JPH06139575A - 光ディスク装置および光ディスク - Google Patents

光ディスク装置および光ディスク

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JPH06139575A
JPH06139575A JP4287331A JP28733192A JPH06139575A JP H06139575 A JPH06139575 A JP H06139575A JP 4287331 A JP4287331 A JP 4287331A JP 28733192 A JP28733192 A JP 28733192A JP H06139575 A JPH06139575 A JP H06139575A
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JP
Japan
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pit
clock
signal
emission intensity
optical disk
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JP4287331A
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English (en)
Inventor
Shinichi Yamada
真一 山田
Hiromichi Ishibashi
広通 石橋
Mitsuro Moriya
充郎 守屋
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ディスクにあらかじめピットを形成してピ
ット部での反射光量に基づいてフォーカス制御およびト
ラッキング制御を行う光ディスク装置および光ディスク
における光ディスクからのクロック検出に必要なユニー
クディスタンスを確実に求める手段を提供する。 【構成】 光ピックアップ111からの集束光を、モー
タ102で一定角速度で回転する光ディスク101に照
射し、その反射光は4分割光検出器119で検出し加算
回路123,124および125で加算されてトラッキ
ングエラー検出回路でクロック用ピット検出信号137
とクロック用ピットに同期した記録用の基準クロック信
号138を発生し、発光強度調整期間設定回路139に
送り、ここで発生する記録時の半導体レーザ112の発
光強度を調整すべき期間の信号140を、ユニークディ
スタンスを発生させない期間になるよう設定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ディスクにあらかじめ
ピットを形成してピット部での反射光量に基づいてフォ
ーカス制御およびトラッキング制御を行う光ディスク装
置および光ディスクに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、大量の情報を記録し、再生できる
種々の方式の光ディスク装置が実用化されている。以下
図面に基づいて従来の光ディスク装置および光ディスク
について説明する。図11(a)は従来例のサンプルサ
ーボ用の光ディスク装置で使用する光磁気ディスクの表
面の模式図、図11(b)はその表面の反射光量の波形
図を示す。一点鎖線1101はトラック中心線を示し、
第1のトラッキング用ピット1102はこのトラック中
心線1101から図の上方へ1/4ピッチずれた位置に
配置され、第2のトラッキング用ピット1103はこの
トラック中心線1101から図の下方へ1/4ピッチず
れた位置に配置されている。このようなピット配置をウ
ォブルマークとも称する。そして第2のトラッキング用
ピット1103からユニークディスタンス(以下UDと
略称)だけ離れた点であって、トラック中心線1101
上にクロック用ピット1104が配置されている。この
ユニークディスタンスとは、再生時に第2のトラッキン
グ用ピット1103とクロック用ピット1104の間
を、集束された光ビームが走行する時間間隔で表される
時間距離であって、ピットとピットとの空間距離ではな
い。クロック用ピット1104と、その前のトラッキン
グ用ピット1103との間の部分以外にはUDと同等の
時間間隔をもって再生信号が発生するようなピット間隔
が存在しないようにして、クロック用ピットの検出を確
実にするための手段である。
【0003】以上のように構成され、つぎにその動作を
説明すると、トラッキング制御の場合、UDを利用して
クロック用ピットを検出する。すなわちクロック用ピッ
ト1104を検出して、その周期に同期し、その周期の
n倍の周波数の基準クロック信号をPLL(Phase
Locked Loop)により発生させる。この基
