JPH06195532A - 像解析計数システム及びその方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 コンベヤ上を運ばれるズレ重なり合った折
帳、または、スタッカーに排出されるズレ重なり合った
折帳を計数するシステムである。 【構成】 折帳２の側縁の像を線形光検出アレー例えば
ＣＣＤアレー８上に結像させ、それを逐次解析して正確
な計数を得る。すなわち、前記アレー８からの出力を逐
次数値化し、折帳の側縁の厚さの測定値の変化の割合が
正から負へ変る時点において、折帳の厚さ測定値が折帳
の厚さ校正値を超える時点で単数の計数増分を出力し、
そして、前記厚さ測定値が第２の厚さ校正値を超える時
点で２数の計数増分を出力する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、計数システム及びそ
の方法に関し、より詳言すれば、人間の視覚が対象物を
解析して計数する方法によく似た像解析手法を利用する
対象物の計数システム及びその方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば新聞輪転機から搬出される多数の
新聞を計数する分野において、従来、数多くの計数シス
テムが開発され、それらは通常、機械、超音波、レーザ
ーまたは赤外線を利用したものが公知である。

【０００３】特公昭４０−２０７５８号は、ズレ重なり
合って送られる被計数体上に結ばれる光像の乱反射光を
２個の受光素子で検出し、この出力を比較して被計数体
の段の進行によって一方の検出部への反射光の入射が遮
られることによってのみ計数信号を得るようにした光学
的計数検出器を開示する。

【０００４】特開昭５７−１３５９１号は、ズレ重なり
合って送られる被計数体にレーザー光線を反射させ、そ
の反射光を少なくとも２つの感光センサで測定し、測定
された表示値をマイクロコンピュータで処理する計数方
法及び装置を開示する。

【０００５】特開昭５９−７７５８４号は、概ね前記２
つの公知例を組み合わせた印刷物の計数装置を開示す
る。

【０００６】更に、特開昭６２−２２６２９５号は、ズ
レ重なり合って送られる被計数体にビーム状の光線を照
射し、その光線の反射点の高さが被計数体の端部の厚さ
の段差により急激に変化する状態を検出し、反射点の高
さの時間に関する微分が当該被計数体の他の部分に比較
して非常に大きいことを利用して部数を計数する装置を
開示する。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】先ず、機械的カウンタ
ーは、永年にわたり、魚鱗状に直列にズレ重なり合った
流れにおかれた新聞を計数するため、及び、新聞用スタ
ッカー装置の稼動サイクルを制御するために使われ、そ
れによって得られた計数値は数種類の全体的装置に供給
される。これらの機械的カウンターは、比較的低廉とい
う利益があるものの、例えば、挿入包装のように、小形
と大形の製品が混在する場合に計数の正確さが低下し、
維持費が高く、寿命が短く、また、今流行のグリッパー
形コンベヤに使用し難く、併設に不向きであるなどの不
利益を有する。

【０００８】次に、超音波によるカウンターは、紙が電
気−機械変換器（トランジューサー）の下を通過すると
きに生ずる圧力の変化を読み取るシステムであるが、こ
れは操作環境の一面に広がる紙粉によって汚される多く
の機械構成部分をもち、また、紙と変換器との間の距離
の変化、不幸なことには、そのような変化は新聞の流れ
では普通に生じるが、そのような変化にあまり鋭敏でな
く、更に併設に不向きである。

【０００９】レーザー装置は多くの好意的な名声にも拘
らず、新聞の計数に使うとなると、多分、ユーザーの制
約された保存寿命及び運転寿命の故かと思われるが、彼
らから入り混った批評を受ける。ユーザーは彼らが欲す
るとき新しい予備部品が作動しないということに満足し
ない。通常、新聞計数用のＨｅ−Ｎｅレーザーは、より
一層強力なレーザー装置と比べて、安価ではあるが、や
はり、それらは、発行者に対し責任上、継続して取替コ
ストを表わすものである。レーザーカウンターは、計数
値記録のため反射光線ビームに換えられることが期待さ
れる。

【０１１０】赤外線カウンターは、レーザー装置のよう
に、計数するのに反射エネルギーを使うが、それらは費
用がかかり、薄い製品及び厚い製品に感応しない。

【００１１】新聞発行業務において、印刷機から搬出さ
れる新聞を正確に計数することは、必要な商品業務の達
成上不可欠である。新聞印刷の常時増加や急騰するコス
トに伴なって、計画された需要よりも印刷機稼動中の折
帳をより多く印刷することが行われているが、そのこと
は出版業界においてもはや好ましい業務でなく、それ
は、逆に、明らかに実行不可能で貧弱な業務であり、実
際に販売可能な折帳よりかなり多くの折帳を印刷するこ
とは好ましくない業務である。つまり、多過ぎず、少な
過ぎず、極めて正確な印刷計数を得ることが望ましい。

【００１２】前述した従来技術における感知手段のすベ
ては或種の混乱に会う。それらに備えるために、機械的
カウンターの場合には、接触星形輪その他の機構に変更
され、他のすべての装置の場合においては、発射エネル
ギーの変化を検出することによって感知が達成される。

【００１３】

【課題を解決するための手段】この発明は、コンベヤ上
を運ばれる折帳、又は、スタッカーに排出される折帳を
計数するシステムであって、前記折帳の側縁に対して交
差する方向、又は、その側縁を含む面に対して垂直な面
に列設された線形光検出アレー上に前記折帳の側縁を光
学的に結像させ、ＤＣ残留偏差を除去するために、前記
線形光検出アレーからのアナログ出力を定時間比で差動
増幅手段へ逐次シフトさせ、その差動増幅手段からの出
力を、選択された光レベルで定められた直列デジタル出
力信号に変換し、更に、その出力信号を直列入力／並列
出力シフトレジスタに入力させ、前記線形光検出アレー
に現れる折帳の流れの像の量的輪郭を前記シフトレジス
タの出力に基いてマイクロプロセッサにて数値化し、更
に、前後の折帳の輪郭の決定値を比較し、その差によっ
て前記像の上端の微分値を得て、連続する輪郭の決定値
の変化の割合が正から負へ変る時点ごとに折帳の計数を
出力するものである。

【００１４】上記に加えて更に、この発明は、折帳の厚
さ測定値を得て、その厚さ測定値が厚さ校正値を超える
時点で単数の計数増分を出力し、また、前記厚さ測定値
が第２の厚さ校正値を超える時点で２数の計数増分を出
力する。

【００１５】前記折帳の側縁を光学的に結像する手段
は、第１実施例では、光源と光遮断材とレンズシステム
とからなり、前記光遮断材は、前記折帳の側縁に対して
交差する方向に沿って細長孔を有し、前記レンズシステ
ムは、その細長孔と前記線形光検出アレーとの間の視線
上に設けられ、かつ、それによって、前記細長孔に規制
された折帳の側縁が前記線形光検出アレー上に結像し、
そして、前記光源は、前記視線に対して所定の角度を有
する位置に設けられ、それによって、前記レンズシステ
ムで定められたフィールドの予定深度の背後の光が、調
整可能なしきい値検出レベルの下であり、そして、折帳
の側縁が照らされて前記線形光検出アレー上に結像する
ように配設される。

【００１６】前記折帳の側縁を光学的に結像する手段
は、第２実施例では、光源とレンズシステムと第１及び
第２のミラーとからなり、前記レンズシステムは、前記
折帳の表面に平行し、かつ、前記線形光検出アレーにも
平行する面に設けられ、前記第１ミラーは前記折帳から
の反射光を受け、前記第２ミラーは前記第１ミラーに対
して４５°の角度で設けて、前記折帳の側縁の像を前記
第１ミラーから前記レンズシステムに送り、前記線形光
検出アレー上に結像させる。

【００１７】なお、前記線形光検出アレーはＣＣＤアレ
ーに置き換えて使用し得る。

【００１８】

【作 用】この発明に使われるセンサは、全く受動的
であって、通過する場面に据付けられ、その場面を見
て、見えるものを認識し、そして、それを解析する像処
理技術を使ったエレクトロニクスの機敏なシステムであ
って、人間の目によく似た機能を発揮する。

【００１９】この発明に装備される光学システムは、被
計数体を超高速で見るという観察に意味のある解析を加
えるために、人間の視覚システムによる観察を複製する
ものである。

【００２０】更に、この発明は、人間の眼の複製に本質
的に類似する光学的感応システムを備え、そのシステム
によって印刷物の搬出を印刷機の側縁で特異に見ること
ができ、そして、完全に重なり合った２部の折帳を１部
の折帳として計数エラーすることなく、確実に２部とし
て解析し得る。

【００２１】中に、この発明に使われる光学的計数シス
テムは、本質的に受身であり、かつ、人間の視覚システ
ムのように、計数を得るために通過する像を計数するこ
とができ、また、再校正することができ、かくして、像
の変化を動的に調整することができ、被計数体上に押し
つけられた像の乱れによっても影響を受けない正確な計
測が得られる。

【００２２】この発明によるセンササブシステムは、第
１実施例では、レンズシステム、自己抑制光源及び観察
窓とからなり、その観察窓となる細長孔を通る視線と光
路との間の角度によって、フィールドの焦点深度の後背
地域に、ノイズ潜在源を消去する陰が形成される。

【００２３】この発明によるセンササブシステムは、第
２実施例では、スタッカーの空間的制約のために、折帳
の側縁への光路がレンズシステムへの反射光の路に対し
て通常垂直であるように配設され、窓は、イメージセン
サーを含む面に対して通常垂直な面に設けられる。

【００２４】電気的サブシステムは、走行コンベヤ上を
運ばれる折帳、又は、スタッカーに排出される折帳の、
その側縁に対して交差する方向、又は、その側縁を含む
面に対して垂直な面に列設されたＣＣＤアレー上に光が
突き当たって折帳の端から反射する光の像が結ばれ、そ
の像を解析することによって折帳の計数が得られる方法
を行う。

