JPH06185986A - ピン取り付け位置検査装置 - Google Patents
ピン取り付け位置検査装置Info
- Publication number
- JPH06185986A JPH06185986A JP4356320A JP35632092A JPH06185986A JP H06185986 A JPH06185986 A JP H06185986A JP 4356320 A JP4356320 A JP 4356320A JP 35632092 A JP35632092 A JP 35632092A JP H06185986 A JPH06185986 A JP H06185986A
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- JP
- Japan
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- pin
- base material
- eyelet
- detecting means
- inspection
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ピン取り付け位置の検査を能率的に行い、異
種製品の検査にも汎用利用できるようにする。 【構成】 リード付きアイレット等のピン取り付け位置
検査装置であって、基材１２の側面方向で互いに直交す
るＸおよびＹ方向に、それぞれ基材１２とピン１０を側
面方向から視認して基材１２に対するピン位置を検出す
るＸ方向検出手段３０及びＹ方向検出手段３２を設け、
基材のピン取り付け面に対して垂直方向に、基材の平面
内での基準位置からの回転ずれを検出するＺ方向検出手
段３４を設け、前記Ｘ方向検出手段、Ｙ方向検出手段、
Ｚ方向検出手段の検出データに基づいて演算手段３６に
より基材上での基準位置に対するピンの取り付け位置を
検出し、正規位置からのずれを検出して良否判断する。
種製品の検査にも汎用利用できるようにする。 【構成】 リード付きアイレット等のピン取り付け位置
検査装置であって、基材１２の側面方向で互いに直交す
るＸおよびＹ方向に、それぞれ基材１２とピン１０を側
面方向から視認して基材１２に対するピン位置を検出す
るＸ方向検出手段３０及びＹ方向検出手段３２を設け、
基材のピン取り付け面に対して垂直方向に、基材の平面
内での基準位置からの回転ずれを検出するＺ方向検出手
段３４を設け、前記Ｘ方向検出手段、Ｙ方向検出手段、
Ｚ方向検出手段の検出データに基づいて演算手段３６に
より基材上での基準位置に対するピンの取り付け位置を
検出し、正規位置からのずれを検出して良否判断する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はリード付きアイレット等
の検査に利用できるピン取り付け位置検査装置に関す
る。
の検査に利用できるピン取り付け位置検査装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】発光ダイオード等を搭載する電子部品あ
るいは半導体装置に使用するセラミック基板等は外部接
続用としてのリードピンを有しているが、これらリード
ピンは溶接あるいはろう付け等によって基材に取り付け
られる。したがって、リードピンを溶接したりろう付け
したりした際に正規位置から位置ずれして取り付けられ
る場合があり、従来の製造工程ではこのような取り付け
位置不良を製品検査でチェックするようにしている。
るいは半導体装置に使用するセラミック基板等は外部接
続用としてのリードピンを有しているが、これらリード
ピンは溶接あるいはろう付け等によって基材に取り付け
られる。したがって、リードピンを溶接したりろう付け
したりした際に正規位置から位置ずれして取り付けられ
る場合があり、従来の製造工程ではこのような取り付け
位置不良を製品検査でチェックするようにしている。
【０００３】図６はリードピンを取り付ける製品例とし
てリード付きアイレットの一例を示す。図でリードピン
１０はアイレット基板１２に溶接して立設している。こ
の例では３つのアイレット１４と１本のリードピン１０
がアイレット基板１２上で矩形配置位置になるよう設け
られ、かつアイレット基板１２の外周縁の１か所に設け
た小突起１６を基準として所定配置になるように設けら
れている。したがって、製品検査においてはリードピン
１０がアイレット基板１２の平面上で基準位置に対して
所定位置に取り付けられているかどうかを検査する。