準クロック信号に基づいてクロック用ピット間隔と一定
の時間間隔にある位置でゲートを開いてトラッキング用
の第1および第2のピット1102,1103を検出す
る。トラッキング用の第1および第2のピット110
2,1103によるディスクからの反射光量の差に応じ
て光ビームのトラック中心からのずれを検出し、トラッ
キング制御を行う。(光ビームが正しい位置をトラッキ
ングしている場合の反射光量の変化を図11(b)の実
線で、光ビームがずれた場合の反射光量の変化を同じく
破線で示す。)以上はトラッキング制御の場合である
が、フォーカス制御に関しては説明を省略する。
【0004】光磁気ディスクの場合は、データを記録し
た場合でも記録部と未記録部で反射光量は変化しないの
で、データ記録時に前もって記録時のレーザの発光強度
を調整しても調整後のディスクからの反射光量は変化せ
ず、UDの検出に悪影響を与えることはない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】光磁気ディスクの場合
はデータを記録した場合でも記録部と未記録部で反射光
量は変化しないので、データ記録時に、前もって記録時
のレーザの発光強度を調整しても調整後のディスクから
の反射光量は変化せず、UDの検出に悪影響を与えな
い。しかし昨今、データ記録の有無で反射光量の変化す
る相変化型のディスクが実用化されつつある。この場
合、サンプルサーボ形式で相変化型ディスクを使用した
場合、記録時のレーザの発光強度の調整を行った後に、
その部分のディスクの反射光量が変化するため、たとえ
ばクロック用ピットと調整部分、調整部分とデータピッ
トの部分との間に本来のUDに近い疑似UDが生じ、真
のUDが検出できなくなったり、または擬似のUDが誤
って検出されるという事態が起こる。このため、PLL
は誤動作しトラッキング制御が不安定になるという問題
点があった。
【0006】本発明は上述した従来の問題点を改善する
ためになされたもので、相変化型光ディスクのようにデ
ータの記録部で反射率が変化する光ディスクでも安定に
フォーカス制御およびトラッキング制御が可能な光ディ
スク装置または光ディスクを提供することを目的とす
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の光ディスク装置は、記録時の発光強度の調整
期間を疑似のユニークディスタンスが発生しない期間に
なるように設定するよう構成するもので、具体的には、
少なくともトラッキング用ピットとクロック用ピットと
を有する光ディスクからの反射光から、クロック用ピッ
ト検出信号と基準クロック信号とを再生する基準クロッ
ク信号発生手段と、前記クロック用ピット検出信号と前
記基準クロック信号とを用いてクロック用ピットと発光
強度調整期間内の信号との間、および発光強度調整期間
内の信号と記録データまたは次のトラッキング用ピット
との間にユニークディスタンスを生じないように発光強
度調整期間を設定する発光強度調整期間設定手段とを有
する構成となっている。
【0008】また本発明の光ディスクは、記録時の発光
強度の調整領域にユニークディスタンスと異なる間隔で
補助ピットを形成するもので、この補助ピットは、前記
各補助ピット間、前記補助ピットとクロック用ピット間
および前記補助ピットと記録データまたは次のトラッキ
ング用ピットとの間にユニークディスタンスを生じない
ような位置に形成するよう構成する。
【0009】
【作用】本発明の光ディスク装置は上記の構成におい
て、クロック用ピットと記録時の発光強度の調整を行っ
た期間の光ディスクからの反射信号との間、また記録時
の発光強度の調整を行った期間の光ディスクからの反射
信号とデータ信号または次のトラッキング用ピットの反
射信号との間での疑似のユニークディスタンスが発生し
ないのでクロック用ピットの検出が正確に行えるように
作用することなる。
【0010】また本発明の光ディスクは上記の光ディス
クの構成において、記録時の発光強度の調整を行ったと
きは、たとえ光ディスク装置側の発光強度調整区間の部
分が短くても、上記補助ピットの存在によりクロック用
ピットと記録時の発光強度の調整を行った期間の光ディ
スクからの反射信号との間、また記録時の発光強度の調
整を行った期間の光ディスクからの反射信号とデータ信
号または次のトラッキング用ピットの反射信号との間で
の疑似ユニークディスタンスが発生しないように作用す
ることとなる。
【0011】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例の光
ディスク装置について説明する。図1に本発明の第1の
実施例である光ディスク装置のブロック図を示す。本実
施例におけるディスクは従来例で説明したのと同様のサ