【００２５】前記センサシステムの電気的サブシステム
は、そこからＤＣ出力残留偏差を取り除くために、前記
ＣＣＤアレーから差動増幅器へアナログ出力を順次反復
してシフトさせ、その結果生じる信号を増幅し、そし
て、前記差動増幅器から出力されたアナログ信号を選択
光レベルによって定められた直列デジタル出力信号に変
換する。この直列デジタル出力は、ＲＡＭ内に記憶され
る並列出力から、直列入力／並列出力シフトレジスタに
供給され、そのＲＡＭ内に記憶されたデータはマイクロ
プロセッサに移される。

【００２６】通常、ソフトウエア制御を経由するコンピ
ュータサブシステムは、ＲＡＭ内の像解析データを読み
出して、そのデータがセンサシステムによって進行する
折帳の側縁の像をソフトウエアの中に表示する。そのソ
フトウエアは、光学システムを通過する折帳像の上端の
輪郭の決定値の表示を決め、それによって、折帳の高さ
のデータ決定値が得られ、そして、その折帳の高さのデ
ータの定時間微分として指定される折帳の高さのデータ
に換えられる。

【００２７】そのソフトウエアは、高さのデータ決定値
と時間微分データとを用いて、像の高さ測定値と微分値
とを決め、それらの値をソフトウエアの折帳計数決定に
使用する。

【００２８】そのソフトウエアは、例えばそのシステム
が自己計測されるような、折帳の先行端縁を決める計測
微分値よりも大きな即時的な正の決定微分値を用いる。
従来の折帳輪郭に適切な履歴情報は、光学システムを通
過する次の折帳の高さを決める資料としてマイクロプロ
セッサに記憶され、そして、現在の折帳の輪郭上の現微
分値がインジケータにおいて正から負へ変化するのを使
って、現輪郭から先の輪郭を差し引いた現高さ決定値を
得る。それから、そのソフトウエアは、対象物が折帳で
あることを決めるために、前記現高さ決定値と前記高さ
測定値とを対比し、そして、前記基準が満たされている
とき、単数の計数増分を出力する。

【００２９】その現高さ決定値が、光学システムを通過
する完全に重なった２部の折帳を表示する決定値と比較
されるとき、マイクロプロセッサは２数の計数増分を出
力する。かくして、デジタルで記憶された折帳の輪郭の
高さとその変化の割合とを使って、折帳の計数が正確に
出力される。

【００３０】

【実 施 例】図１及び図２で示すように、光学サブシ
ステムの第１実施例は、次の通りである。 コンベヤ上
をズレ重なり合って運ばれる新聞の流れは、図１におい
て対象物２として示され、この対象物２は、垂直方法の
細長孔４を通ってレンズシステム６を経由し、例えばＣ
ＣＤアレーのような線形光検出アレー８上に結像され
る。本発明において、この対象物２は、例えば、ズレ重
なり合った新聞の側縁であり、ＣＣＤアレー８は、例え
ばアメリカ合衆国テキサス州 ダラス インストルメン
ト インコーポレーテッドで製造販売されるＴＣ１０３
型ＣＣＤアレーが使用される。

【００３１】図２は、図１で示すシステムの平面図を示
し、その中で、コンベヤ上のズレ重なり合った新聞の流
れは、図２の平面内に位置する。光源１０は、光遮断材
１４に設けられた縦の細長孔４に対して或る角度で設け
られる。図１のレンズシステム６を経て光遮断材１４内
の細長孔４へ向う視線１２は、光源１０からの光をフィ
ールドの予定深度を越えて見ることができない。そし
て、細長孔４によって与えられる陰は、図１のレンズシ
ステム６を経てＣＣＤアレー８上に結像される縦形の光
学的像薄片からすべての有害な騒音影響を縮小する方向
へ作用する。

【００３２】細長孔４の後に搬送される新聞の流れの側
端が、レンズシステム６の場の深さの範囲内であるか
ら、ＣＣＤアレー８上に結像する縦形の像薄片は、細長
孔４内へ現れる新聞の流れの縁を離れて反射する光以外
の光によっては影響されない。このやり方で、光源１０
は、レンズシステム６に現れる視線１２に関して角度づ
けられて見られ、そして、結果的には、場の焦点深度の
後の地域が陰になるような角度を形成し、それによって
ノイズ潜在源が除去される。

【００３３】光学サブシステムの第２実施例は、図８及
び図９の符号１で示すように、ズレ重なり合った新聞２
の流れがスタッカー３に排出され、そして、その流れは
図７の面に対して通常垂直であり、かつ、図８の面に対
して平行である。光学サブシステム１は窓５を備え、そ
の窓を通して、新聞２の縁が、レンズシステム６を経由
したＣＣＤアレーのような検出アレー８に向けて反射さ
れ、結像される。

【００３４】新聞２の縁は窓５を通した光源１０によっ
て照らされ、新聞２の縁からの反射光線が、光源１０に
隣接して設けたミラー１１に突き当たる。ミラー１１は
窓５の前を通る新聞２の縁に対して約４５°の角度で斜
めに設けられているので、新聞２の縁からの反射光線は
ミラー１１からミラー１３に送られる。このミラー１３
は、ミラー１１に対して約４５°の角度で斜めに設けら
れているので、窓５を通って、ミラー１１に入る新聞２
の縁の像はそのミラー１１で９０°反射し、更にミラー
１３で９０°反射して、レンズシステム６に入り、その
レンズシステム６を通って検出アレー８に突き当たる。
従って、スタッカー３内に付加される空間を要求するよ
うな新聞の縁に平行な面に検出アレー８を設ける必要が
ない。ＣＣＤアレー８とレンズシステム６が新聞２の縁
に垂直な面に設けられているから、空間の重要性はこの
光学サブシステム１を使う要件とはならない。

【００３５】図３において、ＣＣＤアレー８（図１）か
らのアナログ出力１８は像信号処理回路１５に入力する
一方、複合ドライバーライン１６は線形光検出アレー８
に信号を供給して、ライン１８上の線形光検出アレーか
らのアナログ出力１８と、当該アレーからの基準暗レベ
ル出力２０とを、順次差動増幅器２２へシフトして、そ
こからＤＣ残留検査を取り除き、そして、その信号を増
幅し、そこから高周波ノイズを取り除く。差動増幅器２
２からの出力は、ライン２４を経由して、ライン２６上
のしきい値調整信号と共に、比較器２８へそれぞれ入力
し、差動増幅器２２からの出力は、比較器の出力ライン
３０上の選択光レベルによって規制されるところの直列
デジタル出力信号に変換される。

【００３６】ライン３０上の直列デジタル出力信号は、
直列入力並列出力形シフトレジスタ３２に入力し、その
シフトレジスタ３２からの並列出力はライン３４を経由
し、バッファ６２からのアドレスライン３８の制御下に
おいて、ＲＡＭ３６に入力する。なお、前記バッファ６
２は、タイミングと論理の回路５４からライン６４上の
アドレス情報を受け取る。

【００３７】他方において、ＲＡＭ３６からの並列デー
タ出力は、バッファ４６を通り、ライン４８を経由し
て、マイクロプロセッササブシステム４９（図４）に供
給される。

【００３８】図３の像信号処理回路１５は、更に、クロ
ック源５０をもち、そのクロック源は、ライン５２を経
由してタイミングと論理の回路５４への出力を備え、そ
のタイミングと論理の回路５４は、ライン５６を経由し
てＣＣＤアレードライバー群５８への出力を備え、その
ＣＣＤアレードライバー群５８のライン群１６を経由し
た出力は、前記アレー８からの直列様式内にアナログ情
報を読み出すために供給される。更に、前記タイミング
と論理の回路５４は、バッファ６２，４０，４６及びＲ
ＡＭ３６に制御入力としてライン６０上へタイミング制
御を供給する。タイミングと論理の回路５４は、更に、
ライン６４を経由するバッファ６２への制御と、ライン
６６を経由する直列入力並列出力形シフトレジスタ３２
ヘの制御とを備える。

【００３９】マイクロプロセッサ４４（図４）によっ
て、信号読出し指令が発せられると、その指令は、信号
ライン５５を経由してタイミングと論理の回路５４に供
給され、タイミングと論理の回路５４は、ＯＫを生じつ
つ保持をオフにして、データがＣＣＤアレー８からＲＡ
Ｍ３６へのシフトが完了するまでに、信号ライン５７上
に生じた信号を読み出す。それから、タイミングと論理
の回路５４は、ライン６０を経由して、バッファ４０及
び４６を可能にし、バッファ６２を不能にする。タイミ
ングと論理の回路５４は、更に、シフトレジスタ３２か
らＲＡＭ３６内へのデータのシフトを終結させるため
に、信号ライン６６を経由して信号を生ぜしめる。マイ
クロプロセッササブシステム４９（図４）からライン４
２を経由するアドレス情報は、バッファ４０及び信号ラ
イン３８を経由してＲＡＭ３６に供給されるので、ＲＡ
Ｍ３６内にあらかじめ記憶されたデータは、ライン４８
を経由してマイクロプロセッサ４４（図４）に出力する
ために、ライン３４を経由してバッファ４６に供給され
得る。

【００４０】かくして、シフトレジスタ３２からの並列
出力は、コンベヤ上の新聞の縁の連続的な並行薄片像
が、ＣＣＤアレー８上の結像に発展して表示されなが
ら、マイクロプロセッササブシステム４９（図４）に供
給され、その紙の流れの縁の像に似た縦薄片を使うこと
により、光学システムによって、通過する新聞の計数を
生ぜしめることに供せられる。

【００４１】この発明において、マイクロプロセッササ
ブシステム４９（図４）は、信号４８を経由して図３の
像信号処理回路１５からのデジタルデータを受け取り、
そして、そのデータから、ソフトウエアが、図１のＣＣ
Ｄアレー８に現れた像の上端の位置を決定する。この用
語「上端」は新聞の高さとして規定される。

【００４２】そのソフトウエアは、新聞の輪郭の上端が
図１のＣＣＤアレー８内に現れるその上端から下端の新
聞の輪郭の高さを考えながら、前記デジタルデータから
決定する。この決定は、新聞が図１の検出器システムの
後に運ばれるように、ＣＣＤアレー８上に突き当たる連
続的な像“薄片”のために行われる。

【００４３】図４において、マイクロプロセッサブシス
テム４９は、マイクロプロセッサ４４を含んで表示され
る。マイクロプロセッサ４４は、例えば、テキサス イ
ンストルメント インコポレーテッドで製作販売された
ＴＭＳ７０００型を使用し、それは同社が１９８６年に
公開した公開番号ＳＮ００１Ｂ「８ビットマイクロコン
ピュータファミリー」に記載される。マイクロプロセッ
サ４４の組合わせは、８ビットデータバス４８及び２０
ビットアドレスバス４２である。高次アドレスデコード
は、高次アドレスデコード回路９０によって達成され、
その回路は、アドレスライン４２上で、マイクロプロセ
ッサ４４が消去可能なプログラマブルリードオンリーメ
モリー（ＥＰＲＯＭ）９２か、または、ランダムアクセ
スメモリ（ＲＡＭ）９４との交信の選択、もしくは、マ
イクロプロセッサ４４がデジタル−アナログ変換器９６
にデータをロードするか否かの選択をする。前記ＥＰＲ
ＯＭ９２は、本発明に使用するソフトウエア用の記憶装
置をも備える。ＲＡＭ９４は操作上のＲＡＭであって、
これはマイクロプロセッサ４４のビルトインＲＡＭとの
関係で使われる。デジタルアナログ変換器９６はマイク
ロプロセッササブシステム４９用のアナログテスト出力
を備え、そして、ＥＰＲＯＭ９２の制御下で操作し、そ
のＥＰＲＯＭ９２は、データを制御して、達成されるべ
き特種なテストに属するデジタルアナログ変換器９６に
シフトする。図６に記載される１つの特殊なテストは、
新聞一部の上端の輪郭の出力である。新聞の上端に比例
する信号がテス卜目的のために生起される。

【００４４】マイクロプロセッサ４４は、ワンショット
デバイス１００への出力信号を生じ、この出力信号は１
つの新聞の検出を表示する。ワンショットデバイス１０
０の出力はラインドライバ１０２、光アイソレータ１０
４及び１０６に向けて供給される。ラインドライバ１０
２の出力は遠隔位置に設置され得る制御コンソールへの
出力を備える。光アイソレータ１０４は、マイクロプロ
セッササブシステム４９からの分離を要求する制御コン
ソールへの出力を備える。光アイソレータ１０６は、発
光ダイオードティスプレイへの出力を備え、そのディス
プレイは新聞が検出される度ごとに動作する。このやり
方で、このシステムのオペレータは、そのシステムが新
聞を操作し検出中であることを容易に決定し得る。マイ
クロプロセッサ４４は、また、制御コンソールへの出力
である故障条件を表示するラインドライバ１０８を経由
する信号を生起する。

【００４５】マイクロプロセッサ４４への入力は、又、
ランプ「オン」検出器から比較器１１０を経由して備え
られ、その検出器は、例えば光検出器からなり、その光
検出器は光源１０（図１）からの光を受けるために設け
られ、そして、光の現存状態で作動する。ランプ「オ
ン」検出器の出力は、入力調整を含む比較器１１０に送
られる。ランプ「オン」検出器からの信号がないとき
は、故障条件を生ずるソフトウエアによって使うための
システム操作用の不足光を表示しつつ、マイクロプロセ
ッサ４４へ信号を発する。マイクロプロセッサ４４は、
また、デジタル・アナログ変換器９６からの特殊テスト
出力を選別するためにテスト出力選別入力を含む信号ラ
イン１１２を経由して入力を受け入れる。マイクロプロ
セッサ４４は、また、それぞれマイクロプロセッサ４４
の範囲内において、出力の調整と機能のタイミングを計
るため、パワーオンリセット１１４及びクリスタル発振
機１１６からの入力を受け入れる。

【００４６】図６に記載されるソフトウエアは、走行す
る新聞の上端像（新聞の高さ）の継続決定値の間の差を
得るためにプログラムされる。それらの決定値は定時間
比でなされ、そして、それは、ＣＣＤアレーを通過する
コンベヤによって送られる走行新聞の上端の輪郭の変化
（微分）の比率に相当する。新聞の高さのこの変化が正
（増加）値から負（減少）値に変るとき、そのソフトウ
エアは、上端の輪郭の先の決定値を根拠とした新聞走行
輪郭の最高高さを計算し、そして、このとき、新聞の計
数が出力される。

【００４７】この手順が図５に図式的に記され、その中
で、第１実施例では、前記ＣＣＤアレー８は、コンベヤ
上を送られるズレ重なり合った新聞の方向上に位置付け
られ、かつ、そのコンベヤの走行方向は、前記ＣＣＤア
レー８の底で決められる基準面７０との関係で方向づけ
ることができる。前記ＣＣＤアレー８は、例えば、コン
ベヤ面に交差して配置された２０４８個のセルを線形に
配列してなるＣＣＤであり、それらは、コンベヤの表面
６８上を送られるズレ重なり合う新聞の側縁に対して交
差する方向に配置され得る。

【００４８】前記手順は、第２実施例では、図９で示す
ように、ＣＣＤアレー８がスタッカー３に排出されるズ
レ重なり合った新聞２の方向上に位置付けられ、かつ、
その走行方向は、前記ＣＣＤアレー８の底で決められる
基準面７０との関係で方向づけることができる。前記Ｃ
ＣＤアレー８は、例えば、集積される新聞の表面６８に
平行に配設された２０４８個のＣＣＤセルからなり、か
くして、前記ＣＣＤアレー８は、スタッカー３によって
集積されつつあるズレ重なり合った新聞を収容する水平
面に平行に配置される。

【００４９】ＣＣＤアレー８を通過して運ばれるところ
の、ズレ重なり合って走行する第１の新聞７２は、新聞
不存在時には前記検出器の表示もなく、新聞存在時には
前記検出器の表示があるから、前記ＣＣＤアレーの底を
基準とした１つの大きな正の微分値を生じ、それで、計
数パルスが出力される。

【００５０】更に、図５において、線形光検出アレー８
の最初のエレメントはそのアレー中の第１の価（あた
い）、つまり、最初の光映像セルであって、前記アレー
８が上から下へ向けて操作されるときに、その最初のエ
レメントが新聞の上端を写しており、そして、それが、
視場を横切って動く新聞の輪郭を決めるために使われ
る。数からみたこの上端の価（あたい）は、前記アレー
中におけるエレメントの数によって決められ、そして、
そのエレメントは、そのアレーか上から下へ向けて操作
されるときに第１番目の最初の光映像セルとして最初に
検出され、この数が新聞の高さとして決められる。

【００５１】微分変化を決めるために、前記上端の輪郭
（高さ）の現在値から先の見本値が差引かれる。前記高
さの現在値が、Ａ点からＢ点に向けて示されるように、
先の値よりも大である場合には、その微分変化は正であ
り、そして、前記高さの現在値が、先の値よりも小であ
る場合には、Ｂ点からＡ_１点に向けて示されるように、
その微分変化は負である。前記微分変化は、Ｂ点で正か
ら負に変り、そして、このＢ点が最高位置であって、こ
のＢ点における上端の輪郭（新聞高さ）の変化率は零で
ある。前記微分変化は、Ａ_１点で負から正に変り、そし
て、このＡ_１点が最低位置である。その新聞の厚さ値
は、高さの最高値から高さの先の最低値を差引けば算出
される。換言すれば、Ｂ_１点における前記アレー上の新
聞の上端の輪郭の高さ値から、Ａ_１点における前記アレ
ー上の新聞の上端の輪郭の高さ値を差引けば、その新聞
の厚さ値が算出される。

【００５２】この厚さの目盛上の校正値は、前記アレー
と交差する最初の１６部の新聞の厚さ値を平均化するこ
とにより計算され、この校正値は、先の１６部の新聞の
厚さ値を使って生産を続ける間中は平均化が続き、それ
は、新聞の流れに約３秒間の途切れが生ずるまで継続
し、その途切れ時に前記校正値が再計算される。その理
由は、走行中、製品のサイズの変更が行われることに備
えるためである。

【００５３】１部の新聞例えば７２がセンサの前を通過
するとき、１つのパルスが出力され、その出力は、前述
したように微分値が正から負に変る度ごと、つまり、最
高位置ごとに生じ、そして、それは厚さ値が目盛上の校
正値の３／８よりも大となるときに生じる。そして、前
記厚さ値が前記校正値の２００〜４００パーセントの間
となった場合には、２部の新聞７６及び７８が重なって
いるものとみて、２つのパルスが出力される。この状況
は、図５中のＢ_２点で示される。

【００５４】記載されたシステムは、高さ、高さの変化
率及びアレー８上に映像された走行する新聞の上端輪郭
の高さの変化率を決めるために操作され、そして、周辺
状況、積上がった新聞、波状となった端部等が結果的に
加工処理されるので、マイクロプロセッサ４４が受け取
る信号にノイズもしくは変動等の混乱が入る。しかしな
がら、これらの混乱は、ノイズとしてソフトウエアによ
り解読され、そして取り除かされねばならない。本発明
は、それらの混乱を除去するために、図２に関して討議
された遮蔽配置、及び図１に関して討議された光学的配
置において、周囲の光の混乱すなわち外的反射等に対す
る防護手段を備え、それらについては次の通りである。
すなわち、レンズシステム６の視線１２の場の深さは、
その場の深さを超えて光を受けることを許さないから、
場の深さの背後にあるあらゆる外的光源から生ずる光の
混乱を回避することができ、また、光遮蔽配置と、それ
を通し、かつ、レンズシステム６を経由して投射される
反射光との関係によって形成される影（シャドウ）は、
更に周りの光から生ずる混乱を回避するのに役立つ。

【００５５】図６ａから図６ｏは、このシステムで使う
ソフトウエアを示すコンピューターのフローダイヤグラ
ムである。

【００５６】図６ａ、図６ｂ及び図６ｃは、このシステ
ムの各種サブルーチンを伴なったメインプログラムを示
す。

【００５７】図６ｄは、マイクロプロセッサ４４とラン
ダムアクセスメモリ９４の範囲内におけるすべてのレジ
スタを初期設定するサブルーチンを示す。

【００５８】図６ｅは、新聞の上端の輪郭を得てその新
聞の上端の関係値を指定するためのランダムアクセスメ
モリ３６（図３）読出し用サブルーチンを示す。

【００５９】図６ｆは、信号ライン１１２（図４）から
マイクロプロセッサ４１への入力を経て選別可能な、デ
ジタルアナログ変換器９６からのアナログテスト信号出
力用サブルーチンを示す。

【００６０】図６ｇは、新聞の輪郭内に増加がある時正
の微分値を計算し、そして、その内に減少があるとき負
の微分値を計算するためのプログラムを示す。

【００６１】図６ｈは、新聞の上端の先の４つの値及び
その変化値の履歴ファイルを維持するための履歴サブル
ーチンのソフトウエアを示す。

【００６２】図６ｉ及び図６ｊは、新聞の単数検出の基
準及び誤ったノイズ混乱を取り除くための基準を含んだ
新しい検出サブルーチンのソフトウエアを示す。

【００６３】図６ｋは、高さ校正値及び微分値を決定す
る校正サブルーチン用のソフトウエアを示す。

【００６４】図６ｎは、マイクロプロセッサ４１（図
４）からの出力パルスの間隔をあけるための遅延サブル
ーチンを示すフローダイヤグラムである。

【００６５】図６ｍは、ワンショットデバイス１００
（図４）を励起するためにパルスを出力するサブルーチ
ンを示す。

【００６６】図６ｎは、ラインドライバ１０８（図４）
から故障表示出力を発するために新聞が線形光検出アレ
ー８の上端の上を通るとき光源１０（図１）による光の
故障検出用サブルーチンのソフトウエアを示す。

【００６７】図６ｏは、出力パルスの間隔をあけるのに
使われる時間の中断及び先の時間周期の間に線形光検出
アレー８を通過した新聞がないという理由でそのシステ
ムを再校正するための時間を決めるのに使われる時間中
断生起用サブルーチンを示す。

【００６８】さて、図６ａにおいて、まず、ブロック１
２０で、マイクロプロセッサ４４内のランダムアクセス
メモリの先の量を仕切るために、スタックポインターが
ロードされる。次に、ブロック１２２で、初期設定サブ
ルーチンが、マイクロプロセッサ４４及びランダムアク
セスメモリ９４（図４）の初期設定レジスターにおいて
初期値を０にロードする。それから、ブロック１２４
で、システムを再校正する時か否かを決する決定がなさ
れる。例えば約５秒以内にすべての新聞が検出されない
場合には、線形光検出アレー８が自動的に再校正し、マ
イクロプロセッサ４４内のレジスタは、その状況を決す
るためにチェックされる。レジスタが零を含む場合に
は、再校正する時間は通過しない。そして、前記レジス
タが１を含む場合に再校正が行われる。

【００６９】再校正を必要としない場合には、ブロック
１２６でその上端取出しサブルーチンが呼び出される。
その上端取出しサブルーチンは新聞配列の上端をフェッ
チし、そして、図６ｅに関して討議される。次に、ブロ
ック１２８で、新聞の上端が線形光検出アレー８の上で
あるかどうかの決定がなされる。その決定が「諾」の場
合には、カウンターはブロック１３０で増大し、そし
て、そのカウンターが決定ブロック１３２でＦＦ（ＨＥ
Ｘ）に等しい場合には、プログラムビットかブロック１
３４でセットされ、そのブロックは、故障信号を出力
し、故障サブルーチンがブロック１３５で呼び出され
る。前記ブロック１３２での決定が「否」である場合に
は、プログラムはブロック１３５で故障サブルーチンを
呼び出す。

【００７０】その故障サブルーチンがブロック１３５で
呼び出され、そのブロック１３５は図６ｎ中に記載され
ており、いずれか１つのビットがセットされるか否かを
決定するべくプログラムビットのすべてをチェックす
る。そして、新聞が線形光検出アレー８に存在する判定
がブロック１３６でなされる。２０４８検出器のいずれ
か１つが光れば新聞が線形光検出アレー８に存在する。
ブロック１３６の答えが「否」である場合には、微分サ
ブルーチン（図６ｇ）がブロック１３８で呼び出され、
履歴サブルーチン（図６ｈ）がブロック１４０で呼び出
され、テジタルアナログ変換器（ＤＡＣ）サブルーチン
（図６ｆ）がブロック１４２で呼び出され、そして、プ
ログラムはブロック１２４に戻される。

【００７１】ブロック１３６での決定が新聞の存在あり
の場合には、前の新聞があったかどうかを決める決定が
ブロック１４４でなされ、前の新聞がなかった場合に
は、プログラムは図６ｂに続き、前の新聞があった場合
には、プログラムは図６ｃに続く。

【００７２】図６ｂにおいて、微分サブルーチンがブロ
ック１５０で呼び出され、このサブルーチンは線形光検
出アレー８を通過する新聞の輪郭における微分値の相違
を点から点へ、又はサンプルからサンプルへ計算しつつ
ある。履歴サブルーチンがブロック１５２で呼び出さ
れ、このサブルーチンは、新聞の輪郭、新聞の上端、そ
して、微分値について回転ファイル４資料点に記憶す
る。そのプログラムはブロック１５４でデジタル・アナ
ログ変換器（ＤＡＣ）サブルーチンを呼び出すことによ
って続けられ、そのブロック１５４は、例えば新聞の上
端のような情報をデジタル・アナログ変換器９６に出力
する。次のサブルーチンとしてブロック１５６で新検出
サブルーチンが呼び出され、そのブロック１５６は、線
形光検出アレー８に新聞がある時、出力パルスが新聞あ
りの表示を生起すベき時、及び、新聞存在の単複を検出
する。

【００７３】ブロック１５８での判定は出力パルスレジ
スタがセットされているかどうかを決定することであ
り、マイクロプロセッサ４４内の出力パルスレジスタは
以下に示す４つのセット、すなわち、 （１） 出力パルスが生ずべきでない。 （２） パルス出力用の第１基準と大きな正の微分値が
満たされている。 （３） 零微分値が通過したところの第２基準と、１つ
の新聞があることを示すサイズ、または （４） ２つの新聞があること、 が含まれる。これらの条件は出力パルスレジスタに含ま
れる０、１、２または３によって表示される、その出力
パルスレジスタが０を含めば、そのプログラムはブロッ
ク１２４（図６ａ）に戻る。

【００７４】もし、出力パルスレジスタがパルスを出力
することにセットされるならば、ブロック１５８での判
定は「諾」であり、そして、マイクロプロセッサ４４の
計数レジスタがブロック１６０でクリアーされる。マイ
クロプロセッサ４４内の計数レジスタはあらかじめ定め
られた時間間隔、例えば、５秒毎に継続的に計数し、次
の新聞の存在を検出するために新聞の厚さを決めること
によってそのシステムを再計算することが要求される時
が決められる。校正サブルーチン（図６ｋ）は、線形光
検出アレー８を通過した最初の１６部の新聞の値を記憶
する。最初の１６部の新聞が通過した後、そのシステム
は線形光検出アレー８を通過した新聞の単複を決定する
ために校正される。それ故、計数レジスタはクリアーさ
れる。例えば５秒の新聞の流れの中にギャップが存在す
れば、新聞が存在しないとき、再校正が、例えば、サイ
ズの違った新聞が次に通過可能であるなどの理由によっ
て、要求される。それ故、計数レジスタはクリアーされ
る。

【００７５】出力パルスレジスタがセットされた後、ブ
ロック１６２でビットがセットされ、次の新聞のために
先の新聞の存在を表示する。ブロック１６４で決定がな
され、禁止出力パルスビットのセットが決められる。前
記禁止出力パルスビットが出力されたならば、パルスは
出力されず、そして、禁止パルスビットがクリアーさ
れ、すベてのレジスタがブロック１６６でクリアーさ
れ、主ループが再びブロック１２４（図６ａ）でスター
トする。

【００７６】前記禁止出力パルスビットがセットされな
かったならば、そのプログラムはブロック１６８で遅延
サブルーチンを呼び出すことによって、継続する。この
サブルーチンはマイクロプロセッサ４４からパルスを積
極的に出力し、そして、マイクロプロセッサ４４によっ
て出力するパルス間隔が最少であることを保証する。パ
ルス間隔は、例えば１０ミリ秒にすることができる。パ
ルスが出力された後にセットされたレジスタはブロック
１７０でクリアーされ、プログラムはブロック１２４
（図６ａ）に継続する。

【００７７】図６ｃにおいて、先の新聞が存在した時
は、微分サブルーチン、デジタルアナログ変換器サブル
ーチンが、それぞれブロック１８０、１８２及び１８４
で呼び出される。ブロック１８６で決定がなされ、出力
パルスレジスタがセットされることを決め、その決定が
「否」であれば、そのプログラムは決定ブロック１２４
（図６ａ）に継続する。

【００７８】判定ブロック１８６での判定が「諾」であ
れば、計数レジスタはブロック１８８でクリアーされ、
そして先の新聞が存在したことを示すビットがブロック
１９０でセットされる。ブロック１９２でなれた決定で
禁止パルスがセットされたことが決められる。その禁止
出力パルスがセットされたならば、パルスは出力され
ず、そして、全レジスタはブロック１９４でクリアーさ
れ、プログラムは決定ブロック１２４（図６ａ）に継続
する。メインプログラムの「Ｂブランチ」におけるこの
ポイントまで、それらの段階が「Ａブランチ］（図６
ｂ）と同じである。しかしながら、もし、禁止出力パル
スがセットされなかった場合には、計算サブルーチン
（図６ｋ）がブロック１９６で呼び出され、プログラム
は、ブロック１９８で遅延サブルーチン（図６ｌ）を呼
び出すことによって継続し、そのレジスタは、ブロック
２００でパルスが出力された後にセットされたことをク
リアーし、プログラムは決定ブロック１２４（図６ａ）
に継続する。

