JPS6017930A - Basic cell in master slice system - Google Patents

Basic cell in master slice system

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JPS6017930A
JPS6017930A JP58125288A JP12528883A JPS6017930A JP S6017930 A JPS6017930 A JP S6017930A JP 58125288 A JP58125288 A JP 58125288A JP 12528883 A JP12528883 A JP 12528883A JP S6017930 A JPS6017930 A JP S6017930A
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transistor
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    • H01L21/82Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices to produce devices, e.g. integrated circuits, each consisting of a plurality of components

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Abstract

PURPOSE:To reduce the occupying area by composing not only a logic circuit such as an NAND or an NOR but also an RAM, a transmission gate circuit with less number of basic cells, thereby eliminating the production of excess transistors. CONSTITUTION:Two further p-channel transistors QP3, QP4 are aligned in parallel outside a p-channel region having two p-channel transistors QP1, QP2, and two further n-channel transistors QN3, QN4 are aligned in parallel outside an n- channel region having two n-channel transistors QN1, QN2. Therefore, when a 2- input NAND or 2-input NOR is composed, the same wirings as those using the conventional basic cell are formed, and when a transmission gate circuit or a clocked gate circuit is composed, newly added four transistors are used. Thus, when compared with the case that the conventional basic cell is used, the circuit may be formed in an area of 1/2-1/3.

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は、マスク・スライス方式を通用して製造される
大規模集積回路装置(LSI)を構成する為の基本セル
の改良に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to improvements in basic cells for configuring large-scale integrated circuit devices (LSI) manufactured through a mask-slicing method.

従来技術と問題点 マスク・スライス方式は、一つの半導体チップ中に複数
のトランジスタや抵抗からなる基本セルを予め大量に作
製しておき、必要品種に応じて配線マスクを作製し、そ
の配線マスクを用いてトランジスタや抵抗間を接続する
加工を施して所望の動作をするLSIを完成させるもの
である。
Conventional technology and problems In the mask slicing method, a large number of basic cells consisting of multiple transistors and resistors are manufactured in advance in one semiconductor chip, wiring masks are created according to the required product, and the wiring masks are By using this method, processing is performed to connect transistors and resistors to complete an LSI that performs the desired operation.

従来、前記マスク・スライス方式を実施する際に適用さ
れる基本セルとして第1図及び第2図に関して説明され
るものが知られている。
Conventionally, the basic cell described with reference to FIGS. 1 and 2 is known as a basic cell applied when implementing the mask slice method.

第1図は従来の基本セルの要部等価回路図である。FIG. 1 is an equivalent circuit diagram of a main part of a conventional basic cell.

図に於いて、QPI及びQP2はnチャネル・トランジ
スタ、QNI及びQN2はnチャネル・トランジスタを
それぞれ示している。
In the figure, QPI and QP2 are n-channel transistors, and QNI and QN2 are n-channel transistors, respectively.

図からIIる3J二うに、同一チャネルの1〜ランジス
タQPI及びQP2、或いは、QNI及びQN2は、そ
のソース或いは)゛1/インのうち、いずれか一方を共
有し、〒トた、異なるチャネルの1〜ランジスタ例えば
QPI及びQNI、或いけ、QP2及びQN2をそれぞ
れ一絹としてそれぞれゲートを共有している。
As shown in the figure, transistors 1 to QPI and QP2 or QNI and QN2 of the same channel share either one of their sources or 1 to transistors, for example QPI and QNI, or QP2 and QN2, each share a gate.

第2図は第1図に示した基本セルの回路構成を具現化し
た所謂バルク・パターンを表わす要部平面図であり、第
1図に関して説明した部分と同部分は同記号で指示しで
ある。
FIG. 2 is a plan view of a main part showing a so-called bulk pattern that embodies the circuit configuration of the basic cell shown in FIG. 1, and the same parts as those explained in connection with FIG. .

図に於いて、1はp型不純物拡散領域、2はn型不純物
拡11に領域、301及び3G2は多結晶シリコン・デ
ー1−フll極、4CNはn型基板コンタク1−・パタ
ーン、4CPはp型基板コンタクト・パターンをそれぞ
れ示している。尚、n型不純物拡散領域1はnチャネル
・トランジスタQPI及びQP2のソース領域或いし1
ドレイン領域を構成するものであり、そして、n型不純
物拡散領域2ばnチャネル・トランジスタQNI及びQ
N2のソース領域或いば1・゛レイン領域を構成するも
のである。
In the figure, 1 is a p-type impurity diffusion region, 2 is an n-type impurity diffusion region 11, 301 and 3G2 are polycrystalline silicon 1-full poles, 4CN is an n-type substrate contact 1-pattern, 4CP indicate p-type substrate contact patterns, respectively. Note that the n-type impurity diffusion region 1 is the source region of the n-channel transistors QPI and QP2.
The n-type impurity diffusion region 2 constitutes the drain region, and the n-channel transistors QNI and Q
This constitutes the source region of N2 or the 1.times.rain region.

通常のL S I 74.、I:、 AlすV体チップ
中δこ第2図に見られる基本セルを縦に並べた形状の基
本セル列が11)1隔をおいて配設され、回路は基本セ
ル上にアルミニウム(/!7りからなる配線を施すこと
に依り形成される。
Normal LSI 74. , I:, In the aluminum V-body chip, δ basic cell rows in the form of vertically arranged basic cells as shown in Fig. 2 are arranged at 11) intervals, and the circuit is made of aluminum It is formed by applying a wiring consisting of /!7.

とごろで、第1図及び第2図に関して説明した基本セル
(コ、2人力NAND或いは2人カNOR等の論理回1
/3を作jibする場合にば有効であるが、RAM (
random access mem。
Logic section 1 of the basic cell explained with reference to FIGS. 1 and 2 (such as two-man NAND or two-man NOR)
This is effective when creating a /3 jib, but RAM (
random access mem.

ry)、l−ランスミッション・ゲート回路、クロック
ド(clockcd)デー1−回路(C2MO3回路)
等の回路を形成する場合は、多数を必要としたり、余剰
トランジスタが生したりする欠点がある。
ry), l-transmission gate circuit, clocked (clockcd) data 1-circuit (C2MO3 circuit)
When forming a circuit such as the above, there are disadvantages in that a large number of transistors are required and surplus transistors are generated.

例えば、RAMセルを形成するには、前記基本セルでは
4個を必要とし、しかも、使用しないトランジスタが6
個も生ずる。また、トランスミッション・ゲート回路を
形成する場合、一つの基本セルを用いて二つ作製するこ
としかできない。更にまた、クロックド・ゲート回路を
形成する場合では、前記基本セルを2111i1必要と
し、そして、そこに含まれるトランジスタのうち半分は
使用されること2(<余剰のものとなってしまう。
For example, to form a RAM cell, four basic cells are required, and six unused transistors are required.
Individuals also arise. Furthermore, when forming a transmission gate circuit, only two can be manufactured using one basic cell. Furthermore, in the case of forming a clocked gate circuit, 2111i1 of the basic cells are required, and half of the transistors included therein are used (2) and become redundant.

発明の目的 本発明は、前記の如きマスク・スライス方式を適用して
製造されるLSIを構成する為の基本セルの構成に改良
を加え、従来可能であったNANDを或いばNOr?等
の論理回路の作製は勿論のこと、RAM、1−ランスミ
ッション・デー1回1洛、クロックド・ゲート回路等を
少ない基本セル数で容易に構成することができるように
、また、余剰1−ランジスタが生しないようにし、従来
技術に依る場合に比較して、占有面積を少なくしようと
するものである。
OBJECTS OF THE INVENTION The present invention improves the configuration of basic cells for configuring LSIs manufactured by applying the mask slicing method as described above, and converts NAND, which was previously possible, to NOR? In addition to the production of logic circuits such as - It is intended to prevent the formation of transistors and to reduce the occupied area compared to the case of the prior art.

