JPH0612942U - 微粒子測定装置 - Google Patents

微粒子測定装置

Info

Publication number
JPH0612942U
JPH0612942U JP5638792U JP5638792U JPH0612942U JP H0612942 U JPH0612942 U JP H0612942U JP 5638792 U JP5638792 U JP 5638792U JP 5638792 U JP5638792 U JP 5638792U JP H0612942 U JPH0612942 U JP H0612942U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
irradiation
cell
optical system
flow cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5638792U
Other languages
English (en)
Other versions
JP2552940Y2 (ja
Inventor
良宏 久保
陽子 荻原
訓 河野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Horiba Ltd filed Critical Horiba Ltd
Priority to JP5638792U priority Critical patent/JP2552940Y2/ja
Publication of JPH0612942U publication Critical patent/JPH0612942U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2552940Y2 publication Critical patent/JP2552940Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光源光量の低下を殆ど伴わせない合理的な改
良によって、微粒子測定装置のコストダウンまたは小型
化を図る。 【構成】 フローセル1内の観測領域Rに照射光を入射
させる照射光学系7と、照射光がセル内の試料流体中の
微粒子に照射されて生じる散乱光の検出光学系11とを備
えると共に、照射光学系7を、光源8から照射された光
を平行光にするコリメータレンズ9と、この平行光を観
測領域Rで集光させる集光レンズ10とから構成し、か
つ、フローセル1のセル窓2,3を照射光学系7の光軸
に対して傾斜させると共に、前記照射光の一部を割円状
に遮光するスリット14をセルの傾斜方向とは逆方向から
光路内に挿入させてある。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、例えば半導体の製造工程におけるウエハの洗浄などに使用される超 純水や、クリーンルームなどで使用される清浄空気などの流体に含まれた微粒子 の測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
上記の微粒子測定装置として、図5に示すように、互いに平行平板のセル窓21 ,22を備えたフローセル23と、このセル23内の観測領域Rに照射光を入射させる 照射光学系24と、前記照射光がセル23内の試料流体中の微粒子に照射されて生じ る散乱光の検出光学系(図示せず)とを備えると共に、前記照射光学系24を、光 源25から照射された光を平行光にするコリメータレンズ26と、この平行光を前記 観測領域Rにおいて集光させる集光レンズ27とから構成し、かつ、前記フローセ ル23のセル窓21,22を照射光学系24の光軸Qに対して傾斜させたものが知られて いる。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
かゝる構成の微粒子測定装置は、前記フローセル23のセル窓21,22を照射光学 系24の光軸Qに対して傾斜させて、セル窓21,22で反射した光の光源25側への戻 り光を少なくし、もって光源ノイズを低減させてS/N比を改善させるように考 慮されたものであるが、戻り光の影響を完全になくすためにはセル窓21,22の傾 斜角を大きくするか、あるいは、フローセル23を照射光学系24と光源25とから大 きく離して設置するかの何れかを選択せざるを得ず、而して、傾斜角を大きくす ると大面積のセル窓21,22を要することから装置コストが高くつき、あるいは、 フローセル23を照射光学系24と光源25とから大きく離すと装置が大型化する点で 問題があった。
【0004】 本考案は、かゝる実情に鑑みて成されたものであって、極めて簡単な改良によ って上記の不都合を伴わせずに、光源ノイズの低減ひいてはS/N比の改善が達 成されるに至った微粒子測定装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために本考案は、冒頭に記載した微粒子測定装置におい て、それの照射光学系における照射光の一部を割円状に遮光するスリットを、フ ローセルの傾斜方向とは逆方向から光路内に挿入して、当該遮光スリットによっ てセル窓からの戻り光を遮光させるようにした点に特徴がある。
【0005】
【作用】
即ち、断面強度がガウシャン分布を呈する照射光の裾の一部を遮光させて、そ の遮光部分に戻り光を照射させるものであって、これによって照射光学系の光軸 に対するセル窓の緩傾斜化が達成され、これによってセル窓の小径化あるいは光 源に対するフローセルの近接設置が可能となる。
【0006】
【実施例】
以下、本考案の実施例を図面に基づいて説明する。図1,2は微粒子測定装置 の原理図を示し、1は互いに平行平板のセル窓2,3を備えたフローセルで、セ ル窓2,3が相対する方向と直交する方向の側部には散乱光検出窓4が設けられ ている。 5はフローセル1の下部に形成された試料流体の導入口、6はフローセル1の 上部に形成された試料流体の導出口である。 7はフローセル1内の観測領域Rに照射光を入射させる照射光学系で、例えば 半導体レーザーからなる光源8と、この光源8から照射された光を平行光にする コリメータレンズ9と、上記の平行光を前記観測領域Rにおいて集光させる集光 レンズ10とから成る。 11は前記散乱光検出窓4と相対してフローセル1外に設けられた検出光学系で 、試料流体の微粒子から生じた散乱光を集光する集光レンズ12と、散乱光を検出 する光検出器13とから成る。
【0007】 上記構成の微粒子測定装置においては、前記導入口5を通してフローセル1内 の観測領域Rに試料流体を導入させると共に、集光レンズ10によって集光させた レーザ光を、前記観測領域Rを流れる試料流体の中心部に向けて照射させるので あり、このとき、試料流体に微粒子が含まれていると、その微粒子によって散乱 された光が集光レンズ12で集光され、これが光検出器13によって検出されるもの で、この光検出器13からの出力信号に基づいて微粒子数がカウントされ、かつ、 その粒度分布が測定されるのである。
【0008】 かゝる構成の微粒子測定装置において、図3にも示すように、前記フローセル 1のセル窓2,3を例えば下向きに傾斜させる一方、光源8からフローセル1に 至る照射光学系7の光路途中、具体的にはコリメータレンズ9と集光レンズ10と の間に、その間の平行光の一部を割円状に遮光するスリット14をフローセル1の 傾斜方向とは逆方向から光路内に挿入している。 尚、上記の遮光スリット14は、受光面部分を斜めにカットさせたナイフエッジ の形状を呈し、斜めの受光面14aで反射した光を両レンズ9,10間から上方に逃 がすようにして、反射光を光源8側に戻させないようにしている。
【0009】 かゝる構成によれば、図4に示すように、集光レンズ10からの照射光の下部側 aが一部カットされて観測領域Rに照射されると共に、セル窓2,3の内外面で 反射して集光レンズ10側に戻ってくる光(便宜上、入射側のセル窓2の外面で反 射した光のみを図示する。)も一部(上部側)bがカットされた状態となる。 而して、照射光ならびに戻り光を重ならせない状態で、カットされた遮光部分 a,bを互いの光路内に入り込ませるように、前記フローセル1のセル窓2,3 を照射光学系7の光軸Qに対して傾斜させることによって、図3,5に照らして 明らかなように、光源8側への戻り光の入り込みを確実に防止させた状態で、セ ル窓2,3の緩傾斜化ならびに小径化が達成される。 あるいは、セル窓2,3の緩傾斜化だけを選択するならば、集光レンズ10に対 するフローセル1の近接設置ひいては装置の小型化が達成されるのであり、勿論 、セル窓2,3の適度な緩傾斜化によって、セル窓2,3の小径化と装置の小型 化を図る折衷形態をとることも可能である。
【0010】 しかも、遮光スリット14によって照射光の一部をカットさせる形態をとりなが らも、その照射光の断面強度がガウシャン分布を呈することから、その周囲の裾 の一部をカットしても光源光量の低下は極めて少なく、光量面で微粒子測定に悪 影響が及ぶことは殆どない。 尚、上記の遮光スリット14を集光レンズ10の下流側に設置させる形態とするも よく、かつ、当該遮光スリット14を光路への挿入方向に位置変更自在と成すもよ い。
【0011】
【考案の効果】
以上説明したように本考案は、断面強度がガウシャン分布を呈する照射光の裾 の一部を遮光させて、その遮光部分に戻り光を照射させるようにした合理的な改 良によって、光源光量の低下を殆ど伴わせないで戻り光を完全に遮光させて、光 源ノイズの低減によるS/N比の改善を図りながら、セル窓の緩傾斜化による小 径化あるいは光源に対するフローセルの近接設置が可能となり、これによって装 置のコストダウンまたは小型化が達成されるに至ったのである。
【図面の簡単な説明】
【図1】微粒子測定装置の原理的な平面図である。
【図2】微粒子測定装置の原理的な側面図である。
【図3】一部がカットされた照射光と戻り光の光学説明
図である。
【図4】図3におけるV−V線視の光学説明図である。
【図5】従来例の微粒子測定装置の照射光と戻り光の光
学説明図である。
【符号の説明】
1…フローセル、2,3…セル窓、7…照射光学系、8
…光源、9…コリメータレンズ、10…集光レンズ、11…
検出光学系、14…遮光スリット、Q…光軸、R…観測領
域。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 平行平板のセル窓を備えたフローセル
    と、このセル内の観測領域に照射光を入射させる照射光
    学系と、前記照射光がセル内の試料流体中の微粒子に照
    射されて生じる散乱光の検出光学系とを備えると共に、
    前記照射光学系を、光源から照射された光を平行光にす
    るコリメータレンズと、この平行光を前記観測領域にお
    いて集光させる集光レンズとから構成し、かつ、前記フ
    ローセルのセル窓を照射光学系の光軸に対して傾斜させ
    て成る微粒子測定装置において、前記照射光の一部を割
    円状に遮光するスリットをセルの傾斜方向とは逆方向か
    ら光路内に挿入して、当該遮光スリットによってセル窓
    からの戻り光を遮光させるように構成してあることを特
    徴とする微粒子測定装置。
JP5638792U 1992-07-18 1992-07-18 微粒子測定装置 Expired - Fee Related JP2552940Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5638792U JP2552940Y2 (ja) 1992-07-18 1992-07-18 微粒子測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5638792U JP2552940Y2 (ja) 1992-07-18 1992-07-18 微粒子測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0612942U true JPH0612942U (ja) 1994-02-18
JP2552940Y2 JP2552940Y2 (ja) 1997-11-05