【００７９】図６ｄには、初期設定サブルーチンが記載
される。図６ｄのプログラムは、ブロック２１０でマイ
クロプロセッサ４４を初期化し、ブロック２１２でマイ
クロプロセッサ４４の割込みを初期化し、ブロック２１
４でマイクロプロセッサ４４の入出力を初期化し、ブロ
ック２１６でマイクロプロセッサ４４のレジスタをクリ
アーし、ブロック２１８でランダムアクセスメモリ９４
をクリアーし、ブロック２２０で新聞の初期高さ基準を
セットし、そして、ブロック２２２で初期微分基準をセ
ットする。初期設定プログラムはメインプログラム（図
６ａ）に戻る。

【００８０】図６ｅには、上端取出しサブルーチン用の
ソフトウエアが記載される。ブロック２３０でＣＣＤア
レーエネーブルビットが１であるか否かの決定がなさ
れ、エネーブルビットが１でない場合に、そのプログラ
ムはブロック２３０でエネーブルビットを読み出すため
に戻る。そのビットが１の場合に、エネーブルビットは
再びブロック２３４で読出され、そして、ブロック２３
６でそのエネーブルビットが零であるか否かの決定がな
される。そのエネーブルビットが零でない場合には、そ
のビットは再びブロック２３４で読出される。そのエネ
ーブルビットが零である場合には、そのエネーブルビッ
トがトグルされているところの確認がなされ、そして、
ＲＡＭ３６（図３）のバイトがブロック２４０で読み出
される。判定ブロック２４２で前記バイトが００ＨＥＸ
に等しい場合には、マイクロプロセッサ４４のカウンタ
がブロック２４４で８までに増加される。それから、ブ
ロック２４６で前記計数が最大値であるか否かの決定が
なされる。その計数が最大値である場合には、ブロック
２４８に新聞が存在せずという表示がマイクロプロセッ
サ４４内のレジスタにセットされる。前記最大値が存在
しない場合にはＲＡＭ３６（図３）のバイトが再びブロ
ック２４０で読出される。ブロック２４４で増加するカ
ウンターが新聞の上端値に相当する数を表示する。その
カウンターが最大値にある場合、ＣＣＤアレー８の全ア
レーが走査され、そして、新聞が見出されないことを意
味する。ブロック２４２での判定が「否」である場合に
は零に等しくないバイトが見出されており、そして、そ
のバイトのビットが最初の１であることを決せられねば
ならない、そして、キャリーオペレーションを経由する
回転書き込みがブロック２５０でなされる。そのキャリ
ーが判定ブロック２５２で１である場合には、そのカウ
ンターの値が新聞の上端に等しくなり、そして、ブロッ
ク２５４で信号が発せられる。ブロック２５２での判定
が「否」である場合には、そのカウンターはブロック２
５６で１まで減少し、プログラムはブロック２５０に戻
る。新聞の上端が一旦決定され、そしてカウンターがセ
ットされると、そのプログラムはメインプログラム（図
６ａ）に戻る。

【００８１】図６ｆには、デジタルアナログ変換器サブ
ルーチンが示され、このサブルーチンはマイクロプロセ
ッササブシステム４９からのアナログテスト信号を備え
る。ブロック２７０でＩ／Ｏビット６かセットされるか
否かの決定がなされる。Ｉ／Ｏビット６がセットされる
場合には、ブロック２７２でＩ／Ｏビット４がセットさ
れるか否かの決定がなされ、Ｉ／Ｏビット４がセットさ
れる場合には、ブロック２７４でＩ／Ｏビット３がセッ
トされるか否かの決定がなされ、Ｉ／Ｏビット３がセッ
トされる場合には、マイクロプロセッサ４４内のＡレジ
スタがロードされる。マイクロプロセッサ４４のＡレジ
スタは微分値をもっている。前記Ａレジスタの８ビット
値はブロック２７６でデジタルアナログ変換器に向けて
出力される。

【００８２】Ｉ／Ｏビット３がセットされない場合に
は、レジスタＡは００ＨＥＸでロードされ、その値はブ
ロック２７８でデジタルアナログ変換器９６（図４）に
向けて出力される。ビット６及びビット４がセットされ
た場合には、マイクロプロセッサ４への信号の出力がビ
ット３を経て入力される位置入力である。それ故、それ
はビット３であり、ビット３はブロック２７８でのテス
ト信号として出力される

【００８３】ビット６がセットされ、ビット４がセット
されない場合には、ブロック２７２での判定はブロック
２８０でレジスタＡに微分値でロードされる。なお、ブ
ロック２８０ではテスト信号として出力される。ビット
６がセットされない場合には、ブロック２８２でビット
５がセットされるか否かの決定がなされる。ビット５が
セットされる場合には、ブロック２８４でレジスタＡが
計算値をロードされる。ビット５がセットされなかった
場合には、ブロック２７８でレジスタＡが新聞の上端値
をテスト信号の出力としてロードされる。それ故、その
テスト信号は、新聞の上端の値、計算値、微分値、もし
くはＩ／Ｏビット３、４、５及び６のセットによる位置
入力のいずれかを含むことができる。

【００８４】図６ｇには、微分サブルーチンが記載され
る。ブロック３００で新聞の新しい上端値が先の上端値
よりも大であるかどうかの決定がなされ、その新しい上
端値が先の上端値よりも大である場合には、その新しい
値はブロック３０２で先の値から差し引かれる。差引後
の値がＨＥＸ８０より大またはそれに等しい場合には、
その値はブロック３０４でＨＥＸ８０に等しくセットさ
れる。その新上端値はブロック３０６でＨＥＸ８０から
差引かれ、この値はブロック３０８でマイクロプロセッ
サ４４の微分レジスタに入力され、そのプログラムはメ
インプログラムに戻される。

【００８５】前記新上端値が先の値より小であった場合
には、ブロック３１０でその新しい値から先の値の差引
がなされる。その差引値がＨＥＸ８０より大なる場合に
は、その値はブロック３１２でＨＥＸ８０に等しくセッ
トされ、そして、ブロック３１４でその差がＨＥＸ８０
に加えられる。この値はブロック３０８で微分レジスタ
にまわされる。図６ｇの微分サブルーチンの目的は、正
の微分変化が中央基準の上であり、かつ、負の微分変化
が中央基準の下であることを保証することである。な
お、前記中央基準でＨＥＸ８０がオフセット値を表示す
る。

【００８６】図６ｈは履歴サブルーチンを示し、これ
は、新聞の先の４つの値と微分値の履歴を維持する機能
を有する。ブロック３２０で再校正レジスタがセットさ
れるか否かの決定がなされ、そのレジスタがセットされ
ると、００（ＨＥＸ）の値がブロック３２２で上端新聞
ファイルに記憶され、８０（ＨＥＸ）の値がブロック３
２４で微分ファイル内に記憶される。ブロック３２０で
の決定が「否」であった場合には、そのプログラムは、
ブロック３２６でその上端データを次の記憶位置にシフ
トすることを続け、最高メモリーロケーション内に記憶
された先のデータが低められる。現在値がブロック３２
８で最低メモリーロケーション内に記憶される。微分デ
ータがブロック３３０で次の記憶位置にシフトされ、そ
して、微分データ用の前記最高メモリーロケーションに
記憶された先のテータが低められる。現在微分値はブロ
ック３３２で最低メモリーロケーション内に記憶され、
そのプログラムはメインプログラム（図６ａ）に戻され
る。

【００８７】図６ｉは新検出サブルーチンを示し、これ
は、新聞の単数検出用ソフトウエアの機能を有する。大
きな負の低下が１０（ＨＥＸ）より大またはそれに等し
いかどうかを決める前に、新微分値と先の値との比較が
ブロック３４０でなされる。この比較は、ノイズ排除を
達成して、新聞の端が実際に存在すること、及び、新聞
の折目が実際の新聞として現れないことを保証する。判
定ブロック３４０での基準が合う場合には、ブロック３
４２での禁止パルスレジスタがクリアーされ、新聞が実
際に存在しない故にパルスによる計数を妨げるプロセス
を始める。

【００８８】ブロック３４０での決定が「否」である場
合には、新しい新聞が存在することを示し、先の微分値
を回復することによってブロック３４４でそのプログラ
ムが続けられる。ブロック３４６で先の微分値が校正微
分値よりも大なるか否かの決定がなされ、その決定が
「諾」の場合には、レジスタ４５はブロック３４８で１
に等しくセットされ、そして、その決定が「否」である
場合には、レジスタ４５は、ブロック３５０で零に等し
くセットされる。ブロック３５２で新微分値が校正微分
値より大またはそれに等しいか否かの決定がなされ、そ
の決定が「諾」の場合には、レジスタ４６はブロック３
５４で１に等しくセットされ、そして、その決定が
「否」の場合にはレジスタ４６はブロック３５６で零に
等しくセットされる。

【００８９】ブロック３５８で新微分値が最大微分値よ
りも小であるか否かの決定がなされる。この質問の機能
は負の微分値がある値より低下するかどうか、及びこの
決定が「諾」であるかどうかを決することにあり、その
データがノイズを示し、そして、禁止パルスレジスタが
ブロック３６０でセットされる。禁止パルスレジスタの
セットは、それによってこの条件が生ずるとき次のパル
スを禁止する。大きな負の微分ジャンプより前の値がブ
ロック３６２で記憶され、そして、ブロック３６４で境
界値が先の値に加えられる。ブロック３６６で、レジス
タ４５内に記憶された値がレジスタ４６内に記憶された
値に等しいか否かの決定がなされる。その答えが「諾」
の場合には、フラットなスロープが示され、新しい検出
サブルーチンが再度実行される。ブロック３６６での決
定が「否」の場合には、レジスタ４５の値がレジスタ４
６の値よりも大であるか否かの決定がなされる。なお、
この際、レジスタ４５は零を含み、そしてレジスタ４６
はブロック３６８で１を含むことを意味する。この決定
が「諾」の場合には、新聞の上端が位置づけられ、そし
て、その輪郭が減少しつつあり、零微分ポイントを通過
しつつあり、そして新検出プログラムは第６ｊ図に続
く。ブロック３６８での決定が「否」の場合には、レジ
スタ４６の値は１に等しく、そして、レジスタ４５の値
は零に等しく、ブロック３７０で現存新聞の初期基準が
セットされ、正への変化があることを表示する。厚さ計
測用の最低値はブロック３７２で記憶され、そして、新
検出サブルーチンが再び実行される。

【００９０】新しい検出プログラムは、レジスタ４５内
に記憶された値がレジスタ４６内に記憶された値より大
となるまで引き続いて再実行される。新検出プログラム
はそのレジスタ４６のポイントで図６ｊに続き、かつ、
新聞上端の最低値がブロック３８０で回復される。新聞
の厚さはブロック３８２で計算される。ブロック３８４
で、その厚さ校正値が厚さ測定値より大であるか否かの
決定がなされる。この基準が合う場合には、ブロック３
８６で、レジスタ２３が１に等しくセットされるか否か
の決定がなされ、その答えが「諾」の場合には、現在す
る新聞用の基準が満足され、ブロック３８８でレジスタ
２３が２に等しくセットされる。ブロック３８４及び３
８６での双方の決定が「否」の場合には、現在する新聞
用の基準が満足されず、その新検出プログラムは再実行
される。

【００９１】ブロック３９０で先行する新聞が存在した
か否かの決定がなされる。その答えが「諾」である場合
には、ブロック３９２で、その厚さが２部の新聞が存在
するという校正値より大であるかまたはそれに等しいか
の決定がなされる。その厚さの基準が満足する場合に
は、レジスタ２３はブロック３９４で３に等しくセット
される。先の１５部の新聞用のレジスタ２３の値がブロ
ック３９６でＲＡＭ９４（図４）にシフトされ、かつ、
新しい値もまたブロック３９８でＲＡＭ９４にシフトさ
れる。

【００９２】図６ｋは、高さの校正値及び微分値を決め
るサブルーチンを示す。マイクロプロセッサ４４内の現
在は零に始まるカウンターである。ＣＣＤアレー８を通
過した最初の１６部の新聞は高さの校正値を生起するた
めに使われる。最初の１６部目の新聞の高さ値はＲＡＭ
９４（図４）にロードされる。ブロック４１０でその１
６部の新聞がＣＣＤアレー８を通過したか否かの決定が
なされる。通過が１６部より少ない場合には、その校正
サブルーチンは継続する。ブロック４１０での「諾」の
決定は、１６部の新聞全部がＣＣＤアレー８を通過した
ことを示し、その１６の値がブロック４１２で集計され
る。その集計値がブロック４１４で１６に分割され、新
聞高さの校正値がブロック４１６でセットアップされ
る。その微分校正値が、ブロック４１８でセットされ、
かくして、校正サブルーチンは完成され、プログラムは
メインプログラム（図６ａ）に戻される。

【００９３】図６ｌは遅延サブルーチンを示し、これは
新聞計数用の出力パルスを間隔づける機能を有する。ブ
ロック４３０で、マイクロプロセッサ４４のタイマーレ
ジスタ内に記憶された値が、先の割込みパルスから１０
ミリ秒より大またはそれに等しいか否かの決定がなされ
る。その決定が「否」の場合には、ブロック４３２でそ
のその記憶値が１０ミリ秒に遅延される。その決定が
「諾」の場合には、ブロック４３４で出力サブルーチン
（図６ｍ）が呼び出される。ブロック４３６で２つのパ
ルスが出力されるベきか否かの決定がなされ、その決定
が「諾」の場合には、レジスタ２３１内の値が３に等し
いことを表示し、２部の新聞の実在を表示する。ブロッ
ク４３８で更に１０ミリ秒の遅延が付加され、出力サブ
ルーチン４２（図６ｍ）がブロック４４０で呼び出され
る。かくして、プログラムはメインプログラム（図６
ａ）に戻される。

【００９４】図６ｍは、ワンショットデバイス１００
（図４）をトリガーするパルスを出力する出力サブルー
チンを示し、それは、ブロック４４２で入力／出力ビッ
ト１を零に換え、ブロック４４４で例えば５マイクロ秒
の遅延をし、そして、ブロック４４６でＩ／Ｏビットを
１に復帰変換する機能を有する。ワンショットデバイス
１００（図４）をトリガーして零から１にＩ／Ｏビット
を変換することは、前記ワンショットデバイス１００が
１０ミリ秒の巾のパルスを出力するようにセットするこ
とである。この出力サブルーチンによってなされた遅延
は、それがワンショットデバイス１００の出力より小さ
い限りにおいて、臨界ではない。

【００９５】図６ｎは、故障サブルーチンを示し、これ
は光源１０の故障又は新聞が線形光検出アレー８の上を
通過したか否かを検出して、故障条件を出力する。ブロ
ック４５０で、Ｉ／Ｏビット７がセットされるか否かの
決定がなされる。ビット７はランプ「オン」検出器（図
４）から入力する。ビット７がセットされない場合に
は、マイクロプロセッサ４４内のプロブレムレジスタに
おけるビット１がブロック４５２でクリアーされる。ビ
ット７がセットされる場合には、プレブレムレジスタに
おけるビット１がブロック４５４でセットされる。ブロ
ック４５６で、そのプロブレムレジスタが、そのプログ
ラム内の他の位置から００ＨＥＸに等しくセットされる
か否かの決定がなされる。ブロック４５６での決定が
「諾」の場合に、ブロック４５８でＩ／Ｏビット２がリ
セットされる。その決定が「否」の場合には、ブロック
４６０でＩ／Ｏビット２がセットされる。かくして、プ
ログラムはメインプログラムに戻される。

【００９６】図６ｏは、例えば、３３ミリ秒毎の割込み
を入れるための割込みサブルーチンを示し、そうするこ
とによってマイクロプロセッサ４４はブロック４８０で
カウンターを増加するための割込みを生ぜしめる。ブロ
ック４８０におけるカウンターはパルスの出力後にリセ
ットされる。新聞が線形光検出アレー８を通過しない場
合には、カウンターは計数を続ける。ブロック４８２
で、計数が５秒の通過を示す３Ａ９８（ＨＥＸ）より大
なるか否かの決定がなされる。その決定が「諾」の場合
には、線形光検出アレー８を通過した新聞がないので、
ブロック４８４で再計算ビットがセットされる。

【００９７】ブロック４８６での決定が「否」である場
合には、ブロック４８６で、出力パルスビットがセット
されるか否かの決定がなされる。出力パルスビットがセ
ットされる場合には、ブロック４８８で出力パルス間の
時間を示すカウンターが減少される。ブロック４９０で
最少時間が零であるか否か決定がなされる。その時間が
零の場合には、ブロック４９２で次の出力パルスが可能
である。その決定が「否」の場合には、割込みプログラ
ムはメインプログラム（図６ａ）に戻される。マイクロ
プロセッサ４４は図６ｏの割込みプログラムを実行する
ために自動的に割込みを生ぜしめる。

【００９８】本発明は、その具体的実施例に関して記載
されたが、特許請求の範囲に記載される発明の精神を逸
脱しない限りにおけるいかなる改変にも及ぶものであ
る。

【００９９】

【発明の効果】以上、詳述したように、この発明は、コ
ンベヤ上を運ばれる折帳、又は、スタッカーに排出され
る折帳の側縁の像が、前記折帳の側縁に対して交差する
方向、又は、その側縁を含む面に対して垂直な面に設け
た線形光検出アレー上に、あたかも人間の視覚システム
によって得られる観測に似て、逐次、映し出されるよう
に構成したので、像の変化を動的に捉えることができ、
しかも、その観察は被計数体の像の乱れによっても影響
を受けないから、それらの動的映像に対してプロセシン
グ技術を使って正確な解析を加えることが可能であり、
更に、完全に重なり合った２部の被計数体を１部のそれ
と高さ乃至厚さの相違によって確実に見分けて計数する
ことができるので、計数の精度が正確である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に使用される光学システムの第１実施例
を示す側面図

