JPH06194349A - 超音波探傷方法及びその装置 - Google Patents

超音波探傷方法及びその装置

Info

Publication number
JPH06194349A
JPH06194349A JP4148624A JP14862492A JPH06194349A JP H06194349 A JPH06194349 A JP H06194349A JP 4148624 A JP4148624 A JP 4148624A JP 14862492 A JP14862492 A JP 14862492A JP H06194349 A JPH06194349 A JP H06194349A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
flaw detection
ultrasonic
scanning
moving means
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4148624A
Other languages
English (en)
Inventor
Junichi Murai
純一 村井
Norio Shinagawa
議夫 品川
Kuni Araki
久仁 荒木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NIPPON KURAUTO KUREEMAA FUERUSUTAA KK
KJTD Co Ltd
Original Assignee
NIPPON KURAUTO KUREEMAA FUERUSUTAA KK
KJTD Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NIPPON KURAUTO KUREEMAA FUERUSUTAA KK, KJTD Co Ltd filed Critical NIPPON KURAUTO KUREEMAA FUERUSUTAA KK
Priority to JP4148624A priority Critical patent/JPH06194349A/ja
Publication of JPH06194349A publication Critical patent/JPH06194349A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】水浸法による超音波探傷において、球や楕円球
等の平面以外の全面探傷を自動的に且つ精度良く行うこ
とを可能とする。 【構成】 被検材へ垂直に入射したとき、その反射波が
最も強いという超音波の性質を利用して、探傷走査の開
始点及び終了点における超音波探触子の最適な姿勢を検
出する。この開始点及び終了点となる2点の位置及び探
触子の向き情報から、これら2点間の走査軌跡及び各探
傷位置における水距離をほぼ一定とする探触子の姿勢の
最適値を演算により決定し、自動的に走査の制御を行う
ことが可能である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本願発明は、超音波探傷方法及び
その装置に関し、詳しくは、非接触の探傷試験において
用いる水浸超音波探傷方法及びその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】非接触試験として、水浸法の超音波探傷
機で、平面状の被検材の面全域の自動探傷を行う場合、
超音波探触子の走査装置は、直交する2軸について、例
えばX軸とこれに直交するY軸について、探触子を変位
させることが可能なものが用いられる。即ちこのように
平面状の被検材は、X−Y平面について走査が可能な装
置を用いることによって、全面自動探傷が可能である。
又円柱状体(横断面が真円で、縦断面の幅が一定のも
の)の被検材を水浸法によって自動探傷を行う場合、探
触子は、円柱状体の長手に沿った一軸方向に走査するも
のとし、探触子が1ピッチ進む毎に、被検材を自己の中
心を回転軸として回転させ、被検材周面の各位置を探傷
することが可能である。即ちこの場合、被検材の回転、
探触子の直進というの走査機構部の2つの走査により探
傷することができた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、球面や楕円球
を持つ材料及び凹曲面を持つ被検材については、このよ
うな直線的な走査のみでは、対応できない。これは、探
傷試験において、探触子から発した超音波が被検材表面
に到達するまでの距離(超音波を媒介する液体層の幅。
以下水距離という。)を何れの探傷位置においても一定
とする必要があるからであり、各探傷位置での探触子と
被検材表面との間の距離を単純に一定となるよう探触子
