JPH06168687A - イオン源装置 - Google Patents

イオン源装置

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Publication number
JPH06168687A
JPH06168687A JP4320806A JP32080692A JPH06168687A JP H06168687 A JPH06168687 A JP H06168687A JP 4320806 A JP4320806 A JP 4320806A JP 32080692 A JP32080692 A JP 32080692A JP H06168687 A JPH06168687 A JP H06168687A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ion beam
ion beams
ion
plasma
target
Prior art date
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Pending
Application number
JP4320806A
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English (en)
Inventor
一 ▲桑▼原
Hajime Kuwabara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IHI Corp
Original Assignee
IHI Corp
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Publication date
Application filed by IHI Corp filed Critical IHI Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 イオンビームの全範囲に亘ってイオンビーム
の分布を調節できるイオン源装置を提供する。 【構成】 イオンビームを発生するイオン源1とそのイ
オンビームのターゲット9との間に、イオンビームの周
方向に配置された複数の磁極10を設け、これらの磁極
10の励磁電流を調節してイオンビームを整形する調節
回路14を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、イオンビームをターゲ
ットに照射するイオン源装置に係り、特に、イオンビー
ムの全範囲に亘ってイオンビームの分布を調節できるイ
オン源装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】物質をイオン化させて打ち出し、このイ
オンを対象物に照射・衝突させることにより、対象物の
表面に膜を形成することができる。所望の物質をイオン
ビームとして取り出すためには、放電によりその物質を
含むプラズマを生成し、そのプラズマからイオンビーム
を引出すイオン源が用いられる。
【0003】従来一般に、イオン源は、図3に示される
ように、プラズマを発生すると共にそのプラズマを閉じ
込めるプラズマ室2を有し、このプラズマ室2に熱電子
放出のためのフィラメントと閉じ込め用の磁場とが設け
られる。また、プラズマ室2内に所望の物質のガスが導
入される。プラズマ室2の一端に開口部が設けられ、こ
の開口部に上記プラズマ2からイオン等の荷電粒子を引
き出す引出電極3が設けられる。引出電極3は、引出電
極の形成する電界によって加速された荷電粒子が擦り抜
け易いように、グリッド状に形成される。
【0004】プラズマ室2の開口部の形状または引出電
極3のグリッド状部の形状は、これより取り出されるイ
オンビームの断面形状を規定するものである。引出電極
3のグリッド状部をプラズマ室2の開口部に合わせて形
成したものでは、イオンビームの径は、プラズマ室2の
開口部の径に略等しくなる。また、このイオンビーム中
におけるイオンビームの分布は、中央部が強くなる傾向
がある。
【0005】イオンビームの用途は、例えば、半導体基
板の表面に薄膜を形成する際に用いられる。この薄膜の
材料をイオンビーム化して加速し、半導体基板の表面に
打ち込むのである。近年では、こうしたイオン打ち込み
技術の向上と普及に伴って、応用範囲が拡がり、性能等
にも新しい要求がなされるようになった。こうしたなか
で、イオンビームを照射する対象物のサイズを、半導体
基板のように比較的小さいサイズではなく、例えばメー
トル単位のサイズという比較的大きいサイズとすること
があげられる。即ち、大口径のイオンビームを取り出す
技術が要求されるようになった。こうした幅の太いイオ
ンビームにあっても、その工業的用途からいって、径方
向に一様な分布をしていることが重要である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、イオンビー
ムの分布を一様にするための工夫がいろいろ案出されて
いるが、その一つとして電場を用いたものがある。その
構成は図3に示されている。これによると、引出電極3
の外方に開口部の周囲を囲むようにして電極31を設
け、これに電圧を印加することで外部電場を形成し、こ
の外部電場によってイオンビームを径方向内外に拡縮さ
せることができるというものである。
【0007】しかしながら、引出電極3の外方には、通
過中のイオンが多数存在しており、ここでも一種のプラ
ズマ状態にある。このように空間にプラズマができてし
まうと、プラズマ自体が形成する電場のために、外部か
ら印加した電場の影響がプラズマの中心部にまで及ばな
い。従って、外部電場によるイオンビーム分布の整形
は、イオンビームの表面部にしか効果がない。このこと
は大口径のイオンビームほど不利である。
【0008】また、プラズマ室が円筒形または、引出電
極のグリッド状部が円形であるとイオンビームの断面も
円形になるが、ターゲットが四角い場合、イオンビーム
が隅部に照射できなかったり、ターゲットからはみ出し
たりして具合が悪い。
【0009】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、イオンビームの全範囲に亘ってイオンビームの分布
を調節できるイオン源装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、イオンビームを発生するイオン源とそのイ
オンビームのターゲットとの間に、イオンビームの周方
向に配置された複数の磁極を設け、これらの磁極の励磁
電流を調節してイオンビームを整形する調節回路を設け
たものである。
【0011】
【作用】上記構成により、イオンビームの周方向に配置
された複数の磁極は、各磁極間にイオンビームの周に沿
った偏向磁場をそれぞれ形成する。イオン源から引出さ
れたイオンビームは、この偏向磁場の影響を受けて径方
向内外に拡縮される。この拡縮の方向及び大きさは、調
節回路で磁極の励磁電流の方向や大きさを調節すること
により変えることができる。従って、調節回路を調節す
れば、イオンビームを整形することができる。
【0012】
【実施例】以下本発明の一実施例を添付図面に基づいて
詳述する。
【0013】本発明のイオン源装置は、イオン源1とし