【図２】図１の光学システムにおける光遮断材の機能を
示す平面図

【図３】本発明に使用される電子システムにおける像信
号処理回路の機能を示すブロックダイヤグラム

【図４】本発明に使用されるマイクロプロセッサの機能
を示すブロックダイヤグラム

【図５】本発明のソフトウエアに使われる操作原理の説
明の一助として、センサシステムを通過する新聞の像が
生ずるソフトウエアの一例を示すブロックダイヤグラム

【図６ａ】このシステムの各種サブルーチンを伴なった
メインプログラム

【図６ｂ】このシステムの各種サブルーチンを伴なった
メインプログラム

【図６ｃ】このシステムの各種サブルーチンを伴なった
メインプログラム

【図６ｄ】初期設定サブルーチン

【図６ｅ】上端取出しブルーチン

【図６ｆ】アナログテスト信号出力用サブルーチン

【図６ｇ】微分サブルーチン

【図６ｈ】履歴サブルーチン

【図６ｉ】新検出サブルーチン

【図６ｊ】新検出サブルーチン

【図６ｋ】校正サブルーチン

【図６ｌ】遅延サブルーチン

【図６ｍ】パルス出力サブルーチン

【図６ｎ】光故障検出用サブルーチン

【図６ｏ】瞬間中断生起用サブルーチン

【図７】本発明に使用される光学システムの第２実施例
を示す側面図

【図８】図７の８−８線に沿った横断平面図

【図９】本発明のソフトウエアに使われる操作原理の説
明の一助として、センサシステムを通過する新聞の像が
生するソフトウエアの１例を示すブロックダイヤグラム １ 光学的サブシステム ２ 対象物（被計数体）、新聞 ３ スタッカー ４ 細長孔 ５ 窓 ６ レンズシステム ８ 光線形光検出アレーまたはＣＣＤアレー １０ 光源 １１ ミラー（第１ミラー） １２ 視線 １３ ミラー（第２ミラー） １４ 光遮断材（シールド） １５ 像信号処理回路 １６ 複合駆動ライン １８ ライン ２０ 基準暗レベル出力 ２２ 差動増幅器 ２４ ライン ２６ ライン ２８ 履歴を有する比較器 ３０ 比較器の出力ライン ３２ 直列入力／並列出力型シフトレジスタ ３４ ライン ３６ ＲＡＭ ３８ アドレスライン ４０ バッファ ４２ ライン（２０ビットアドレスバス） ４４ マイクロプロセッサ ４６ バッファ ４８ ライン（８ビットデータバス） ４９ マイクロプロセッササブシステム ５０ クロック源 ５４ タイミングと論理の回路 ５５ 信号ライン ５８ ＣＣＤアレードライバー群 ６０ ライン ６２ バッファ ６４ ライン ６６ ライン ６８ コンベヤの上端 ７０ 基準面 ７２ 第１の新聞 ９０ 高次アドレスデコード回路 ９２ 消去可能なプログラマブルリードオンリーメモリ
（ＥＰＲＯＭ） ９４ ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ） ９６ デジタル・アナログ変換器 １００ ワンショットデバイス １０２ ラインドライバー １０４及び１０６ 光アイソレータ １０８ ラインドライバー １１０ 比較器 １１２ 信号ライン １１４ パワーオンリセット １１６ クリスタル発振器 図６ａ １２０ スタックポインタロード １２２ 初期設定サブルーチン呼出し １２４ 再校正する時？ １２６ 上端取出しサブルーチン呼出し １２８ 新聞上端は？ １３０ 増分カウンター １３２ カウンタ―ＯＦＦ？ １３４ プロブレムレジスタにビット２セット １３５ 故障サブルーチン呼出し １３６ 新聞があるか？ １３８ 微分サブルーチン呼出し １４０ 履歴サブルーチン呼出し １４２ デジタルアナログ変換器サブルーチン呼出し １４４ 前の新聞があるか？ 図６ｂ １５０ 微分サブルーチン呼出し １５２ 履歴サブルーチン呼出し １５４ デジタルアナログ変換器サブルーチン呼出し １５６ 新検出サブルーチン呼出し １５８ パルス出力のレジスタセット？ １６０ 計数レジスタクリアー １６２ ビットセット １６４ 禁止出力パルスビットセット １６６ 全レジスタクリアー １６８ 遅延サブルーチン呼出し １７０ レジスタクリアー 図６ｃ １８０ 微分サブルーチン呼出し １８２ デジタルアナログ変換器サブルーチン呼出し １８４ 新検出サブルーチン呼出し １８６ 出力パルスレジスタセット？ １８８ 計数レジスタクリアー １９０ ビットセット １９２ 禁止出力パルスセット １９４ 全レジスタクリアー １９６ 校正サブルーチン呼出し １９８ 遅延サブルーチン呼出し ２００ レジスタクリアー 図６ｄ 初期設定サブルーチン ２１０ マイクロプロプロセッサ初期化 ２１２ マイクロプロプロセッサの割込み初期化 ２１４ マイクロプロプロセッサの入出力初期化 ２１６ マイクロプロプロセッサのレジスタクリアー ２１８ ランダムアクセスメモリクリアー ２２０ 新聞の初期高さ基準セット ２２２ 初期微分基準セット 図６ｅ 上端取出しサブルーチン ２３０ ＣＣＤアレーエネーブルビット読出 ２３２ エネーブルビット＝１？ ２３４ エネーブルビット読出し ２３６ エネーブルビット＝零？ ２４０ ＲＡＭ３６のバイト読出し ２４２ バイト＝００ＨＥＸ？ ２４４ ８まで計数増加 ２４６ 計数最大値？ ２４８ 新聞存在せずとの表示セット ２５０ バイト書込み ２５２ キャリー＝１？ ２５４ 計数値＝新聞上端値 ２５６ １まで計数減少 図６ｆ ＤＡＣサブルーチン ２７０ Ｉ／Ｏビット６のセット？ ２７２ Ｉ／Ｏビット４のセット？ ２７４ Ｉ／Ｏビット３のセット？ ２７６ Ａレジスタ８ビット値でロード ２７８ ８ビット値出力 ２８０ Ａレジスタ微分値でロード ２８２ Ｉ／Ｏビット５のセット？ ２８４ Ａレジスタ計算値でロード ２８６ Ａレジスタ新聞上端値でロード 図６ｇ 微分サブルーチン ３００ 新上端値＞前上端値？ ３０２ 前上端値−新上端値 ３０４ 差引値≧８０（ＨＥＸ）の場合８０（ＨＥＸ）
にセット ３０６ 新上端値−８０（ＨＥＸ） ３０８ 微分レジスタへ入力 ３１０ 前上端値−新上端値 ３１２ 差引値＞８０（ＨＥＸ）の場合８０（ＨＥＸ）
にセット ３１４ 差引値＋８０（ＨＥＸ） 図６ｈ 履歴サブルーチン ３２０ 再校正レジスタセット？ ３２２ 上端ファイルに００（ＨＥＸ）値を記憶 ３２４ 微分ファイルに８０（ＨＥＸ）値を記憶 ３２６ 上端データを次の記憶装置にシフト ３２８ 現在値を最低メモリロケーションに記憶 ３３０ 微分データを次の記憶装置にシフト ３３２ 現在微分値を最低メモリロケーションに記憶 図６ｉ 新聞の単数検出用サブルーチン ３４０ 大きな負の低下≧１０（ＨＥＸ）？の前に新微
分値と先の値比較 ３４２ 禁止パルスレジスタクリアー ３４４ 先の微分値回復 ３４６ 先の微分値≧計算微分値 ３４８ １にセット ３５０ ０にセット ３５２ 新微分値≧計算微分値？ ３５４ １にセット ３５６ ０にセット ３５８ 新微分値＜最大微分値 ３６０ 禁止パルスレジスタセット ３６２ 大きな負の微分ジャンプより前の値記憶 ３６４ 前の値＋境界値 ３６６ レジスタ４５＝レジスタ４６ ３６８ レジスタ４５＞レジスタ４６ ３７０ 現在新聞の初期基準セット ３７２ 厚さ計測最低値記憶 図６ｊ （図６ｉのつづき） ３８０ 新聞上端最低値回復 ３８２ 新聞厚さ計算 ３８４ 厚さ測定値≧厚さ校正値？ ３８６ レジスタ２３＝１にセット？ ３８８ レジスタ２３＝２にセット ３９０ 先の新聞の存在？ ３９２ 厚さ測定値≧２部の校正値？ ３９４ レジスタ２３＝３にセット ３９６ 先の１５部の新聞の値をＲＡＭ９４にシフト ３９８ 新値をＲＡＭ９４にシフト 図６ｋ 校正サブルーチン ４１０ １６部目の新聞が通過したか？ ４１２ １６の値集計 ４１４ 集計値÷１６ ４１６ 新聞厚さ校正値セット ４１８ 微分校正値セット 図６ｌ 遅延サブルーチン ４３０ 計算値≧先の割込みパルスから１０ミリ秒 ４３２ 記憶値を１０ミリ秒に遅延 ４３４ 出力サブルーチン呼出し ４３６ ２パルス出力？ ４３８ 更に１０ミリ秒の遅延付加 ４４０ 出力サブルーチン呼出し 図６ｍ 出力サブルーチン ４４２ Ｉ／Ｏビット１を０に換える ４４４ ５マイクロ秒遅延 ４４６ Ｉ／Ｏビット１を０に換える 図６ｎ 故障サブルーチン ４５０ Ｉ／Ｏビット７セット？ ４５２ プロブレムレジスタのビット１クリアー ４５４ プロブレムレジスタのビット１セット ４５６ プロブレムレジスタ＝００ＨＥＸ？ ４５８ Ｉ／Ｏビット２リセット ４６０ Ｉ／Ｏビット２セット 図６ｏ 割込みサブルーチン ４８０ 計数増加 ４８２ ≧３Ａ９８（ＨＥＸ）？ ４８４ 再校正ビットセット ４８６ 出力パルスビットセット？ ４８８ 出力パルス間の時間計数減少 ４９０ 最小時間＝０？ ４９２ 次のパルス出力可能