を走査し得たとしても、超音波の発射方向が固定的なも
のである場合、水距離は一定とならないからである。既
述のような被検材が平面の場合はこのような問題は皆無
であるが、曲面の場合は、直交座標のX,Y,Zの3軸
方向への走査の自由度のみでは各探傷位置での水距離を
一定とすることが困難であり、自動探傷の阻害要因とな
っている。水浸超音波探傷機には、後端が直線軸方向へ
の移動装置に軸止され先端に超音波探触子が固定された
アームを備えたものもあるのであるが、このような回動
動作可能なアームも探触子の移動のために回動を行うも
のであり、水距離を一定として探触子を移動することが
可能な場合としては、被検材が円弧状の凹曲面を持ち且
つその曲率半径が、アームの長さと一致するという極め
て特異な場合のみである。このようなアームの回動を直
線軸方向への移動と兼ね併せて、数値制御により自動的
に各探傷位置における水距離の一定状態を確保しようと
すれば、一つの探傷位置から次の探傷位置へ移動する経
路が複雑なものとなり、極めて複雑なプログラムの作成
を要する。このために、コスト・手間の点、探触子の複
雑な移動走査による探傷時間の助長を招くという点に甘
んじなければならないのであった。
【0004】最近、新素材や加工された材料の超音波探
傷或いは映像処理装置と併せてCスコープ表示により材
料の評価をする必要性が増してきた。これらを満足する
装置として水槽と多軸の走査機構を持った探傷装置と超
音波探傷機と映像処理装置から構成される超音波透視装
置或いは超音波映像処理装置と呼ばれるものがある。し
かし、このような要求にも増して上記問題が阻み、超音
波透視装置において多種にわたる材料形状の探傷を行う
ときの探傷機構部の走査範囲と走査方法を簡単かつ超音
波探傷上最適な条件で設定するのが難しいものとなって
いる。本願発明は、上記課題の解決を目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本願第1の発明に係る超
音波探傷方法は、平面或いは曲面を有する被検材に対
し、これらの面上の複数点について連続して超音波探触
子1を走査し、非接触の探傷を行うものであり、下記の
手段を採用する。
【0006】即ち探触子1により反射波の最大点を検出
することによって探傷走査の開始点或いは終了点の位置
及びその位置での探触子の最適な超音波発射方向を特定
する。そして、走査開始点から終了点に至る間につい
て、上記特定した位置情報から被検材表面の曲率等を算
出することにより、探触子1の最適な走査軌跡及びこの
軌跡上での超音波発射方向を決定し、この決定に従って
探触子1の移動手段及び各探傷位置における探触子1の
姿勢を制御し、走査軌跡上の複数点の自動探傷を行う。
【0007】次に本願第2の発明に係る超音波探傷装置
は、超音波の送受信用の探触子1と、探触子移動手段
と、演算手段2とを備えるものであり、下記の構成を採
る。
【0008】即ち探触子移動手段は、交差する少なくと
も仮想2軸について、いずれの軸に対しても平行に移動
することが可能であると共に、探触子移動手段の探触子
1を保持する部位3において探触子1を回動して超音波
を発射する向きを変えることが可能なるものであり、探
触子1は、反射波の最大値を検出することが可能なるも
のであると共に探触子移動手段の探触子保持部位3にお
いて、このような最大値検出方向に一致すべく探触子1
の向きを調整することが可能であり、演算手段2は、上
記方向調整によって得た開始点或いは終了点の位置情報
から被検材表面の曲率等を算出することにより、最適な
探触子1の走査軌跡及び走査上の各位置における超音波
発射方向を決定し、この決定に従って探触子の移動手段
を制御することが可能なるものであることを特徴とす
る。
【0009】尚上記探触子の移動手段は、探触子を被検
材に対し相対的に移動するものであり、探触子のみを変
位するものに限らず、被検材を探触子に対して移動する
もの、及び探触子と被検材双方を変位させて適切な探傷
走査を行うものを含むものである。この点について以下
同じである。
【0010】
【作用】超音波は、被検材に対して、垂直即ち法線と一
致するように入射したとき、その反射波が、他の入射角
のときに対しに最大値を示す。従ってこの性質を利用す
ることによって、探傷走査の開始点及び終了点における
超音波探触子の最適な姿勢を検出することが可能であ
り、この結果得られた上記開始点及び終了点となる2点
の位置及び探触子の向き情報から、これら2点間の走査
軌跡及び各探傷位置における探触子の姿勢の最適値を演
算により決定し、自動的に走査の制御を行うことが可能
となった。具体的に説明すると、本願第1の発明に係る
超音波探傷方法にあっては、例えば楕円球等の少なくと
も、被検材が回転対称な形状即ち対称軸を少なくとも1
