JPH0614027B2

JPH0614027B2 - 超音波探傷器の測定範囲設定装置

Info

Publication number: JPH0614027B2
Application number: JP61240191A
Authority: JP
Inventors: 鋭機和泉; 康雄田中; 茂徳青木
Original assignee: Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Current assignee: Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority date: 1986-10-11
Filing date: 1986-10-11
Publication date: 1994-02-23
Anticipated expiration: 2009-02-23
Also published as: JPS6395353A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は超音波探傷器において、被検査物体における測
定範囲を定める超音波探傷器の測定範囲設定装置に関す
る。

〔従来の技術〕

超音波探傷器は、物体内部の傷の存在の有無を当該物体
を破壊することなく検査する装置として良く知られてい
る。この超音波探傷器を図により説明する。

第５図は従来の超音波探傷器のブロック図である。図
で、１は被検査物体、１ｆは被検査物体１内に存在する
欠陥を示す。２は被検査物体１内に超音波を放射すると
ともに、反射してきた超音波に比例した電気信号を出力
する超音波探触子である。３は超音波探傷器であり、超
音波探触子２に対して超音波発生パルスを出力し、か
つ、超音波探触子２からの信号を受信し、この信号の波
形を表示する。

超音波探傷器３は次の各要素で構成されている。即ち、
４は超音波探傷器３の動作に時間的規制を与える信号電
圧を発生する同期回路、５は同期回路４の信号により超
音波探触子２に超音波発生のためのパルスを出力する送
信部である。６′は超音波探触子２からの信号を受信す
る受信部であり、抵抗器で構成される分圧器の組合せよ
り成る減衰回路６ａ、および増幅回路６ｂ′で構成され
る。７は増幅回路６′からの信号を整流する検波回路、
８は垂直軸増幅回路である。

９は同期回路４からの同期信号により三角波を発生する
掃引回路、１０は掃引回路９の三角波信号を増幅する増
幅回路である。１１は超音波探触子２からの信号波形を
表示する表示部であり、横軸は増幅回路１０から出力さ
れる三角波で定まる時間軸とされ、縦軸は垂直軸増幅回
路８から出力される信号の大きさとされる。表示部１１
としては陰極線管が用いられ、その表面にはスケールが
表示されている。１２は被検査物体１において、その表
面からの検査すべき範囲（測定範囲）を設定する測定範
囲設定部である。１３は掃引開始信号に遅れ時間をもた
せて表示部１１に表示される波形の位置を平行移動させ
る遅延時間設定部である。

第６図は第５図に示す掃引回路の回路図である。図で、
９ａは増幅器、９ｒは可変抵抗器、９ｃは可変コンデン
サである。測定範囲設定部１２は通常、粗調用のつまみ
と微調用のつまみより成りこれらのつまみを回動するこ
とにより可変抵抗器９ｒの抵抗値および可変コンデンサ
９ｃの容量を調整する。

次に、上記従来の超音波探傷器の動作の概略を説明す
る。同期回路４からの信号電圧により送信部５からパル
スが出力されると、超音波探触子２はこのパルスにより
励起されて被検査物体１に対して超音波を放射する。放
射された超音波の一部は被検査物体１の表面から直ちに
超音波探触子２に戻り、他は被検査物体１内を伝播し、
被検査物体１の底部に達し、ここで反射されて超音波探
触子２に戻る。一方、被検査物体１に欠陥１ｆが存在す
ると、超音波は当該欠陥１ｆにおいても反射されて超音
波探触子２に戻る。これら超音波探触子２に戻った超音
波は超音波探触子２をその大きさに比例して励起し、超
音波探触子２からはこれに応じた電気信号が出力され
る。

この信号は減衰回路６ａに入力され、処理に適した大き
さに調節され、増幅回路６ｂ′を経て検波回路７に入力
される。検波回路７は表示部１１の表示を片振り指示と
するため、入力信号を整流する。この際、当該信号に混
入している雑音成分も除去される。検波回路７の出力信
号は垂直軸増幅回路８を経て表示部１１に入力され、そ
の大きさが表示部１１の縦軸に表される。一方、掃引回
路９は同期回路４の同期信号により三角波電圧を発生
し、この電圧は増幅回路１０を経て表示部１１（陰極線
管）の偏向電極に印加され、電子ビームを掃引する。こ
の掃引と前記垂直軸増幅回路８からの入力信号により、
表示部１１には超音波探触子２に戻った反射波の波形が
表示される。