Claims (16)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】コンベヤ上を運ばれる折帳を計数するシス
   テムであって、 前記折帳の側縁の厚さの増減を観測し得る方向と位置に
   列設された線形光検出アレー上に前記折帳の側縁の像を
   光学的に結ぶ結像手段と、 前記線形光検出アレーからの出力を数値化する解析手段
   と、 前記折帳の側縁の厚さの測定値の変化の割合が正から負
   へ変る時点ごとに当該折帳の計数を出力する折帳計数出
   力手段と、 からなる像解析計数システム。
2. 【請求項２】コンベヤ上を運ばれる折帳を計数するシス
   テムであって、 前記折帳の側縁に対して交差する方向に列設された線形
   光検出アレー上に前記折帳の側縁の像を光学的に結ぶ結
   像手段と、 ＤＣ残留偏差を除去するために、前記線形光検出アレー
   からのアナログ出力を定時間比で差動増幅手段へ逐次シ
   フトするシフト手段と、 前記差動増幅手段からの出力を受理し、その出力を光の
   レベルによって決められた直列デジタル出力信号に変換
   する変換手段と、 変換された前記出力信号を受理する直列入力／並列出力
   シフトレジスタと、 前記線形光検出アレーに現れる前記折帳の流れの像の量
   的輪郭を前記シフトレジスタの出力に基づいて数値化す
   るマイクロプロセシング手段と、 微分された前記像の上端決定値を更に数値化するため
   に、連続する前後の折帳の像の輪郭の決定値間の差を比
   較する比較手段と、 連続する輪郭の決定値の変化の割合が正から負へ変る時
   点ごとに折帳の計数を出力する折帳計数出力手段と、 からなる像解析計数システム。
3. 【請求項３】前記結像手段が、 光源と、 前記折帳の側縁に対して交差する方向に沿って設けた細
   長孔を有する光遮断材と、 前記細長孔と前記線形光検出アレーとの間の視線上に設
   けられ、かつ、前記細長孔に規制された折帳の側縁の像
   が前記線形光検出アレー上に結ばれるレンズシステム
   と、 前記視線に対して所定の角度を有する位置に設けられ、
   かつ、それによって、前記レンズシステムで定められた
   フィールドの予定深度の背後の光が、調整可能なしきい
   値検出レベルの下であり、そして、折帳の側縁が照らさ
   れて前記線形光検出アレー上に結像するように配設され
   た前記光源と、 からなる請求項１または２記載の像解析計数システム。
4. 【請求項４】折帳の厚さ測定値を得て、その厚さ測定値
   が厚さ校正値を超える時点で単数の計数増分を出力し、
   かつ、前記厚さ測定値が第２の厚さ校正値を超える時点
   で２数の計数増分を出力するようにした前記折帳計数出
   力手段と、 からなる請求項１または２記載の像解析計数システム。
5. 【請求項５】コンベヤ上を運ばれる折帳を計数するシス
   テムであって、 前記折帳の側縁に対して交差する方向に列設され、か
   つ、前記折帳の側縁が光学的に結像されるＣＣＤアレー
   と、 前記ＣＣＤアレーからの出力を定時間比で順次連続して
   シフトする手段と、 前記シフトされた出力を受理して、前記折帳の上端の輪
   郭の定時的反復的連続デジタル値を生ぜしめる信号処理
   手段と、 前記デジタル値と当該デジタル値の次のデジタル値とを
   比較して、その差によって前記折帳の上端の輪郭微分値
   を得る比較手段と、 前記差値が正から負に変る時点で折帳計数増分を出力す
   る折帳計数出力手段とからなる像解析計数システム。
6. 【請求項６】前記結像手段が、 光源と、 前記折帳の側縁に対して交差する方向に沿って設けた細
   長孔を有する光遮断材と、 前記細長孔と前記ＣＣＤアレーとの間の視線上に設けら
   れ、かつ、前記細長孔に規制された折帳の側縁の像が前
   記ＣＣＤアレー上に結ばれるレンズシステムと。前記視
   線に対して所定の角度を有する位置に設けられ、かつ、
   それによって、前記レンズシステムで定められたフィー
   ルドの予定深度の背後の光が、調整可能なしきい値検出
   レベルの下であり、そして、折帳の側縁が照らされて前
   記ＣＣＤアレー上に結像するように配設された前記光源
   と、 からなる請求項５記載の像解析計数システム。
7. 【請求項７】先の折帳と現在の折帳の各上端の輪郭の決
   定値の対比から折帳の厚さ決定値を得る手段と、 サンプルからサンプルへ計算された差値が現実の折帳で
   正から負へ変る時点において、更に、前記折帳の厚さ決
   定値が厚さ校正値を超える時点で単数の計数増分を出力
   し、前記折帳の厚さ測定値が第２の厚さ校正値を超える
   時点で２数の計数増分を出力するようにした前記折帳計
   数出力手段と、 からなる請求項５記載の像解析計数システム。
8. 【請求項８】コンベヤ上を運ばれる折帳の側縁に対して
   交差して線形光検出アレーを設け、その線形光検出アレ
   ー上に結ばれる前記折帳の側縁の像を解析することによ
   って前記折帳の計数を得る方法であって、 前記線形光検出アレーからのアナログ出力を差動増幅手
   段への標準暗レベル出力に逐次シフトして、それからＤ
   Ｃ残留偏差及び又は高周波ノイズを取り除く過程と、 前記差動増幅手段からの出力信号を直列デジタル出力信
   号に変換する過程と、 前記直列デジタル出力信号を直列入力／並列出力シフト
   レジスタ手段に供給する過程と、 前記シフトレジスタからの並列出力をランダムアクセス
   メモリに記憶する過程と、 前記ランダムアクセスメモリ内のデータをマイクロプロ
   セシング手段に移送して、前記線形光検出アレーに現れ
   る折帳の上端輪郭像を数値化する過程と、 連続する折帳の上端像の決定値間を比較して、その差か
   ら前記上端決定値の変化の割合を得る過程と、 前記上端決定値の変化の割合が正から負へ変る時点で前
   記折帳の厚さを決定する過程と、 連続する上端決定値の変化の割合が正から負へ変り、か
   つ、前記折帳の厚さ計測値が第１の厚さ校正値を超える
   時点で単数の計数増分を出力する過程と、 連続する上端決定値の変化の割合が正から負へ変り、か
   つ、前記折帳の厚さ計測値が第２の厚さ校正値を超える
   時点で２数の計数増分を出力する過程と、 からなる像解析計数方法。
9. 【請求項９】スタッカーに排出される折帳を計数するシ
   ステムであって、 前記折帳の側縁の厚さの増減を観測し得る方向と位置に
   列設された線形光検出アレー上に前記折帳の側縁の像を
   光学的に結ぶ結像手段と、 前記線形光検出アレーからの出力を数値化する解析手段
   と、 前記折帳の側縁の厚さの測定値の変化の割合か正から負
   へ変る時点ごとに当該折帳の計数を出力する折帳計数出
   力手段と、 からなる像解析計数システム。
10. 【請求項１０】スタッカーに排出される折帳を計数する
    システムであって、 前記折帳の面に平行に設けた線形光検出アレー上に前記
    折帳の側縁の像を光学的に結ぶ結像手段と、 ＤＣ残留偏差を除去するために、前記線形光検出アレー
    からのアナログ出力を定時間比で差動増幅手段へ逐次シ
    フトするシフト手段と、 前記差動増幅手段からの出力を受理し、その出力を光の
    レベルによって決められた直列デジタル出力信号に変換
    する変換手段と、 変換された前記出力信号を受理する直列入力／並列出力
    シフトレジスタと、 前記線形光検出アレーに現れる前記折帳の流れの像の量
    的輪郭を前記シフトレジスタの出力に基づいて数値化す
    るマイクロプロセシング手段と、 微分された前記像の上端決定値を更に数値化するため
    に、連続する前後の折帳の像の輪郭の決定値間の差を比
    較する比較手段と、 連続する輪郭の決定値の変化の割合が正から負へ変る時
    点ごとに折帳の計数を出力する折帳計数出力手段と、 からなる像解析計数システム。
11. 【請求項１１】前記結像手段が、 光源と、 前記折帳の表面に平行し、かつ、前記線形光検出アレー
    にも平行する面に設けたレンズシステムと、 前記折帳の側縁からの反射光を受ける第１ミラーと、 前記折帳の側縁の像を前記第１ミラーから前記レンズシ
    ステムに送るために、前記第１ミラーに対して４５°の
    角度で設けた第２ミラーと、 からなる請求項９または１０記載の像解析計数システ
    ム。
12. 【請求項１２】折帳の厚さ測定値を得て、その厚さ測定
    値が厚さ校正値を超える時点で単数の計数増分を出力
    し、かつ、前記厚さ測定値が第２の厚さ校正値を超える
    時点で２数の計数増分を出力するようにした前記折帳計
    数出力手段と、 からなる請求項９または１０記載の像解析計数システ
    ム。
13. 【請求項１３】スタッカーに排出される折帳を計数する
    システムであって、 前記折帳の面に平行に設けたＣＣＤアレーと、 そのＣＣＤアレー上に前記折帳の側縁の像を光学的に結
    像する手段と、 前記ＣＣＤアレーからの出力を定時間比で順次連続して
    シフトする手段と、 前記シフトされた出力を受理して、前記折帳の上端の輪
    郭の定時的反復的連続デジタル値を生ぜしめる信号処理
    手段と、 前記デジタル値と当該デジタル値の次のデジタル値とを
    比較して、その差によって前記折帳の上端の輪郭微分値
    を得る比較手段と、 前記差値が正から負に変る時点で折帳計数増分を出力す
    る折帳計数出力手段とからなる像解析計数システム。
14. 【請求項１４】前記結像手段が、 光源と、 前記折帳の表面に平行し、かつ、前記線形光検出アレー
    にも平行する面に設けたレンズシステムと、 前記折帳の側縁からの反射光を受ける第１ミラーと、 前記折帳の側縁の像を前記第１ミラーに対して４５°の
    角度で設けた第２ミラーと、 からなる請求項１３記載の像解析計数システム。
15. 【請求項１５】先の折帳と現在の折帳の各上端の輪郭の
    決定値の対比から折帳の厚さ決定値を得る手段と、 サンプルからサンプルへ計算された差値が現実の折帳で
    正から負へ変る時点において、更に、前記折帳の厚さ決
    定値が厚さ校正値を超える時点で単数の計数増分を出力
    し、前記折帳の厚さ測定値が第２の厚さ校正値を超える
    時点で２数の計数増分を出力するようにした前記折帳計
    数出力手段と、 からなる請求項１３記載の像解析計数システム。
16. 【請求項１６】スタッカーに排出される折帳の表面に平
    行にＣＣＤアレーを設け、そのＣＣＤアレー上に結ばれ
    る前記折帳の側縁の像を解析することによって前記折帳
    の計数を得る方法であって、 前記ＣＣＤアレーからのアナログ出力を差動増幅手段へ
    の標準暗レベル出力に逐次シフトして、それからＤＣ残
    留偏差及び又は高周波ノイズを取り除く過程と前記差動
    増幅手段からの出力信号を直列デジタル出力信号に変換
    する過程と、 前記直列デジタル出力信号を直列入力／並列出力シフト
    レジスタ手段に供給する過程と、 前記シフトレジスタからの並列出力をランダムアクセス
    メモリに記憶する過程と、 前記ランダムアクセスメモリ内のデータをマイクロプロ
    セシング手段に移送して、前記線形光検出アレーに現れ
    る折帳の上端輪郭像を数値化する過程と、 連続する折帳の上端像の決定値間を比較して、その差か
    ら前記上端決定値の変化の割合を得る過程と、 前記上端決定値の変化の割合が正から負へ変る時点で前
    記折帳の厚さを決定する過程と、 連続する上端決定値の変化の割合が正から負へ変り、か
    つ、前記折帳の厚さ計測値が第１の厚さ校正値を超える
    時点で単数の計数増分を出力する過程と、 連続する上端決定値の変化の割合が正から負へ変り、か
    つ、前記折帳の厚さ計測値が第２の厚さ校正値を超える
    時点で２数の計数増分を出力する過程と、 からなる像解析計数方法。