てリード付きアイレットの一例を示す。図でリードピン
１０はアイレット基板１２に溶接して立設している。こ
の例では３つのアイレット１４と１本のリードピン１０
がアイレット基板１２上で矩形配置位置になるよう設け
られ、かつアイレット基板１２の外周縁の１か所に設け
た小突起１６を基準として所定配置になるように設けら
れている。したがって、製品検査においてはリードピン
１０がアイレット基板１２の平面上で基準位置に対して
所定位置に取り付けられているかどうかを検査する。
【０００４】上記製品でリードピン１０がアイレット基
板１２の正規位置に取り付けられているかどうかを検査
する方法としては、検査治具を用いて検査する方法が行
われている。すなわち、上記製品の場合には検査治具に
アイレット基板１２を収納する収納凹部とリードピンの
正規位置に合わせてリードピンを挿通する透孔を設け、
リードピンを透孔に挿通してアイレット基板１２とリー
ドピン１０とが正規の位置関係にあるかどうかを検査し
ている。
板１２の正規位置に取り付けられているかどうかを検査
する方法としては、検査治具を用いて検査する方法が行
われている。すなわち、上記製品の場合には検査治具に
アイレット基板１２を収納する収納凹部とリードピンの
正規位置に合わせてリードピンを挿通する透孔を設け、
リードピンを透孔に挿通してアイレット基板１２とリー
ドピン１０とが正規の位置関係にあるかどうかを検査し
ている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記の検査治具を用い
て検査する方法では製品をいちいち検査治具にはめ合わ
せて良、不良をチェックするから、非常に検査に手間が
かかり能率が悪い。また、異なる製品の場合にはその製
品用に別に検査治具を用意しなければならず、検査治具
の製作が煩雑であるとともに汎用的な検査が行えないと
いった問題点があった。そこで、本発明は上記問題点を
解消すべくなされたものであり、その目的とするところ
はリード付きアイレット等のように溶接等でリードピン
を取り付ける製品でのリードピンの取り付け位置の検査
が２次元的な測定では不可能であった被検査体の相対的
位置を測定することにより能率よくでき、検査治具等を
用いないことから汎用的に利用することができるピン取
り付け位置検査装置を提供しようとするものである。
て検査する方法では製品をいちいち検査治具にはめ合わ
せて良、不良をチェックするから、非常に検査に手間が
かかり能率が悪い。また、異なる製品の場合にはその製
品用に別に検査治具を用意しなければならず、検査治具
の製作が煩雑であるとともに汎用的な検査が行えないと
いった問題点があった。そこで、本発明は上記問題点を
解消すべくなされたものであり、その目的とするところ
はリード付きアイレット等のように溶接等でリードピン
を取り付ける製品でのリードピンの取り付け位置の検査
が２次元的な測定では不可能であった被検査体の相対的
位置を測定することにより能率よくでき、検査治具等を
用いないことから汎用的に利用することができるピン取
り付け位置検査装置を提供しようとするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため次の構成を備える。すなわち、リード付きアイ
レット等のように別体で形成したピンを溶接等によって
基材に立設した製品のピン取り付け位置を検査するピン
取り付け位置検査装置であって、前記基材の側面方向で
互いに直交するＸおよびＹ方向に、それぞれ前記基材お
よびピンを側面方向から視認して基材に対するピン位置
を検出するＸ方向検出手段及びＹ方向検出手段を設け、
前記基材のピン取り付け面に対して垂直方向に、前記基
材の平面内での基準位置からの回転ずれを検出するＺ方
向検出手段を設け、前記Ｘ方向検出手段、Ｙ方向検出手
段、Ｚ方向検出手段の検出データに基づいて前記基材上
での基準位置に対するピンの取り付け位置を検出して、
正規位置からのずれを検出する演算手段を設けたことを
特徴とする。
するため次の構成を備える。すなわち、リード付きアイ
レット等のように別体で形成したピンを溶接等によって
基材に立設した製品のピン取り付け位置を検査するピン
取り付け位置検査装置であって、前記基材の側面方向で
互いに直交するＸおよびＹ方向に、それぞれ前記基材お
よびピンを側面方向から視認して基材に対するピン位置
を検出するＸ方向検出手段及びＹ方向検出手段を設け、
前記基材のピン取り付け面に対して垂直方向に、前記基
材の平面内での基準位置からの回転ずれを検出するＺ方
