JPH06183864A - 窒化けい素メタライズ基板 - Google Patents

窒化けい素メタライズ基板

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JPH06183864A
JPH06183864A JP4336218A JP33621892A JPH06183864A JP H06183864 A JPH06183864 A JP H06183864A JP 4336218 A JP4336218 A JP 4336218A JP 33621892 A JP33621892 A JP 33621892A JP H06183864 A JPH06183864 A JP H06183864A
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隆之 那波
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Abstract

(57)【要約】 【目的】高放熱性および高接合強度を有し、半導体モジ
ュール用部品として好適な窒化けい素メタライズ基板を
提供する。 【構成】熱伝導率が60〜180W/m・Kである窒化
けい素基板表面に、モリブデンおよびタングステンの少
なくとも一方と活性金属窒化物とから成るメタライズ層
を一体に形成したことを特徴とする。またモリブデンお
よびタングステンの少なくとも一方に対する活性金属窒
化物の重量比を1.5〜2.5に設定したことを特徴と
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、窒化けい素基板に回路
パターン等のメタライズ層を一体に形成した窒化けい素
メタライズ基板に係り、特に高放熱性および高接合強度
を要する半導体モジュール用に好適な窒化けい素メタラ
イズ基板に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から各種電子機器の構成部品とし
て、アルミナ(Al2 3 )、窒化アルミニウム(Al
N)、酸化ベリリウム(BeO)などのセラミックス焼
結体表面にメタライズ層を一体に形成したセラミックス
メタライズ基板が広く使用されている。
【0003】このセラミックスメタライズ基板は、上記
セラミックス焼結体基板表面に、モリブデン−マンガン
合金、モリブデン、タングステン等の金属粉末をペース
ト状に調製したものを全面に塗布したり、または所定の
回路パターンを形成するようにスクリーン印刷等によっ
て印刷し、回路パターン等を印刷したセラミックス基板
を窒素ガス雰囲気中で1600〜1800℃程度の高温
度で焼成し、硬い導体層(メタライズ層)を形成して製
造されている。またメタライズ層はセラミックス基板上
に銅板を直接配置して加熱接合するDBC法(ダイレク
トボンディングカッパー法)、厚膜法、めっき法によっ
て形成される場合もある。
【0004】上記メタライズ層を設けることにより、半
田等の接合材料に対する濡れ性が向上し、セラミックス
焼結体へ、半導体素子(ICチップ)や電極板を高い接
合強度で接合することができ、その結果、半導体素子か
らの発熱の放散性や素子の動作信頼性を良好に保つこと
ができる。またセラミックス基板の裏面にもメタライズ
層を形成することにより、セラミックス基板の応力緩和
および反り(熱変形)防止の目的も達成できる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記セ
ラミックスメタライズ基板のうち、Al2 3 基板を使
用したメタライズ基板においては、Al2 3 の熱伝導
率が低いために良好な放熱性が得られず、半導体素子の
高密度集積化および高出力化に伴う放熱対策に充分対応
できない問題点があった。
【0006】また酸化ベリリウム(BeO)基板を使用
した場合においては、特にBeOは酸化物系のセラミッ
クスの中では最も熱伝導率が高い放熱性に優れた材料で
あるが、その毒性のため製造上および取扱い上の難点が
多い。
【0007】さらにAlN基板を使用した場合には、熱
伝導率が高く充分な放熱性が得られるが、メタライズ層
を焼成して形成する際に液相が接合表面部に染み出し、
AlN基板とメタライズ層との接合強度が低下するととも
に色むらが発生し易くなるという問題点があった。その
結果、使用中に繰り返し作用する熱負荷によってメタラ
イズ層が剥離して放熱性が急減し、電子機器の動作信頼
性が低下する問題点があった。
【0008】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであり、特に高放熱性および高接合強度を有
し、半導体モジュール用部品として好適な窒化けい素メ
タライズ基板を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明者らは上記目的を
達成するため、種々のセラミックス焼結体にメタライズ
層を形成してセラミックスメタライズ基板を調製し、そ
れらの放熱性、メタライズ層の接合強度、外観を比較検
討した。
【0010】その結果、曲げ強度や破壊靭性値などの機
械的特性に優れる窒化けい素は、焼成プロセス条件を最
適化することにより、60〜180W/m・Kという高
い熱伝導率を有する焼結体となることが判明した。そし
てこの窒化けい素焼結体表面にメタライズ層原料を印刷
して焼成した場合においても、液相の染み出しおよびそ
の染み出しに起因する基板の変色や色むらが少なく、窒
化けい素基板に対するメタライズ層の接合強度を高く維
持できることも判明した。さらに上記のような高い熱伝
導率を有し、機械的強度が高い窒化けい素基板を使用す
ることにより、従来のAl2 3 基板やAlN基板と同
等の強度を与えるように設定した場合には窒化けい素基
板の厚さを1/2程度に減少させることができる。した
がって、熱抵抗の減少に伴い、従来の高熱伝導性AlN
基板を使用した場合と同等の放熱性を有する窒化けい素
メタライズ基板が得られることが確認された。本発明は
上記知見に基づいて完成されたものである。
【0011】すなわち本発明に係る窒化けい素メタライ
ズ基板は、熱伝導率が60〜180W/m・Kである窒
化けい素基板表面に、モリブデンおよびタングステンの
少なくとも一方と活性金属窒化物とから成るメタライズ
層を一体に形成したことを特徴とする。
【0012】またモリブデンおよびタングステンの少な
くとも一方に対する活性金属窒化物の重量比を1.5〜
2.5に設定したことを特徴とする。
【0013】さらにメタライズ層の表面にニッケルまた
はニッケル合金から成るめっき層を一体に形成するとよ
い。
【0014】ここで本発明に係る窒化けい素メタライズ
基板に使用される熱伝導率60〜180W/m・Kの窒
化けい素基板は下記のように組成およびプロセス条件を
最適化して製造される。すなわち、酸素を1.7重量%
以下、Fe,Ca,Mgなどの不純物陽イオン元素を
0.3重量%以下、α相型窒化けい素を90重量%以上
含有し、平均粒径0.8μm以下の窒化けい素粉末に、
希土類元素を酸化物に換算して2〜7.5重量%と、ア
ルミニウムをアルミナ換算で0.5〜2重量%添加した
原料混合体を成形して成形体を調製し、得られた成形体
を脱脂後、温度1800〜2000℃で雰囲気加圧焼結
し、上記焼結温度から、上記希土類元素により焼結時に
形成された液相が凝固する温度までに至る焼結体の冷却
速度を毎時100℃以下に設定して製造される。
【0015】上記製造方法によれば、窒化けい素基板の
結晶組織中に希土類元素等を含む粒界相が形成され、気
孔率が1.5%以下、熱伝導率が60W/m・K以上、
三点曲げ強度が室温で80kg/mm2 以上の機械的特性お
よび熱伝導特性が共に優れた窒化けい素基板が得られ
る。
【0016】また上記製造方法において使用され、基板
の主成分となる窒化けい素粉末としては、焼結性、強度
および熱伝導率を考慮して、酸素含有量が1.7重量%
以下、好ましくは0.5〜1.5重量%、Fe,Mg,
Ceなどの不純物陽イオン元素含有量が0.3重量%以
下、好ましくは0.2重量%以下に抑制され、焼結性が
優れたα相型窒化けい素を90重量%以上、好ましくは
93重量%以上含有し、平均粒径が0.8μm以下、好
ましくは0.4〜0.6μm程度の微細な窒化けい素粉
末を使用するとよい。
【0017】平均粒径が0.8μm以下の微細な原料粉
末を使用することにより、少量の焼結助剤であっても気
孔率が1.5%以下の緻密な焼結体基板を形成すること
が可能であり、また焼結助剤が熱伝導特性を阻害するお
それも減少する。またFe,Mg,Caなどの不純物陽
イオン元素も熱伝導性を阻害する物質となるため、60
W/m・K以上の熱伝導率を確保するためには、上記不
純物陽イオン元素の含有量は0.3重量%以下に設定さ
れる。特にβ相型と比較して焼結性に優れたα相型窒化
けい素を90重量%以上含有する窒化けい素原料粉末を
使用することにより、高密度の焼結体基板を製造するこ
とができる。
【0018】また窒化けい素原料粉末に焼結助剤として
添加する希土類元素としてはY,La,Sc,Pr,C
e,Nd,Dy,Gdなどの酸化物もしくは焼結操作に
より、これらの酸化物となる物質が単独で、または2種
以上の酸化物を組み合せたものを含んでもよいが、特に
酸化イットリウム(Y2 3 )が好ましい。これらの焼
結助剤は、窒化けい素原料粉末と反応して液相を生成
し、焼結促進剤として機能する。
【0019】上記焼結助剤の添加量は、酸化物換算で原
料粉末に対して2〜7.5重量%の範囲に設定される。
この添加量が2重量%未満と過少の場合は、焼結体基板
が緻密化されず低強度で低熱伝導率の焼結体基板が形成
される。一方、添加量が7.5重量%を超える過量とな
ると、過量の粒界相が生成し、熱伝導率の低下や強度が
低下し始めるので上記範囲に設定される。特に好ましく
は3〜6重量%に設定することが望ましい。
【0020】さらに上記基板製法における他の添加成分
としてのアルミナ(Al2 3 )は、上記希土類元素の
焼結促進剤の機能を助長する役目を果すものであり、特
に加圧焼結を行なう場合に著しい効果を発揮するもので
ある。アルミニウム源としてのAl2 3 の添加量が
0.5重量%未満の場合においては緻密化が不充分であ
る一方、2重量%を超える過量となる場合には過量の粒
界相を生成したり、または窒化けい素に固溶し始め、熱
伝導の低下が起こるため、添加量は0.5〜2重量%の
範囲に設定される。特に強度、熱伝導率共に良好な性能
を確保するためには添加量を0.7〜1.5重量%の範
囲に設定することが望ましい。
【0021】また焼結体基板の気孔率はメタライズ基板
の熱伝導率および強度に大きく影響するため1.5%以
下に設定される。気孔率が1.5%を超えると熱伝導の
妨げとなり、焼結体基板の熱伝導率が低下するとともに
強度低下が起こる。
【0022】また、窒化けい素結晶組織に形成される粒
界相は焼結体基板の熱伝導率に大きく影響するため、本
発明で使用する窒化けい素基板においては粒界相の20
%以上が結晶相で占めるように設定される。結晶相が2
0%未満では熱伝導率が60W/m・K以上となるよう
な放熱特性に優れ、かつ高温強度に優れた焼結体が得ら
れないからである。
【0023】さらに上記のように窒化けい素基板の気孔
率を1.5%以下にし、また窒化けい素結晶組織に形成
される粒界相の20%以上が結晶相で占めるようにする
ためには、窒化けい素成形体を温度1800〜2000
℃で0.5〜10時間程度、加圧焼結し、かつ焼結操作
完了直後における焼結体の冷却速度を毎時100℃以下
に調整制御することが必要である。
【0024】焼結温度を1800℃未満に設定した場合
には、焼結体の緻密化が不充分で気孔率が1.5vol%以
上になり機械的強度および熱伝導性が共に低下してしま
う。一方焼結温度が2000℃を超えると窒化けい素成
分自体が蒸発分解し易くなる。特に加圧焼結ではなく、
常圧焼結を実施した場合には、1800℃付近より窒化
けい素の分解蒸発が始まる。
【0025】上記焼結操作完了直後における焼結体の冷
却速度は粒界相を結晶化させるために重要な制御因子で
あり、冷却速度が毎時100℃を超えるような急速冷却
を実施した場合には、焼結体組織の粒界相が非結晶質
(ガラス相)となり、焼結体に生成した液相が結晶相と
して粒界相に占める面積割合が20%未満となり、強度
および熱伝導性が共に低下してしまう。
【0026】上記冷却速度を厳密に調整すべき温度範囲
は、所定の焼結温度(1800〜2000℃)から、前
記の焼結助剤の反応によって生成する液相が凝固するま
での温度範囲で充分である。ちなみに前記のような焼結
助剤を使用した場合の液相凝固点は概略1600〜15
00℃程度である。そして少なくとも焼結温度から上記
液相凝固温度に至るまでの焼結体基板の冷却速度を毎時
100℃以下、好ましくは50℃以下に制御することに
より、粒界相の大部分が結晶相になり、熱伝導率および
機械的強度が共に優れた焼結体基板が得られる。
【0027】上記窒化けい素基板は、例えば以下のよう
なプロセスを経て製造される。すなわち前記所定の粒
径、および不純物含有量の微細な窒化けい素粉末に対し
て所定量の焼結助剤、有機バインダ等の必要な添加剤を
加えて原料混合体を調整し、次に得られた原料混合体を
成形して所定形状の成形体を得る。原料混合体の成形法
としては、汎用の金型プレス法、ドクターブレード法の
ようなシート成形法などが適用できる。上記成形操作に
引き続いて、成形体を非酸化性雰囲気中で温度600〜
800℃で1〜2時間加熱して、予め添加していた有機
バインダを充分に除去し、脱脂する。次に脱脂処理され
た成形体を窒素ガス、水素ガスやアルゴンガスなどの不
活性ガス雰囲気中で1800〜2000℃の温度で所定
時間雰囲気加圧焼結を行なう。
【0028】上記製法によって製造された窒化けい素基
板は気孔率1.5%以下で、60〜180W/m・K
(25℃)の熱伝導率を有し、また三点曲げ強度が常温
で80kg/mm2 以上と機械的特性にも優れている。
【0029】また上記窒化けい素基板表面に一体に形成
されるメタライズ層は、導電材料としてのMoおよびW
の少なくとも一方と、Ti,Zr,Hf,Nbなどの活
性金属の窒化物から成る。このメタライズ層に含有され
るTiなどの活性金属の窒化物(例えばTiN)は、M
oやWなどの導電材料を緻密化するとともに、焼成時に
窒化けい素基板表面において、TiN,Tiシリサイ
ド,Ti−Si−N化合物を形成し、メタライズ層を基
板表面に強固に接合する機能を有する。
【0030】上記MoやWなどの導電材料に対する活性
金属窒化物の重量比は1.5〜2.5の範囲に設定され
る。重量比が1.5未満の場合は、メタライズ層の窒化
けい素基板に対する接合強度を高める機能が不充分であ
り、一方、重量比が2.5を超える場合においてもメタ
ライズ層の接合強度が低下し、かつめっき層を形成させ
る場合の密着性が悪くなるため、上記重量比の範囲にお
いてメタライズ層のピール強度が最大値をとる。
【0031】本発明に係る窒化けい素メタライズ基板
は、例えば次のような手順で製造される。すなわち上記
導電材料としてのMoまたはWの原料粉末と、活性金属
窒化物粉末とを所定の重量比となるように秤量混合し、
得られた混合体にエチルセルロースなどのバインダと、
酢酸ブチルなどの溶剤とを添加して撹拌することにより
メタライズペーストを調製し、このメタライズペースト
を、前記の製法で調製した高熱伝導性窒化けい素基板表
面にスクリーン印刷法等によって印刷して所定の導体層
(回路)パターンを形成する。次に半導体層パターンを
印刷した窒化けい素基板を乾燥後、窒素ガス等の非酸化
性雰囲気中で温度1600〜1800℃で焼成して製造
される。
【0032】さらにメタライズ層の保護、およびメタラ
イズ層に半導体素子や電極材を接合するために使用する
半田等の接合材料との濡れ性を改善するため、メタライ
ズ層表面にニッケル(Ni)やNi−P,Ni−Agな
どのニッケル合金から成るめっき層を形成してもよい。
このめっき層の厚さは1〜6μm程度に設定され、汎用
の電解めっき法や無電解めっき法を使用して形成され
る。
【0033】
【作用】上記構成に係る窒化けい素メタライズ基板によ
れば、メタライズ層を焼成して形成する際に液相の染み
出しが少ない高熱伝導性窒化けい素基板を使用している
ため、液相の染み出しに起因するメタライズ層に接合強
度の経時劣化が少なく、高い放熱性および接合強度を有
する耐久性に優れた窒化けい素メタライズ基板を得るこ
とができる。また液相の染み出しによる基板の色むら、
変色も減少し、メタライズ基板の製品歩留りを大幅に改
善することもできる。
【0034】特に従来のAlN基板およびAl2 3
板と比較して機械的強度が極めて大きい窒化けい素基板
を使用しているため、従来と同等の強度に設定した場合
には窒化けい素基板の厚さを1/2程度に低減でき、よ
り高密度な実装が可能となる上に、厚さの減少に比例し
て熱抵抗が減少し、従来材であるAlN基板と同等の放
熱性を得ることもできる。
【0035】さらに窒化けい素基板の熱膨脹係数が、S
iを主成分とする半導体素子の熱膨脹係数に近似するこ
とになり、半導体素子を一体に接合し繰り返し熱衝撃を
作用させた場合においても熱膨脹差に起因する応力の発
生が少なく、クラックなどの欠陥が生じにくい利点があ
る。
【0036】
【実施例】次に本発明を以下に示す実施例を参照して具
体的に説明する。
【0037】実施例1〜5 酸素1.3重量%、陽イオン不純物0.15重量%含有
し、α相型窒化けい素97%を含む平均粒径0.55μ
mの窒化けい素原料粉末に対して、焼結助剤として平均
粒径0.7μmのY2 3 (酸化イットリウム)粉末5
重量%、平均粒径0.5μmのAl2 3 (アルミナ)
粉末1.5重量%を添加し、エチルアルコール中で24
時間湿式混合した後に乾燥して原料粉末混合体を調整し
た。次に得られた原料粉末混合体に有機バインダを所定
量添加して均一に混合した後に、1000kg/cm2 の成
形圧力でプレス成形し、長さ50mm×幅50mm×厚さ5
mmの成形体を多数製作した。次に得られた成形体を70
0℃の雰囲気ガス中において2時間脱脂した後に、この
脱脂体を窒素ガス雰囲気中7.5気圧にて1900℃で
6時間保持し、緻密化焼結を実施した後に、焼結炉に付
設した加熱装置への通電量を制御して焼結炉内温度が1
500℃まで降下するまでの間における焼結体の冷却速
度が50℃/hrとなるように調整して焼結体を冷却し、
それぞれ実施例1〜5用の窒化けい素基板を多数調製し
た。
【0038】一方、導体材料としてのMo粉末およびW
粉末と、活性金属窒化物としてのTiN粉末およびNb
N粉末とを表1に示す重量比率となるように秤量混合し
て5種類の混合体を調製し、さらにバインダとしてのエ
チルセルロースおよび溶剤としての酢酸ブチルを添加し
て撹拌し、5種類の均一なメタライズペーストを調製し
た。
【0039】次の各メタライズペーストを、前記製法で
調製した高熱伝導性窒化けい素基板表面にスクリーン印
刷し、さらに乾燥後、窒化雰囲気中で温度1700〜1
800℃で焼成し、メタライズ層としての回路パターン
を一体に形成した。
【0040】さらに半田等の接合材料に対する濡れ性を
改善するために、表1に示すような組成を有する厚さ2
μmのめっき層を無電解めっき法によりそれぞれ形成し
て実施例1〜5に係る窒化けい素メタライズ基板をそれ
ぞれ製造した。
【0041】比較例1〜3 一方、セラミックス基板として、それぞれAl2 3
結体基板(比較例1用)、AlN焼結体基板(比較例2
用)およびBeO焼結体基板(比較例3用)を使用し、
各焼結体基板表面に表1に示す組成を有するメタライズ
層およびめっき層を実施例1〜5と同様な条件で形成し
てそれぞれ比較例1〜3に係る各種セラミックスメタラ
イズ基板を多数調製した。
【0042】こうして調製した実施例1〜5および比較
例1〜3に係る各セラミックス基板について、室温(2
5℃)における熱伝導率、3点曲げ強度、メタライズ層
の接合強度、半田付け性等の特性値を測定するととも
に、色むら等の外観不良率を計測した。なお、接合強度
は、各試料メタライズ基板を下記条件のヒートサイクル
を100回繰り返す熱衝撃試験(TCT)を実施した後
におけるメタライズ層のピール強度として測定した。ヒ
ートサイクルは−50℃で30分間冷却し、室温で10
分間保持し、+150℃で30分間加熱し、室温で10
分間保持する加熱冷却操作を1サイクルとした。
【0043】また半田付け性はメタライズ層の半田に対
する濡れ性を評価するために測定したものであり、下記
方法で測定した。すなわち直径5mmの球状の半田塊をメ
タライズ層表面上に載置した後に溶融せしめたときに元
の半田塊の高さ(5mm)から溶融半田の盛上り高さに至
るまでの高さの減少割合(%)で半田付け性を評価し
た。
【0044】以上の測定結果を下記表1に示す。
【0045】
【表1】
【0046】表1に示す結果から明らかなように、実施
例1〜5に係る窒化けい素メタライズ基板によれば、メ
タライズ層を焼成して形成する際に、液相の染み出しが
少ないため、ヒートサイクル試験後においてもメタライ
ズ層の接合強度の経時的な低下が少なく、耐久性および
外観に優れた窒化けい素メタライズ基板が得られた。特
に同じ厚さでセラミックス基板を調製した場合には、比
較例2に示すAlN基板を用いた場合より熱伝導率は低
下するが、AlN基板と同等の強度を付与するようにS
3 4 基板の厚さを設定すると厚さはAlN基板の1
/2程度になる。そのため、60〜180W/m・Kの
高熱伝導率を有するSi3 4 基板を使用することによ
り、AlN基板を使用した場合と同等の放熱性を有する
メタライズ基板が得られた。また基板厚さを低減できる
ため、半導体素子をより高密度に実装した半導体モジュ
ールが実現した。
【0047】一方、比較例1に係るAl2 3 メタライ
ズ基板によれば、熱伝導率が低く半導体モジュールの高
出力化に対応できず、また比較例2のAlNメタライズ
基板は熱伝導率は高いが、メタライズ層形成時に液相の
染み出しが顕著になり、接合強度が低下するとともに色
むら発生率が高くなり、製品歩留りが低下した。さらに
比較例3のBeOメタライズ基板においては、熱伝導率
は高いが曲げ強度が小さく、薄型化することは困難であ
った。
【0048】
【発明の効果】以上説明の通り本発明に係る窒化けい素
メタライズ基板は、メタライズ層を焼成して形成する際
に液相の染み出しが少ない高熱伝導性窒化けい素基板を
使用しているため、液相の染み出しに起因するメタライ
ズ層に接合強度の経時劣化が少なく、高い放熱性および
接合強度を有する耐久性に優れた窒化けい素メタライズ
基板を得ることができる。また液相の染み出しによる基
板の色むら、変色も減少し、メタライズ基板の製品歩留
りを大幅に改善することもできる。
【0049】特に従来のAlN基板およびAl2 3
板と比較して機械的強度が極めて大きい窒化けい素基板
を使用しているため、従来と同等の強度に設定した場合
には窒化けい素基板の厚さを1/2程度に低減でき、よ
り高密度な実装が可能となる上に、厚さの減少に比例し
て熱抵抗が減少し、従来材であるAlN基板と同等の放
熱性を得ることもできる。
【0050】さらに窒化けい素基板の熱膨脹係数が、S
i主成分とする半導体素子の熱膨脹係数に近似すること
になり、半導体素子を一体に接合し繰り返し熱衝撃を作
用させた場合においても熱膨脹差に起因する応力の発生
が少なく、クラックなどの欠陥が生じにくい利点があ
る。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 熱伝導率が60〜180W/m・Kであ
    る窒化けい素基板表面に、モリブデンおよびタングステ
    ンの少なくとも一方と活性金属窒化物とから成るメタラ
    イズ層を一体に形成したことを特徴とする窒化けい素メ
    タライズ基板。
  2. 【請求項2】 モリブデンおよびタングステンの少なく
    とも一方に対する活性金属窒化物の重量比を1.5〜
    2.5に設定したことを特徴とする請求項1記載の窒化
    けい素メタライズ基板。
  3. 【請求項3】 メタライズ層の表面にニッケルまたはニ
    ッケル合金から成るめっき層を一体に形成したことを特
    徴とする請求項1記載の窒化けい素メタライズ基板。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP0908429A1 (en) * 1997-09-03 1999-04-14 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Metallized silicon nitride ceramic, fabricating process thereof and metallizing composite for the process
US5928768A (en) * 1995-03-20 1999-07-27 Kabushiki Kaisha Toshiba Silicon nitride circuit board

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5928768A (en) * 1995-03-20 1999-07-27 Kabushiki Kaisha Toshiba Silicon nitride circuit board
US5998000A (en) * 1995-03-20 1999-12-07 Kabushiki Kaisha Toshiba Silicon nitride circuit board
US6040039A (en) * 1995-03-20 2000-03-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Silicon nitride circuit board
EP0908429A1 (en) * 1997-09-03 1999-04-14 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Metallized silicon nitride ceramic, fabricating process thereof and metallizing composite for the process
US6447923B1 (en) 1997-09-03 2002-09-10 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Metallized silicon nitride ceramic and fabricating process thereof as well as metallizing composite for the process

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