発明の構成 本発明の基本セルでは、ソース領域或いはドレイン領域
を共有する2個のnチャネル・トランジスタからなるn
チャネル・トランジスタ領域及びソース領域或いはドレ
イン領域を共有する2個のnチャネル・トランジスタか
らなるnチャネル・1−ランジスタ領域を有し且つ前記
2(flitのpチャネル・トランジスタ及び21情1
のnチャネル・トランジスタをそれぞれ別個に対応づけ
てnチャネル・トランジスタのゲー1〜とnチャネル・
トランジスタのゲー1〜とを共通接続してなる基本セル
に於いて、前記nチャネル領域の外側方に更に2個のn
チャネル(或いはnチャネル)l−ランジスタが並設さ
れると共に前記nチャネル・トランジスタ領域の外側方
に更に2個のnチャネル(或いはnチャネル)トランジ
スタが並設されてなる構成を採ることに依り、従来の基
本セルで有効に形成することができたNAND或いはN
OHなどの論理回路は勿論のこと、RAM、)ランスミ
ッション・ゲート回路、クロックド・ゲート回路なども
少ない基本セル数で、しかも、余剰トランジスタが生じ
ないように、従って、小さな占有面積で実現させ得る。
Structure of the Invention The basic cell of the present invention consists of two n-channel transistors sharing a source or drain region.
It has an n-channel 1-transistor region consisting of two n-channel transistors sharing a channel transistor region and a source region or a drain region, and has a p-channel transistor of the above 2 (flit p-channel transistor and
The n-channel transistors are individually associated with each other, and the gates of the n-channel transistors are
In a basic cell in which gates 1 to 1 of transistors are commonly connected, two further n-channel regions are formed outside the n-channel region.
By adopting a configuration in which channel (or n-channel) L-transistors are arranged in parallel and two further n-channel (or n-channel) transistors are arranged in parallel on the outside of the n-channel transistor region, NAND or N which can be effectively formed with conventional basic cells
Not only logic circuits such as OH, but also RAM, transmission gate circuits, clocked gate circuits, etc. can be realized with a small number of basic cells, and also with no surplus transistors, and therefore with a small footprint. obtain.

発明の実施例 fAS図副本発明−実施例の要部等価回路図であり、第
1図及び第2図に関して説明した部分と同141X分ε
:1同記号で11↑小j/である。
Embodiment fAS diagram of the invention This is an equivalent circuit diagram of the main part of the invention-embodiment, and is the same 141X minute ε as the part explained with regard to FIGS. 1 and 2.
:1 same symbol is 11↑small j/.

図にhムいて、(:l I) :i及びQ P 4 !
;l新たに付加したnチャネル・1〜ランジスタ、QN
3及びQN4し、1新たにイ]加したnチャネル・I・
ランジスタをそれぞれ示している。尚、付加するl・ラ
ンジスタの位置番よ、nチャネル・1−ランジスタとn
チャネル・トランジスタを図示されている状態と逆にし
ても良い。
Looking at the figure, (:l I) :i and Q P 4 !
;l Newly added n-channel 1 ~ transistor, QN
3 and QN4, and 1 newly added n-channel I.
Each transistor is shown. In addition, the position number of the l-transistor to be added, n channel, 1-transistor and n
The channel transistors may be reversed from what is shown.

第4図は第3図に示した基本セルの回路構成を具現化し
た所、iWバルク・パターンを表わす要部平面図であり
、第3図に関して説明した部分と同部分は同記号で指示
しである。
FIG. 4 is a plan view of the main parts showing the iW bulk pattern, which embodies the circuit configuration of the basic cell shown in FIG. 3, and the same parts as those explained in connection with FIG. It is.

図に於いて、5及び6はn型不純物拡散領域、7G]及
び7 G 24才多結晶シリコン・ゲート電極、8及び
9ばn型不純物拡散領域、10G1及び10G2は多結
晶シリコン・ゲート電極をそれぞれ示しCいる。尚、n
型不純物拡散領域5絹pチヤネル・トランジスタQP3
の、p不純物拡1i’l領1μ(6はnチャネル・トラ
ンジスタQP4のそれぞれのソース領域或いはドレイン
領域を構成し、n型不純物拡散領域8Gオnチヤネル・
トランジスタQN3の、n型不純物拡11に領域9はn
チャネル・トランジスタQN/Iのそれぞれのソース領
域或いは1ルイン領域を構成するものである。尚、第3
図に関して説明したように、nチャネル・トランジスタ
QP3及びQP4とnチャネル・トランジスタQN3及
びQN/lとの位置を反対にしても良い。
In the figure, 5 and 6 are n-type impurity diffusion regions, 7G] and 7G are polycrystalline silicon gate electrodes, 8 and 9 are n-type impurity diffusion regions, and 10G1 and 10G2 are polycrystalline silicon gate electrodes. C is shown respectively. In addition, n
type impurity diffusion region 5 silk p-channel transistor QP3
The p-type impurity diffused region 1i'l region 1μ (6 constitutes each source region or drain region of the n-channel transistor QP4, and the n-type impurity diffused region 8G on-channel
The region 9 in the n-type impurity expansion 11 of the transistor QN3 is n
It constitutes the source region or one Ruin region of each channel transistor QN/I. Furthermore, the third
As discussed with respect to the figures, the positions of n-channel transistors QP3 and QP4 and n-channel transistors QN3 and QN/l may be reversed.