第７図は表示された反射波の波形図である。図で、横軸
は時間、縦軸は反射波の大きさを示す。Ｔは被検査物体
１の表面からの反射波、Ｆ_１は欠陥１ｆからの反射波、
Ｂ_１は被検査物体１の底面からの反射波である。Ｓは表
示部１１上に描かれているスケールを示す。底面から反
射した反射波の一部は表面で再反射されて再び被検査物
体１内に戻る。これにより、欠陥１ｆからの反射波
Ｆ_２、底面からの反射波Ｂ_２が現れるが反射波Ｆ_２、Ｂ
_２の大きさは当然ながら反射波Ｆ_１，Ｂ_１の大きさより
小さい。このように、欠陥１ｆからの反射および底面か
らの反射波が減衰しながら繰返し現れることになる。な
お、被検査物体１内における超音波の音速は一定である
ので、横軸（時間軸）は被検査物体１内の表面からの距
離を表すことになり、この波形図から欠陥１ｆの位置が
判明する。

ところで、一般に、被検査物体１を探傷する場合、必ず
しもその表面から底面まで全体を検査する必要はなく、
表面からある一定の深さ範囲を検査すればよい場合が多
い。この場合には、波形の表示はその範囲（測定範囲）
のみの表示とすることが望ましく、それによってより精
度の高い分析を行うことができる。

ここで、このような測定範囲を設定する方法について説
明する。今、仮に表面から底面までの距離が２００mmの
被検査物体において、測定範囲を１００mm（表面から１
００mm以内）に設定する場合について考える。この場
合、被検査物体１と同一材料で、厚さ１００mmの試片を
用意する。次に、その試片に超音波を放射すると、表示
部１１には、反射波Ｔ，Ｂ_１，Ｂ_２，………が現れる。
そこで、測定範囲設定部１２の粗調用つまみと微調整つ
まみを操作して横軸の拡張、縮少を行い、表示部１１の
左端のスケールＳ_Ｌに反射波Ｂ_１が、又、右端のスケー
ルにＳ_Ｒに反射波Ｂ_２が現れるように調節する。この場
合、表示部１１には反射波Ｂ_１、Ｂ_２のみが表示されて
おり、左右両端の各スケールＳ_Ｌ，Ｓ_Ｒの間隔が１００
mmの位置間隔に相当することとなる。次に、遅延時間設
定部１３のつまみを回動して波形を右方に平行移動さ
せ、反射波Ｔを左端のスケールＳ_Ｌに合せる。この状態
で被検査物体１に超音波を放射すると、表示部１１には
表面（スケールＳ_Ｌ）から１００mm（スケールＳ_Ｒ）の
測定範囲が表示されることになる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記従来装置における測定範囲の設定は、上述のよう
に、測定範囲に等しい厚さをもち、被検査物体１と同一
材料の試片を用意し、測定範囲設定部１２の２つのつま
み、および遅延時間設定部１３のつまみを操作する必要
があり、又、それらの操作において反射波Ｂ_１、Ｂ_２を
スケールＳ_Ｌ，Ｓ_Ｒに合致させるには相当の熟練を要す
ることから、極めて面倒である。しかも、必要とする材
質および厚みを有する試片が常に存在するとは限らず、
むしろ存在しない方が多く、この場合には測定範囲の設
定はほとんど不可能である。

もっとも、ある音速の材料について、掃引回路９の抵抗
９ｒおよびコンデンサ９ｃの値を各測定範囲毎に予め計
算し、測定範囲設定部１２の一方のつまみ（例えば粗調
用つまみ）部分に測定範囲を表示しておき、他方のつま
み（例えば微調用つまみ）部分に前記表示と対応して予
め計算により音速を表示しておき、両つまみにより測定
範囲を設定することも可能であるが、可変コンデンサ９
ｃを用いるので上記各表示自体が非直線性の表示とな
り、つまみを正確にセットすることは極めて困難であ
り、したがって、測定範囲の正確な設定はほとんど不可
能に近い。そして、測定範囲が正確に設定できないと欠
陥の位置を正確に読取ることはできなくなる。

このように、上記従来装置にあっては、測定範囲の正確
な設定は、試片が存在していても極めて面倒であり、試
片が存在しない場合にはほとんど不可能に近いという問
題点があった。これに加えて、仮に測定範囲の正確な設
定ができたとしても、次のような問題点があった。即
ち、掃引回路９の抵抗９ｒの抵抗値、コンデンサ９ｃの
容量、および増幅回路１０の増幅率は温度により変化す
る。したがって、周囲温度が変化すると折角正確に設定
した測定範囲にも誤差を生じる。このことは、反射波に
横軸方向のずれが生じることを意味し、欠陥の位置を正
確に知ることはできなくなる。

本発明の目的は、上記従来技術における課題を解決し、
測定範囲を容易、正確に設定することができ、かつ、設
定された測定範囲のデータを表示器に効果的に表示する
ことができる超音波探傷器の測定範囲設定装置を提供す
ることにある。

［課題を解決するための手段］上記の目的を達成するため、本発明は、超音波探触子に
対して所定のパルスを出力する送信部と、前記超音波探
触子からの信号を受信する受信部と、この受信部で受信
された信号に基づいて当該信号の波形を表示する表示部
とを備えた超音波探傷器において、前記表示部を多数の
ドット配列で構成される表示器で構成するとともに、前
記受信部で受信された入力信号を所定のサンプリング周
期で順次アドレスに記憶するメモリと、前記入力信号の
波形の分析に必要な測定範囲を設定する測定範囲設定部
と、被探傷物体内を伝播する音速を入力する音速入力部
と、設定された前記測定範囲の２倍を入力された前記音
速と前記サンプリング周期との積で除算して前記メモリ
における前記測定範囲内の全アドレス数を演算する演算
手段と、この演算手段で演算された全アドレス数を前記
表示器の時間軸方向に配列されたドット数で除した値に
基づく数の間隔毎に前記全アドレス中の各アドレスを選
択してゆくアドレス選択手段と、このアドレス選択手段
により選択されたアドレスのデータを前記表示器に表示
させる表示制御手段とを設けたことを特徴とする。

〔作用〕

被検査物体からの超音波の反射波は超音波探触子に戻
り、超音波探触子からはこの反射波に応じた信号が出力
される。受信部ではこの信号を受信し、受信部からの出
力信号は所定のサンプリング周期でメモリに順に記憶さ
れる。測定範囲を設定する場合には、測定範囲設定部に
任意の測定範囲をセットするとともに、音速入力部に被
検査物体における音速を入力する。演算手段では、この
セットされた測定範囲の２倍を音速とサンプリング周期
の積で除算して測定範囲内の全アドレス数を演算し、ア
ドレス選択手段では、上記全アドレス数を表示器の時間
軸方向に配列されたドット数で除した値に基づく数の間
隔毎に全アドレス中の各アドレスを選択してゆく。そし
て、選択された各アドレスに記憶されているデータが取
り出され、これら各データは表示制御手段により表示器
に表示される。

〔実施例〕

以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。

第１図は本発明の実施例に係る超音波探傷器のブロック
図である。図で、第５図に示す部分と同一部分には同一
符号を付して説明を省略する。超音波探傷器において
は、反射波を検波して表示する場合と、検波せずに表示
する場合とがあるが、いずれの場合でも本発明は適用可
能である。従って、以下では、第５図の増幅器６ｂ′と
検波回路７と合わせたものを増幅回路６ｂとして受信部
６を構成し、検波を行なった場合の実施例を示す。２１
は本実施例の超音波探傷器を示す。この超音波探傷器２
１は次の各要素により構成されている。即ち、２２は受
信部６の出力信号をディジタル値に変換するＡ／Ｄ変換
部、２３はＡ／Ｄ変換部２２で変換された値を記憶する
波形メモリ、２４は波形メモリ２３の各アドレスを順に
指定してゆくアドレスカウンタである。２５はタイミン
グ回路であり、送信部５、Ａ／Ｄ変換部２２およびアド
レスカウンタ２４へそれぞれ起動信号を与える。このタ
イミング回路２５の発振には水晶発振子が用いられる。

２６は所要の演算、制御を行うＣＰＵ（中央処理装
置）、２７は演算のためのパラメータやデータ等を一時
記憶するＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモリ）、２８
はＣＰＵ２６の処理手順を記憶するＲＯＭ（リード・オ
ンリ・メモリ）である。29は所望の測定範囲を入力する
測定範囲設定部、30は被検査物体１内を超音波が伝播す
る速度（音速）を入力する音速入力部である。３１は液
晶表示部、３２はＣＰＵ２６の演算、制御の結果得られ
たデータに基づいて液晶表示部３１の表示を制御する表
示部コントローラである。

次に、本実施例の動作を第２図に示す反射波の波形図、
第３図に示す波形メモリ２３のブロック図、および第４
図に示すフローチャートを参照しながら説明する。最初
に、測定範囲設定部２９に所望の測定範囲ｌ_Ｒ（この値
は第１図に示す被検査物体１に示されている。）を設定
する。又、音速入力部にも被検査物体１の材質で定まる
音速ｖ_ｓを入力する。この状態において、タイミング回
路２５から送信部５へトリガ信号が出力されると、送信
部５は超音波探触子２にパルスを出力し、超音波探触子
２から被検査物体１内に超音波が放射される。この超音
波の反射波は超音波探触子２により電気信号に変換さ
れ、この信号は受信部６で受信される。受信部６は、受
信した反射波信号を以後の処理に適した値として出力す
る。この出力された反射波信号は、所定のサンプリング
周期毎にＡ／Ｄ変換部２２においてディジタル値に変換
され、この変換された値は順次波形メモリ２３に記憶さ
れる。この記憶は、アドレスカウンタ２４が波形メモリ
２３のアドレスを順次指定することによりなされる。反
射波信号のサンプリング、波形メモリ２３のアドレ指定
はタイミング回路２５から出力される起動信号により実
行される。このような反射波信号のサンプリングと、そ
のディジタル値の波形メモリ２３への収容を第２図およ
び第３図により説明する。

第２図は反射波信号の波形図である。図で、横軸には時
間が、縦軸には反射波信号の大きさ（電圧）がとってあ
る。Ｔ，Ｆ_１は第７図に示すものと同じ反射波を示す。
なお、第２図では横軸のみが極端に拡大して描かれてい
る。次に、第３図は波形メモリ２３の内容説明図であ
る。縦列に並べて示された各ブロックは波形メモリ２３
におけるデータの収容部を意味し、各収容部に記載され
たD₍₀₎,D₍₁₎，………D_(n-1),D_(n),D_(n+1))………はＡ／
Ｄ変換部２２でディジタル値に変換された反射波信号の
データである。これらデータを一般形としてD_(i)で表わ
す。又、各収容部の左側に記載された符号A_M(0),A_M(1),
………A_M(n-1),A_M(n),A_M(n+1)………は対応する収容部
のアドレスを示す。これらアドレスを一般形としてA
_M(i)で表わす。

今、第２図に示す時刻ｔ_０において、タイミング回路２
５からＡ／Ｄ変換部２２およびアドレスカウンタ２４に
起動信号が出力されると、Ａ／Ｄ変換部２２ではそのと
きの反射波Ｔの電圧をＡ／Ｄ変換してデータD₍₀₎を得
る。又、アドレスカウンタ２４は波形メモリ２３のアド
レスA_M(0)を指定する。この結果、データD₍₀₎は波形メ
モリ２３のアドレスA_M(0)に収容される。次いで、時間
τ_Ｓ経過後の時刻ｔ_１において、タイミング回路２５か
ら再びＡ／Ｄ変換部２２およびアドレスカウンタ２４に
起動信号が出力されると、同じくそのときの反射波Ｔの
電圧がＡ／Ｄ変換部２２で変換されてデータD₍₁₎が得ら
れ、アドレスカウンタ２４は次のアドレスA_M(1)を指定
するので、波形メモリ２３のアドレスA_M(1)にデータD
₍₁₎が収容される。この場合、時間τ_Ｓがサンプリング
時間（例えば５０ｎｓ）となる。以下、同様にして反射
波Ｔ、Ｆ_１，Ｂ_１，Ｆ_２，Ｂ_２………のデータが波形メ
モリ２３に記憶されることになる。

次に、ＣＰＵ２６はＲＯＭ２８に記憶されている手順に
したがって、まず音速入力部３０に入力された音速Ｖ_Ｓ
および測定範囲設定部２９に設定された測定範囲ｌ_Ｒを
順次読み込む（第４図に示す手順Ｐ_１，Ｐ_２）。次い
で、液晶表示部３１の横方向全体に測定範囲ｌ_Ｒを表示
するには、即ち、液晶表示部３１の左端のスケールに反
射波Ｔを、又右端のスケールに距離ｌ_Ｒに対応する位置
を表示するには、波形メモリ２３に記憶されているデー
タをどのようにとり出せばよいかが演算により求められ
る（手順）Ｐ_３）。以下、この演算について説明する。

波形メモリ２３には、前述のように反射波Ｔ以下の繰返
しの反射波のデータが記憶されている。しかし、この中
で必要とされるのは、測定範囲内のデータであり、これ
ら測定範囲内のデータを液晶表示部３１の左右端のスケ
ール間に表示すればよいことになる。一般に、液晶表示
部３１に表示を行う場合には、表示部コントローラ３２
に設けられた表示メモリ（図示されていない）に表示の
ためのデータが格納される。この表示メモリのアドレス
は液晶ドットの横方向の配列数（例えば２００個）に対
して用意されている。このアドレスを一般形としてA
_L(j)（ｊ＝０，１，２，………１９９）で表す。この表
示メモリのアドレスは測定範囲がある程度の値であれ
ば、波形メモリ２３に記憶されている測定範囲内のデー
タの数（即ち、測定範囲内のアドレスの数）より少ない
のが通常である。そこで、測定範囲内のデータを前記左
右端のスケール間に表示するには、波形メモリ２３にお
ける測定範囲内のアドレスをどのように選択すればよい
かを決定するために上記演算が実行されることになる。

ここで、 τ_Ｓ：サンプリング時間ｌ_Ｒ：測定範囲ｖ_Ｓ：被検査物体１内の超音波の音速ｔ：反射波が戻るまでの時間 ΔＡ：測定範囲ｌ_Ｒに対応する波形メモリ２３内の
アドレスの数Ｄ_ｔ：液晶表示部３１の横方向の液晶ドットの配列数
（又は表示メモリのアドレス数）とすると、表面から測定範囲ｌ_Ｒの距離の反射波が戻る
に必要な時間ｔは、ｔ＝２ｌ_Ｒ／Ｖ_Ｓ ………
（１）この時間内に波形メモリに記憶されるアドレス数ΔＡ
は、このアドレス数ΔＡのアドレスのうち、液晶ドット数Ｄ
_ｔ（表示メモリのアドレス数）に応じてアドレスを選択
するには、ΔＡ／Ｄ_ｔの比率でアドレスを選択してゆけ
ばよいことになる。即ち、第３図に示す波形メモリ２３
の各アドレスA_M(0)，A_M(1)，………A_M(n-1)，A_M(n)，A
_M(n+1)、………のうち測定範囲ｌ_Ｒを表示するためｉ番
目毎のアドレスを選択するものとすると、数ｉは次式で
表される。

だたし、ｊは正の整数｛０から（Ｄ_ｔ−１）まで｝であ
る。手順Ｐ_３ではこの（３）式の演算が実行される。

手順Ｐ_３で得られた数ｉは波形メモリのアドレスの番号
なので当然整数でなければならない。したがって、この
数ｉは適宜の手段で整数化される（手順Ｐ_４）。このよ
うにして得られた各アドレスA_M(i)のデータは表示メモ
リ（図示されていない）の所定の各アドレスA_L(j)に転
送される（手順Ｐ_５）。次いで、表示部コントローラ３
２により液晶表示部３１が駆動され、（手順Ｐ_６）、上
記表示メモリに収容されたデータが順次表示される。こ
れにより、液晶表示部３１にはその左右両端のスケール
間に測定範囲ｌ_Ｒ内における反射波の波形がすべて現れ
ることになる。

次に、上記の手順を具体的な例を適用して説明する。
今、サンプリング時間τ_Ｓ、測定範囲ｌ_Ｒ、音速ｖ_Ｓ、
液晶ドット数Ｄ_ｔが下記の数値であるとする。

τ_Ｓ＝５０ｎｓ（２０ＭHz）ｌ_Ｒ＝２００mm ｖ_Ｓ＝５．９Km／ｓＤ_ｔ＝２００点まず、音速入力部３０に数値５．９が、又、測定範囲設
定部２９に数値２００が入力され、この値が読込まれる
（手順Ｐ_１，Ｐ_２）。次いで、手順Ｐ_３において、測定
範囲２００mmに対応する波形メモリ２３内のアドレス数
ΔＡが（２）式から求められる。

即ち、波形メモリ２３のアドレスA_M(0)〜A_M(1355)に、
表面から２００mmの範囲の波形データが格納されている
ことになる。これらアドレスのデータを表示メモリの全
アドレスA_L(0)〜A_L(199)に格納するため、上記波形メモ
リ２３のアドレスA_M(0)〜A_M(1355)のうち、どのアドレ
スを選択するかを（３）式により求める。

ここで、数6.８１に整数０〜１９９を順次乗じてゆき、
選択すべきアドレスを決定してゆくのであるが、この乗
算の際に数ｉが整数化される（手順Ｐ_４）。本例では整
数化は四捨五入により行う。

このようにして選択された波形メモリの各アドレスを、
順に表示メモリの各アドレスA_L(0)〜A_L(199)に対応さ
せ、前者のアドレスのデータを後者のアドレスに格納す
る（手順Ｐ_５）。これを表にまとめると次のようにな
る。

即ち、上記表の波形メモリアドレスに格納されているデ
ータを、その左側に記載されている表示メモリアドレス
に格納する。最後に、これら格納されたデータに基づい
て液晶表示部３１に表示が行われる（手順Ｐ_６）。

このように、本実施例では、反射波のデータを一旦波形
メモリに収容し、測定範囲に応じて選択すべきアドレス
を演算により求め、そのアドレスのデータを表示するよ
うにしたので、測定範囲の設定は、単に測定範囲設定部
および音速入力部に測定範囲と音速の数値を入力するだ
けでよく、極めて簡単に、かつ、正確に行うことがで
き、測定範囲の大きさも自由に選択することができ、
又、試片も不要である。そして、測定範囲を液晶表示部
の両端のスケール間全体に正確に表示できることから、
欠陥等の位置を高い精度で検査することができる。

さらに、本実施例の構成において、反射波にずれを生じ
るにはサンプリング時間に狂いを生じた場合のみである
が、このサンプリング時間を決定するタイミング回路に
は水晶発振子が用いられているので、正確なサンプリン
グ時間が得られるとともに、温度が変動してもサンプリ
ング時間に影響を受けることなく、したがって反射波に
ずれを生じることもなく、この点からも高精度で信頼性
の高い検査を行うことができる。

なお、上記実施例の説明では、表示部として液晶表示部
を例示して説明したが、液晶表示部に限ることはなく、
プラズマ表示部等を用いることができるは明らかであ
る。

〔発明の効果〕

以上述べたように、本発明では、受信した反射波のデー
タを波形メモリに記憶させ、測定範囲に応じて選択する
各アドレスを演算により求め、これらアドレスのデータ
を表示するようにしたので、測定範囲を極めて容易、か
つ、正確に設定することができ、又、データの表示を表
示器の表示能力の限度いっぱいに効果的に行うことがで
き、さらに、測定範囲の設定後温度変化等により波形に
ずれを生じることもない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例に係る超音波探傷器のブロック
図、第２図は反射波の一部の波形図、第３図は第１図に
示す波形メモリの内容説明図、第４図は第１図に示す超
音波探傷器の動作を説明するフローチャート、第５図は
従来の超音波探傷器のブロック図、第６図は第５図に示
す掃引回路の回路図、第７図は反射波の波形図である。１……被検査物体、１ｆ……欠陥、２……超音波探触
子、５……送信部、６……受信部、２１……超音波探傷
器、２２……Ａ／Ｄ変換部、２３……波形メモリ、２４
……アドレスカウンタ、２５……タイミング回路、２６
……ＣＰＵ、２７……ＲＡＭ、２８……ＲＯＭ、２９…
…測定範囲設定部、３０……音速入力部、３１……液晶
表示部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献特開昭57−128844（ＪＰ，Ａ) 特開昭58−41538（ＪＰ，Ａ) 実開昭59−37561（ＪＰ，Ｕ)

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】超音波探触子に対して所定のパルスを出力
する送信部と、前記超音波探触子からの信号を受信する
受信部と、この受信部で受信された信号に基づいて当該
信号の波形を表示する表示部とを備えた超音波探傷器に
おいて、前記表示部を多数のドット配列で構成される表
示器で構成するとともに、前記受信部で受信された入力
信号を所定のサンプリング周期で順次アドレスに記憶す
るメモリと、前記入力信号の波形の分析に必要な測定範
囲を設定する測定範囲設定部と、被探傷物体内を伝播す
る音速を入力する音速入力部と、設定された前記測定範
囲の２倍を入力された前記音速と前記サンプリング周期
との積で除算して前記メモリにおける前記測定範囲内の
全アドレス数を演算する演算手段と、この演算手段で演
算された全アドレス数を前記表示器の時間軸方向に配列
されたドット数で除した値に基づく数の間隔毎に前記全
アドレス中の各アドレスを選択してゆくアドレス選択手
段と、このアドレス選択手段により選択されたアドレス
のデータを前記表示器に表示させる表示制御手段とを設
けたことを特徴とする超音波探傷器の測定範囲設定装
置。