JPH06153243A - Ｒｆモジュレータ - Google Patents
ＲｆモジュレータInfo
- Publication number
- JPH06153243A JPH06153243A JP32857292A JP32857292A JPH06153243A JP H06153243 A JPH06153243 A JP H06153243A JP 32857292 A JP32857292 A JP 32857292A JP 32857292 A JP32857292 A JP 32857292A JP H06153243 A JPH06153243 A JP H06153243A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test pattern
- signal
- circuit
- mixer
- modulator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 テストパターン信号の変調度の生産バラツキ
が小さく、かつ当該変調度の温度安定度が良いととも
に、混合器の特性の劣化を防止し得るＲＦモジュレータ
を提供する。 【構成】 テストパターン発生回路７を内蔵したＲＦモ
ジュレータにおいて、混合器４のビデオ側入力端には、
クリップ・クランプ回路８のみを直接に接続し、クリッ
プ・クランプ回路８の入力側で、テストパターン発生回
路７で生成されるテストパターン信号とビデオ信号とを
選択スイッチＳＷ２によって選択して混合器４に注入す
る。
が小さく、かつ当該変調度の温度安定度が良いととも
に、混合器の特性の劣化を防止し得るＲＦモジュレータ
を提供する。 【構成】 テストパターン発生回路７を内蔵したＲＦモ
ジュレータにおいて、混合器４のビデオ側入力端には、
クリップ・クランプ回路８のみを直接に接続し、クリッ
プ・クランプ回路８の入力側で、テストパターン発生回
路７で生成されるテストパターン信号とビデオ信号とを
選択スイッチＳＷ２によって選択して混合器４に注入す
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＶＴＲに内蔵されるＲ
Ｆモジュレータに関し、特にテレビジョン受像機（以
下、単にＴＶと記す）とこれに接続されるＶＴＲ間のチ
ャンネル合わせに用いられるテストパターン発生回路を
有するＲＦモジュレータに関する。
Ｆモジュレータに関し、特にテレビジョン受像機（以
下、単にＴＶと記す）とこれに接続されるＶＴＲ間のチ
ャンネル合わせに用いられるテストパターン発生回路を
有するＲＦモジュレータに関する。
【０００２】
【従来の技術】ＰＡＬ用ＶＴＲ等において、これに内蔵
されるＲＦモジュレータには、ＴＶとの間のチャンネル
合わせを行うために、所定のテストパターン信号を発生
するテストパターン発生回路が設けられている。すなわ
ち、図３に示す如き波形のテストパターン信号をテスト
パターン発生回路で生成し、このテストパターン信号を
搬送波ｆc によりＡＭ変調し、これをＲＦ出力としてＴ
Ｖの電子同調チューナに供給することにより、搬送波ｆ
c の周波数が所望のチャンネルの周波数に合致したと
き、ブラウン管に白黒の縦縞のテストパターンを鮮明に
映し出すことができるのである。
されるＲＦモジュレータには、ＴＶとの間のチャンネル
合わせを行うために、所定のテストパターン信号を発生
するテストパターン発生回路が設けられている。すなわ
ち、図３に示す如き波形のテストパターン信号をテスト
パターン発生回路で生成し、このテストパターン信号を
搬送波ｆc によりＡＭ変調し、これをＲＦ出力としてＴ
Ｖの電子同調チューナに供給することにより、搬送波ｆ
c の周波数が所望のチャンネルの周波数に合致したと
き、ブラウン管に白黒の縦縞のテストパターンを鮮明に
映し出すことができるのである。
【０００３】従来のＲＦモジュレータにおいては、図６
に示すように、通常モードでは入力ビデオ信号を混合器
４に供給する波形整形回路の一種であるクリップ・クラ
ンプ回路８と、テストパターンモードでは上記テストパ
ターン信号を生成して混合器４に供給するテストパター
ン発生回路７とを共に、混合器４のビデオ側入力端に直
接に接続した構成となっていた。ここで、混合器４から
テストパターン発生回路７に流れ込む電流をＩTP、混合
器４からクリップ・クランプ回路８に流れ込む電流をＩ
V とする。
に示すように、通常モードでは入力ビデオ信号を混合器
４に供給する波形整形回路の一種であるクリップ・クラ
ンプ回路８と、テストパターンモードでは上記テストパ
ターン信号を生成して混合器４に供給するテストパター
ン発生回路７とを共に、混合器４のビデオ側入力端に直
接に接続した構成となっていた。ここで、混合器４から
テストパターン発生回路７に流れ込む電流をＩTP、混合
器４からクリップ・クランプ回路８に流れ込む電流をＩ
V とする。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
成の従来のＲＦモジュレータでは、テストパターン発生
回路７とクリップ・クランプ回路８とが共に、混合器４
のビデオ側入力端に直接に接続されていることにより、
電流ＩV と電流ＩTPの比を適切にとれないため、テスト
パターン信号の変調度の生産バラツキが大きいととも
に、当該変調度の温度安定度が悪く、また混合器４の配
線容量が大きくなり、余分な容量が付加されることにな
ることから、混合器４の特性が劣化するという問題があ
った。
成の従来のＲＦモジュレータでは、テストパターン発生
回路７とクリップ・クランプ回路８とが共に、混合器４
のビデオ側入力端に直接に接続されていることにより、
電流ＩV と電流ＩTPの比を適切にとれないため、テスト
パターン信号の変調度の生産バラツキが大きいととも
に、当該変調度の温度安定度が悪く、また混合器４の配
線容量が大きくなり、余分な容量が付加されることにな
ることから、混合器４の特性が劣化するという問題があ
った。
【０００５】そこで、本発明は、テストパターン信号の
変調度の生産バラツキが小さく、かつ当該変調度の温度
安定度が良いとともに、混合器の特性の劣化を防止し得
るＲＦモジュレータを提供することを目的とする。
変調度の生産バラツキが小さく、かつ当該変調度の温度
安定度が良いとともに、混合器の特性の劣化を防止し得
るＲＦモジュレータを提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明によるＲＦモジュ
レータは、所定のテストパターン信号を発生するテスト
パターン発生回路と、入力ビデオ信号及びテストパター
ン信号のいずれか一方を選択する選択スイッチと、この
選択スイッチによる選択出力の信号波形に対して振幅軸
上の処理をなす波形整形回路と、この波形整形回路の出
力と搬送波とを混合してＲＦ出力とする混合器とを備え
た構成となっている。
レータは、所定のテストパターン信号を発生するテスト
パターン発生回路と、入力ビデオ信号及びテストパター
ン信号のいずれか一方を選択する選択スイッチと、この
選択スイッチによる選択出力の信号波形に対して振幅軸
上の処理をなす波形整形回路と、この波形整形回路の出
力と搬送波とを混合してＲＦ出力とする混合器とを備え
た構成となっている。
【０００７】
【作用】波形整形回路の入力側で入力ビデオ信号及びテ
ストパターン信号のいずれか一方を選択し、その選択出
力を波形整形回路を介して混合器に供給し、局部発振出
力と混合してＲＦ出力として導出する。これによれば、
混合器のビデオ側入力端には、波形整形回路のみが直接
に接続されることになるので、テストパターン信号の変
調度の生産バラツキが小さくなるとともに、当該変調度
の温度安定度が良くなり、またテストパターン信号が混
合器とは関係ない部分より注入されるので、混合器の特
性劣化を防止できる。
ストパターン信号のいずれか一方を選択し、その選択出
力を波形整形回路を介して混合器に供給し、局部発振出
力と混合してＲＦ出力として導出する。これによれば、
混合器のビデオ側入力端には、波形整形回路のみが直接
に接続されることになるので、テストパターン信号の変
調度の生産バラツキが小さくなるとともに、当該変調度
の温度安定度が良くなり、またテストパターン信号が混
合器とは関係ない部分より注入されるので、混合器の特
性劣化を防止できる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。図１は、本発明の一実施例を示すブロック
図である。図１において、本発明によるＲＦモジュレー
タは、７つの端子〜を備えており、端子には音声
信号が入力され、端子には音声キャリア発振用のタン
ク回路１が接続され、端子にはビデオ信号が入力さ
れ、端子にはテストパターン切換えスイッチＳＷ１及
び例えば５００ＫＨｚのクロックを発生する発振子２が