次に、前記第3図及び第4図に関して説明した基本セル
を用いて種々の回路を構成する場合を例示して説明する
Next, the case where various circuits are constructed using the basic cells explained in connection with FIGS. 3 and 4 will be explained by way of example.

第5図4;I: RA Mセルを構成した場合の要74
11等価回路図であり、第3図及び第4図に関して説明
した部分と同部分は同記号で指示しである。尚、RAM
を構成する場合、前記付加したトランジスタのチャネル
幅は従来の基本セルの構成と同じ部分に含まれる(・ラ
ンジスタのチャネル幅よりも大にする必要がある。
Figure 5 4; I: Key points 74 when configuring a RAM cell
11 is an equivalent circuit diagram, and the same parts as those explained in connection with FIGS. 3 and 4 are designated with the same symbols. Furthermore, RAM
, the channel width of the added transistor is included in the same part as the conventional basic cell structure (it needs to be larger than the channel width of the transistor).

図に於いて、INVI及びINV2はインバータ、W 
RD tl読め出しワード線、WWは書き込めワード線
、Diば人力データ信号、五〒は反転入力データ信号、
Do&オ反転111カデータ信号をそれぞれ示している
In the figure, INVI and INV2 are inverters, W
RD tl read word line, WW write word line, Di manual data signal, 5〒 inverted input data signal,
Do & O inverted 111 data signals are shown respectively.

この回路に於けるインバーターNVI及びINV 2 
+;lpチャネル・I・ランジスタQPI及びQP2、
nチャネル・トランジスタQNI及びQN2で構成され
るものである。
Inverters NVI and INV2 in this circuit
+; lp channel I transistor QPI and QP2,
It is composed of n-channel transistors QNI and QN2.

第6図は第5図に示した回路構成を具現化したバルク・
パターンを表わす要部平面図であり、第5図に関して説
明した部分と同部分は同記号で指示しである。
Figure 6 shows a bulk circuit embodying the circuit configuration shown in Figure 5.
5 is a plan view of a main part showing a pattern, and the same parts as those explained in connection with FIG. 5 are indicated by the same symbols.

図に於いて、L Aは第1N「1のA7+配線(太い実
線)、LBは第2層目の゛AA配線(太い破線)、NA
は第1層目のAA配線LAと半導体基板とのコンタクト
部分(白丸:○)、NB&才第2層目のAP配線LBと
第1層目のAn配線LAとのコンタクト部分(2重丸:
◎)、vDI+は正側電源レベル、VSSは接地側電源
レベルをそれぞれ示している。因に、この実施例に依れ
ば、従来の基本セルを使用した場合と比較して、同一プ
ロセスであれば、面積ば1/2にすることができる。尚
、従来の基本セルでRAMセルを構成するには4個が必
要であり、しかも、不使用のトランジスタが6個も生ず
ること番、l前記した通りである。
In the figure, LA is the 1st layer A7+ wiring (thick solid line), LB is the 2nd layer AA wiring (thick broken line), and NA
are the contact part between the AA wiring LA in the first layer and the semiconductor substrate (white circle: ○), and the contact part between the NB&
◎), vDI+ indicates the positive power supply level, and VSS indicates the ground power supply level. Incidentally, according to this embodiment, the area can be reduced to 1/2 in the same process compared to the case where a conventional basic cell is used. As mentioned above, four conventional basic cells are required to construct a RAM cell, and six unused transistors are left.

第7図は1〜ランスミツシヨン・ゲー1へ回路を構成し
た場合の要部等価回路し1であり、第3図乃至第6図に
関して説明した部分と同部分は同記号で指示しである。
Figure 7 shows the equivalent circuit of the main parts when the circuit is configured from 1 to Transmission Game 1, and the same parts as those explained in relation to Figures 3 to 6 are designated with the same symbols. .

図に於いて、Aは入力信号、Xは出力信号、CKはクロ
ック信号、■は反転クロック信号をそれぞれ示している
In the figure, A indicates an input signal, X an output signal, CK a clock signal, and ■ an inverted clock signal.

トランスミッション・ゲート回路を構成するには、相隣
る基本セル列に於けるnチャネル・トランジスタとnチ
ャネル・トランジスタとを各々1(1^1宛用いる。こ
の構成は、第7図の回路構成を具現化したバルク・パタ
ーンを表わず要部平面図である第8図を見ると良く理解
できる。尚、第8図では第3図乃至第7図に関して説明
した部分と同0 部分は同記号でlft示しである。
To configure the transmission gate circuit, each of the n-channel transistors and the n-channel transistors in adjacent basic cell rows are used for 1 (1^1). This configuration is based on the circuit configuration shown in FIG. It can be better understood by looking at Figure 8, which is a plan view of the main part without showing the actualized bulk pattern.In Figure 8, the same parts as those explained with respect to Figures 3 to 7 have the same symbols. This shows lft.

図に於いて、BCIは成る基本セル列に所属する基本セ
ル、BC2は前記基本セル列の隣の基本セル列に所属す
る基本セルである。
In the figure, BCI is a basic cell belonging to a basic cell column, and BC2 is a basic cell belonging to a basic cell column next to the basic cell column.

図から判るように、I・ランスミッション・デー1〜回
路を構成するには、成る基本セル列に所属する基本セル
RCIに於げるnチャネル・トランジスタQN、1と前
記基本セル列の隣の基本セル列に所属する基本セルEC
2に於けるnチャネル・j・ランジスタQP3とを用い
ると良い。この例に見られるように、刀°木セルが相隣
っている場合に於いて番才、各々の一部を使用すること
に依ってトランスミソシコン・ゲート回路を構成するこ
とができる。
As can be seen from the figure, in order to configure the I Transmission Day 1 circuit, the n-channel transistor QN,1 in the basic cell RCI belonging to the basic cell column consisting of Basic cell EC belonging to the basic cell column
It is preferable to use an n-channel J transistor QP3 in No. 2. As seen in this example, when Tochigi cells are adjacent to each other, a transmiscicon gate circuit can be constructed by using a portion of each cell.

第9図はクロックド・ゲート回路を構成した場合の要部
等価回路図であり、第3図乃至第8図に関して説明した
部分と同部分は同記号でL斤示しである。
FIG. 9 is an equivalent circuit diagram of the main part when a clocked gate circuit is constructed, and the same parts as those explained with reference to FIGS. 3 to 8 are indicated by the same symbols and L squares.

この場合tJ゛、相隣る基本セル列に於けるnチャネル
・]−ランジスタとnチャネル・トランジスタ11 ′ とを各々2個宛用いて構成するものであり、その様子は
第8図の回路構成を具現化したバルク・パターンを表わ
す要部平面図である第10図を参照すれば良く理解でき
る。尚、第10図では第3図乃至第9図に関して説明し
た部分と同部分は同記号で指示しである。
In this case, tJ is constructed using two n-channel transistors and two n-channel transistors 11' in adjacent basic cell rows, and the circuit configuration is shown in FIG. This can be better understood by referring to FIG. 10, which is a plan view of a main part showing a bulk pattern embodying the above. In FIG. 10, the same parts as those explained with reference to FIGS. 3 to 9 are indicated by the same symbols.

図から判るように、クロックF・デー1〜回路を構成す
るには、成る基本セル列に所属する基本セルBCIに於
げるnチャネル・トランジスタQN3及びQN4と前記
基本セル列の隣の基本セル列に所属する基本セルBc2
に於けるnチャネル・1〜ランジスクQP3及びQP4
を用いて構成すれば良い。因Qご、従来の基本セルを用
いてクロックド・デー1−回路を構成するに圀゛2個を
必要とし、また、面積で見ると、本発明の基本セルに依
った場合、従来の約1/2にすることができる。
As can be seen from the figure, in order to configure the clock F.day 1 circuit, the n-channel transistors QN3 and QN4 in the basic cell BCI belonging to the basic cell string and the basic cell next to the basic cell string are used. Basic cell Bc2 belonging to column
n-channel 1 to Ranjisk QP3 and QP4 in
It can be configured using . Factor Q: 2 circuits are required to construct a clocked data circuit using conventional basic cells, and in terms of area, the basic cell of the present invention requires approximately It can be reduced to 1/2.

この外、従来の基本セルに依って構成し得る回路と同様
な回路を構成することができるの6才明らかであるが、
その場合、本発明に於いて新たに付加されたnチャネル
・トランジスタQP3及び2 QP/l、nチャネル・トランジスタQN3及びQN4
が使用されなければ、それ等が位置する部分は配線領域
として使用することができる。尚、複数の基本セル列が
存在する場合、相隣る基本セルの各々の一部を用いて従
来の基本セルに依る場合と同様の回路、例えば2人力N
AND、インバータ等を構成することができる。
In addition to this, it is clear that a 6-year-old can construct a circuit similar to a circuit that can be constructed using conventional basic cells.
In that case, in the present invention, newly added n-channel transistors QP3 and 2 QP/l, n-channel transistors QN3 and QN4
If they are not used, the portion where they are located can be used as a wiring area. In addition, when a plurality of basic cell rows exist, a part of each of the adjacent basic cells is used to create the same circuit as in the case of conventional basic cells, for example, two-man N
It is possible to configure an AND, an inverter, etc.

第11図は他の実施例を表わす要部平面図であり、第3
図乃至第10図に関して説明した部分と同部分は同記号
で指示しである。
FIG. 11 is a plan view of the main part showing another embodiment, and FIG.
The same parts as those described with reference to FIGS. 10 to 10 are indicated by the same symbols.

この実施例では、基本セルとしてBCLa。In this example, BCLa is used as the basic cell.

BCI b、BCI c、BCldの4(固が縦に並べ
て配設されているが、そのうち、基本セルBCIa、B
C]b+ BClcでは新たに付加した2個のnチャネ
ル・トランジスタQP3及びQP4.2個のnチャネル
・トランジスタQN3及びQN4の向きが第4図に関し
て説明した実施例と相違しているだけで他は同じである
。即ち、第4図に見られる実施例では、各トランジスタ
QP3.QP4.QN3.QN4のゲート長方向がトラ
ンジ3 スタQPI、QP2.QNI、QN2のそれに対して直
交する方向、即ぢ、横方向(紙面で見て左右方向)に向
いて配設されているが、第1】図の実施例では、全トラ
ンジスタのゲート圏方向は同方向、即ち、縦方向(紙面
で見て上下方向)に向いて配設されている。尚、基本セ
ルBC1dB才第4図に示したものと同じ方向になって
いる。
The four basic cells BCI b, BCI c, and BCld are arranged vertically, and among them, the basic cells BCIa and B
C]b+ BClc has two newly added n-channel transistors QP3 and QP4.The only difference is the orientation of the two n-channel transistors QN3 and QN4 from the embodiment described with reference to FIG. It's the same. That is, in the embodiment shown in FIG. 4, each transistor QP3. QP4. QN3. The gate length direction of QN4 is transistor 3. QPI, QP2. QNI and QN2 are arranged in a direction perpendicular to that of QNI and QN2, that is, in a horizontal direction (horizontal direction when viewed from the paper). They are arranged facing in the same direction, that is, in the vertical direction (vertical direction when viewed from the paper). Note that the basic cell BC 1 dB is in the same direction as shown in FIG.