ンプルサーボ形式のディスクであり、データを書き込む
ことによって反射率が低くなる相変化型の記録材料を用
いた光ディスクであるものとする。
【0012】以下、その構成と概略の動作を図2を併用
して説明すると、相変化型の記録媒体(光ディスク)1
01はモ−タ102の回転軸に取り付けられて所定の回
転数で回転されている。光ピックアップ111内におい
て半導体レ−ザ等の光源112より発生した光ビ−ム
は、カップリングレンズ113で平行光にされた後に、
偏光ビ−ムスプリッタ114、1/4波長板115を通
過し、収束レンズ116により光ディスク101上に収
束して照射されている。光ディスク101により反射さ
れた反射光は、収束レンズ116を通過して、1/4波
長板115を通過した後に偏光ビ−ムスプリッタ−11
4で反射され、集光レンズ117で集光され円筒レンズ
118で非点収差を発生させ4分割された光検出器11
9上に照射される。
【0013】収束レンズ116はアクチュエ−タ120
の可動部に取り付けられている。アクチュエ−タ120
は可動部に設けられているトラッキング用コイル121
とフォーカス用コイル122と、固定部に取り付けられ
ている永久磁石(図示せず)より構成されている。した
がってこのトラッキング用コイル121に電流を流す
と、コイルが受ける電気磁気力によって収束レンズ11
6は光ディスク101の半径方向、すなわち光ディスク
101上のトラックを横切るように(図における左右方
向に)移動する。また、フォ−カス用のコイル122に
電流を流すと、コイルが受ける電気磁気力によって収束
レンズ116は光ディスク101の面と垂直な方向に移
動できるように構成されている。収束レンズ116は光
ディスク101上に照射されている光ビ−ムが常に所定
の収束状態となるようにフォ−カス制御されている。光
ピックアップ111は光ディスク101の半径方向に移
動するように構成されているが、これらは周知の技術で
あるので詳細は省略する。
【0014】円筒レンズ118から出た光ディスク10
1からの反射光は4分割光検出器(たとえばフォトダイ
オード)119で検出される。4分割光検出器119の
2つの出力は加算器123に送られ、他の2つの出力は
加算器124に送られる。加算器125は加算器12
3,124より入力される信号を加算しトラッキング制
御用の信号134として出力する。加算器123,12
4の出力は差動増幅器126に送られ,差動増幅器12
6は入力される信号の差を増幅して出力する。
【0015】集光レンズ117、円筒レンズ118、4
分割光検出器119は一般に非点収差法と呼ばれるフォ
ーカスエラーの検出器を構成している。そのため差動増
幅器126の出力はフォーカスエラー信号132とな
る。
【0016】図2の(a)はディスク上のピットおよび
記録部分を示す模式図で(b)はディスクからの反射光
量の和を示す波形図である。トラッキング用ピット2
2,23、クロック用ピット24、発光強度調整用記録
部分25、データ部分26は、反射率が低下するので、
反射光量は(b)に示す波形となる。ピクアップ制御系
131において、光ピックアプ111から得たフォーカ
スエラー信号132はフォーカシング駆動回路133を
介して光ピックアップ111のアクチュエータ120の
フォーカス用コイル122に加えられ、アクチュエータ
120により集束レンズ116をディスク101上に焦
点を合わせるよう駆動する。トラッキングエラー検出回
路135は加算器125の出力134を用いてトラッキ
ングエラーを検出する。このトラッキングエラー信号は
トラッキング駆動回路136を介してアクチュエータ1
20のトラッキングコイル121を駆動し集束レンズ1
16を光ディスク101の半径方向に駆動させる。
【0017】またトラッキングエラー検出回路135は
光ディスク101のクロック用ピット24から検出した
クロック用ピット検出信号137(図2(c))に同期
した記録用の基準クロック信号138(図2(d))を
発生させ、発光強度調整期間設定回路139に送り、こ
こで発生する記録時の半導体レーザの発光強度を調整す
べき期間を定める発光強度調整期間信号140(図2
(e))は、後述するようにユニークディスタンス(U
D)を発生させない期間になるとうに設定される。
【0018】半導体レーザ112の発光強度を調整すべ
き期間を定める発光強度調整期間信号140はレーザ駆
動系151の発光強度調整回路152に送られる。記録
時、発光強度調整回路152は、半導体レーザ112の
記録時の発光強度を調整すべき期間の信号に応じてレー
ザ駆動回路153を介して発光強度を所定の値に調整す
る。また記録用の基準クロック信号138は同期回路1
54に送られ、同期回路154は、入力した記録信号1
55を記録用の基準クロック信号138に同期した信号
に変換する。
【0019】レーザ駆動回路153は、発光強度調整回
路152により記録時の発光強度に調整した後に同期回
路154から送られる信号に応じて半導体レーザ112
の発光をオンまたはオフする。再生中は所定の発光強度
で光ピックアップ111の半導体レーザ112を駆動す
る。
【0020】図3に図1のトラッキングエラー検出回路
135のブロック図を、図4に図3のピット検出回路3
11のブロック図を、図5に図3のユニークディスタン
ス検出回路313のブロック図を、図6にこれらの回路
の説明図を示す。図6の(a),(b)は図2の
(a),(b)と同一である。トラッキングエラー検出
回路135への入力134は図6の(b)であり、これ
をピット検出回路311のコンパレータ401で検出し
て2値化して図6(c)を得る。ユニークディスタンス
検出回路313では図5に示すように、水晶発振器31
2からのクロックパルス(図6(e))を図5の端子B
に加え、カウンタ511をカウントアップさせておき、
一方ピット検出回路311からの出力をインバータ51
2を介してカウンタ511のリセット端子へ入れてやる
とカウンタは5クロック目で出力を出して、デコーダ5
13を介し2クロック分に相当する間出力を得るモノマ
ルチ回路514により図6の波形(d)を得る。ここ
で、フリップフロップ517、インバータ516および
AND回路515は長期間にわたってピットが検出され
ない場合(たとえば未記録領域等)、カウンタ511が
再度循環して、図6(d)の波形を出力し続けるのを防
止するためのものであり、一度デコーダ513が”5”
(1001)を数えたら、クロックパルスがカウンタ5
11に入力するのを防止する。
【0021】クロック用ピット検出信号抽出回路314
はANDゲートで構成されているので、この入力がピッ
ト検出回路311の出力(図6の(c))とANDをと
って図6の(f)のクロック用ピット検出信号137を
発生し、またこれが位相比較器315、ローパスフィル
タ316、VCO(Voltage Controll
ed Oscillator)317および分周器31
8からなるPLL回路で分周されて記録用の基準クロッ
ク信号138(図2(d))を発生させる。このクロッ
ク用ピット検出信号137および基準クロック信号13
8を発生させる過程を基準クロック信号発生手段とす
る。
【0022】つぎにトラッキングエラー信号の検出につ
いて、図7を参照して説明する。図7の(a)はディス
ク上のピットの模式図を示す。このディスク上で光ビー
ムがトラック中心をずれた一点鎖線71上を移動したと
する。時間t1で第1のトラッキング用ピット72上を
通過し、時間t2で第2のトラッキング用ピット73の
図での上方を通過するとする。この場合のディスクから
の反射光量の変化を波形図7の波形(b)に示す。時間
t1での反射光量は、光ビームが第1のトラッキング用
ピット72上を通過するがために光が乱反射し、大きく
低下する。その逆に時間t2での反射光量は、光ビーム
が第2のトラッキング用ピットの図での上方を通過する
ので光の乱反射は少なく、あまり出力は低下しない。図
7の波形(c)にクロック用ピット検出信号を示す。図
7の波形(d)はクロック用ピット検出信号に同期した
周期がn分の1の基準クロック信号を示す。図7の波形
(c)のクロック用ピット検出信号137を基準にして
基準クロック信号138を計数することで第1のトラッ
キング用ピット72上またはその横を光ビームが通過す
る期間を示すゲート信号(図7の波形(e))を発生す
る。同様に第2のトラッキング用ピット73またはその
横を光ビームが通過する期間を示すゲート信号(図7の
波形(f))を発生する。図3に示したピークホールド
回路323,324は、その各端子Aに入力されるゲー
ト信号がハイレベルの期間に、その各端子Bに入力され
る信号の最低レベルをホールドし、出力する。図7に示
した波形(b)の信号が端子Bに入力された場合はピー
クホールド回路323の出力はV1となり、ピークホー
ルド回路324の出力はV2となる。図3に示した差動
増幅器326の出力は(V1−V2)に応じた値にな
り、これがトラッキングエラー信号141を示すことに
なる。
【0023】図8に発光強度調整期間設定回路139の
ブロック図を示す。カウンタ81はそのリセット端子に
インバータ82を介してクロック用ピット検出信号13
7を加えてリセットされた後、ANDゲート83を介し
て入力される基準クロック信号138をカウントする。
NANDゲート84はカウンタ81のカウント値が9に
なった場合にローレベルになるように接続されている。
また、NANDゲート85はカウンタ81のカウント値
が5になった場合にローレベルになるように接続されて
いる。フリップフロップ86はSET端子がローレベル
になると出力端子にハイレベルを出力し、RESET端
子がローレベルになると出力端子にローレベルを出力す
る。それで図2の波形(e)で示す発光強度調整期間信
号140はクロック用ピット検出信号137(図2の波
形(c))がハイレベルからローレベルに切り替わって
から基準クロック138(図2の波形(d))の5番目
の立ち上がりエッジでハイレベルになり、9番目の立ち
上がりエッジで再びローレベルになる。
【0024】このように、クロック用ピット検出信号1
37と基準クロック信号138とを用いてクロック用ピ
ットと発光強度調整期間内の信号との間、および発光強
度調整期間内の信号と記録データまたは次のトラッキン
グ用ピットとの間にユニークディスタンスを生じないよ
うに発光強度調整期間を設定する過程を発光強度調整期
間設定手段とする。
【0025】以上説明したように本実施例の光ディスク
装置によれば、少なくともトラッキング用ピットとクロ
ック用ピットとを有する光ディスクからの反射光から、
クロック用ピット検出信号と基準クロック信号とを再生
する基準クロック信号発生手段と、前記クロック用ピッ
ト検出信号と前記基準クロック信号とを用いてクロック
用ピットと発光強度調整期間内の信号、および発光強度
調整期間内の信号と記録データまたは次のトラッキング
用ピットとの間にユニークディスタンスを生じないよう
に発光強度調整期間を設定する発光強度調整期間設定手
段とを有することによって、クロック用ピットと記録時
の発光強度の調整を行った期間の光ディスクからの反射
信号との間、また記録時の発光強度の調整を行った期間
の光ディスクからの反射信号とデータ信号または次のト
ラッキング用ピットの反射信号との間での疑似のユニー
クディスタンスが発生しないのでクロック用ピットの検
出が正確に行える。
【0026】なお、装置各部分の回路はこの実施例に限
定されるものでなく、この発明の目的を達成できるもの
を用いれば良いのは当然である。
【0027】図9に本発明の第2の実施例である光ディ
スクの表面の模式図を示す。図において91は各トラッ
クの中心線であり、92,93はトラッキング用ピッ
ト、94はクロック用ピット、95は発光強度調整領域
96内に適宜間隔に設けた補助ピット95であり、補助
ピット95の相互の間隔、補助ピット95とクロック用
ピット94、補助ピット95とデータ記録領域97また
は次のトラッキング用ピット(図示せず)のデータ間の
いずれの部分においてもユニークディスタンスを生じな
いように設定されている。
【0028】図10に第1の実施例の光ディスク装置に
この図9の第2の実施例の光ディスクを用いて発光光度
調整用記録部分98を記録した場合の説明図を示す。こ
の場合模型的に発光強度調整領域の中で、発光強度調整
回路における調整が、指定された期間より短い時間で終
了してしまった場合を示す。この場合、図10の波形
(d)の破線99は、補助ピット95’が形成されてい
ない場合に発生するであろう検出波形を示す。このよう
に補助ピット95’が形成されていないと擬似のユニー
クディスタンスが検出されるが、補助ピット95’の存
在のため疑似のユニークディスタンスの検出を防止する
ことができる。
【0029】このように、第2の実施例による光ディス
クは、記録時の発光強度の調整を行ったときは、たとえ
光ディスク装置側の発光強度調整期間の部分が短くて
も、補助ピット95および95’の存在によりクロック
用ピットと記録時の発光強度の調整を行った期間の光デ
ィスクからの反射信号との間、また記録時の発光強度の
調整を行った期間の光ディスクからの反射信号とデータ
信号の反射信号または次のトラッキング用ピットとの間
での疑似ユニークディスタンスが発生しないように動作
するものである。
【0030】なお、第2の実施例の光ディスクは第1の
実施例の光ディスク装置に適用しても差し支えなく、ま
た第1の実施例のような構成を持たない光ディスク装置
に適用しても疑似のユニークディスタンスの検出を防止
することができるのは以上の説明から自明である。
【0031】また、本実施例の光ディスク装置および光
ディスクでは第2のトラッキング用ピットとクロック用
ピットとの間をユニークディスタンスとしたが、第1の
トラッキング用ピットとクロック用ピットとの間をユニ
ークディスタンスとしてもよい。またこれらの他に、特
定のピットをクロック用ピットに先行して設け、その特
定ピットとクロック用ピットとの間をユニークディスタ
ンスとしてもよく、その場合は特定ピットを検出する手
段を別途設ければよいものである。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように本発明の光ディスク
装置は、記録時の発光強度の調整期間を疑似のユニーク
ディスタンスが発生しない期間になるように設定したこ
と、具体的には、少なくともトラッキング用ピットとク
ロック用ピットとを有する光ディスクからの反射光か
ら、クロック用ピット検出信号と基準クロック信号とを
再生する基準クロック信号発生手段と、前記クロック用
ピット検出信号と前記基準クロック信号とを用いてクロ
ック用ピットと発光強度調整期間内の信号との間、およ
び発光強度調整期間内の信号と記録データまたは次のク
ロック用ピットとの間にユニークディスタンスを生じな
いように発光強度調整期間を設定する発光強度調整期間
設定手段とを有することによって、発光強度調整を行っ
ても擬似のユニークディスタンスが検出されることがな
い。
【0033】また本発明の光ディスクは、発光強度調整
領域内に適宜間隔に設けた補助ピットを有することによ
り、前記各補助ピット間、前記補助ピットとクロック用
ピット間および前記補助ピットと記録データまたは次の
クロック用ピットとの間にユニークディスタンスを生じ
ることがなく、本発明の光ディスク装置のような構成を
持たない光ディスク装置で発光強度調整を行っても擬似
のユニークディスタンスが検出されることがなく、相変
化型光ディスクのようにデータの記録部で反射率が変化
する光ディスクを用いても、安定にフォーカス制御およ
びトラッキング制御を行うことが可能な光ディスク装置
または光ディスクを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の光ディスク装置のブロ
ック図
【図2】サンプルサーボ形式を説明するための説明図
【図3】同実施例におけるトラッキングエラー検出回路
のブロック図
【図4】同実施例におけるピット検出回路のブロック図
【図5】同実施例におけるユニークディスタンス検出回
路のブロック図
【図6】同実施例におけるピット検出回路、ユニークデ
ィスタンス検出回路、クロック用ピット検出信号抽出回
路の動作を説明するための説明図
【図7】同実施例におけるトラッキング用ゲート発生回
路の動作、各部波形を示す説明図
【図8】同実施例における発光強度調整期間設定回路の
ブロック図
【図9】本発明の第2の実施例である光ディスクの表面
の模式図
【図10】第1の実施例における光ディスク装置で第2
の実施例の光ディスクを用いた場合の説明図および波形
【図11】従来例のサンプルサーボ形式を説明するため
の説明図
【符号の説明】
22,23,92,93 トラッキング用ピット 24,94 クロック用ピット 95、95’ 補助ピット 101 光ディスク(記録媒体) 111 光ピックアップ 119 4分割光検出器 131 ピックアップ駆動系 133 フォーカシング駆動回路 135 トラッキングエラー検出回路 136 トラッキング駆動回路 137 クロック用ピット検出信号 138 基準クロック信号 139 発光強度調整期間設定回路 140 発光強度調整期間信号

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】記録時の発光強度の調整期間を疑似のユニ
    ークディスタンスが発生しない期間になるように設定し
    てなる光ディスク装置。
  2. 【請求項2】少なくともトラッキング用ピットとクロッ
    ク用ピットとを有する光ディスクからの反射光から、ク
    ロック用ピット検出信号と基準クロック信号とを再生す
    る基準クロック信号発生手段と、前記クロック用ピット
    検出信号と前記基準クロック信号とを用いてクロック用
    ピットと発光強度調整期間内の信号との間、および発光
    強度調整期間内の信号と記録データまたは次のトラッキ
    ングピットとの間にユニークディスタンスを生じないよ
    うに発光強度調整期間を設定する発光強度調整期間設定
    手段とを有してなる光ディスク装置。
  3. 【請求項3】ユニークディスタンスは特定ピットとクロ
    ック用ピットとの時間距離である請求項1または2記載
    の光ディスク装置。
  4. 【請求項4】記録時の発光強度の調整領域にユニークデ
    ィスタンスと異なる間隔で補助ピットを形成してなる光
    ディスク。
  5. 【請求項5】補助ピットは、前記各補助ピット間、前記
    補助ピットとクロック用ピット間および前記補助ピット
    と記録データとの間にユニークディスタンスを生じない
    ような位置に形成してなる請求項4記載の光ディスク。
  6. 【請求項6】ユニークディスタンスを設定するための特
    定ピットをトラッキング用ピットに先行して形成してな
    る請求項4または5記載の光ディスク。
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