つ有する形状のものである場合、この対称軸の延長線上
にて、発射した超音波の反射波が、最大値となる向きに
探触子の姿勢を制御することにより探触子の向きを対称
軸に沿わすことが可能であり、この際この位置を探傷走
査の開始点とする。同様に、この対称軸を中心とする被
検材の横断面の半径が最大となる位置にて、発射した超
音波の反射波が、最大値となる向きに探触子の姿勢を制
御することにより探触子の向きを被検材の中心点に向か
う方向に沿わすことが可能であり、この際この位置を探
傷走査の終了点とする。そして開始点と終了点とにおい
て被検材表面から探触子までの間の距離が等くなるよう
に設定することによって、開始点から終了点に至るま
で、被検材表面と探触子との間の距離を一定とする走査
軌跡を演算により確定することが可能であり、この演算
により、走査軌跡上における各探傷位置での探触子の姿
勢即ち超音波発射方向をほぼ良好な反射波が得られるも
のとするように制御することが可能である。円の場合、
楕円と異なり、長軸と短軸との区別がなく、円周上の各
位置における法線が、円の中心を常に通る。従って、特
に円の回転体である球形状のものを被検材とする場合、
走査の前提となる開始点や終了点を特定点に一致させる
作業(換言すると、上記対称軸の延長線や被検材の横断
面の半径が最大となる位置即ち断面視した際の楕円の長
軸や短軸となる位置を事前に確定する作業)すら不必要
となり、任意の2点で反射波の検出から法線方向に探触
子を上記の方法で一致させることのみで、初期条件を整
えることが可能である。又走査軌跡上の角探傷位置で
は、法線方向に探触子の姿勢を自動制御することによっ
て、水距離を一定とし、確実に被検材の中心点に超音波
を発信することが可能となり、各位置で極めて精度よ
く、探傷が行える。
【0011】又上記手段を採用する本願第2の発明に係
る超音波探傷装置にあっては、探触子の移動と、独立し
て探触子の向きを任意設定することが可能であり、演算
手段によって、この探触子の向きを制御可能とすること
によって、上記第1の発明に係る方法を実現する。
【0012】
【実施例】以下、図面を基に本願発明の実施例を具体的
に説明する。
【0013】超音波探傷は、平面或いは曲面を有する被
検材に対し、これらの面上の複数点について連続して超
音波探触子1を走査し、非接触の探傷を行うものであ
り、下記の手段を採用する。先ず図1へ示す通り、本願
発明に係る超音波探傷装置は、超音波の送受信用の探触
子1と、探触子移動手段4と、演算手段2とを備える。
【0014】探触子移動手段4は、その探触子保持部3
に探触子1が軸止されたものであり、直交座標のX,
Y,Z軸方向について、探触子1を移動することが可能
なものである。図1において、探触子移動手段3は、先
端部のみ示されているが、上記直交座標のX,Y,Z軸
方向についての摺動部については、従来公知の装置を採
用することによって、実施が可能である。又図示はしな
いが、探触子移動手段3は、適宜長さを有する長尺状体
の先端に上記保持部3を備えるものとし、その反対側の
端部を中心に回動することが可能な構成を採用するか、
或いは被検材を保持する或いは載置するテーブル自体を
探触子移動手段4の構成の一部として、このようなテー
ブルを回転させることが可能なものとする。即ち探触子
移動手段4は、少なくとも被検材に対して相対的に上記
直交座標に沿った摺動や、長尺状体の回転をなすことが
できるものであればよく、他に対して絶対的に移動する
ものに限定するものではない。このような探触子移動手
段4の動作は、演算手段2の制御下に置かれる。
【0015】探触子1を軸止する探触子保持部3は、モ
ーター等の自発的に探触子1の向きをが矢印Q方向に沿
って)回動可能な手段30を備える。このようなモータ
ー等の回動手段30は、演算手段2からの命令により、
回動動作を行うものであり、このような動作が可能なも
のであれば、保持部3の形状は図示したものに限定する
ものではなく、適宜変更可能である。又探触子先端10
の超音波発射・受信位置と回動手段30との間の距離は
極力小さくし、保持部3に対する探触子先端10の首振
り幅は最小に押さえるように構成するのが望ましい。
【0016】探触子1は、超音波の発信器と受信機を備
えたものであり、演算手段2の命令に従って超音波を発
し、検出した反射波のデータを演算手段2へ送るもので
ある。探触子1は、後述する初期条件の検出・設定等
と、実際の探傷の双方に使用される。又探触子1は、保
持部3の回動によって超音波の発射方向を変更できるも
のとなっている。
【0017】探触子1は、演算手段2に従い、反射波の
最大値を検出することが可能なるものである。即ち演算
部2は探触子1を従え、保持部3がどの方向に探触子1