発明の効果 本発明に依るマスク・スライス方式に於ける基本セルで
は、ソース領域或いはドレイン領域を共有する21固の
pチャネ月ハトランジスタからなるr+ (−ヤネル・
トランジスタ領域及びソース領域或いはドレイン領域を
共有する2個のnチャネル・トランジスタからなるnチ
ャネル・トランジスタ領域を有し且つ前記2 fllr
lのnチャネル・トランジスタ及び2個のnチャネル・
トランジスタをそれぞれ別個に対応づけてnチャネル・
トランジスタのゲートとnチャネル・トランジスタのゲ
ートとを共通接続してなる基本セルに於いて、前記nチ
ャネル領域の外側に更に2個のnチャネル(或い4 ばnチャネル)1−ランジスタが並設されると共に前記
nチャネル領域の外側に更に2個のnチャネル(或いは
nチャネル)トランジスタが並設されてなる構造になっ
ている。即ち、従来の基本セルる横i告に対し、21固
のpチャネル・1〜ランジスタ及び2 (1?IIのn
チャネル・トランジスタが付加された構成になっている
ものであり、このような構成を採ることに依り、例えば
、2人力NAND或いは2人力NORを構成する場合ば
従来の基本セルを用いたときと同様に配線を行ない、ま
た、RAMセル、1−ランスミッション・ゲート回路、
クロックド・ゲート回路を構成する場合には、新たに付
加した4(1^1のトランジスタを使用することに依り
、従来の基本セルを用いて構成した場合と比較すると1
/2〜I/3の面積に回路を形成することが可能になる
Effects of the Invention The basic cell in the mask-slicing method according to the present invention consists of 21 p-channel transistors sharing a source region or a drain region.
an n-channel transistor region consisting of two n-channel transistors sharing a transistor region and a source region or a drain region;
one n-channel transistor and two n-channel transistors
Each transistor is individually associated with an n-channel
In a basic cell formed by commonly connecting the gate of a transistor and the gate of an n-channel transistor, two further n-channel (or four n-channel) 1-transistors are arranged in parallel outside the n-channel region. In addition, two n-channel (or n-channel) transistors are arranged in parallel outside the n-channel region. That is, in contrast to the conventional basic cell horizontal i-signal, 21 fixed p-channel 1 to transistors and 2 (1? II n
It has a configuration in which a channel transistor is added, and by adopting such a configuration, for example, when configuring a two-man NAND or two-man NOR, it is the same as when using a conventional basic cell. Also, the RAM cell, 1-transmission gate circuit,
When configuring a clocked gate circuit, by using the newly added 4 (1^1) transistors, it is possible to reduce the cost by 1 compared to when configuring it using conventional basic cells.
It becomes possible to form a circuit in an area of /2 to I/3.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第11ツl B;l従来の基本セルの要部等価回路図、
第2図は第1図に示した基本セルのバルク・パターンを
表わす要部平面図、第3図は本発明一実施例5 の要部等価回路図、第4図は第3図に示した基本セルの
バルク・パターンを表わす要部平面図、第5図はRAM
セルを構成した場合の要部等価回路図、第6図は第5図
に示した回路のバルク・パターンを表わず要部平面図、
第7図はトランスミッション・ゲート回路を構成した場
合の要部等価回路図、第8図は第7図に示した回路のバ
ルク・パターンを表わす要部平面図、第9図はクロック
ド・ゲート回路を構成した場合の要部等価回路図、第1
0図は第9図に示した回路のバルク・パターンを表わす
要部平面図、第11図は他の実施例のバルク・パターン
を表わす要部平面図である。 図に於いて、QPI及びQP2はnチャネル・トランジ
スタ、QNI及びQN2はnチャネル・トランジスタ、
1はn型不純物拡散領域、2ばn型不純物拡散領域、3
GI及び3G2は多結晶シリコン・ゲート電極、4CN
はn型基板コンククト・パターン、4CPはp型基板コ
ンタクト・パターン、QP3及びQP4はnチャネル・
トランジスタ、QN3及びQN4はnチャネル・トラン
6 ジスタ、5及び6はn型不純物拡散領域、701及び7
 G 2 cat多結晶シリコン・ゲート電極、8及び
9はn型不純物拡It(領域、10G1及び10G2は
多結晶シリコン・デー1−電極、TNVI及びINV2
4オインパータ、WRDは読み出しワード線、WWば書
き込みワード線、Diは入力データ信号、Diは反転入
力データ信号、■τは反転出力データ信号、LAは第1
層目のAβ配線、LBは第2層目のへe配線、NAは第
1層目のA℃配線■、八と半導体基板とのコンタクト部
分、NBは第21輔目のAρ配線L Bと第1闇目の7
1配線LAとのコンタクI・部分、■卸は正側電源レベ
ル、VSSは接地側電源レベル、Aは入力信号、Xは出
力信号、CKはクロック信号、67は反転クロック信号
、B C] 目成る基本セル列に所属する基本セル、B
C2ば基本セルBCIが所属する基本セル列の隣の基本
セル列に所属する基本セル、BCla、BCI b、B
Clc、BCldは基本セルである。 7
11th B; l Equivalent circuit diagram of the main part of a conventional basic cell,
FIG. 2 is a plan view of the essential parts showing the bulk pattern of the basic cell shown in FIG. 1, FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of the essential parts of the fifth embodiment of the present invention, and FIG. A plan view of the main parts showing the bulk pattern of the basic cell, Figure 5 is the RAM
An equivalent circuit diagram of the main parts when a cell is configured; FIG. 6 is a plan view of the main parts without showing the bulk pattern of the circuit shown in FIG. 5;
Fig. 7 is an equivalent circuit diagram of the main part when a transmission gate circuit is configured, Fig. 8 is a plan view of the main part showing the bulk pattern of the circuit shown in Fig. 7, and Fig. 9 is a clocked gate circuit. Main part equivalent circuit diagram when configured, 1st
0 is a plan view of the main part showing the bulk pattern of the circuit shown in FIG. 9, and FIG. 11 is a plan view of the main part showing the bulk pattern of another embodiment. In the figure, QPI and QP2 are n-channel transistors, QNI and QN2 are n-channel transistors,
1 is an n-type impurity diffusion region; 2 is an n-type impurity diffusion region; 3
GI and 3G2 are polycrystalline silicon gate electrodes, 4CN
is an n-type substrate contact pattern, 4CP is a p-type substrate contact pattern, QP3 and QP4 are n-channel
Transistors QN3 and QN4 are n-channel transistors 6 transistors, 5 and 6 are n-type impurity diffusion regions, 701 and 7
G2 cat polysilicon gate electrodes, 8 and 9 are n-type impurity enriched It (regions, 10G1 and 10G2 are polysilicon gate electrodes, TNVI and INV2
4 inverter, WRD is the read word line, WW is the write word line, Di is the input data signal, Di is the inverted input data signal, ■τ is the inverted output data signal, LA is the first
The Aβ wiring in the first layer, LB is the e wiring to the second layer, NA is the contact part between the first layer A℃ wiring ■, 8 and the semiconductor substrate, and NB is the Aρ wiring LB in the 21st layer. 1st dark eye 7
1 Contact I/part with wiring LA, ■ Wholesale is positive side power supply level, VSS is ground side power supply level, A is input signal, X is output signal, CK is clock signal, 67 is inverted clock signal, B C] A basic cell belonging to a basic cell string consisting of B
C2 is a basic cell belonging to the basic cell column next to the basic cell column to which the basic cell BCI belongs, BCla, BCI b, B
Clc and BCld are basic cells. 7