て、有底筒体状に形成されたプラズマ室2を有し、プラ
ズマ室2内には、図示しないが、フィラメント、閉じ込
め用の磁石等が設けられている。また、プラズマ室2内
には、イオンの原料ガスが導入されている。プラズマ室
2の開口部には引出電極3が取り付けられている。これ
より引出されるイオンビームは、開口部の延長方向に真
っ直ぐ進むようになっている。
【0014】プラズマ室2の隣には、プラズマ室2の開
口部に面して処理室4が設けられている。処理室4は、
略正方形の底部5を有し、所定の高さの側壁6を有する
容器であり、この容器を覆う天井部7に上記プラズマ室
2が取り付けられるようになっている。処理室4は、開
口部8を介してプラズマ室2に連通している。処理室4
内は、略真空に保持されている。処理室4の底部5に
は、ターゲット9がその被処理面9aにイオンビームを
照射できるようにプラズマ室2に臨ませて置かれてい
る。
【0015】処理室4の四方の側壁6には、それぞれ電
磁石10が設けられている。電磁石10は、引出電極3
とターゲット9との間に位置し、引出電極3側から見る
と、図2に示されるように側壁6の中央にあって、側壁
6から処理室4の中央に向けて突き出されており、その
先端がプラズマ室2の開口部の延長上の近傍に位置して
いる。即ち、電磁石10の磁極11がイオンビームの周
囲に配置されていることになる。ここで、磁極11を左
周りに11a、11b、11c、11dの符号で表すこ
とにする。また、電磁石10の基端部12は処理室4の
外側に貫通されており、その基端部12の周りにはコイ
ル13が巻き付けられている。各電磁石10のコイル1
3は、それぞれ調節回路14に接続されている。
【0016】調節回路14は、各コイル13に対して、
極性及び電流を制御できるような回路であり、各コイル
13を個別に制御できるように構成してもよいし、一括
或いは分割して制御できるように構成してもよい。
【0017】次に実施例の作用を述べる。
【0018】イオン源1からターゲット9に向けてイオ
ンビームが真っ直ぐに照射されている。
【0019】ここで、調節回路14は各コイルに励磁電
流を流す。例えば、図2のようにイオンビームの周方向
にN極とS極とが交互に現れるように励磁される。これ
らの磁極が形成する磁場を矢印で示すと、磁極11aか
ら磁極11b及び磁極11dへ向かう矢印で示される磁
場、磁極11cから磁極11b及び磁極11dへ向かう
矢印で示される磁場が形成されていることが分かる。こ
れらの磁場は磁極11で囲まれた部分を通るイオンビー
ムの進行方向に影響を与える。磁極11aと磁極11b
との間の磁場によってイオンビームは、破線矢印で示さ
れる方向、即ち処理室4の隅部方向に拡げられる。磁極
11cと磁極11dとの間の磁場は、その反対方向にイ
オンビームを拡げる。他方、磁極11aと磁極11dと
の間の磁場及び磁極11cと磁極11bとの間の磁場
は、それぞれ別の破線矢印で示される方向、即ち処理室
4の中心方向に狭められる。このように4個の磁極11
を設けて交互に逆極性に励磁した場合には、イオンビー
ムが一方には拡げられ、それと直角に狭められる。この
ようにして、もとのイオンビームの形状が違った形状に
整形される。勿論、励磁電流を逆にすれば、丁度反対の
イオンビーム整形ができる。また、調節回路14で励磁
電流を調節すれば、整形の大きさを変えることができ
る。
【0020】図2の例では、磁極11を4個としたが、
磁極数はいくつでもよい。磁極を多数設けることによ
り、細かい整形を行うことができる。また、磁極間の間
隔は一定である必要はなく、例えば、一つおきに間隔の
広いものと狭いものを設け、間隔の広い方に同じ方向の
磁場を形成すれば、イオンビームの大半を拡大或いは縮
小いずれかに統一して整形できる。
【0021】
【発明の効果】本発明は次の如き優れた効果を発揮す
る。
【0022】(1)磁場は空間のプラズマに阻止される
ことがないので、磁場の影響がイオンビームの全範囲に
亘って及び、まんべんなくイオンビームの分布を調節で
きる。
【0023】(2)整形が調節できるので、イオンビー
ムの形状をターゲットの形状に合わせることができ、イ
オンビームの無駄がなくなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すイオン源装置の側面断
面図である。
【図2】図1のイオン源装置の平面断面図である。
【図3】従来例を示すイオン源装置の側面断面図であ
る。
【符号の説明】
1 イオン源 9 ターゲット 10 磁極 14 調節回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05H 1/00 9014−2G

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 イオンビームを発生するイオン源とその
    イオンビームのターゲットとの間に、イオンビームの周
    方向に配置された複数の磁極を設け、これらの磁極の励
    磁電流を調節してイオンビームを整形する調節回路を設
    けたことを特徴とするイオン源装置。
JP4320806A 1992-11-30 1992-11-30 イオン源装置 Pending JPH06168687A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4320806A JPH06168687A (ja) 1992-11-30 1992-11-30 イオン源装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4320806A JPH06168687A (ja) 1992-11-30 1992-11-30 イオン源装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06168687A true JPH06168687A (ja) 1994-06-14

Family

ID=18125448

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4320806A Pending JPH06168687A (ja) 1992-11-30 1992-11-30 イオン源装置

Country Status (1)

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JP (1) JPH06168687A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100509964B1 (ko) * 2003-03-07 2005-08-24 엘지.필립스 엘시디 주식회사 이온도핑장치
KR100950021B1 (ko) * 2007-11-27 2010-03-29 한국원자력연구원 이중 및 삼중 사극전자석

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100509964B1 (ko) * 2003-03-07 2005-08-24 엘지.필립스 엘시디 주식회사 이온도핑장치
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