各々接続され、端子，には搬送波ｆc が入力され、
端子からはＲＦ出力が導出される。
に説明する。図１は、本発明の一実施例を示すブロック
図である。図１において、本発明によるＲＦモジュレー
タは、７つの端子〜を備えており、端子には音声
信号が入力され、端子には音声キャリア発振用のタン
ク回路１が接続され、端子にはビデオ信号が入力さ
れ、端子にはテストパターン切換えスイッチＳＷ１及
び例えば５００ＫＨｚのクロックを発生する発振子２が
各々接続され、端子，には搬送波ｆc が入力され、
端子からはＲＦ出力が導出される。
【０００９】端子より入力された音声信号は、ＦＭ変
調器３でＦＭ変調をかけられて混合器４に供給される。
また、端子により入力されたビデオ信号は、選択スイ
ッチＳＷ２の端子ａに印加される。テストパターン切換
えスイッチＳＷ１は、オン（閉）することによって本来
のＲＦモジュレータとしての作用をなす通常モードを指
定し、オフ（開）することによってテストパターンモー
ドを指定する。このテストパターンモードとは、搬送波
ｆc の周波数を所望のチャンネルの周波数に合わせるた
めのテストパターン発生モードである。
調器３でＦＭ変調をかけられて混合器４に供給される。
また、端子により入力されたビデオ信号は、選択スイ
ッチＳＷ２の端子ａに印加される。テストパターン切換
えスイッチＳＷ１は、オン（閉）することによって本来
のＲＦモジュレータとしての作用をなす通常モードを指
定し、オフ（開）することによってテストパターンモー
ドを指定する。このテストパターンモードとは、搬送波
ｆc の周波数を所望のチャンネルの周波数に合わせるた
めのテストパターン発生モードである。
【００１０】スイッチ切換え回路５は、テストパターン
切換えスイッチＳＷ１のオン／オフの各状態に応じて選
択スイッチＳＷ２の切換え制御を行い、当該スイッチＳ
Ｗ１がオン状態のときには端子ａの入力を、オフ状態の
ときには端子ｂの入力をそれぞれ択一的に選択する。ま
た、テストパターン切換えスイッチＳＷ１がオフ状態の
ときには、発振子２からのクロックが端子を介してパ
ルスジェネレータ６に供給される。このパルスジェネレ
ータ６においては、図２に示す如き負論理の水平同期信
号用パルス（ａ）及び白信号用パルス（ｂ）が生成され
る。これらパルス（ａ），（ｂ）は、テストパターン発
生回路７に供給される。
切換えスイッチＳＷ１のオン／オフの各状態に応じて選
択スイッチＳＷ２の切換え制御を行い、当該スイッチＳ
Ｗ１がオン状態のときには端子ａの入力を、オフ状態の
ときには端子ｂの入力をそれぞれ択一的に選択する。ま
た、テストパターン切換えスイッチＳＷ１がオフ状態の
ときには、発振子２からのクロックが端子を介してパ
ルスジェネレータ６に供給される。このパルスジェネレ
ータ６においては、図２に示す如き負論理の水平同期信
号用パルス（ａ）及び白信号用パルス（ｂ）が生成され
る。これらパルス（ａ），（ｂ）は、テストパターン発
生回路７に供給される。
【００１１】テストパターン発生回路７は、水平同期信
号用パルス（ａ）及び白信号用パルス（ｂ）に基づいて
図３に示す如きテストパターン信号を生成するためのも
のであり、その具体的な回路構成については後述する。
図３に示すテストパターン信号波形において、ＳH は水
平同期信号用パルスであり、ＳW は白信号用パルスであ
る。このテストパターン信号は、選択スイッチＳＷ２の
端子ｂの入力となる。
号用パルス（ａ）及び白信号用パルス（ｂ）に基づいて
図３に示す如きテストパターン信号を生成するためのも
のであり、その具体的な回路構成については後述する。
図３に示すテストパターン信号波形において、ＳH は水
平同期信号用パルスであり、ＳW は白信号用パルスであ
る。このテストパターン信号は、選択スイッチＳＷ２の
端子ｂの入力となる。
【００１２】選択スイッチＳＷ２で選択されたビデオ信
号又はテストパターン信号は、クリップ・クランプ回路
８を介して混合器４に供給される。クリップ・クランプ
回路８は、波形整形回路の一種であり、入力信号の信号
波形に対して振幅軸上の処理を行う。混合器４は、クリ
ップ・クランプ回路８を経たビデオ信号とＦＭ変調器３
からの音声ＦＭ信号を、又はクリップ・クランプ回路８
を経たテストパターン信号を搬送波ｆc によりＡＭ変調
する。この混合器４によるＡＭ変調波は、アンプ９を経
て端子からＲＦ出力として導出される。
号又はテストパターン信号は、クリップ・クランプ回路