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] ソース領域或いはドレイン領域を共有する21[1i1
のnチャネル・トランジスタからなるnチャネル・1−
ランジスタ領域及びソース領域或いはドレイン領域を共
有する2個のnチャネル・トランジスタからなるnチャ
ネル・l−ランジスタ領域を有し且つ前記2個のnチャ
ネル・トランジスタ及び21固のnチャネル・トランジ
スタをそれぞれ′A111固に対応づけてnチャネル・
l・ランジスタのゲートとnチャネル・トランジスタの
ゲートとを共通接続してなる基本セルに於いて、前記n
チャネル領域の外側に更に2(ll+1のnチャネル(
或いはnチャネル)1〜ランジスタが並設されると共に
前記nチャネル領域の外側に更に2個のnチャネル(或
いはnチャネル)トランジスタが並設されてなることを
特徴とするマスク・スライス方式に於ける基本セル。
21 [1i1 sharing the source region or drain region
An n-channel transistor consisting of an n-channel transistor of
It has an n-channel l-transistor region consisting of two n-channel transistors sharing a transistor region and a source region or a drain region, and the two n-channel transistors and 21 n-channel transistors are each n-channel in association with A111
In a basic cell formed by commonly connecting the gates of an l-channel transistor and an n-channel transistor,
There are also 2 (ll+1 n-channels) outside the channel region.
In a mask slicing method characterized in that one to n-channel transistors are arranged in parallel and two further n-channel (or n-channel) transistors are arranged in parallel outside the n-channel region. Basic cell.
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DE8484304668T DE3477312D1 (en) 1983-07-09 1984-07-09 MASTERSLICE SEMICONDUCTOR DEVICE
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JPH02177456A (en) * 1988-12-28 1990-07-10 Oki Electric Ind Co Ltd Gate array basic cell
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WO1991020094A1 (en) * 1990-06-15 1991-12-26 Seiko Epson Corporation Semiconductor device
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