向検出手段を設け、前記Ｘ方向検出手段、Ｙ方向検出手
段、Ｚ方向検出手段の検出データに基づいて前記基材上
での基準位置に対するピンの取り付け位置を検出して、
正規位置からのずれを検出する演算手段を設けたことを
特徴とする。
【０００７】
【作用】Ｘ方向検出手段およびＹ方向検出手段によって
基材の側面方向からのデータに基づいて基材上でのピン
の取り付け位置を検出するとともに、Ｚ方向検出手段に
よって基材の平面内での回転ずれ量を検知し、演算手段
により基材の基準位置に対してピンがどの位置にあるか
を検出する。基材上での正規のピン位置をあらかじめ入
力しておくことによって検出されたピン位置と正規位置
とを比較してピン取り付け位置を評価することができ
る。
基材の側面方向からのデータに基づいて基材上でのピン
の取り付け位置を検出するとともに、Ｚ方向検出手段に
よって基材の平面内での回転ずれ量を検知し、演算手段
により基材の基準位置に対してピンがどの位置にあるか
を検出する。基材上での正規のピン位置をあらかじめ入
力しておくことによって検出されたピン位置と正規位置
とを比較してピン取り付け位置を評価することができ
る。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の好適な実施例を添付図面に基
づいて詳細に説明する。図１は本発明に係るピン取り付
け位置検査装置の各部の構成と被検査体２０の検査に使
用するカメラの配置を示す。なお、実施例の被検査体２
０は上述した従来例と同様にアイレット基板１２にリー
ドピン１０を立設した製品である。同図で３０は被検査
体２０と同一平面でＸ方向から被検査体２０を視認する
Ｘ方向検査手段たるＸ方向カメラ、３２は被検査体２０
と同一平面でＸ方向カメラ３０とは直交する方向すなわ
ちＹ方向から被検査体２０を視認するＹ方向検出手段た
るＹ方向カメラ、３４は被検査体２０の垂直上方から被
検査体２０を視認するＺ方向検出手段たるＺ方向カメラ
である。
づいて詳細に説明する。図１は本発明に係るピン取り付
け位置検査装置の各部の構成と被検査体２０の検査に使
用するカメラの配置を示す。なお、実施例の被検査体２
０は上述した従来例と同様にアイレット基板１２にリー
ドピン１０を立設した製品である。同図で３０は被検査
体２０と同一平面でＸ方向から被検査体２０を視認する
Ｘ方向検査手段たるＸ方向カメラ、３２は被検査体２０
と同一平面でＸ方向カメラ３０とは直交する方向すなわ
ちＹ方向から被検査体２０を視認するＹ方向検出手段た
るＹ方向カメラ、３４は被検査体２０の垂直上方から被
検査体２０を視認するＺ方向検出手段たるＺ方向カメラ
である。
【０００９】被検査体２０は図１に示すように水平な検
査台上にアイレット基板１２が水平になるようにセット
され、Ｘ方向カメラ３０およびＹ方向カメラ３２はとも
に被検査体２０を側面方向から視認する。図２(a) はＸ
方向カメラ３０およびＹ方向カメラ３２で被検査体２０
を視認した画像を示す。演算部３６では上記Ｘ方向カメ
ラ３０およびＹ方向カメラ３２の画像データに基づいて
アイレット基板１２の中心位置からリードピン１０まで
の距離ＯＰを求める。
査台上にアイレット基板１２が水平になるようにセット
され、Ｘ方向カメラ３０およびＹ方向カメラ３２はとも
に被検査体２０を側面方向から視認する。図２(a) はＸ
方向カメラ３０およびＹ方向カメラ３２で被検査体２０
を視認した画像を示す。演算部３６では上記Ｘ方向カメ
ラ３０およびＹ方向カメラ３２の画像データに基づいて
アイレット基板１２の中心位置からリードピン１０まで
の距離ＯＰを求める。
【００１０】図３は上記の演算部によって求めた距離Ｏ
Ｐが被検査体２０の平面上でＡx とＢy に相当すること
を示す。被検査体２０を検査台上にセットする際にはア
イレット基板１２の向きはまちまちになるから、Ａx と
Ｂy の値からリードピン１０の位置を求める場合はアイ
レット基板１２のずれ量によって補正する必要がある。
実施例ではアイレット基板１２の外周縁に小突起１６が
形成されているから、この小突起１６の位置を基準とし
てアイレット基板１２のずれ量を検出し、これによって
アイレット基板１２上でのリードピン１０の位置を求め
ることができる。
Ｐが被検査体２０の平面上でＡx とＢy に相当すること
を示す。被検査体２０を検査台上にセットする際にはア
イレット基板１２の向きはまちまちになるから、Ａx と
Ｂy の値からリードピン１０の位置を求める場合はアイ
レット基板１２のずれ量によって補正する必要がある。