８を介して混合器４に供給される。クリップ・クランプ
回路８は、波形整形回路の一種であり、入力信号の信号
波形に対して振幅軸上の処理を行う。混合器４は、クリ
ップ・クランプ回路８を経たビデオ信号とＦＭ変調器３
からの音声ＦＭ信号を、又はクリップ・クランプ回路８
を経たテストパターン信号を搬送波ｆc によりＡＭ変調
する。この混合器４によるＡＭ変調波は、アンプ９を経
て端子からＲＦ出力として導出される。
【００１３】次に、上記構成のＲＦモジュレータにおけ
る回路動作について説明する。先ず、テストパターン切
換えスイッチＳＷ１がオンの通常モードでは、端子よ
り入力された音声信号は、ＦＭ変調器３でＦＭ変調がか
けられて混合器４に供給される。端子より入力された
ビデオ信号は、選択スイッチＳＷ２で選択された後、ク
リップ・クランプ回路８を介して混合器４に供給され、
音声ＦＭ信号とともに搬送波ｆc によりＡＭ変調されて
端子よりＲＦ出力として導出される。
る回路動作について説明する。先ず、テストパターン切
換えスイッチＳＷ１がオンの通常モードでは、端子よ
り入力された音声信号は、ＦＭ変調器３でＦＭ変調がか
けられて混合器４に供給される。端子より入力された
ビデオ信号は、選択スイッチＳＷ２で選択された後、ク
リップ・クランプ回路８を介して混合器４に供給され、
音声ＦＭ信号とともに搬送波ｆc によりＡＭ変調されて
端子よりＲＦ出力として導出される。
【００１４】一方、テストパターン切換えスイッチＳＷ
１がオフのテストパターンモードでは、テストパターン
発生回路７で生成されたテストパターン信号が選択スイ
ッチＳＷ２で選択され、クリップ・クランプ回路８を経
た後、混合器４で搬送波ｆcによりＡＭ変調されて端子
より出力される。このテストパターン信号に基づくＲ
Ｆ出力を、ＴＶの電子同調チューナに供給することによ
り、搬送波ｆc の周波数が所望のチャンネルの周波数に
合致していれば、ブラウン管に白黒の縦縞のテストパタ
ーンが鮮明に映し出される。
１がオフのテストパターンモードでは、テストパターン
発生回路７で生成されたテストパターン信号が選択スイ
ッチＳＷ２で選択され、クリップ・クランプ回路８を経
た後、混合器４で搬送波ｆcによりＡＭ変調されて端子
より出力される。このテストパターン信号に基づくＲ
Ｆ出力を、ＴＶの電子同調チューナに供給することによ
り、搬送波ｆc の周波数が所望のチャンネルの周波数に
合致していれば、ブラウン管に白黒の縦縞のテストパタ
ーンが鮮明に映し出される。
【００１５】図４は、テストパターン発生回路７の具体
的な回路構成の一例を示す回路図である。図４におい
て、第１の電流源となるトランジスタＱ1 と第２の電流
源となるトランジスタＱ2 とは、抵抗Ｒ1 の一端と接地
（基準電位点）間に抵抗Ｒ2 ，Ｒ3を介して接続されて
いる。トランジスタＱ1 ，Ｑ2 の各ベースには、電圧源
１２による電圧Ｖ2 が印加されている。トランジスタＱ
1 は定常時オフ状態にあり、トランジスタＱ2 は定常時
オン状態にある。抵抗Ｒ1 の一端には、エミッタフォロ
ワのトランジスタＱ3 のベースが接続されており、この
トランジスタＱ3 のエミッタがテストパターン出力ＶO
となる。抵抗Ｒ2 の他端には、電圧源１１による電圧Ｖ
1 が印加されている。
的な回路構成の一例を示す回路図である。図４におい
て、第１の電流源となるトランジスタＱ1 と第２の電流
源となるトランジスタＱ2 とは、抵抗Ｒ1 の一端と接地
（基準電位点）間に抵抗Ｒ2 ，Ｒ3を介して接続されて
いる。トランジスタＱ1 ，Ｑ2 の各ベースには、電圧源
１２による電圧Ｖ2 が印加されている。トランジスタＱ
1 は定常時オフ状態にあり、トランジスタＱ2 は定常時
オン状態にある。抵抗Ｒ1 の一端には、エミッタフォロ
ワのトランジスタＱ3 のベースが接続されており、この
トランジスタＱ3 のエミッタがテストパターン出力ＶO
となる。抵抗Ｒ2 の他端には、電圧源１１による電圧Ｖ
1 が印加されている。
【００１６】トランジスタＱ1 ，Ｑ2 は、電流源スイッ
チ回路１３により、パルスジェネレータ６（図１参照）
で生成された図２に示す如き水平同期信号用パルス
（ａ）及び白信号用パルス（ｂ）に基づいてオン／オフ
制御される。この電流源スイッチ回路１３の回路構成に
つき、以下に説明する。電源（Ｖcc）ラインと接地間に
は、電流源Ｉ1 と電流源Ｉ3 、電流源Ｉ2 と電流源Ｉ6
がそれぞれ直列に接続されている。電流源Ｉ1 は白信号
用パルス（ａ）に同期してオン／オフ動作し、電流源Ｉ
2は水平同期信号用パルス（ｂ）に同期してオン／オフ
動作する。
チ回路１３により、パルスジェネレータ６（図１参照）
で生成された図２に示す如き水平同期信号用パルス
（ａ）及び白信号用パルス（ｂ）に基づいてオン／オフ
制御される。この電流源スイッチ回路１３の回路構成に
つき、以下に説明する。電源（Ｖcc）ラインと接地間に
は、電流源Ｉ1 と電流源Ｉ3 、電流源Ｉ2 と電流源Ｉ6
がそれぞれ直列に接続されている。電流源Ｉ1 は白信号
用パルス（ａ）に同期してオン／オフ動作し、電流源Ｉ
2は水平同期信号用パルス（ｂ）に同期してオン／オフ
動作する。
【００１７】電流源Ｉ1 と電流源Ｉ3 の接続点には、ト
ランジスタＱ4 のベースが接続されている。トランジス
タＱ4 のエミッタは接地され、そのコレクタはＶccライ
ンと接地間に直列に接続された抵抗Ｒ4 〜Ｒ6 のうち、
抵抗Ｒ5 と抵抗Ｒ6 の共通接続点に接続されている。同
様に、電流源Ｉ2 と電流源Ｉ6 の接続点には、トランジ
スタＱ9 のベースが接続されている。トランジスタＱ9
のエミッタは接地され、そのコレクタはＶccラインと接
地間に直列に接続された抵抗Ｒ7 〜Ｒ9 のうち、抵抗Ｒ
8 と抵抗Ｒ9の共通接続点に接続されている。
ランジスタＱ4 のベースが接続されている。トランジス
タＱ4 のエミッタは接地され、そのコレクタはＶccライ
ンと接地間に直列に接続された抵抗Ｒ4 〜Ｒ6 のうち、
抵抗Ｒ5 と抵抗Ｒ6 の共通接続点に接続されている。同
様に、電流源Ｉ2 と電流源Ｉ6 の接続点には、トランジ
スタＱ9 のベースが接続されている。トランジスタＱ9
のエミッタは接地され、そのコレクタはＶccラインと接
地間に直列に接続された抵抗Ｒ7 〜Ｒ9 のうち、抵抗Ｒ
8 と抵抗Ｒ9の共通接続点に接続されている。
【００１８】差動トランジスタ対Ｑ5 ，Ｑ6 は、エミッ
タが互いに共通に接続されかつ電流源Ｉ4 を介してＶcc
ラインに接続されている。トランジスタＱ5 のベース
は、抵抗Ｒ4 と抵抗Ｒ5 の共通接続点に接続され、その
コレクタは先述したトランジスタＱ2 のエミッタに接続
されている。差動トランジスタ対Ｑ7 ，Ｑ8 は、エミッ
タが互いに共通に接続されかつ電流源Ｉ5 を介してＶcc
ラインに接続されている。トランジスタＱ7 のベース
は、トランジスタＱ6 のベースと共通に接続され、その
共通接続点には電圧Ｖ3 が印加されている。また、トラ
ンジスタＱ7 のコレクタは、先述したトランジスタＱ1
のエミッタに接続されている。トランジスタＱ8 のベー
スは、抵抗Ｒ7 と抵抗Ｒ8 の共通接続点に接続されてい
る。
タが互いに共通に接続されかつ電流源Ｉ4 を介してＶcc
ラインに接続されている。トランジスタＱ5 のベース
は、抵抗Ｒ4 と抵抗Ｒ5 の共通接続点に接続され、その
コレクタは先述したトランジスタＱ2 のエミッタに接続
されている。差動トランジスタ対Ｑ7 ，Ｑ8 は、エミッ
タが互いに共通に接続されかつ電流源Ｉ5 を介してＶcc
ラインに接続されている。トランジスタＱ7 のベース
は、トランジスタＱ6 のベースと共通に接続され、その
共通接続点には電圧Ｖ3 が印加されている。また、トラ
ンジスタＱ7 のコレクタは、先述したトランジスタＱ1
のエミッタに接続されている。トランジスタＱ8 のベー
スは、抵抗Ｒ7 と抵抗Ｒ8 の共通接続点に接続されてい
る。
【００１９】次に、上記構成のテストパターン発生回路
７において生成されるテストパターン信号波形について
説明する。なお、トランジスタＱ1 は定常時オフ状態に
あり、トランジスタＱ2 は定常時オン状態にあるものと
し、又トランジスタＱ1 〜Ｑ3 のベース‐エミッタ間電
圧をＶbeとする。先ず、図２の波形図において、水平同
期信号用パルス（ａ）及び白信号用パルス（ｂ）が共に
発生しないタイミングｃでのテストパターン出力Ｖ
OOは、
７において生成されるテストパターン信号波形について
説明する。なお、トランジスタＱ1 は定常時オフ状態に
あり、トランジスタＱ2 は定常時オン状態にあるものと
し、又トランジスタＱ1 〜Ｑ3 のベース‐エミッタ間電
圧をＶbeとする。先ず、図２の波形図において、水平同
期信号用パルス（ａ）及び白信号用パルス（ｂ）が共に
発生しないタイミングｃでのテストパターン出力Ｖ
OOは、
【数１】 ＶOO＝（Ｖ1 −Ｖbe）−（Ｖ2 −Ｖbe）・（Ｒ1/Ｒ3 ） となる。
【００２０】一方、水平同期信号用パルス（ａ）が発生
するタイミングａでのテストパターン出力ＶOHは、
するタイミングａでのテストパターン出力ＶOHは、
【数２】 ＶOH＝（Ｖ1 −Ｖbe）−（Ｖ2 −Ｖbe）・｛（Ｒ1/Ｒ2) +（Ｒ1/Ｒ3)｝ となる。また、白信号用パルス（ｂ）が発生するタイミ
ングｂでのテストパターン出力ＶOWは、
ングｂでのテストパターン出力ＶOWは、
【数３】ＶOW＝（Ｖ1 −Ｖbe） となる。
【００２１】この様子を図３に示す。この図から明らか
なように、抵抗Ｒ1 〜Ｒ3 の各抵抗値及び図２の白信号
用パルス（ｂ）のパルス幅を変えることにより、任意の
形のテストパターン信号波形を生成できる。また、抵抗
Ｒ1 〜Ｒ3 として温度特性の等しいものを選定し、なお
かつ、ＩＣ化の際にこれらを近接して配置すれば、数１
及び数２の各式におけるＲ1/Ｒ2 ，Ｒ1/Ｒ3 の項は温度
変化及び抵抗値バラツキに対して無関係な定数となる。
したがって、テストパターン出力ＶO は、抵抗値バラツ
キ及び温度変化に対してほぼ一定となり、安定したテス
トパターン変調度特性が得られる。
なように、抵抗Ｒ1 〜Ｒ3 の各抵抗値及び図２の白信号
用パルス（ｂ）のパルス幅を変えることにより、任意の
形のテストパターン信号波形を生成できる。また、抵抗
Ｒ1 〜Ｒ3 として温度特性の等しいものを選定し、なお
かつ、ＩＣ化の際にこれらを近接して配置すれば、数１
及び数２の各式におけるＲ1/Ｒ2 ，Ｒ1/Ｒ3 の項は温度
変化及び抵抗値バラツキに対して無関係な定数となる。
したがって、テストパターン出力ＶO は、抵抗値バラツ
キ及び温度変化に対してほぼ一定となり、安定したテス
トパターン変調度特性が得られる。
【００２２】また、ビデオ信号とテストパターン信号と
の選択をクリップ・クランプ回路８の入力側で行い、こ
のクリップ・クランプ回路８を介してビデオ信号又はテ
ストパターン信号を混合器４に供給するように構成した
ことにより、混合器４のビデオ側入力端にはクリップ・
クランプ回路８のみが直接に接続されることから、余分
な容量が付加されないとともに、テストパターン信号を
混合器４と関係ない部分で注入できるため、混合器４の
特性の劣化を防止できる。
の選択をクリップ・クランプ回路８の入力側で行い、こ
のクリップ・クランプ回路８を介してビデオ信号又はテ
ストパターン信号を混合器４に供給するように構成した
ことにより、混合器４のビデオ側入力端にはクリップ・
クランプ回路８のみが直接に接続されることから、余分
な容量が付加されないとともに、テストパターン信号を
混合器４と関係ない部分で注入できるため、混合器４の
特性の劣化を防止できる。
【００２３】ところで、テストパターンモード時の周波
数スペクトルを示す図５において、実線ａに示すよう
に、スペクトルの高次成分が音声キャリアにかかるた
め、このテストパターンの音声キャリア付近での周波数
成分が妨害音となって出力されることになる。そこで、
図４に破線で示すように、抵抗Ｒ1 の一端と接地（基準
電位点）間にコンデンサＣ1 を接続し、このコンデンサ
Ｃ1 と抵抗Ｒ1 によってローパスフィルタを形成する。
数スペクトルを示す図５において、実線ａに示すよう
に、スペクトルの高次成分が音声キャリアにかかるた
め、このテストパターンの音声キャリア付近での周波数
成分が妨害音となって出力されることになる。そこで、
図４に破線で示すように、抵抗Ｒ1 の一端と接地（基準
電位点）間にコンデンサＣ1 を接続し、このコンデンサ
Ｃ1 と抵抗Ｒ1 によってローパスフィルタを形成する。
【００２４】これにより、図５に破線ｂで示すように、
スペクトルの高次成分を落とすことができるので、スペ
クトルの高次成分に起因する音声キャリア‐テストパタ
ーンスペクトルレベル差を妨害音の検知限（例えば、５
０dB）以下にできる。本願発明者による測定において
は、音声キャリア‐テストパターンスペクトルレベル差
が、コンデンサＣ1 を接続した場合には５６dB、コンデ
ンサＣ1 を接続しない場合には４９dBという測定結果が
得られている。
スペクトルの高次成分を落とすことができるので、スペ
クトルの高次成分に起因する音声キャリア‐テストパタ
ーンスペクトルレベル差を妨害音の検知限（例えば、５
０dB）以下にできる。本願発明者による測定において
は、音声キャリア‐テストパターンスペクトルレベル差
が、コンデンサＣ1 を接続した場合には５６dB、コンデ
ンサＣ1 を接続しない場合には４９dBという測定結果が
得られている。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ビデオ信号とテストパターン信号との選択を波形整形回
路の入力側で行い、この波形整形回路を介してビデオ信
号又はテストパターン信号を混合器に供給するように構
成したことにより、混合器のビデオ側入力端には波形整
形回路のみが直接に接続され、余分な容量が付加される
ことがなくなるとともに、テストパターン信号を混合器
と関係ない部分で注入できるため、テストパターン信号
の変調度の生産バラツキが小さくなり、かつ当該変調度
の温度安定度が良くなるとともに、混合器の特性の劣化
を防止できることになる。
ビデオ信号とテストパターン信号との選択を波形整形回
路の入力側で行い、この波形整形回路を介してビデオ信
号又はテストパターン信号を混合器に供給するように構
成したことにより、混合器のビデオ側入力端には波形整
形回路のみが直接に接続され、余分な容量が付加される
ことがなくなるとともに、テストパターン信号を混合器
と関係ない部分で注入できるため、テストパターン信号
の変調度の生産バラツキが小さくなり、かつ当該変調度
の温度安定度が良くなるとともに、混合器の特性の劣化
を防止できることになる。
【図１】本発明によるＲＦモジュレータの一実施例を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図２】水平同期信号用パルス（ａ）及び白信号用パル
ス（ｂ）の波形図である。
ス（ｂ）の波形図である。
【図３】テストパターン信号の一例の波形図である。
【図４】テストパターン発生回路の具体的な回路構成の
一例を示す回路図である。
一例を示す回路図である。
【図５】テストパターンモード時の周波数スペクトラム
である。
である。
【図６】従来例の要部を示すブロック図である。
３ ＦＭ変調器 ４ 混合器 ６ パルスジェネレータ ７ テストパターン発生回路 ８ クリップ・クランプ回路 １３ 電流源スイッチ回路
Claims (4)
- 【請求項１】 所定のテストパターン信号を発生するテ
ストパターン発生回路と、 入力ビデオ信号及び前記テストパターン信号のいずれか
一方を選択する選択スイッチと、 前記選択スイッチによる選択出力の信号波形に対して振
幅軸上の処理をなす波形整形回路と、 前記波形整形回路の出力と搬送波とを混合してＲＦ出力
とする混合器とを備えたことを特徴とするＲＦモジュレ
ータ。 - 【請求項２】 前記テストパターン発生回路は、第１の
電流源と、第２の電流源と、水平同期信号用パルス及び
白信号用パルスに基づいて前記第１及び第２の電流源を
オン／オフ制御する電流源スイッチ回路と、前記第１及
び第２の電流源が一端に接続された第１の抵抗と、前記
第１の抵抗の他端に接続された電圧源と、前記第１の抵
抗の一端にベースが接続されたエミッタフォロワトラン
ジスタとを備えたことを特徴とする請求項１記載のＲＦ
モジュレータ。 - 【請求項３】 前記第１の抵抗の一端と基準電位点との
間に接続されたコンデンサを備えたことを特徴とする請
求項２記載のＲＦモジュレータ。 - 【請求項４】 前記第１及び第２の電流源は、前記第１
の抵抗の一端と基準電位点との間に第２及び第３の抵抗
を介して接続され、かつ各ベースに所定の電圧が印加さ
れた第１及び第２のトランジスタからなることを特徴と
する請求項２記載のＲＦモジュレータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32857292A JP3309455B2 (ja) | 1992-11-13 | 1992-11-13 | Ｒｆモジュレータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32857292A JP3309455B2 (ja) | 1992-11-13 | 1992-11-13 | Ｒｆモジュレータ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06153243A true JPH06153243A (ja) | 1994-05-31 |
| JP3309455B2 JP3309455B2 (ja) | 2002-07-29 |
Family
ID=18211777
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32857292A Expired - Fee Related JP3309455B2 (ja) | 1992-11-13 | 1992-11-13 | Ｒｆモジュレータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3309455B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005110265A (ja) * | 2003-09-29 | 2005-04-21 | Agilent Technol Inc | 光送信器の自己特性解明および自己プログラミング方法および装置 |
-
1992
- 1992-11-13 JP JP32857292A patent/JP3309455B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005110265A (ja) * | 2003-09-29 | 2005-04-21 | Agilent Technol Inc | 光送信器の自己特性解明および自己プログラミング方法および装置 |
| JP4648671B2 (ja) * | 2003-09-29 | 2011-03-09 | アバゴ・テクノロジーズ・ファイバー・アイピー（シンガポール）プライベート・リミテッド | 光送信器の自己特性解明および自己プログラミング方法および装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3309455B2 (ja) | 2002-07-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5600680A (en) | High frequency receiving apparatus | |
| JPH07176952A (ja) | 発振器 | |
| US6163207A (en) | Integrator-filter circuit | |
| US4544897A (en) | Crystal oscillator circuit with feedback control | |
| JPH08288878A (ja) | 位相ロックループにおけるｆｍ復調器及び周波数同調器 | |
| JP3309455B2 (ja) | Ｒｆモジュレータ | |
| JPS6217883B2 (ja) | ||
| EP0676860A2 (en) | Frequency modulation circuit | |
| CA1172751A (en) | Afc circuit | |
| JPS623924Y2 (ja) | ||
| JP3516194B2 (ja) | 映像信号処理装置 | |
| US5987209A (en) | Video signal receiver in which a reference signal is shared by a PLL circuit which sets the output frequency of a local RF-IF oscillator and by the chrominance signal generator | |
| JP3481309B2 (ja) | Ｆｍ変調回路 | |
| KR820000597B1 (ko) | Secam색신호 복조회로 | |
| JPS588636B2 (ja) | Ｓｅｃａｍ イロシンゴウフクチヨウカイロ | |
| JP2553028Y2 (ja) | 発振装置 | |
| JPH0810972Y2 (ja) | 振幅変調装置 | |
| KR960008284B1 (ko) | 발진회로 | |
| JPH0736617B2 (ja) | 自動利得制御装置 | |
| JPH0317453Y2 (ja) | ||
| JPS6024611B2 (ja) | Ｐｌｌ式選局回路のための微調整装置 | |
| GB2301245A (en) | RF modulator | |
| KR0137047Y1 (ko) | 표면 탄성파 공진기를 이용한 발진회로 | |
| JPH06177710A (ja) | チユーナ回路 | |
| JPH0583035A (ja) | 搬送波発生回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |