−MOS3のソース・ドレインの
各コンタクトSDCに接続を行ってそのソース・ドレイ
ン間抵抗で抵抗R1及びR2を構成し、またNチャンネ
ルMOSトランジス9N−MOS2及びN−MOS 3
 (7)’/−ス・ドレインの各コンタクトSDCに接
続を行ってそのソース・ドレイン間抵抗で抵抗R3,R
4を構成することができる。これにより、第1図に細線
で示すように配線パターンLを形成することにより、第
4図と等価な第2図の回路が構成できる。
Therefore, when configuring the circuit shown in FIG. 4 using the basic cell shown in FIG.・Resistors R1 and R2 are formed by the resistance between the drains, and N-channel MOS transistors 9N-MOS2 and N-MOS3
(7) Connect each contact SDC of '/- source and drain, and use the resistance between the source and drain to resist R3 and R.
4 can be configured. Thereby, by forming the wiring pattern L as shown by thin lines in FIG. 1, the circuit of FIG. 2, which is equivalent to that of FIG. 4, can be constructed.

なお、第1図において、Vlltlは電源ライン、GN
Dは接地ライン、Wは破線で示した配線パターンLとこ
れらラインとのコンタクトである。
In Fig. 1, Vlltl is the power supply line, GN
D is a ground line, and W is a contact between these lines and the wiring pattern L shown by a broken line.

したがって、この構成では単体の抵抗素子を設ける必要
はなく、その分基本セルの面積を低減することが可能と
なる。
Therefore, with this configuration, there is no need to provide a single resistance element, and the area of the basic cell can be reduced accordingly.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、不使用のMOSトランジ
スタのソース・ドレイン間抵抗を単体の抵抗の代わりに
利用するので、基本セルとしての単体抵抗素子を不要と
し、MOSトランジスタ素子とバイポーラトランジスタ
素子の2種類の素子だけで基本セルが実現でき、基本セ
ルの面積を低減してゲート数の増加に伴うチップサイズ
の拡大を抑制し、これにより歩留りを向上できる効果が
ある。
As explained above, the present invention utilizes the source-drain resistance of an unused MOS transistor in place of a single resistor, thereby eliminating the need for a single resistor element as a basic cell, and eliminating the need for a single resistor element as a basic cell. A basic cell can be realized with only two types of elements, and the area of the basic cell can be reduced to suppress the increase in chip size due to an increase in the number of gates, thereby having the effect of improving yield.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例の基本セルの構成図、第2図
は本発明の基本セルで構成したバイポーラ・CMO3型
のインバータ回路の一例を示す回路図、第3図は従来の
基本セルの構成図、第4図は従来の基本セルで構成した
バイポーラ・CMOS型のインバータ回路の回路図であ
る。 Bi−Tri、Bi−Tr2−・・NPNバイポーラト
ランジスタ、P−Mo3t、P−MOS2.P−MOS
3・・・PチャンネルMO3トランジスタ、N−Mo5
t、N−MOS2.N−MOS3・・・NチャンネルM
OSトランジスタ、C・・・コレクタコンタクト、B・
・・ベースコンタクト、E・・・エミッタコンタクト、
G・・・ゲート、SDC・・・ソース及びドレインコン
タクト、R1,R2,R3,R4・・・抵抗、T・・・
抵抗コンタクト、■、・・・電源ライン、GND・・・
接地ライン、L・・・配線パターン、W・・・コンタク
ト。 第1図 NMO53NMO52NM(Jbt      w第2
FIG. 1 is a block diagram of a basic cell according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a bipolar CMO3 type inverter circuit configured with the basic cell of the present invention, and FIG. 3 is a circuit diagram of a conventional basic cell. FIG. 4 is a circuit diagram of a bipolar CMOS type inverter circuit constructed from conventional basic cells. Bi-Tri, Bi-Tr2-...NPN bipolar transistor, P-Mo3t, P-MOS2. P-MOS
3...P channel MO3 transistor, N-Mo5
t, N-MOS2. N-MOS3...N channel M
OS transistor, C...collector contact, B...
...Base contact, E...Emitter contact,
G...gate, SDC...source and drain contact, R1, R2, R3, R4...resistance, T...
Resistance contact, ■,...Power line, GND...
Ground line, L...wiring pattern, W...contact. Figure 1 NMO53NMO52NM (Jbt w 2nd
figure

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、MOSトランジスタ素子とバイポーラトランジスタ
素子とで基本セルを構成し、トランジスタとして使用し
ないMOSトランジスタ素子のソース・ドレイン抵抗を
回路の抵抗として利用し得るように構成したことを特徴
とする半導体集積回路装置。
1. A semiconductor integrated circuit device, characterized in that a basic cell is composed of a MOS transistor element and a bipolar transistor element, and the source/drain resistance of the MOS transistor element not used as a transistor can be used as a circuit resistance. .
JP63038850A 1988-02-22 1988-02-22 Semiconductor integrated circuit device Pending JPH01214045A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63038850A JPH01214045A (en) 1988-02-22 1988-02-22 Semiconductor integrated circuit device

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JP63038850A JPH01214045A (en) 1988-02-22 1988-02-22 Semiconductor integrated circuit device

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ID=12536672

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JP63038850A Pending JPH01214045A (en) 1988-02-22 1988-02-22 Semiconductor integrated circuit device

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02290070A (en) * 1989-02-23 1990-11-29 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor integrated circuit
JP2008028350A (en) * 2006-07-25 2008-02-07 Denso Corp Semiconductor device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62115842A (en) * 1985-11-15 1987-05-27 Fujitsu Ltd Gate array having delay cell
JPS62229857A (en) * 1986-03-29 1987-10-08 Toshiba Corp Master-slice semiconductor device

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