を向けたとき(換言すると、どの方向に超音波を発した
とき)に被検材からの反射波が最大となるか検出するも
のであり、更にこれらのデータから演算手段2が把握し
た反射波最大の方向に保持部3が探触子1を向けるので
ある。
【0018】詳述すると、超音波は、被検材に対して、
垂直即ち法線と一致するように入射したとき、その反射
波が、他の入射角のときに対しに最大値を示す。従って
この性質を利用することによって、探傷走査の開始点及
び終了点における探触子1の最適な姿勢を検出すること
が可能であり、この結果得られた上記開始点及び終了点
となる2点の位置及び探触子の向き情報から、これら2
点間の走査軌跡及び各探傷位置における探触子の姿勢の
最適値を演算により決定し、自動的に走査の制御を行う
のである。
【0019】走査の開始予定点と走査の終了予定点にお
いて、このような最大値検出方向に一致するよう探触子
1の向きを調整し、この際演算手段2は、上記方向調整
によって得た開始点或いは終了点の位置・方向情報から
被検材表面の曲率、適切な水距離等を算出することによ
り、最適な探触子1の走査軌跡及び走査上の各位置にお
ける超音波発射方向を決定し、この決定に従って探触子
の移動手段4を制御する。
【0020】具体的に説明すると、例えば楕円球等の少
なくとも、被検材が回転対称な形状即ち対称軸を少なく
とも1つ有する形状のものである場合、回転体の平面形
状である楕円の長軸或いは短軸(対称軸)の延長線上に
て、発射した超音波の反射波が、最大値となる向きに探
触子の姿勢を制御することにより探触子の向きを長軸或
いは短軸に沿わすことが可能である。これは、この探触
子1の位置における最短水距離となる。楕円球の半球の
探傷を行う場合、開始点を上記平面形状である中心楕円
の長軸(短軸)の延長位置とすれば、平面楕円の短軸
(長軸)の延長に当たる位置を終了点とし、この位置に
おいても予め発射した超音波の反射波が、最大値となる
向きに探触子の姿勢を決定し、水距離を開始点と同じも
のにしておく。
【0021】このように、開始予定点、終了予定点の2
点において水距離が等くなるように設定することによっ
て、予め演算手段2に記録されてある対称形状の曲面の
中心平面における被検材の外郭をなす曲線関数或いはこ
の近似関数から、被検材周囲の各位置における等水距離
位置となる曲線関数を得ることができる。即ち、被検材
の外郭を示す曲線関数と同じで長軸、短軸のパラメータ
ーについて、水距離が加算された相似形状の走査軌跡と
なる曲線関数を得ることができ、関数曲線上を探触子1
が移動するように演算手段1が制御を行うのである。又
正確に球を圧縮或いは伸長して得られる楕円球の場合、
球の走査軌跡を補正することにより、その走査軌跡が得
られる。
【0022】真円の場合、楕円と異なり、周面各位置に
おける法線が、長軸及び短軸(長軸:短軸=1:1)と
なるため、その回転体である球が被検材の場合は、走査
開始予定点及び走査終了予定点において、単に法線方向
と探触子1の向きを一致させ、2点の水距離の同一を図
るだけで、正確な走査軌跡を得ることが可能である。
【0023】次に演算手段2周辺の構成について適当な
例を示す。但し特にこの例に限定するものではなく、機
器及びソフトウエアーの構成については、適宜変更可能
である。又本願発明によって、一つの装置に各種被検材
の形状に対応した汎用性ある装置を得ることができ、こ
の観点から、平面形状や円柱形状、円錐(円錐台)形状
等の探傷も設定により可能であり、このような構成を例
に採って説明する。尚円錐(円錐台)形状の場合、従来
も走査直線を被検材の母線と平行となるように、被検材
を傾けて固定するなどの工夫により走査可能であった
が、本願発明の実施により、このような手間を取る必要
がなくなった。
【0024】球や円錐の被検材の探傷走査を例に取る
と、図2に示す通り、コンピューター等の演算手段2
は、適宜データ入出力部20(I/O)を介して、探触
子移動手段40の各座標軸方向、探触子保持部3の探触
子1回動、移動手段4の保持部3を保持する部分の回動
及びこの半径の調整用のモーターやアクチュエーター等
の各種駆動手段を制御する。探触子1の感度その他の設
定を行う探傷機本体11も、演算手段2の制御下に置か
れる。演算手段2は、探触子1の現在位置及び向きを特
定する各パラメーターを検出、変更可能なものであれ
ば、どの様なものを採用してもよい。
【0025】この場合の動作ブロックを図3へ示す。順
に説明すると、100は探触子1の現在位置読み取りプ
ロック、101は水距離補正ブロック、102は動作開
始点としての登録工程、103は水距離補正ブロック、
104は動作終了点としての登録ブロック、105は探
傷ピッチ設定ブロック、106は探傷開始点・終了点に
よる直座標2軸(X,Z)の首振り角演算工程、107