実施例ではアイレット基板１２の外周縁に小突起１６が
形成されているから、この小突起１６の位置を基準とし
てアイレット基板１２のずれ量を検出し、これによって
アイレット基板１２上でのリードピン１０の位置を求め
ることができる。
【００１１】アイレット基板１２のずれ量は図１のＺ方
向カメラ３４によって検出する。図２(b) はＺ方向カメ
ラ３４によって被検査体２０を視認した画像を示す。演
算部３６はＺ方向カメラ３４の画像データに基づいて、
小突起１６が基準位置から回転してずれている角度θ0
を求める。図３で示すようにリードピン１０の取り付け
位置の回転角をθ1 とすると、回転ずれ量を補正したリ
ードピン１０の回転角θはθ＝θ1 −θ0 となる。な
お、θ1 ＝ｔａｎ-1( ＡX ／Ｂy ）である。
向カメラ３４によって検出する。図２(b) はＺ方向カメ
ラ３４によって被検査体２０を視認した画像を示す。演
算部３６はＺ方向カメラ３４の画像データに基づいて、
小突起１６が基準位置から回転してずれている角度θ0
を求める。図３で示すようにリードピン１０の取り付け
位置の回転角をθ1 とすると、回転ずれ量を補正したリ
ードピン１０の回転角θはθ＝θ1 −θ0 となる。な
お、θ1 ＝ｔａｎ-1( ＡX ／Ｂy ）である。
【００１２】図４は回転ずれ量を補正する前のリードピ
ン位置Ｐ（ＡX 、Ｂy ) と補正後のリードピン位置ＰO
（Ａx0、Ｂy0）の関係を示す。図から、Ａx0＝ＯＰ・co
s θ、Ｂy0＝ＯＰ・sin θである。なお、ＯＰ＝（ＡX
2 ＋Ｂy 2 ）1/2 である。こうして、Ｘ方向カメラ３０
およびＹ方向カメラ３２によって得られたデータ
（ＡX 、Ｂy ) とＺ方向カメラ３４によって得られたず
れ量のデータをもとにして、アイレット基板１２上での
リードピン位置ＰO を求めることができる。
ン位置Ｐ（ＡX 、Ｂy ) と補正後のリードピン位置ＰO
（Ａx0、Ｂy0）の関係を示す。図から、Ａx0＝ＯＰ・co
s θ、Ｂy0＝ＯＰ・sin θである。なお、ＯＰ＝（ＡX
2 ＋Ｂy 2 ）1/2 である。こうして、Ｘ方向カメラ３０
およびＹ方向カメラ３２によって得られたデータ
（ＡX 、Ｂy ) とＺ方向カメラ３４によって得られたず
れ量のデータをもとにして、アイレット基板１２上での
リードピン位置ＰO を求めることができる。
【００１３】リードピンの取り付け位置検査を評価する
場合は上記の補正後のリードピン位置ＰO が所定の許容
範囲内にはいっているかどうかを判断して行えばよい。
図５にリードピン位置の評価方法の例を示す。ここで
は、リードピンが所定の取り付け位置（ａ、ｂ）に対し
て一定の半径ｒの円内にあるかどうかで判断する。した
がって、リードピン位置ＰO （Ａx0、Ｂy0）のときの条
件式は （Ａx0−ａ）2 ＋（Ｂy0−b ）2 < ｒ2 となる。演算部３６はＸ方向カメラ３０、Ｙ方向カメラ
３２、Ｚ方向カメラ３４の各データからアイレット基板
上でのリードピン位置を求め、そのリードピン位置が上
式を満足するかどうか判断して、当該被検査品の良、不
良を判断する。
場合は上記の補正後のリードピン位置ＰO が所定の許容
範囲内にはいっているかどうかを判断して行えばよい。
図５にリードピン位置の評価方法の例を示す。ここで
は、リードピンが所定の取り付け位置（ａ、ｂ）に対し
て一定の半径ｒの円内にあるかどうかで判断する。した
がって、リードピン位置ＰO （Ａx0、Ｂy0）のときの条
件式は （Ａx0−ａ）2 ＋（Ｂy0−b ）2 < ｒ2 となる。演算部３６はＸ方向カメラ３０、Ｙ方向カメラ
３２、Ｚ方向カメラ３４の各データからアイレット基板
上でのリードピン位置を求め、そのリードピン位置が上
式を満足するかどうか判断して、当該被検査品の良、不
良を判断する。
【００１４】本実施例装置によれば上記のように検査台
に被検査体をセットするだけで検査できるから、検査治
具を用いて検査するといった従来方法にくらべてはるか
に能率的に検査を行うことが可能になった。また、異種
製品を取り扱う場合もあらかじめデータをセットするだ
けで対応することができ、検査装置を汎用的に使用する
ことができるという利点がある。
に被検査体をセットするだけで検査できるから、検査治
具を用いて検査するといった従来方法にくらべてはるか
に能率的に検査を行うことが可能になった。また、異種
製品を取り扱う場合もあらかじめデータをセットするだ
けで対応することができ、検査装置を汎用的に使用する
ことができるという利点がある。
【００１５】なお、上記実施例ではアイレット基板にリ
ードピンを立設した製品について適用する例について説
明したが、これに類似する他の製品についても同様に適
用することが可能である。たとえば、カンタイプの基材
にリードピンを溶接して取り付ける製品、セラミック基
板にリードピンを立設する製品等についても同様に適用
することができる。
ードピンを立設した製品について適用する例について説
明したが、これに類似する他の製品についても同様に適
用することが可能である。たとえば、カンタイプの基材
にリードピンを溶接して取り付ける製品、セラミック基
板にリードピンを立設する製品等についても同様に適用
することができる。
【００１６】
【発明の効果】本発明に係るピン取り付け位置検査装置
によれば、上述したように、画像処理によってリードピ
ンの取り付け位置を認識して取り付け位置を検査するか
ら、きわめて能率よく検査を行うことができ、また、異
種製品の検査に対しても汎用的に利用できて、取扱いや
すい検査装置として提供することができる等の著効を奏
する。
によれば、上述したように、画像処理によってリードピ
ンの取り付け位置を認識して取り付け位置を検査するか
ら、きわめて能率よく検査を行うことができ、また、異
種製品の検査に対しても汎用的に利用できて、取扱いや
すい検査装置として提供することができる等の著効を奏
する。
【図１】ピン取り付け位置検査装置の全体構成を示す説
明図である。
明図である。
【図２】アイレット基板およびリードピンのカメラによ
る認識画像を示す説明図である。
る認識画像を示す説明図である。
【図３】アイレット基板のずれ量とリードピンの認識位
置を示す説明図である。
置を示す説明図である。
【図４】リードピンの認識位置とアイレット基板のずれ
補正後の位置関係を示す説明図である。
補正後の位置関係を示す説明図である。
【図５】リードピンの取り付け位置の評価方法を示す説
明図である。
明図である。
【図６】リード付きアイレットの製品例を示す斜視図で
ある。
ある。
１０ リードピン １２ アイレット基板 １４ 透孔 １６ 小突起 ２０ 被検査体 ３０ Ｘ方向カメラ ３２ Ｙ方向カメラ ３４ Ｚ方向カメラ ３６ 演算部
Claims (1)
- 【請求項１】 リード付きアイレット等のように別体で
形成したピンを溶接等によって基材に立設した製品のピ
ン取り付け位置を検査するピン取り付け位置検査装置で
あって、 前記基材の側面方向で互いに直交するＸおよびＹ方向
に、それぞれ前記基材およびピンを側面方向から視認し
て基材に対するピン位置を検出するＸ方向検出手段及び
Ｙ方向検出手段を設け、 前記基材のピン取り付け面に対して垂直方向に、前記基
材の平面内での基準位置からの回転ずれを検出するＺ方
向検出手段を設け、 前記Ｘ方向検出手段、Ｙ方向検出手段、Ｚ方向検出手段
の検出データに基づいて前記基材上での基準位置に対す
るピンの取り付け位置を検出して、正規位置からのずれ
を検出する演算手段を設けたことを特徴とするピン取り
付け位置検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4356320A JPH06185986A (ja) | 1992-12-21 | 1992-12-21 | ピン取り付け位置検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4356320A JPH06185986A (ja) | 1992-12-21 | 1992-12-21 | ピン取り付け位置検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06185986A true JPH06185986A (ja) | 1994-07-08 |
Family
ID=18448451
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4356320A Pending JPH06185986A (ja) | 1992-12-21 | 1992-12-21 | ピン取り付け位置検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06185986A (ja) |
-
1992
- 1992-12-21 JP JP4356320A patent/JPH06185986A/ja active Pending
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