JPH0613383A - バンプ形成用基板の再生処理方法及び再生処理装置 - Google Patents

バンプ形成用基板の再生処理方法及び再生処理装置

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JPH0613383A
JPH0613383A JP1056392A JP1056392A JPH0613383A JP H0613383 A JPH0613383 A JP H0613383A JP 1056392 A JP1056392 A JP 1056392A JP 1056392 A JP1056392 A JP 1056392A JP H0613383 A JPH0613383 A JP H0613383A
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JP
Japan
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bump
frozen
substrate
particles
forming substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP1056392A
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English (en)
Inventor
Masanori Tsumura
正憲 津村
Keiichiro Hara
敬一郎 原
Takahiko Hiroi
孝彦 広井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taiyo Sanso Co Ltd
Original Assignee
Taiyo Sanso Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 バンプ形成用基板の再生処理を、基板上のコ
ーティング層に傷をつけることなく、しかも高能率で行
なえるようにすると共に、剥離除去したバンプを回収し
て再利用できるようにする。 【構成】 洗浄槽内に再生処理すべきバンプ形成用基板
を配設しすると共に、微凍結粒子製造装置からの平均粒
径が10〜300μmの微凍結粒子を加速用ガスにより
増速し、高速の微凍結粒子を前記バンプ形成用基板の外
表面へ噴射する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はTAB・LSI等の製造
分野に於いて利用するものであり、バンプ形成用基板の
再生処理技術の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従前からLSI等の製造には、所謂ワイ
ヤボンディング法(Wire Bonding Met
hod)とTAB法(Tape Automated
Bonding Method)とが開発されており、
後者のTAB法は、前者のワイヤボンディング法よりも
開発の歴史の古いものである。しかし、当該TAB法に
は、コストや精度の面で技術的に問題があるため、実用
化が若干遅れていた。ところが、近年液晶の発展に伴っ
てLSI等の軽量化、薄形化及び多機能化等が強く要請
されるようになり、これ等の点に於いて多くの優れた特
徴を有するTAB・LSIが次第に脚光をあびるように
なって来た。
【0003】而して、TAB・LSIの製造に於いて
は、先ずガラス板上にチタン層と白金層とを積層して成
るバンプ形成用基板に上にフォトレジスト膜を塗布し、
これにフォトリソグラフィー処理を施して所望のパター
ンを形成し、次に前記パターン上に金メッキ液を流して
Auバンプ(Bump金属粒)を形成し、その後前記A
uバンプをフィルムテープ上又はLSIチップ上へ熱圧
着することにより、基板上からAuバンプをテープ又は
LSIチップ上へ転写するようにしている。 また、所
望のパターンのAuバンプをLSIチップ上等へ転写し
た後のバンプ形成用基板は、表面に残留しているAuバ
ンプを剥離除去したあと、再利用に供されている。何故
なら、当該バンプ形成用基板は、前述の如くガラス板上
にチタン層と白金層を積層した高価なものだからであ
る。
【0004】ところで、前記残留バンプを単に剥離除去
するだけであれば、適当な機械的手段を用いることによ
り、能率的にバンプを除去することが出来る。しかし、
機械的手段に依る場合には、基板外表面の前記白金及び
チタンのコーティング層に損傷を生じることになる。そ
のため現状では、軟質の綿繊維等を用いて手作業によ
り、残留バンプの剥離除去を行っており、作業能率や基
板外表面の損傷等の点で様々な問題が残されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、従前のバン
プ形成用基板の再生処理に於ける上述の如き問題、即ち
繊維等に付着した剥離後のバンプが、基板外表面の損
傷を引き起こし易いこと、熟練者であっても、基板外
表面の損傷を皆無にすることが出来ないこと、基板の
状態によっては、完全にバンプを剥離できないことがあ
ること、基板外表面に粉塵等が付着しているため、バ
ンプの剥離後に再洗浄を必要とすること、剥離後のバ
ンプの粒径が30〜60μmと小さいため、バンプの回
収が困難なこと、等の問題を一挙に解決せんとするもの
であり、基板外表面のコーティング層に傷を生ずること
なく、簡単且つ確実に残留バンプを除去することがで
き、しかも除去したバンプを容易に回収できると共に、
バンプ除去後の基板の再洗浄を不要としたバンプ形成用
基板の再生処理方法と再生処理装置を提供するものであ
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】本件方法発明は、洗浄槽
内に再生処理すべきバンプ形成用基板を配設すると共
に、微凍結粒子製造装置からの平均粒径が10〜300
μmの微凍結粒子を加速用ガスにより増速し、高速の微
凍結粒子を前記バンプ形成用基板の外表面へ噴射するこ
とを発明の基本構成とするものである。
【0007】また、本件装置発明は、平均粒径が10〜
300μmの微凍結粒子を形成する微凍結粒子製造装置
と;排出口を備えた洗浄槽と;洗浄槽の内部に配設さ
れ、再生処理すべきバンプ形成用基板を支持するテーブ
ル装置と;洗浄槽内に配設され、前記微凍結粒子製造装
置からの微凍結粒子を加速してバンプ形成用基板上へ噴
射する微凍結粒子噴射装置とを発明の基本構成とするも
のである。
【0008】
【作用】加速用ガスを微凍結粒子噴射装置へ供給するこ
とにより、所謂エジェクター効果によって微凍結粒子製
造装置内の微凍結粒子が噴射装置内へ吸引されると共
に、加速用ガスにより増速される。噴射装置から噴出さ
れた高速の微凍結粒子が基板上に残留したバンプへ衝突
することにより、バンプが剥離され、且つ飛散される。
また、同様に基板上に付着した粉塵や汚れも微凍結粒子
によって剥離除去され、基板外表面が洗浄される。剥離
除去されたバンプ粒等は、洗浄槽の内壁面に沿って流下
するリンス液内へ突入してこれに受け止められ、洗浄槽
下方の排出口へ流下し、フィルター装置によって内部の
バンプ粒が分離回収される。尚、基板外表面のコーティ
ング層へ噴射された高速の微凍結粒子が衝突するが、微
凍結粒子の平均粒径が300μm以下であること、及び
その入射角度が約60℃以下であること等により、前記
コーティング層に傷が生ずることは全く無い。
【0009】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例を説明
する。図1は、本発明に係るバンプ形成用基板の再生処
理装置の説明図であり、図に於いて1は冷媒供給装置、
2は冷媒噴射ノズル、3は微凍結粒子製造装置、4は加
圧用ガス供給装置、5は純水タンク、6,7は流量調整
器、8はスプレーノズル、9は洗浄槽、10は加速用ガ
ス供給装置、11は微凍結粒子噴射装置、12はテーブ
ル装置、13はテーブル駆動装置、14はバンプ形成用
基板、15はリンス液噴射ノズル、16はフィルター装
置、17は排気口である。
【0010】前記冷媒供給装置1は液体窒素等の冷媒A
を供給するものであり、冷媒噴射ノズル2を通して所定
流量の冷媒Aが、断熱材3bに囲まれた微凍結粒子装置
3内へ供給される。また、供給された冷媒Aは前記装置
3内で蒸発し、この蒸発熱により装置3内が冷却され
る。一方、微凍結粒子製造装置3内へは、加圧用ガス供
給装置4からの窒素ガスBにより押し出された純水C
が、圧力・流量調整器6及びスプレーノズル8を通して
供給される。装置3内へ噴霧された純水Cは、内部の冷
媒Aと熱交換することにより凍結され、微凍結粒子Dが
形成される。尚、前記微凍結粒子Dの粒径は、スプレー
ノズル8のノズル径や純水Cの噴霧圧力を調整すること
により適宜に選定することができ、一般には、微凍結粒
子Dの平均粒径は10〜300μmに選定されている。
また、前記形成された微凍結粒子Dは、図1に示すよう
に装置3内を螺旋状に回動しつつ下降し、ホッパー3a
内へ順次集合されていく。
【0011】前記洗浄槽9は微凍結粒子製造装置3の近
傍に設置されており、その内部には微凍結粒子噴射装置
11及びテーブル装置12が夫々設けられている。ま
た、洗浄槽9の上部内壁面にはリンス液下の噴射ノズル
15が設けられており、当該ノズル15から流量調整器
7を通して所定量の純水Cが洗浄槽9内へ供給され、洗
浄槽の内壁面に沿ってリンス液F(純水C)が流下す
る。更に、洗浄槽9の下方には排気口17aと排水口1
7bへ連通する排出口17が設けられており、当該排出
口17に10〜20μmのメッシュフィルターよりなる
フィルター装置16が取付けられている。
【0012】前記微凍結粒子噴射装置11は、ガス供給
口11aと微凍結粒子吸引口11bと微凍結粒子噴射口
11cを備えた所謂エジェクター型の構成を有してお
り、微凍結粒子吸引口11bは微凍結粒子製造装置3の
ホッパ3aへ、またガス供給口11aは加速用ガス供給
装置10へ夫々管路を介して接続されている。
【0013】前記テーブル装置12は洗浄槽9内に回転
並びに移動自在に支持されており、テーブル駆動装置1
3により正・逆方向への回転並びに水平及び垂直方向へ
の移動が所定の速度で行われる。尚、当該テーブル装置
12上へはバンプ形成用基板14が載置され、適宜の方
法により固定される。また、本実施例では、前記バンプ
形成用基板14として、TAB・LSIの製造に使用す
るガラス板の表面にチタン及び白金の薄層を積層状に形
成した転写バンプ用基板が、テーブル装置12上に支持
固定されている。
【0014】次に、本発明によるバンプ形成用基板14
の再生処理について説明する。先ず、微凍結粒子製造装
置3を作動させ、その内部に所望粒径の微凍結粒子Dを
形成する。尚、微凍結粒子製造装置3そのものは公知で
あるため、その作動説明は省略する。所定量の微凍結粒
子Dが形成されると、洗浄槽9内のテーブル装置12上
に処理すべきバンプ形成用基板14をセットし、更にリ
ンス液噴射ノズル15からリンス液Fとして純水Cを放
出し、槽内壁面に沿ってリンス液Fを流下させる。次
に、加圧用ガス供給装置10から加圧用ガスEを微凍結
粒子噴射装置11へ供給する。加圧用ガスEの供給によ
り、噴射装置11内に所謂エジェクター効果による吸引
力が発生し、微凍結粒子Dが微凍結粒子製造装置3内か
ら順次吸引口11b内へ吸入される。また、吸引された
微凍結粒子Dは加圧用ガスEと共に音速に近い高速で、
バンプ形成用基板14の外表面へ向けて一定の入射角で
もって噴出される。
【0015】一方、前記基板14は、テーブル装置12
を移動させることにより所定の方向へ順次移動され、噴
射された微凍結粒子Dが衝突することにより、基板14
上に残留したバンプ(Au金属粒)が微凍結粒子による
衝撃エネルギーにより剥離除去される。前記剥離除去さ
れたバンプ粒は衝撃エネルギーによって飛散し、洗浄槽
9の内壁面に沿って流下するリンス液Fへ衝突すること
により、これに取り込まれ、リンス液Fと共に洗浄槽9
の排出口17へ集められる。尚、前記リンス液Fと一緒
に排出されて来たバンプ粒は、フィルター装置16によ
ってリンス液Fから分離され、回収される。また、リン
ス液FやガスE等は、排水口17b及び排気口17aか
ら夫々槽外へ放出されて行く。
【0016】再生処理試験の結果によれば、基板14上
に残留するバンプの粒径は通常30〜60μmの範囲内
であって、これに10〜300μmの粒径の微凍結粒子
Dを音速に近い高速で衝突させることにより、前記バン
プ粒が容易に剥離されることが確認されている。また、
残留バンプのみならず、基板14の外表面に固着した汚
れや異物も同時に剥離若しくは飛散され、基板外表面が
ほぼ完全に洗浄されると共に、基板14上のコーティン
グ層そのものは、殆ど損傷を生じないことが実証されて
いる。更に、剥離されたバンプ粒の約80〜90%を、
10〜20μmメッシュのフィルター装置16により回
収できることが確認されている。
【0017】
【発明の効果】本発明に於いては、微凍結粒子製造装置
からの平均粒径が10〜300μmの高速微凍結粒子を
バンプ形成用基板の外表面へ一定の入射角度でもって衝
突させ、これによって、基板上に残留したバンプ粒を剥
離除去する構成としている。その結果、バンプ形成用基
板の外表面には微凍結粒子が均一に衝突することにな
り、斑なくバンプを剥離除去することが出来ると共に、
付着した粉塵や汚れ等も同時に完全に除去することが出
来、後処理としての洗浄処理が不要となる。また、微凍
結粒子を一定の傾斜角をもって基板外表面へ衝突させる
ため、基板上のコーティング層にまで損傷を与えること
が無くなり、損傷の発生の全く無いバンプの剥離除去が
行なえる。また、本発明に於いては、剥離された後のバ
ンプ粒を洗浄槽の内壁面に沿って流下するリンス液内に
受止め、リンス液と共に洗浄槽下部へ排出する構成とし
ている。その結果、洗浄槽内は飛散したバンプ粒によっ
て汚損されることなく常に清浄な状態に保持され、バン
プ形成用基板のより高度なクリーニングが可能となる。
更に、本発明に於いては、洗浄槽の排出口にフィルター
装置を設け、排出されてくるリンス液内からバンプ粒
(Au粒)を分離回収する構成としている。その結果、
基板のみならずバンプ粒の再利用も可能となり、省資源
に依る大幅な経済性の向上が可能となる。加えて、本発
明に於いては、バンプの剥離除去と基板の洗浄と剥離さ
れたバンプの回収等の一連の工程を全て自動的に行うこ
とが出来る。その結果、処理能率が大幅に向上し、再生
処理費の引下げが可能となる。本発明は上述の通り、優
れた実用的効用を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るバンプ形成用基板の再生処理装置
の構成図である。
【符号の説明】
1は冷媒供給装置、2は冷媒噴射ノズル、3は微凍結粒
子製造装置、4は加圧用ガス供給装置、5は純水タン
ク、6,7は流量調整器、8はスプレーノズル、9は洗
浄槽、10は加速用ガス供給装置、11は微凍結粒子噴
射装置、12はテーブル装置、13はテーブル駆動装
置、14はバンプ形成用基板、15はリンス液噴射ノズ
ル、16はフィルター装置、17は排出口、17aは排
気口、17bは排水口、Aは冷媒、Bは加圧用ガス、C
は純水、Dは微凍結粒子、Eは加速用ガス、Fはリンス
液。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 洗浄槽内に再生処理すべきバンプ形成用
    基板を配設すると共に、微凍結粒子製造装置からの平均
    粒径が10〜300μmの微凍結粒子を加速用ガスによ
    り増速し、高速の微凍結粒子を前記バンプ形成用基板の
    外表面へ噴射することを特徴とするバンプ形成用基板の
    再生処理方法。
  2. 【請求項2】 浄化槽の上方より内壁面に沿ってリンス
    液を流下させると共に、洗浄槽内に再生処理すべきバン
    プ形成用基板を配設し、当該バンプ形成用基板の外表面
    へ、加速用ガスにより増速した平均粒径が10〜300
    μmの微凍結粒子を噴射することにより、基板の外表面
    に残留したバンプを剥離すると共に、前記剥離により飛
    散したバンプ粒をリンス液内に受け止めて浄化槽の下方
    へ流下させ、その後前記リンス液内からフィルター装置
    により、バンプ粒を分離回収することを特徴とするバン
    プ形成用基板の再生処理方法。
  3. 【請求項3】 平均粒径が10〜300μmの微凍結粒
    子を形成する微凍結粒子製造装置と;排出口を備えた洗
    浄槽と;洗浄槽の内部に配設され、再生処理すべきバン
    プ形成用基板を支持するテーブル装置と;洗浄槽内に配
    設され、前記微凍結粒子製造装置からの微凍結粒子を加
    速してバンプ形成用基板上へ噴射する微凍結粒子噴射装
    置とから成るバンプ形成用基板の再生処理装置。
  4. 【請求項4】 洗浄槽を、内壁面に沿って上方よりリン
    ス液を流下せしめると共に、下方の排出口にフィルター
    装置を設けた洗浄槽とすると共に、微凍結粒子噴射装置
    を加速用ガスのエジェクター効果により微凍結粒子を吸
    引するエジェクター型の微凍結粒子噴射装置とした請求
    項3に記載のバンプ形成用基板の再生処理方法。
JP1056392A 1992-01-24 1992-01-24 バンプ形成用基板の再生処理方法及び再生処理装置 Pending JPH0613383A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160103511A (ko) * 2015-02-24 2016-09-01 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판 처리 장치, 기판 처리 방법 및 기판 처리 방법을 실행시키는 프로그램이 기록된 기억 매체

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160103511A (ko) * 2015-02-24 2016-09-01 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판 처리 장치, 기판 처리 방법 및 기판 처리 방법을 실행시키는 프로그램이 기록된 기억 매체

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