JPH06181268A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH06181268A
JPH06181268A JP4334015A JP33401592A JPH06181268A JP H06181268 A JPH06181268 A JP H06181268A JP 4334015 A JP4334015 A JP 4334015A JP 33401592 A JP33401592 A JP 33401592A JP H06181268 A JPH06181268 A JP H06181268A
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JP
Japan
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layer
printed wiring
wiring board
semiconductor device
semiconductor
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JP4334015A
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Koji Minami
浩司 南
Takeshi Kano
武司 加納
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Publication date
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  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 高速の半導体を組み込むことができるように
する。半導体と導体層との間の回路長を短くして電気特
性を十分に得る。 【構成】 半導体1搭載用の開口部2を設けたプリント
配線板3を具備する半導体装置を形成する。これにおい
て、上記開口部2の内壁に導通層4を設けると共にプリ
ント配線板3に形成された複層の導体層5をこの導通層
4で電気的に導通させる。導体層5は半導体1に最も近
接する開口部2の内壁の導通層4で導通されることにな
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板を使用
したPGAなどの半導体装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ICチップ等の半導体1を搭載して形成
される半導体装置として、その搭載基板をセラミックや
あるいはプリント配線板を用いて形成したものが提供さ
れている。図6(a)はセラミックを搭載基板Aとして
作成したセラミックパッケージの半導体装置を示すもの
であり、その中央部に半導体搭載用の開口部2を上下に
開口して設けると共に開口部2の下面に金属板等で作成
される放熱板12を取り付けて開口部2の下面開口を閉
塞し、放熱板12の上に半導体1を接着することによっ
て開口部2内に半導体1を搭載するようにしてある。搭
載基板Aには信号層5aや接地層5bなどの導体層5が
銅箔をエッチング加工して形成してあり、搭載基板Aに
基部を埋入して取り付けた端子ピン13を導体層5に導
通接続してある。そして導体層5のうち信号層5aの開
口部2に近接する端部はインナーリード部14として露
出させてあり、半導体1の電極とインナーリード部14
との間に金線等のワイヤー15をボンディングすること
によって、半導体1と信号層5aとを電気的に接続する
ようにしてある。また、信号層5aと接地層5bの間
や、信号層5a同士の間など導体層5間の導通接続は、
搭載基板Aにビアホール16を設けてビアホール16に
よっておこなうようにしてある。17は半導体1を保護
するために開口部2を覆うように取り付けたリッドであ
る。
【0003】図6(b)はプリント配線板3を搭載基板
Aとして作成したプラスチックパッケージの半導体装置
を示すものである。このものでは接着層18によって放
熱板12が取り付けてあり、また導体層5間の導通接続
は、搭載基板Aを構成するプリント配線板3に貫通ある
いは未貫通のビアホール16を設けておこなうようにし
てある。その他の構造は上記図6(a)のものとほぼ同
じである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】近年、半導体の高速化
が著しく進んでいるが、図6(a)のようにセラミック
を搭載基板Aとして作成したセラミックパッケージの半
導体装置では、セラミックの持つ高い誘電率によって、
導体層5の配線間の浮遊容量が大きくなり、信号の高速
化を達成することが難しいという問題があった。
【0005】一方、プリント配線板3を搭載基板Aとし
て作成したプラスチックパッケージの半導体装置では、
材料の誘電率が低いために浮遊容量の問題がなく、信号
の高速化を達成することは容易である。しかしながら、
導体層5間の導通接続を図6(b)のように搭載基板A
内に設けたビアホール16でおこなうと、信号の高速化
を狙った半導体装置では十分な性能を得ることができな
いものであった。すなわち、ビアホール16は基板の強
度や作業性等の関係から開口部2に近接して設けること
が難しく、このようにビアホール16が開口部2から離
れた箇所に設けられると、半導体1とビアホール16と
の間の距離が長くなり、半導体1とビアホール16を介
して接続される導体層5との間の回路長が長くなって、
導通抵抗、インダクタンス、浮遊容量等の電気特性を十
分に得ることができなくなるという問題があった。
【0006】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、高速の半導体を組み込むことができると共に、半
導体と導体層との間の回路長を短くして電気特性を十分
に得ることができる半導体装置を提供することを目的と
するものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体装置
は、半導体1搭載用の開口部2を設けたプリント配線板
3を具備して形成される半導体装置において、上記開口
部2の内壁に導通層4を設けると共にプリント配線板3
に形成された複層の導体層5をこの導通層4で電気的に
導通させて成ることを特徴とするものである。
【0008】上記導通層4は金属めっきによって形成す
るのが好ましい。また本発明にあって、プリント配線板
3を内層回路5cを含む3層以上の導体層5を設けた多
層プリント配線板3aとして形成し、内層回路5cと他
の導体層5とを導通層4で電気的に導通させるようにす
ることができる。さらに本発明にあって、開口部2の内
壁に導通層4を設けたプリント配線板3の一方の面の基
材6を露出させ、この基材6を露出させた面で他のプリ
ント配線板3と積層接着させるようにすることができ
る。
【0009】さらに本発明にあって、プリント配線板3
と樹脂含浸ガラス布プリプレグによる成形層7とを交互
に積層して作成される多層プリント配線板3aを用い、
多層プリント配線板3aの一方の面の基材6を露出させ
るにあたって、樹脂含浸ガラス布プリプレグによる成形
層7の基材6を露出させるようにすることができる。
【0010】
【作用】半導体1搭載用の開口部2の内壁に導通層4を
設けると共にプリント配線板3に形成された複数の導体
層5をこの導通層4で電気的に導通させるようにしてい
るために、導体層5は半導体1に最も近接する開口部2
の内壁の導通層4で導通されることになり、半導体1と
導通層4を介した導体層5との間の回路長を短くするこ
とができる。
【0011】
【実施例】以下本発明を実施例によって詳述する。図1
は本発明の一実施例を示すものである。プリント配線板
3は、銅箔等の金属箔を表面に張ったガラス布基材エポ
キシ樹脂積層板などを用い、金属箔をエッチング加工等
してパターン形成することによって導体層5を設けて、
作成されるものであり、その中央部には開口部2が両面
に貫通させて設けてある。プリント配線板3に設けられ
る導体層5は、信号回路を構成する信号層5aや、グラ
ンドを構成する接地層5bなどからなる。このプリント
配線板3によって半導体装置の搭載基板Aを形成する
が、図1の実施例では複数枚のプリント配線板3をその
開口部2を合わせて積層接着することによって、多層の
プリント配線板3で搭載基板Aを形成するようにしてあ
る。エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を含浸したガラス布
プリプレグを挟んで複数枚のプリント配線板3を加熱加
圧成形することによって、プリプレグによる接着層19
で複数枚のプリント配線板3を積層接着することができ
る。また搭載基板Aの開口部2の下面開口には金属板な
どで作成される放熱板12が取り付けてあり、開口部2
の下面開口を閉塞するようにしてある。放熱板12も同
様に接着層19で接着することができる。さらに、搭載
基板Aの周縁部には端子ピン13が基部を埋入して取り
付けてあり、各端子ピン13は導体層5に導通接続して
ある。
【0012】そして図1の実施例にあって、一方の面に
信号層5aを、他方の面に接地層5bをそれぞれ設けた
プリント配線板3(図1のイ矢印)には、その開口部2
の内壁に厚み方向の導通層4が設けてあり、この導通層
4を接続回路として信号層5aと接地層5bとを導通接
続するようにしてある。導通層4の形成は導電ペースト
等でおこなうことも考えられるが、銅メッキ等の金属メ
ッキで導通層4を形成することによって、導通層4を低
抵抗に形成し、信号の高速化を得ることができるように
するのが好ましい。
【0013】しかして、上記のようにプリント配線板3
で形成される搭載基板Aの開口部2内にICチップ等の
半導体1を収容して、放熱板12の上に接着することに
よって半導体1を搭載するようにしてある。そして導体
層5のうち信号層5aの開口部2に近接する端部はイン
ナーリード部14として露出させてあり、半導体1の電
極とインナーリード部14との間に金線等のワイヤー1
5をボンディングすることによって、半導体1と信号層
5aとを電気的に接続するようにしてある。さらに開口
部2を覆うようにリッド17を取り付けて半導体1を保
護することによって、半導体装置を作成することができ
るものである。この半導体装置にあって、プリント配線
板3に設けた複層の導体層5は半導体1を搭載した開口
部2の内壁の導通層4で接続されており、半導体1はワ
イヤー15等で導体層5の開口部2に近接する端部に接
続されるために、導通層4は半導体1の接続箇所と近接
するものであり、従って半導体1と導通層4を介した導
体層5との間の回路長を最短距離にすることができるも
のであり、導体層5同士をビアホール16で接続する従
来例のように半導体1とビアホール16との間の距離が
長くなって半導体1とビアホール16を介して接続され
る導体層5との間の回路長が長くなるようなことがなく
なり、低導通抵抗、低インダクタンス、低浮遊容量など
最高の電気特性を発揮させることができるものである。
【0014】図2は本発明の他の実施例を示すものであ
り(請求項3に対応する実施例)、プリント配線板3と
して内層回路5cを含む3層以上の導体層5を設けた多
層プリント配線板3aを用いるようにしてある。この多
層プリント配線板3aの導体層5は、一方の面の信号層
5a、他方の面の接地層(又は電源層)5b、及び内層
回路5cを構成する接地層(又は電源層)5bから形成
してある。そしてこの多層プリント配線板3aの開口部
2の内壁に導通層4を設けることによって、導通層4で
信号層5aと接地層5bと内層回路5cを導通接続する
ようにしてある。このように内層回路5cと他の導体層
5とを半導体1を搭載した開口部2の内壁の導通層4で
接続できるので、半導体1と導通層4を介した内層回路
5aとの間の回路長を最短距離にすることができ、上記
したと同様に低導通抵抗、低インダクタンス、低浮遊容
量など最高の電気特性を発揮させることができるもので
ある。
【0015】図3は本発明のさらに他の実施例を示すも
のであり(請求項4に対応する実施例)、プリント配線
板3として内層回路5cを設けた多層プリント配線板3
aを用い、この多層プリント配線板3a(図3のロ矢
印)を他のプリント配線板3(図3の実施例では多層プ
リント配線板3b:ハ矢印で示す)と接着層19で積層
接着するにあたって、多層プリント配線板3a(図3の
ロ矢印)の接着側の面の金属箔をエッチング等して除く
ことによって、配線板の下地の樹脂含浸ガラス布等の基
材をほぼ全面に亘って露出させるようにしてある。多層
プリント配線板3aに信号層5bや接地層5b等の導体
層5を形成するために積層した金属箔の表面は、粗面化
処理等することによって接着層19との接着性を確保す
ることができるが、多層プリント配線板3aの開口部2
に導通層4を金属メッキで形成する場合、多層プリント
配線板3aに積層した金属箔の表面にも金属メッキがな
されて粗面が埋められて平滑な表面になってしまい、接
着層19との接着性を確保することができず、層間接着
信頼性を得ることができなくなるおそれがある。そこ
で、開口部2に導通層4を金属メッキするこの多層プリ
ント配線板3aにおいて、接着側の面の金属箔をエッチ
ング等して除いて下地の基材6をほぼ全面に亘って露出
させるようにしたものであり、表面が平滑でない基材6
によって接着層19との接着性を高く得ることができ、
半導体装置の信頼性評価において極めて優れた層間の接
着信頼性を発揮させることができるのである。尚、この
多層プリント配線板3a(図3のロ矢印)と接着する他
方の多層プリント配線板3b(図3のハ矢印)の接着面
には金属箔をエッチング加工した信号層5aが形成され
ているが、信号層5aは回路線で形成されているのでこ
の回路線間に多層プリント配線板3bの下地の基材が部
分的に露出されているために、この面において層間接着
性が問題になることはない。
【0016】図4の実施例では、多層プリント配線板3
a(図3のロ矢印のものに相当する)の上に他のプリン
ト配線板3を積層し、また多層プリント配線板3b(図
3のハ矢印のものに相当する)として内層回路5cの層
数の多いものを用いるようにしてある。その他の構成は
図3の実施例とほぼ同じである。尚、図3及び図4の実
施例ではプリント配線板3として多層プリント配線板を
用いたが、多層プリント配線板に限定されるものでない
のはいうまでもない。
【0017】図5(a)は本発明のさらに他の実施例を
示すものであり(請求項5に対応する実施例)、接着側
の面の金属箔をエッチング等して除いて下地の基材6を
ほぼ全面に亘って露出させるようにした多層プリント配
線板3aを図5(b)に示す層構成で作成してある。す
なわち、両面に金属箔をエッチング加工して形成した導
体層5を両面に設けたプリント配線板3とエポキシ樹脂
等の熱硬化性樹脂を含浸乾燥したガラス布プリプレグと
を交互に重ねて加熱加圧成形することによって、プリン
ト配線板3と樹脂含浸ガラス布プリプレグによる成形層
7とを交互に積層接着して多層プリント配線板3aを作
成するが、多層プリント配線板3aの接着側の最外層は
樹脂含浸ガラス布プリプレグによる成形層7で形成され
るようにしてあり、この成形層7の表面から金属箔や金
属メッキ等をエッチング除去することによって、その下
地の基材6をほぼ全面に亘って露出させ、この基材6の
露出面で他の多層プリント配線板3bと接着層19によ
って積層接着するようにしてある。
【0018】一般に、金属箔の熱膨張率(銅箔の熱膨張
率は17ppm/℃程度)はガラス布基材エポキシ樹脂
積層板等で作成されるプリント配線板3の熱膨張率(1
5ppm/℃程度)よりも大きい。多層プリント配線板
3aの両方の外面が金属箔で形成されておればバランス
がとれて問題がないが、一方の外面が金属箔、他方の外
面がプリント配線板3の基材6の露出面となる層構成で
多層プリント配線板3aを作成すると、積層成形した後
に冷却する際に、金属箔とプリント配線板3の熱膨張率
(収縮率)の差で多層プリント配線板3aには反りが発
生し易い。一方、多層プリント配線板3aを積層成形す
る際にエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を含浸乾燥したガ
ラス布プリプレグを加熱加圧硬化させて形成される成形
層7の硬化収縮率は金属箔の収縮率とほぼ同じである。
従って、図5(b)のように多層プリント配線板3aの
接着側の最外層を樹脂含浸ガラス布プリプレグによる成
形層7で形成することによって、この成形層7及び反対
側の導体層5を構成する金属箔の収縮率がちょうど釣合
い、極めて小さい反りに抑えることができるものであ
る。このために、多層プリント配線板3aの層構成を偶
数層のみでなく奇数層でも自由に設計することが可能に
なるものである。
【0019】
【発明の効果】上記のように本発明は、半導体搭載用の
開口部を設けたプリント配線板を具備して形成される半
導体装置において、上記開口部の内壁に導通層を設ける
と共にプリント配線板に形成された複層の導体層をこの
導通層で電気的に導通させるようにしたので、プリント
配線板は材料の誘電率が低く浮遊容量等の問題がなく、
信号の高速化を達成することが容易になるものであり、
しかも導体層は半導体に最も近接する開口部の内壁の導
通層で導通されることになり、半導体と導通層を介した
導体層との間の回路長を短くすることができ、電気特性
を十分に得ることができるものである。
【0020】また、導通層は金属めっきによって形成し
てあるので、導通層を低抵抗に形成して信号の高速化を
得ることができるものである。さらに、プリント配線板
を内層回路を含む3層以上の導体層を設けた多層プリン
ト配線板として形成し、内層回路と他の導体層とを導通
層で電気的に導通させるようにしたので、半導体と導通
層を介した内層回路との間の回路長を短くして高い電気
特性を得ることができるものである。
【0021】さらに、開口部の内壁に導通層を設けたプ
リント配線板の一方の面の基材を露出させ、この基材を
露出させた面で他のプリント配線板と積層接着するよう
にしたので、表面が平滑でない基材によって接着性を高
く得ることができ、半導体装置の信頼性評価において優
れた層間の接着信頼性を得ることができるものである。
【0022】さらに、プリント配線板と樹脂含浸ガラス
布プリプレグによる成形層とを交互に積層して作成され
る多層プリント配線板を用い、多層プリント配線板の一
方の面の基材を露出させるにあたって、樹脂含浸ガラス
布プリプレグによる成形層の基材を露出させるようにし
たので、多層プリント配線板の両外層の収縮率を釣合わ
せることができ、反りの発生を抑制することができるも
のである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の断面図である。
【図2】同上の他の実施例の断面図である。
【図3】同上のさらに他の実施例の断面図である。
【図4】同上のさらに他の実施例の断面図である。
【図5】同上のさらに他の実施例を示すものであり、
(a)は断面図、(b)は一部の拡大した断面図であ
る。
【図6】従来例を示すものであり、(a),(b)はそ
れぞれ断面図である。
【符号の説明】
1 半導体 2 開口部 3 プリント配線板 4 導通層 5 導体層 6 基材 7 成形層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 9355−4M H01L 23/12 F

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体搭載用の開口部を設けたプリント
    配線板を具備して形成される半導体装置において、上記
    開口部の内壁に導通層を設けると共にプリント配線板に
    形成された複層の導体層をこの導通層で電気的に導通さ
    せて成ることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 導通層は金属めっきによって形成されて
    いることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 プリント配線板を内層回路を含む3層以
    上の導体層を設けた多層プリント配線板として形成し、
    内層回路と他の導体層とを導通層で電気的に導通させて
    成ることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体装
    置。
  4. 【請求項4】 開口部の内壁に導通層を設けたプリント
    配線板の一方の面の基材を露出させ、この基材を露出さ
    せた面で他のプリント配線板と積層接着して成ることを
    特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の半導体装
    置。
  5. 【請求項5】 プリント配線板と樹脂含浸ガラス布プリ
    プレグによる成形層とを交互に積層して作成される多層
    プリント配線板を用い、多層プリント配線板の一方の面
    の基材を露出させるにあたって、樹脂含浸ガラス布プリ
    プレグによる成形層の基材を露出させるようにしたこと
    を特徴とする請求項4に記載の半導体装置。
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