JPH061337U - 電子部品の搬送用ディスク - Google Patents
電子部品の搬送用ディスクInfo
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- JPH061337U JPH061337U JP4604992U JP4604992U JPH061337U JP H061337 U JPH061337 U JP H061337U JP 4604992 U JP4604992 U JP 4604992U JP 4604992 U JP4604992 U JP 4604992U JP H061337 U JPH061337 U JP H061337U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 製造に際し、加工の容易性、高精度化、低コ
スト化を図り、使用に際し、電子部品の製造効率の向
上、ランニングコストの低下を図ることができる電子部
品の搬送用ディスクを提供する。 【構成】 ディスク本体2は金属を機械加工して形成す
る。ディスク本体2の外周に形成した多数の溝3の少な
くとも内面を電気絶縁材であるセラミック等から成るカ
バー4で被覆し、電子部品の収納溝7を形成する。ディ
スク本体2に金属を用いることにより、容易に、かつ高
精度に加工することができ、溝3の内面をセラミック等
のカバー4で被覆することにより、セラミック材のみか
ら成る場合の脆弱性を解消することができる。
スト化を図り、使用に際し、電子部品の製造効率の向
上、ランニングコストの低下を図ることができる電子部
品の搬送用ディスクを提供する。 【構成】 ディスク本体2は金属を機械加工して形成す
る。ディスク本体2の外周に形成した多数の溝3の少な
くとも内面を電気絶縁材であるセラミック等から成るカ
バー4で被覆し、電子部品の収納溝7を形成する。ディ
スク本体2に金属を用いることにより、容易に、かつ高
精度に加工することができ、溝3の内面をセラミック等
のカバー4で被覆することにより、セラミック材のみか
ら成る場合の脆弱性を解消することができる。
Description
【0001】
本考案は、電子部品、特に、チップ型抵抗器等のチップ型電子部品を検査、分 類、テーピング等の製造工程で搬送するのに適する搬送用ディスクに関する。
【0002】
例えば、チップ型抵抗器にあっては、その製造工程において、このチップ型抵 抗器を間歇回転する搬送用ディスクの収納溝に供給し、搬送用ディスクの間歇回 転に伴い、チップ型抵抗器を搬送する間にその抵抗値を測定する。従来、このよ うな測定等の用途に用いる搬送用ディスクにおいては、電気絶縁性が要求される ため、ガラス繊維を配合したエポキシ樹脂、若しくはジルコニアを代表とするセ ラミック材により形成している。
【0003】
ガラス繊維を配合したエポキシ樹脂を用いる場合、機械加工により切削して製 作するため、加工は容易である。しかしながら、精度を確保するのが困難であり 、結局、コストを低減することができない。しかも、摩耗が早く、一日7時間使 用すると約一週間が寿命とされている。一方、セラミック材を用いる場合、焼成 後、研磨加工するか、研磨プレートをレーザ加工して製作する。いずれの場合に も精度を確保することはできるが、難削材加工であるため、加工費が高価となり 、コストを低減することができない。また、摩耗し難いが、脆弱であり、ディス ク外周が比較的小さな外力で破損するため、メンテナンス等の取扱いに注意を要 する。また、いずれの材料を用いた場合にも摩耗、破損、精度不良等に際し、捨 てるしかなく、その交換サイクルは、通常の使用で7〜15日であり、非経済的 である。しかも、交換に要する時間も10〜30分となり、この間、製造ライン を停止させなければならず、製造現場における大きな問題となっている。
【0004】 本考案は、上記のような従来の問題を解決するものであり、製造に際し、加工 の容易性、高精度化、低コスト化を図ることができ、また、使用に際し、破損、 摩耗を少なくして交換頻度を減少させることができるとともに、容易に、かつ短 時間で交換することができ、しかも、補修して再使用することができ、したがっ て、電子部品の製造効率の向上、ランニングコストの低下等を図ることができる ようにした電子部品の搬送用ディスクを提供することを目的とするものである。
【0005】
上記目的を達成するための本考案の技術的手段は、外周に多数の溝を有する金 属製のディスク本体と、このディスク本体の少なくとも上記各溝の内面を被覆し 、電子部品を収納する収納溝を形成する電気絶縁材製のカバーとを備えたもので ある。
【0006】 そして、上記電気絶縁材製のカバーは、セラミック、ガラス、合成樹脂等を用 いることができ、例えば、セラミックを用いた場合、ディスク本体に対し、融着 、溶射等の各種方法により薄肉に一体に形成してもよく、または各種電気絶縁材 によりあらかじめディスク本体の溝の内面に適合する形状に形成し、溝に嵌め込 んで接着等により一体化してもよい。後者の場合、収納溝ごとに形成してもよく 、または複数の収納溝を有するユニットごとに形成してもよい。また、電気絶縁 材製のカバーは、ディスク本体の溝間の外周面をも被覆してもよく、ディスク本 体の全面を被覆するようにしてもよい。
【0007】
したがって、本考案によれば、ディスク本体が金属製であるので、機械加工に より形成し、少なくとも溝の内面に電気絶縁材製のカバーを設けることにより製 造することができる。また、上記のようにディスク本体に金属を用い、溝の内面 を電気絶縁材製のカバーにより被覆しているので、セラミックのみから成る場合 の脆弱性を解消して破損を防止するとともに、摩耗を少なくして交換頻度を減少 させることができ、しかも、強度を向上させて容易に、かつ短時間で交換するこ とができ、更に、補修して再使用することができる。
【0008】
以下、本考案の実施例について図面を参照しながら説明する。 まず、本考案の第1の実施例について説明する。 図1ないし図3は本考案の搬送用ディスクの第1の実施例を示し、図1(a) は一部拡大平面図、図1(b)は一部拡大断面図、図2は使用状態の概略平面図 、図3は使用状態の概略断面図である。
【0009】 図1(a)、(b)ないし図3に示すように、本実施例の搬送用ディスク1は 、金属製のディスク本体2と、このディスク本体2の外周に等間隔で多数形成さ れた溝3の内面を被覆する電気絶縁材製のカバー4とを備えている。ディスク本 体2はステンレス等の金属材が機械加工され、外周に外面と上面と下面を開放し た切欠状の多数の溝3が形成され、中央部に位置決め穴5が形成され、位置決め 穴5の外周部複数箇所に取付け穴6が形成されている。カバー4はアルミナ、炭 化ケイ素、窒化ケイ素、ジルコニア等のセラミックから成り、このセラミック粉 末がディスク本体2の各溝3の内面に融着、溶射等の所望の手段により10〜5 0μmの厚さで一体化するように被覆され、電子部品、例えば、チップ型抵抗器 Rを収納する収納溝5が形成されている。
【0010】 上記構成の本考案の搬送用ディスク1は、図2、図3から明らかなように、そ の位置決め穴5が回転軸8の上端の小径の位置決め突部8aに嵌合されて案内板 9上に載せられ、収納溝7の下面が閉塞されている。そして、各取り付け穴6か らねじ10が回転軸8に螺入されて搬送用ディスク1が回転軸8に交換可能に固 定されている。
【0011】 そして、回転軸8および本考案の搬送用ディスク1を間歇駆動源(図示省略) により間歇回転させるとともに、リニアフィーダ11を駆動することにより、リ ニアフィーダ11で直線状に移送されるチップ型抵抗器Rを搬送用ディスク1の 収納溝7に供給することができる。供給されたチップ型抵抗器Rを搬送用ディス ク1の間歇回転に伴い、順次搬送し、この間、抵抗値を測定することができる。 このとき、収納溝7の内面をセラミックから成るカバー4により被覆しているの で、チップ型抵抗器Rの絶縁性を確保して確実に測定することができる。測定後 、チップ型抵抗器Rを所望箇所で外部に排出し、次工程へ搬送することができる 。
【0012】 本考案の搬送用ディスク1は上記のように金属製のディスク本体2の溝3の内 面をセラミックから成るカバー4で被覆しているので、耐摩耗性に優れ、比較的 長期間に亘って使用することができるが、使用によりセラミックから成るカバー 4が摩耗し、若しくは損傷すると、ねじ10を外して搬送用ディスク1を回転軸 8から外し、新しい搬送用ディスク1を上記と同様にして回転軸8に取り付ける 。このとき、搬送用ディスク1は上記のようにディスク本体2が金属製で、その 溝3の内面をセラミックから成るカバー4を薄肉に形成し、セラミックのみから 成る場合の脆弱性を解消しているので、特別な注意を払うことなく、簡単に、か つ短時間で交換作業を行うことができる。外された搬送用ディスク1は金属製の ディスク本体2が摩耗していない限り、収納溝7の内面をセラミック粉末の融着 、溶射等により補修して再使用することができ、大幅なコストダウンを図ること ができる。
【0013】 次に、本考案の第2の実施例について説明する。 図4は本考案の搬送用ディスクの第2の実施例を示す一部拡大平面図である。
【0014】 本実施例の搬送用ディスク1においては、図4に示すように、金属製のディス ク本体2の各溝3の内面に、あらかじめ形成されたセラミック等の電気絶縁材か ら成るカバー12が嵌められ、接着等の手段により固定され、チップ型抵抗器R 等の収納溝7が形成されている。本実施例におけるカバー12は、上記第1の実 施例におけるカバー4よりやや肉厚に形成され、摩耗、損傷等の際には、交換す ることができるようになっている。その他の構成については上記第1の実施例と 同様であるので、その説明を省略する。
【0015】 次に、本考案の第3の実施例について説明する。 図5は本考案の搬送用ディスクの第3の実施例を示す一部拡大平面図である。
【0016】 本実施例の搬送用ディスク1においては、図5に示すように、金属製のディス ク本体2の溝3の内面を被覆するカバー13を複数個(図示例では3個)ごとに 連設部14により連設したカバーユニット15が用いられる。このカバーユニッ ト15はセラミック等から成る電気絶縁材によりあらかじめ形成され、各カバー 13が金属製のディスク本体2の溝3に嵌められ、接着等の手段により固定され 、チップ型抵抗器R等の収納溝7が形成されている。勿論、ディスク本体2にお いて、カバーユニット15の連設部14に対応する外周部は、連設部14が存在 しない部分に比べて外径が小さくなるように設定されるが、カバーユニット15 の端部に隣接するカバーユニット15に達する連設部14に相当する部分を設け た場合には、ディスク本体2の全体の外径をやや小さくなるように設定すればよ い。本実施例におけるカバーユニット15は、上記第1の実施例におけるカバー 4よりやや肉厚に形成され、摩耗、損傷等の際には、ユニットごとに交換するこ とができるようになっている。その他の構成については上記第1の実施例と同様 であるので、その説明を省略する。
【0017】 次に、本考案の第4の実施例について説明する。 図6は本考案の搬送用ディスクの第4の実施例を示す一部拡大平面図である。
【0018】 本実施例の搬送用ディスク1においては、図6に示すように、金属製のディス ク本体2の外周に等間隔で多数の溝16が形成されている。各溝16は周方向に おいて、上記各実施例における溝3の複数個(図示例では3個)分に相当する大 きさに設定されている。溝16の内面を被覆するカバーユニット17はセラミッ ク等から成る電気絶縁材により収納溝7を複数個(図示例では3個)ずつ有する ようにあらかじめ形成され、収納溝7間の連続部が肉厚に連続されて強度が向上 されている。そして、各カバーユニット17が金属製のディスク本体2の溝16 に嵌められ、接着等の手段により固定され、多数の収納溝7が等間隔に形成され ている。本実施例においても、摩耗、損傷等の際には、ユニットごとに交換する ことができる。その他の構成については上記第1、第3の実施例と同様であるの で、その説明を省略する。
【0019】 なお、本考案は、上記実施例に限定されるものではなく、その基本的技術思想 を逸脱しない範囲で種々設計変更することができる。
【0020】
以上説明したように本考案によれば、ディスク本体が金属製であるので、機械 加工により形成し、少なくともその溝の内面を電気絶縁材製のカバーで被覆する ことにより製造することができる。したがって、製造に際し、加工の容易性、高 精度化、低コスト化を図ることができる。また、上記のようにディスク本体に金 属を用い、その溝の内面を電気絶縁材製のカバーにより被覆しているので、セラ ミック材のみから成る場合の脆弱性を解消して破損を防止するとともに、摩耗を 少なくして交換頻度を減少させることができ、しかも、強度を向上させて容易に 、かつ短時間で交換することができ、更に、補修して再使用することができる。 したがって、電子部品の製造効率の向上、ランニングコストの低下等を図ること ができる。
【図1】(a)は本考案の第1の実施例における電子部
品の搬送用ディスクを示す一部拡大平面図 (b)は同搬送用ディスクを示す一部拡大断面図
品の搬送用ディスクを示す一部拡大平面図 (b)は同搬送用ディスクを示す一部拡大断面図
【図2】同搬送用ディスクの使用状態を示す概略平面図
【図3】同搬送用ディスクの使用状態を示す概略断面図
【図4】本考案の第2の実施例における電子部品の搬送
用ディスクを示す一部拡大平面図
用ディスクを示す一部拡大平面図
【図5】本考案の第3の実施例における電子部品の搬送
用ディスクを示す一部拡大平面図
用ディスクを示す一部拡大平面図
【図6】本考案の第4の実施例における電子部品の搬送
用ディスクを示す一部拡大平面図
用ディスクを示す一部拡大平面図
1 本考案の搬送用ディスク 2 ディスク本体 3 溝 4 電気絶縁材製のカバー 7 収納溝 8 回転軸 9 案内板 11 リニアフィーダ 12 電気絶縁材製のカバー 13 電気絶縁材製のカバー 15 カバーユニット 16 溝 17 カバーユニット R チップ型抵抗器(電子部品)
Claims (1)
- 【請求項1】 外周に多数の溝を有する金属製のディス
ク本体と、このディスク本体の少なくとも上記各溝の内
面を被覆し、電子部品を収納する収納溝を形成する電気
絶縁材製のカバーとを備えた電子部品の搬送用ディス
ク。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4604992U JPH0726261Y2 (ja) | 1992-06-09 | 1992-06-09 | 電子部品の搬送用ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4604992U JPH0726261Y2 (ja) | 1992-06-09 | 1992-06-09 | 電子部品の搬送用ディスク |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH061337U true JPH061337U (ja) | 1994-01-11 |
JPH0726261Y2 JPH0726261Y2 (ja) | 1995-06-14 |
Family
ID=12736172
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4604992U Expired - Lifetime JPH0726261Y2 (ja) | 1992-06-09 | 1992-06-09 | 電子部品の搬送用ディスク |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0726261Y2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001313204A (ja) * | 2000-04-28 | 2001-11-09 | Nitto Kogyo Co Ltd | チップ分離搬送装置のローター |
JP2016190732A (ja) * | 2015-03-31 | 2016-11-10 | Tdk株式会社 | 部品搬送用インデックステーブル、その製造方法および部品搬送装置 |
WO2017179363A1 (ja) * | 2016-04-14 | 2017-10-19 | 株式会社 村田製作所 | 電子部品の特性測定用の搬送装置及び電子部品の特性測定用の収容部材の製造方法 |
-
1992
- 1992-06-09 JP JP4604992U patent/JPH0726261Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001313204A (ja) * | 2000-04-28 | 2001-11-09 | Nitto Kogyo Co Ltd | チップ分離搬送装置のローター |
JP2016190732A (ja) * | 2015-03-31 | 2016-11-10 | Tdk株式会社 | 部品搬送用インデックステーブル、その製造方法および部品搬送装置 |
WO2017179363A1 (ja) * | 2016-04-14 | 2017-10-19 | 株式会社 村田製作所 | 電子部品の特性測定用の搬送装置及び電子部品の特性測定用の収容部材の製造方法 |
JPWO2017179363A1 (ja) * | 2016-04-14 | 2018-08-02 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の特性測定用の搬送装置及び電子部品の特性測定用の収容部材の製造方法 |
KR20180120727A (ko) * | 2016-04-14 | 2018-11-06 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 전자부품의 특성 측정용 반송 장치 및 전자부품의 특성 측정용 수용부재의 제조 방법 |
CN109071126A (zh) * | 2016-04-14 | 2018-12-21 | 株式会社村田制作所 | 电子部件的特性测定用的输送装置以及电子部件的特性测定用的收纳构件的制造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0726261Y2 (ja) | 1995-06-14 |
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