は探傷開始動作を示している。上記水距離補正ブロック
101から動作開始点としての登録工程102への移行
過程108中、探触子1により水距離を読み取り、現在
位置と探触子1の方向角により、移動手段4の摺動方向
2軸(X,Z)上を演算補正し、設定水距離に動作す
る。そして、動作開始点としての登録工程102から水
距離補正ブロック103への移行過程109中、終了予
定点へ探触子1を移動する。水距離補正ブロック103
から動作終了点としての登録ブロック104への移行過
程110中再び探触子1により水距離の読み取りが行わ
れる。
【0026】このように、球面、円錐等を被検材とする
探傷は、既述の通り、開始予定点、終了予定点の2点に
おける反射波の最大となる角度の読み取りによる探触子
1の方向角度補正と共に、この2点間の走査軌跡おける
探傷位置の位置間隔(ピッチ)等の計算を行い、2点間
の走査軌跡上の各位置での水距離の確保とこれに伴う探
触子1の方向角の動作制御がなされる。又直交座標の3
軸、探触子1の首振り角、探触子保持部の首振り角、探
触子保持部の首振り半径等の6つのパラメーターを制御
可能とすることにより、航空機部品、自動車部品等の複
合した曲面を有するものや、ベアリング等その他の球、
円錐、平面、斜面、半割れ円筒形等の各位置において、
連続探傷が可能となる。そして、探触子1の向きを自動
的に反射波の最大となる角度に合わせることによって、
探傷時間の大幅な短縮が図れるのである。
【0027】演算手段2の機器構成の例について、適当
なものを図4に例示しておく。演算手段2の21は、パ
ルス発生回路を示している。データ入出力部20の22
は自動/手動パルス切換部、23は、オーバーランリミ
ット回路、24はドライブ回路、25は手動パルス発生
部、26は指令パルス/フィードバックパルス切換回
路、27は現在位置カウンターを示している。又28
は、パルスモータードライバ、29はエンコーダを示し
ている。
【0028】演算手段2からの制御信号は、CWパルス
としてパルス発生回路21からデータ入出力部20の自
動/手動パルス切換部22へ送られる。そして制御信号
はオーバーランリミット回路23を経てその一方は、ド
ライブ回路24からパルスモータドライバに命令として
送られ、他方は、指令パルス/フィードバックパルス切
換回路26から現在位置カウンター27へ送られ、演算
手段2の現在位置読み込みポートへ入力される。上記手
動パルス発生部25は、外部の手動ボックス201から
の手動制御によって、手動パルス202を自動/手動パ
ルス切換部22へ送るものである。このような演算手段
2は、T波(超音波発射時に発生する波)からS波側
(被検材表面での反射波)の時間差(超音波ビーム路
程)を計測し、水音速値に換算して、水距離を算出する
のである。
【0029】被検材が球或いは半球であるとき、通常探
触子1は、図5に示す走査経路900を移動し、被検材
を保持するテーブルの回転に伴って、所要ピッチ毎に円
周方向901に沿って各探傷位置の探傷を行う。このと
きの数値制御は、図6に示す各パラメーターに従う。こ
のパラメーターについての詳細は、下記表1に示す通り
である。
【0030】
【表1】
【0031】被検材が断面視真円(弧)の凹曲面である
とき、通常探触子1は、図7に示す走査経路910を移
動し、被検材を保持するテーブルの回転に伴って、所要
ピッチ毎に円周方向911に沿って各探傷位置の探傷を
行う。このときの数値制御は、図8に示す各パラメータ
ーに従う。このパラメーターについての詳細は、下記表
2に示す通りである。
【0032】
【表2】
【0033】被検材が円錐(円錐台)状のものであると
き、通常探触子1は、図9に示す走査経路920を移動
し、被検材を保持するテーブルの回転に伴って、所要ピ
ッチ毎に円周方向921に沿って各探傷位置の探傷を行
う。このときの数値制御は、図10に示す各パラメータ
ーに従う。このパラメーターについての詳細は、下記表
3に示す通りである。
【0034】
【表3】
【0035】以上が本願発明の中心構成であるが、この
外、回転体として得られ形状以外のものも従来の自動探
傷と同様に行える。例えば 被検材が割円筒状(かまぼ
こ型)のものであるときは、探触子1は、図11に示す
走査経路930を移動して探傷を行う。又被検材が三角
柱側面であるときは、探触子1は、図12に示す走査経
路940を移動して探傷を行う。更に探触子移動手段4
の移動経路の設定変更により、垂直平面を被検材の探傷
面とする場合も図13に示す探触子1の走査によって実
行可能である。又更に従来の平面探傷も同じく探触子移
動手段4の移動経路の設定変更により、図14に示す探
触子1の走査によって実行可能となっている。図示はし
ないが、円筒状の被検材も、同様に探触子移動手段4の
移動経路の設定変更により、従来の探傷と同じく実行可
能である。
【0036】
【発明の効果】本願第1の発明の実施によって、球、楕
円球、長円球、その他の凸曲面を有する被検材、或いは
これらの形状に準じた凹曲面を有する被検材に対して、
簡単な探触子移動手段の制御によって、探傷走査各点に
おける水距離をほぼ一定とした高精度の探傷が容易に行
えるものとなった。特に被検材が球の場合は、走査開始
点或いは終了点の設定等の初期条件の設定に被検材の対
称軸を予め検出しておくというような特別な作業を要す
ることがない。又本願第2の発明の実施によって、上記
本願第1の発明を確実に実施することが可能な装置を提
供し得た。
【図面の簡単な説明】
【図1】本願発明の一実施例を示す要部略斜視図であ
る。
【図2】本願発明に係る装置の駆動制御の一実施例を示
すブロック図である。
【図3】本願発明に係る装置の演算手段の構成の一実施
例を示すブロック図である。
【図4】本願発明に係る装置の駆動状態を示す説明図で
ある。
【図5】本願発明に係る装置の上記駆動を制御する数値
情報の説明図である。
【図6】本願発明に係る装置の他の駆動状態を示す説明
図である。
【図7】本願発明に係る装置の上記駆動を制御する数値
情報の説明図である。
【図8】本願発明に係る装置の他の駆動状態を示す説明
図である。
【図9】本願発明に係る装置の上記駆動を制御する数値
情報の説明図である。
【図10】本願発明に係る装置の他の駆動状態を示す説
明図である。
【図11】本願発明に係る装置で可能な被検材の探傷走
査状態を示す説明図である。
【図12】本願発明に係る装置で可能な被検材の探傷走
査状態を示す説明図である。
【図13】本願発明に係る装置で可能な被検材の探傷走
査状態を示す説明図である。
【図14】本願発明に係る装置で可能な被検材の探傷走
査状態を示す説明図である。
【符号の説明】
1 超音波探触子 2 演算手段 3 探触子保持部 4 探触子移動手段

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 平面或いは曲面を有する被検材に対し、
    これらの面上の複数点について連続して超音波探触子を
    走査し、非接触の探傷を行う超音波探傷方法において、
    探触子により反射波の最大点を検出することによって探
    傷走査の開始点或いは終了点の位置及びその位置での探
    触子の最適な超音波発射方向を特定し、走査開始点から
    終了点に至る間について、上記特定した位置情報から被
    検材表面の曲率等を算出することにより、探触子の最適
    な走査軌跡及び超音波発射方向を決定し、この決定に従
    って探触子の移動手段及び各探傷位置における探触子の
    姿勢を制御し、走査軌跡上の複数点の自動探傷を行うも
    のであることを特徴とする超音波探傷方法。
  2. 【請求項2】 超音波の送受信用の探触子と、探触子移
    動手段と、演算手段とを備え、探触子移動手段は、交差
    する少なくとも仮想2軸について、いずれの軸に対して
    も平行に移動することが可能であると共に、探触子移動
    手段の探触子を保持する部位において探触子を回動して
    超音波を発射する向きを変えることが可能なるものであ
    り、探触子は、反射波の最大値を検出することが可能な
    るものであると共に探触子移動手段の探触子保持部位に
    おいて、このような最大値検出方向に一致すべく探触子
    の向きを調整することが可能であり、演算手段は、上記
    方向調整によって得た開始点或いは終了点の位置情報か
    ら被検材表面の曲率等を算出することにより、最適な探
    触子の走査軌跡及び走査上の各位置における超音波発射
    方向を決定し、この決定に従って探触子の移動手段を制
    御することが可能なるものであることを特徴とする超音
    波探傷装置。
JP4148624A 1992-05-15 1992-05-15 超音波探傷方法及びその装置 Pending JPH06194349A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4148624A JPH06194349A (ja) 1992-05-15 1992-05-15 超音波探傷方法及びその装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4148624A JPH06194349A (ja) 1992-05-15 1992-05-15 超音波探傷方法及びその装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06194349A true JPH06194349A (ja) 1994-07-15

Family

ID=15456953

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4148624A Pending JPH06194349A (ja) 1992-05-15 1992-05-15 超音波探傷方法及びその装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06194349A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006113044A (ja) * 2004-09-16 2006-04-27 Nsk Ltd 転がり軸受の超音波探傷方法
CN110608771A (zh) * 2019-09-27 2019-12-24 江苏蓝创智能科技股份有限公司 一种带有弧形盒体的探伤机移动辐射监测传感器及其支架

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59126950A (ja) * 1983-01-11 1984-07-21 Power Reactor & Nuclear Fuel Dev Corp 最適条件自動保持型超音波探傷装置
JPS646551B2 (ja) * 1982-08-25 1989-02-03 Yokogawa Electric Corp

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS646551B2 (ja) * 1982-08-25 1989-02-03 Yokogawa Electric Corp
JPS59126950A (ja) * 1983-01-11 1984-07-21 Power Reactor & Nuclear Fuel Dev Corp 最適条件自動保持型超音波探傷装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006113044A (ja) * 2004-09-16 2006-04-27 Nsk Ltd 転がり軸受の超音波探傷方法
CN110608771A (zh) * 2019-09-27 2019-12-24 江苏蓝创智能科技股份有限公司 一种带有弧形盒体的探伤机移动辐射监测传感器及其支架

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5602344B2 (ja) 一定の走査速度を備えた走査プローブを用いた測定対象物の表面の走査方法
US4444197A (en) Ultrasonic diagnostic probe scanner
JP6622772B2 (ja) 計測システム
JPH06300542A (ja) 2次元レーザパターンによる形状特徴抽出装置および2次元レーザパターン発生装置
JP2000186913A (ja) コントラストラインの光学的検出のための方法および装置
CN106990171A (zh) 一种考虑工件装夹误差校正的超声波自动检测方法
JPH08278117A (ja) 作業対象面に対する作業器具の姿勢制御装置とこれを有するルツボの計測装置および塗装装置
JP2006153710A (ja) 溶接検査用プローブ及びそれを用いた溶接検査システム
JPH06194349A (ja) 超音波探傷方法及びその装置
JP2000046529A (ja) 3次元曲面を持つ被計測体の形状計測方法および装置
JPH06174703A (ja) 曲面形状追従型超音波探傷装置と探触子姿勢制御方法
JPH09280834A (ja) 形状測定装置
KR101686825B1 (ko) 3차원 스캐너용 제어 장치
JPH01292248A (ja) 超音波自動探傷装置
JPH07286845A (ja) 三次元形状測定方法及びその装置
JP2935600B2 (ja) センサを用いた溶接トーチの姿勢制御装置
JPS6355642B2 (ja)
KR101953888B1 (ko) 결함 분석을 위한 3차원 검사 장비 및 이의 위치 보정 방법
JP2000018914A (ja) 光学式丸孔測定方法
JPH0368863A (ja) 超音波探傷装置
JPH02157612A (ja) 形状計測装置のセンサ移動方法
JP3029572B2 (ja) 被測定体の断面輪郭形状測定方法及び3次元形状測定方法
US8127591B2 (en) Calibration for a nondestructive material testing system
JP2024013286A (ja) 形状計測装置、及び形状計測方法
JPH1038520A (ja) 座標測定装置