Family

ID=13025839

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5638792U Expired - Fee Related JP2552940Y2 (ja) 1992-07-18 1992-07-18 微粒子測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2552940Y2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011220947A (ja) * 2010-04-14 2011-11-04 Hitachi Engineering & Services Co Ltd 微生物検査装置及び微生物検査チップ
JP2016540998A (ja) * 2013-12-06 2016-12-28 バクテリオスキャン エルティーディー 試料チャンバを有する光学測定キュベット
JP2020030112A (ja) * 2018-08-23 2020-02-27 富士電機株式会社 レーザ分析計
CN112469985A (zh) * 2018-07-26 2021-03-09 株式会社岛津制作所 光散射检测装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011220947A (ja) * 2010-04-14 2011-11-04 Hitachi Engineering & Services Co Ltd 微生物検査装置及び微生物検査チップ
JP2016540998A (ja) * 2013-12-06 2016-12-28 バクテリオスキャン エルティーディー 試料チャンバを有する光学測定キュベット
JP2019090829A (ja) * 2013-12-06 2019-06-13 バクテリオスキャン エルティーディー 試料チャンバを有する光学測定キュベット
US11801507B2 (en) 2013-12-06 2023-10-31 Ip Specialists Ltd. Cuvette assembly having chambers for containing samples to be evaluated through optical measurement
CN112469985A (zh) * 2018-07-26 2021-03-09 株式会社岛津制作所 光散射检测装置
JP2020030112A (ja) * 2018-08-23 2020-02-27 富士電機株式会社 レーザ分析計

Also Published As

Publication number Publication date
JP2552940Y2 (ja) 1997-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101451983B1 (ko) 연기 감지기
US5565984A (en) Re-entrant illumination system for particle measuring device
JP4157212B2 (ja) 光散乱式粒子検知センサ
JPH0612942U (ja) 微粒子測定装置
JP5366728B2 (ja) 液体中の粒子のサイズの検出方法および装置
US7119899B2 (en) Particle sensor system
JPS6335395Y2 (ja)
JPH0612943U (ja) 微粒子測定装置
JP2001021480A (ja) フローセル及びこのフローセルを用いた粒子測定装置
US20020030815A1 (en) Light scattering type particle detector
JPH02168138A (ja) 微粒子測定装置
JPH06221989A (ja) 光散乱式微粒子検出装置
JPH0565020B2 (ja)
JPH08263767A (ja) 微粒子検出センサ
JPH01263534A (ja) 微粒子計数装置
JP2595315B2 (ja) 光散乱式計測装置
JPH11213263A (ja) 光散乱式粒子検知センサ
AU2011218748B2 (en) Smoke detector
JP2755393B2 (ja) 小型粒子束モニタ
JPH04174344A (ja) 微粒子検出装置
JPH05240769A (ja) 粒子計数装置
JP2845041B2 (ja) パーティクル計数装置
JP2002250692A (ja) 混入物を含む油水の油分濃度測定装置および測定方法
JPH0136109Y2 (ja)
JPH04145311A (ja) 高さ測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees