JPH06152410A - インターリーブ方式を採用したアナログディジタルコンバータの補正方法 - Google Patents
インターリーブ方式を採用したアナログディジタルコンバータの補正方法Info
- Publication number
- JPH06152410A JPH06152410A JP29887192A JP29887192A JPH06152410A JP H06152410 A JPH06152410 A JP H06152410A JP 29887192 A JP29887192 A JP 29887192A JP 29887192 A JP29887192 A JP 29887192A JP H06152410 A JPH06152410 A JP H06152410A
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- converter
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 指定された信号周波数とサンプリング周波数
とを相互調整するインターリーブ方式を採用したADコ
ンバータの補正方法を提供する。 【構成】 インターリーブ方式を採用したADコンバー
タを使用する測定プログラムに補正プログラムを組み込
み、補正する信号周波数とサンプリング周波数とを指定
してこの補正プログラムを呼び出し、補正プログラム中
において、内蔵する信号発生器4およびサンプリングク
ロック発生器により指定された信号を発生し、これらの
信号を2個のADコンバータに供給し、オフセットおよ
びゲインが等しくなる様に補正し、信号発生器4の信号
を実際にインターリーブ動作により測定し、FFT解析
し、解析の結果出現するスプリアス成分をサンプリング
タイミングを調整することにより最小に補正する、AD
コンバータの補正方法。
とを相互調整するインターリーブ方式を採用したADコ
ンバータの補正方法を提供する。 【構成】 インターリーブ方式を採用したADコンバー
タを使用する測定プログラムに補正プログラムを組み込
み、補正する信号周波数とサンプリング周波数とを指定
してこの補正プログラムを呼び出し、補正プログラム中
において、内蔵する信号発生器4およびサンプリングク
ロック発生器により指定された信号を発生し、これらの
信号を2個のADコンバータに供給し、オフセットおよ
びゲインが等しくなる様に補正し、信号発生器4の信号
を実際にインターリーブ動作により測定し、FFT解析
し、解析の結果出現するスプリアス成分をサンプリング
タイミングを調整することにより最小に補正する、AD
コンバータの補正方法。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、インターリーブ方式
を採用したアナログディジタルコンバータ(以下、AD
コンバータ、と称す)の補正方法に関し、特に2個のA
Dコンバータをインターリーブ動作させる高速ADコン
バータいおいて測定時に指定された信号周波数とサンプ
リング周波数とを相互調整することにより測定結果に混
入するインターリーブ動作に起因するスプリアスを減少
させるインターリーブ方式を採用したADコンバータの
補正方法に関する。
を採用したアナログディジタルコンバータ(以下、AD
コンバータ、と称す)の補正方法に関し、特に2個のA
Dコンバータをインターリーブ動作させる高速ADコン
バータいおいて測定時に指定された信号周波数とサンプ
リング周波数とを相互調整することにより測定結果に混
入するインターリーブ動作に起因するスプリアスを減少
させるインターリーブ方式を採用したADコンバータの
補正方法に関する。
【0002】
【従来の技術】2個のADコンバータをインターリーブ
動作させる高速ADコンバータの従来例を図2を参照し
て説明する。図2において、2個のADコンバータを具
備する高速ADコンバータ1は、2個の動作速度の比較
的に遅いADコンバータ2およびADコンバータ3を交
互に動作させることにより、アナログ信号入力について
ADコンバータの動作速度の2倍の速度のAD変換測定
データを得ることができる。即ち、ADコンバータ2の
サンプリングクロック周波数fs2およびADコンバータ
3のサンプリングクロック周波数fs3は前置されるサン
プルホールド回路のサンプリングクロック周波数fs1の
1/2であるものとすると、2個の動作速度の比較的に
遅いADコンバータ2およびADコンバータ3を交互に
動作させることにより、これらの2倍のサンプリング周
波数のAD変換測定データを得ることができるというこ
とである。
動作させる高速ADコンバータの従来例を図2を参照し
て説明する。図2において、2個のADコンバータを具
備する高速ADコンバータ1は、2個の動作速度の比較
的に遅いADコンバータ2およびADコンバータ3を交
互に動作させることにより、アナログ信号入力について
ADコンバータの動作速度の2倍の速度のAD変換測定
データを得ることができる。即ち、ADコンバータ2の
サンプリングクロック周波数fs2およびADコンバータ
3のサンプリングクロック周波数fs3は前置されるサン
プルホールド回路のサンプリングクロック周波数fs1の
1/2であるものとすると、2個の動作速度の比較的に
遅いADコンバータ2およびADコンバータ3を交互に
動作させることにより、これらの2倍のサンプリング周
波数のAD変換測定データを得ることができるというこ
とである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述の通りのADコン
バータには、下記およびの如き原因により測定デー
タを高速フーリエ変換処理した際に測定結果にスプリア
スを混入せしめる欠点がある。 2個のADコンバータ、ADコンバータ2とADコ
ンバータ3との間のアナログ的な特性の差異。
バータには、下記およびの如き原因により測定デー
タを高速フーリエ変換処理した際に測定結果にスプリア
スを混入せしめる欠点がある。 2個のADコンバータ、ADコンバータ2とADコ
ンバータ3との間のアナログ的な特性の差異。
【0004】 ADコンバータ2とADコンバータ3
とを交互にサンプリングするのであるが、この場合のサ
ンプリングタイミングの誤差。 上述の通りのスプリアスを減少せしめるために、従来、
ADコンバータ構成時に種々の調整、補正は実施してい
る。即ち、ADコンバータ2およびADコンバータ3そ
れぞれのA/D変換出力レベルのアナログ入力信号周波
数特性は例えば周波数fにおいて等しく調整する程度の
ことはできるが、入力信号周波数範囲の全帯域に亘って
双方のADコンバータの周波数特性を等しく重ねる様に
調整することは困難である上に、広いサンプリング周波
数範囲に亘ってサンプリングタイミングを最適化するこ
とも大変に困難なことであり、スプリアスを完全には取
り除くことはできない。この残存するスプリアスは、結
局、インターリーブ方式そのものに起因するインターリ
ーブ方式固有のスプリアスと言うことができる。
とを交互にサンプリングするのであるが、この場合のサ
ンプリングタイミングの誤差。 上述の通りのスプリアスを減少せしめるために、従来、
ADコンバータ構成時に種々の調整、補正は実施してい
る。即ち、ADコンバータ2およびADコンバータ3そ
れぞれのA/D変換出力レベルのアナログ入力信号周波
数特性は例えば周波数fにおいて等しく調整する程度の
ことはできるが、入力信号周波数範囲の全帯域に亘って
双方のADコンバータの周波数特性を等しく重ねる様に
調整することは困難である上に、広いサンプリング周波
数範囲に亘ってサンプリングタイミングを最適化するこ
とも大変に困難なことであり、スプリアスを完全には取
り除くことはできない。この残存するスプリアスは、結
局、インターリーブ方式そのものに起因するインターリ
ーブ方式固有のスプリアスと言うことができる。
【0005】この発明は、2個のADコンバータをイン
ターリーブ動作させる高速ADコンバータにおいて測定
時に指定された信号周波数とサンプリング周波数とを相
互調整することにより測定結果に混入するインターリー
ブ方式そのものに起因する固有のスプリアスを減少させ
るADコンバータの補正方法を提供するものである。
ターリーブ動作させる高速ADコンバータにおいて測定
時に指定された信号周波数とサンプリング周波数とを相
互調整することにより測定結果に混入するインターリー
ブ方式そのものに起因する固有のスプリアスを減少させ
るADコンバータの補正方法を提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】インターリーブ方式を採
用したADコンバータを使用する測定プログラムに補正
プログラムを組み込み、測定プログラム中において補正
する信号周波数とサンプリング周波数とを指定してこの
補正プログラムを呼び出し、補正プログラム中におい
て、内蔵する信号発生器4およびサンプリングクロック
発生器により指定された信号を発生し、これらの信号を
2個のADコンバータに供給し、この状態において2個
のADコンバータの間のオフセットおよびゲインが等し
くなる様に補正し、オフセットおよびゲインの補正の終
了後、信号発生器4の信号を実際にインターリーブ動作
により測定し、この測定結果をFFT解析し、解析の結
果出現するスプリアス成分をサンプリングタイミングを
オンライン調整することにより最小に補正し、測定プロ
グラムに復帰する、インターリーブ方式を採用したAD
コンバータの補正方法、を構成した。
用したADコンバータを使用する測定プログラムに補正
プログラムを組み込み、測定プログラム中において補正
する信号周波数とサンプリング周波数とを指定してこの
補正プログラムを呼び出し、補正プログラム中におい
て、内蔵する信号発生器4およびサンプリングクロック
発生器により指定された信号を発生し、これらの信号を
2個のADコンバータに供給し、この状態において2個
のADコンバータの間のオフセットおよびゲインが等し
くなる様に補正し、オフセットおよびゲインの補正の終
了後、信号発生器4の信号を実際にインターリーブ動作
により測定し、この測定結果をFFT解析し、解析の結
果出現するスプリアス成分をサンプリングタイミングを
オンライン調整することにより最小に補正し、測定プロ
グラムに復帰する、インターリーブ方式を採用したAD
コンバータの補正方法、を構成した。
【0007】
【実施例】インターリーブ方式を採用したADコンバー
タのインターリーブ方式そのものに起因する固有のスプ
リアスは次のおよびの如き特徴を示す。 スプリアスの原因は以下の1)、2)および3)で
ある。 1) ADコンバータ2とADコンバータ3との間のオ
フセットの差。
タのインターリーブ方式そのものに起因する固有のスプ
リアスは次のおよびの如き特徴を示す。 スプリアスの原因は以下の1)、2)および3)で
ある。 1) ADコンバータ2とADコンバータ3との間のオ
フセットの差。
【0008】2) 測定信号の周波数について、ADコ
ンバータ2とADコンバータ3との間のゲインの差。 3) ADコンバータ2とADコンバータ3とを交互に
サンプリングするのであるが、この場合にサンプリング
間隔が一定ではないこと。 測定信号の周波数とサンプリング周波数とが決まれ
ば発生するスプリアスの周波数成分も決まる。
ンバータ2とADコンバータ3との間のゲインの差。 3) ADコンバータ2とADコンバータ3とを交互に
サンプリングするのであるが、この場合にサンプリング
間隔が一定ではないこと。 測定信号の周波数とサンプリング周波数とが決まれ
ば発生するスプリアスの周波数成分も決まる。
【0009】この発明は、これらの特徴に着目し、測定
信号の周波数とサンプリング周波数とが既知或はプログ
ラムにより指定されたものである場合、この特定条件の
もとにおいて2個のADコンバータ2およびADコンバ
ータ3間のアナログ特性およびサンプリングタイミング
をプログラムによりオンライン調整し、インターリーブ
方式そのものに起因する固有のスプリアスを減少せし
め、測定のダイナミックレンジを向上するものである。
信号の周波数とサンプリング周波数とが既知或はプログ
ラムにより指定されたものである場合、この特定条件の
もとにおいて2個のADコンバータ2およびADコンバ
ータ3間のアナログ特性およびサンプリングタイミング
をプログラムによりオンライン調整し、インターリーブ
方式そのものに起因する固有のスプリアスを減少せし
め、測定のダイナミックレンジを向上するものである。
【0010】以下、この発明の実施例を図1を参照して
説明する。図1におけるADコンバータ2およびADコ
ンバータ3は、共にプログラムによりオンライン調整す
ることができるオフセット補正回路、ゲイン補正回路、
サンプリングタイミング補正回路を具備するものであ
る。プログラムによりオンライン調整することができる
オフセット補正回路、ゲイン補正回路、サンプリングタ
イミング補正回路自体はそれぞれ各種のものが知られて
おり、そしてこれらの回路の詳細についてはこの発明の
要旨ではないので図示説明することはしない。信号発生
器4はアナログ信号である正弦波を発生する信号発生器
であり、これもプログラムによりオンライン設定するこ
とができるものである。サンプリング1およびサンプリ
ング2を発生するサンプリングクロック発生器も、ま
た、プログラムによりオンライン設定することができる
ものである。5はディジタル信号処理回路であり、FF
T解析その他のディジタル信号処理を実行する。
説明する。図1におけるADコンバータ2およびADコ
ンバータ3は、共にプログラムによりオンライン調整す
ることができるオフセット補正回路、ゲイン補正回路、
サンプリングタイミング補正回路を具備するものであ
る。プログラムによりオンライン調整することができる
オフセット補正回路、ゲイン補正回路、サンプリングタ
イミング補正回路自体はそれぞれ各種のものが知られて
おり、そしてこれらの回路の詳細についてはこの発明の
要旨ではないので図示説明することはしない。信号発生
器4はアナログ信号である正弦波を発生する信号発生器
であり、これもプログラムによりオンライン設定するこ
とができるものである。サンプリング1およびサンプリ
ング2を発生するサンプリングクロック発生器も、ま
た、プログラムによりオンライン設定することができる
ものである。5はディジタル信号処理回路であり、FF
T解析その他のディジタル信号処理を実行する。
【0011】ここで、ADコンバータのアナログ特性お
よびサンプリングタイミングをオンライン調整するプロ
グラムについて説明する。 手順1 インターリーブ方式を採用したADコンバータ
を使用する測定プログラムに補正プログラムを組み込
み、測定プログラム中において補正する信号周波数とサ
ンプリング周波数とを指定してこの補正プログラムを呼
び出す。
よびサンプリングタイミングをオンライン調整するプロ
グラムについて説明する。 手順1 インターリーブ方式を採用したADコンバータ
を使用する測定プログラムに補正プログラムを組み込
み、測定プログラム中において補正する信号周波数とサ
ンプリング周波数とを指定してこの補正プログラムを呼
び出す。
【0012】手順2 補正プログラム中において、内蔵
する信号発生器4およびサンプリングクロック発生器に
より指定された信号を発生し、これをADコンバータに
供給する。 手順3 手順2の状態において2個のADコンバータの
間のオフセットおよびゲインが等しくなる様に補正す
る。
する信号発生器4およびサンプリングクロック発生器に
より指定された信号を発生し、これをADコンバータに
供給する。 手順3 手順2の状態において2個のADコンバータの
間のオフセットおよびゲインが等しくなる様に補正す
る。
【0013】手順4 手順3におけるオフセットおよび
ゲインの補正の終了後、内蔵する信号発生器4の信号を
実際にインターリーブ動作により測定し、この測定結果
をFFT解析してみる。FFT解析してみた結果発生す
る手順3の時点において出現するスプリアスは、この時
点においての1)およびの2)の原因は既に解消さ
れているところから、の3)に起因して発生したスプ
リアスであるものとすることができるので、上述した通
りのの特徴に基づいてサンプリングタイミングをオン
ライン調整することによりスプリアス成分を最小にする
補正をする。
ゲインの補正の終了後、内蔵する信号発生器4の信号を
実際にインターリーブ動作により測定し、この測定結果
をFFT解析してみる。FFT解析してみた結果発生す
る手順3の時点において出現するスプリアスは、この時
点においての1)およびの2)の原因は既に解消さ
れているところから、の3)に起因して発生したスプ
リアスであるものとすることができるので、上述した通
りのの特徴に基づいてサンプリングタイミングをオン
ライン調整することによりスプリアス成分を最小にする
補正をする。
【0014】手順5 測定プログラムに復帰する。
【0015】
【発明の効果】以上の通りであって、インターリーブ方
式を採用した高速ADコンバータは、手順1ないし手順
5の行程を実行することにより、次の補正が実施される
までの間、手順2により与えられた条件のもとで最適化
されていることになる。ここにいて、スプリアスは最小
であって測定のダイナミックレンジは向上する。
式を採用した高速ADコンバータは、手順1ないし手順
5の行程を実行することにより、次の補正が実施される
までの間、手順2により与えられた条件のもとで最適化
されていることになる。ここにいて、スプリアスは最小
であって測定のダイナミックレンジは向上する。
【図1】この発明の実施例を示す図。
【図2】従来例を示す図。
2 ADコンバータ 3 ADコンバータ 4 信号発生器 5 ディジタル信号処理回路
Claims (1)
- 【請求項1】 インターリーブ方式を採用したADコン
バータを使用する測定プログラムに補正プログラムを組
み込み、測定プログラム中において補正する信号周波数
とサンプリング周波数とを指定してこの補正プログラム
を呼び出し、 補正プログラム中において、内蔵する信号発生器および
サンプリングクロック発生器により指定された信号を発
生し、これらの信号を2個のADコンバータに供給し、 この状態において2個のADコンバータの間のオフセッ
トおよびゲインが等しくなる様に補正し、 オフセットおよびゲインの補正の終了後、信号発生器の
信号を実際にインターリーブ動作により測定し、この測
定結果をFFT解析し、解析の結果出現するスプリアス
成分をサンプリングタイミングをオンライン調整するこ
とにより最小に補正し、 測定プログラムに復帰する、 インターリーブ方式を採用したADコンバータの補正方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29887192A JPH06152410A (ja) | 1992-11-09 | 1992-11-09 | インターリーブ方式を採用したアナログディジタルコンバータの補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29887192A JPH06152410A (ja) | 1992-11-09 | 1992-11-09 | インターリーブ方式を採用したアナログディジタルコンバータの補正方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06152410A true JPH06152410A (ja) | 1994-05-31 |
Family
ID=17865270
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29887192A Withdrawn JPH06152410A (ja) | 1992-11-09 | 1992-11-09 | インターリーブ方式を採用したアナログディジタルコンバータの補正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06152410A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0866563A2 (de) * | 1997-03-20 | 1998-09-23 | Philips Patentverwaltung GmbH | Verfahren und Anordnung zur Analog-/Digital-Umsetzung eines Bildsignals |
JP2000341123A (ja) * | 1999-03-24 | 2000-12-08 | Advantest Corp | A/d変換装置およびキャリブレーション装置 |
FR2863421A1 (fr) * | 2003-12-05 | 2005-06-10 | Thales Sa | Procede de generation d'un signal numerique representatif des erreurs d'appariement d'un systeme de conversion analogique numerique a entrelacement temporel |
WO2006075505A1 (ja) * | 2005-01-11 | 2006-07-20 | Anritsu Corporation | 改良された時間インタリーブ方式のアナログ-デジタル変換装置及びそれを用いる高速信号処理システム |
JP2008147922A (ja) * | 2006-12-08 | 2008-06-26 | Anritsu Corp | A/d変換装置 |
JP2009077450A (ja) * | 2009-01-14 | 2009-04-09 | Advantest Corp | 信号処理装置およびその装置を用いた半導体デバイス試験装置 |
JP2012015615A (ja) * | 2010-06-29 | 2012-01-19 | Tohoku Univ | アナログ・ディジタル変換装置 |
JP2012088308A (ja) * | 2010-10-15 | 2012-05-10 | Tektronix Inc | インターリーブ・デジタイザ・チャネルの校正方法 |
JP2014180064A (ja) * | 2014-07-04 | 2014-09-25 | Tohoku Univ | アナログ・ディジタル変換装置 |
JP2015169659A (ja) * | 2014-03-04 | 2015-09-28 | テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. | 試験測定装置及び補償値決定方法 |
-
1992
- 1992-11-09 JP JP29887192A patent/JPH06152410A/ja not_active Withdrawn
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0866563A3 (de) * | 1997-03-20 | 2001-10-04 | Philips Patentverwaltung GmbH | Verfahren und Anordnung zur Analog-/Digital-Umsetzung eines Bildsignals |
EP0866563A2 (de) * | 1997-03-20 | 1998-09-23 | Philips Patentverwaltung GmbH | Verfahren und Anordnung zur Analog-/Digital-Umsetzung eines Bildsignals |
JP2000341123A (ja) * | 1999-03-24 | 2000-12-08 | Advantest Corp | A/d変換装置およびキャリブレーション装置 |
DE10015384B4 (de) * | 1999-03-24 | 2004-02-12 | Advantest Corp. | A/D-Umwandlungsvorrichtung, Eicheinheit und Verfahren hierfür |
CN100397785C (zh) * | 1999-03-24 | 2008-06-25 | 株式会社爱德万测试 | A-d转换装置和校准单元 |
US7425908B2 (en) | 2003-12-05 | 2008-09-16 | Thales | Method of generating a digital signal that is representative of match errors in an analog digital conversion system with the time interleaving, and an analog digital converter with time interleaving using same |
FR2863421A1 (fr) * | 2003-12-05 | 2005-06-10 | Thales Sa | Procede de generation d'un signal numerique representatif des erreurs d'appariement d'un systeme de conversion analogique numerique a entrelacement temporel |
WO2005055430A1 (fr) * | 2003-12-05 | 2005-06-16 | Thales | Procede de generation d'un signal numerique representatif des erreurs d'appariement d'un systeme de conversion analogique numerique a entrelacement temporel, et un convertisseur analogique numerique a entrelacement temporel l'utilisant |
WO2006075505A1 (ja) * | 2005-01-11 | 2006-07-20 | Anritsu Corporation | 改良された時間インタリーブ方式のアナログ-デジタル変換装置及びそれを用いる高速信号処理システム |
US7394415B2 (en) | 2005-01-11 | 2008-07-01 | Anritsu Corporation | Time-interleaved analog-to-digital converter and high speed signal processing system using the same |
JP2008147922A (ja) * | 2006-12-08 | 2008-06-26 | Anritsu Corp | A/d変換装置 |
JP2009077450A (ja) * | 2009-01-14 | 2009-04-09 | Advantest Corp | 信号処理装置およびその装置を用いた半導体デバイス試験装置 |
JP4635091B2 (ja) * | 2009-01-14 | 2011-02-16 | 株式会社アドバンテスト | 信号処理装置およびその装置を用いた半導体デバイス試験装置 |
JP2012015615A (ja) * | 2010-06-29 | 2012-01-19 | Tohoku Univ | アナログ・ディジタル変換装置 |
JP2012088308A (ja) * | 2010-10-15 | 2012-05-10 | Tektronix Inc | インターリーブ・デジタイザ・チャネルの校正方法 |
JP2015169659A (ja) * | 2014-03-04 | 2015-09-28 | テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. | 試験測定装置及び補償値決定方法 |
JP2014180064A (ja) * | 2014-07-04 | 2014-09-25 | Tohoku Univ | アナログ・ディジタル変換装置 |
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