JPH0612534A - 磁気カ−ドの不正使用防止方法 - Google Patents
磁気カ−ドの不正使用防止方法Info
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- JPH0612534A JPH0612534A JP4191315A JP19131592A JPH0612534A JP H0612534 A JPH0612534 A JP H0612534A JP 4191315 A JP4191315 A JP 4191315A JP 19131592 A JP19131592 A JP 19131592A JP H0612534 A JPH0612534 A JP H0612534A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 28
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- 239000006247 magnetic powder Substances 0.000 claims 1
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁気カ−ドの生産が容易であり、汚れに強
く、非接触検出でエンボス、磁気ストライプ上でも検出
可能であり、透過式光センサを設けるのみでカ−ドリ−
ダがコスト高にならず、確実に偽造や改ざんされた磁気
カ−ドを検出出来てセキュリティ−を向上出来ること。 【構成】 磁気カ−ド１は、紙や塩化ビニ−ル等の合成
樹脂製カ−ドベ−ス２、３の間に金属粉４がランダムに
混入された塩化ビニ−ル等の合成樹脂製中間材５が挟み
込まれて固定されている。磁気カ−ド１の一側表面には
磁気ストライプ６が設けられている。磁気カ−ドリ−ダ
は、磁気ヘッド13の側方のカ−ド走行路9a上方に高輝度
ＬＥＤやレ−ザダイオ−ド等の透過式光センサ14が配置
され、カ−ド走行路9aの下方にフォトトランジスタ15が
配置されている。磁気ヘッド13には情報が記録・読み取
りされる図示しない回路が接続されると共に、比較判定
回路16が接続されている。更にフォトトランジスタ15は
比較判定回路16に接続されている。
く、非接触検出でエンボス、磁気ストライプ上でも検出
可能であり、透過式光センサを設けるのみでカ−ドリ−
ダがコスト高にならず、確実に偽造や改ざんされた磁気
カ−ドを検出出来てセキュリティ−を向上出来ること。 【構成】 磁気カ−ド１は、紙や塩化ビニ−ル等の合成
樹脂製カ−ドベ−ス２、３の間に金属粉４がランダムに
混入された塩化ビニ−ル等の合成樹脂製中間材５が挟み
込まれて固定されている。磁気カ−ド１の一側表面には
磁気ストライプ６が設けられている。磁気カ−ドリ−ダ
は、磁気ヘッド13の側方のカ−ド走行路9a上方に高輝度
ＬＥＤやレ−ザダイオ−ド等の透過式光センサ14が配置
され、カ−ド走行路9aの下方にフォトトランジスタ15が
配置されている。磁気ヘッド13には情報が記録・読み取
りされる図示しない回路が接続されると共に、比較判定
回路16が接続されている。更にフォトトランジスタ15は
比較判定回路16に接続されている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気カ−ドの不正使用
防止方法に関する。
防止方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年クレジットカ−ド、プリペイドカ−
ド等の目覚ましい普及で磁気カ−ドリ−ダのセキュリテ
ィ−の確保が強く要求されている。これに応えて種々の
提案がなされ、一部実用化されているが、市場性とセキ
ュリティ−の面で不十分で、提案の中に例えば特表昭63
−501250号公報がある。この公報では、磁気カ−ド内に
ステンレスファイバ−をランダムに混入し、それをマイ
クロ波により読み取ることによりセキュリティ−を向上
させたカ−ド及びシステムが示されている。
ド等の目覚ましい普及で磁気カ−ドリ−ダのセキュリテ
ィ−の確保が強く要求されている。これに応えて種々の
提案がなされ、一部実用化されているが、市場性とセキ
ュリティ−の面で不十分で、提案の中に例えば特表昭63
−501250号公報がある。この公報では、磁気カ−ド内に
ステンレスファイバ−をランダムに混入し、それをマイ
クロ波により読み取ることによりセキュリティ−を向上
させたカ−ド及びシステムが示されている。
【０００３】上記公報の構成では、磁気カ−ド内に混
入したステンレスファイバ−が細いので光センサでは明
暗が出ず、光検出が不能で検出にマイクロ波センサが必
要でコスト高になる欠点がある。マイクロ波センサと
カ−ドの隙間寸法が特性に大きく影響する欠点がある。
凹凸になるエンボス部では接触若しくは微小ギャップ
の為検出が出来ない欠点がある。マイクロ波を使用す
ると、電波法で漏れの規定があって、カ−ドリ−ダ、特
に手動式カ−ドリ−ダで規定を満足することが困難であ
る。
入したステンレスファイバ−が細いので光センサでは明
暗が出ず、光検出が不能で検出にマイクロ波センサが必
要でコスト高になる欠点がある。マイクロ波センサと
カ−ドの隙間寸法が特性に大きく影響する欠点がある。
凹凸になるエンボス部では接触若しくは微小ギャップ
の為検出が出来ない欠点がある。マイクロ波を使用す
ると、電波法で漏れの規定があって、カ−ドリ−ダ、特
に手動式カ−ドリ−ダで規定を満足することが困難であ
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】解決しようとする問題
点は、マイクロ波センサが必要でコスト高になり、マイ
クロ波センサとカ−ドの隙間寸法が特性に大きく影響
し、エンボス部では検出が出来ないことである。本発明
の目的は上記欠点に鑑み、透過式光センサで検出可能な
磁気カ−ドの生産が容易であり、透過式光センサ利用の
検出で汚れに強く、非接触検出でエンボス、磁気ストラ
イプ上でも検出可能であり、透過式光センサを設けるの
みでカ−ドリ−ダがコスト高にならず、確実に偽造や改
ざんされた磁気カ−ドを検出出来てセキュリティ−を向
上出来る磁気カ−ドの不正使用防止方法を提案すること
である。
点は、マイクロ波センサが必要でコスト高になり、マイ
クロ波センサとカ−ドの隙間寸法が特性に大きく影響
し、エンボス部では検出が出来ないことである。本発明
の目的は上記欠点に鑑み、透過式光センサで検出可能な
磁気カ−ドの生産が容易であり、透過式光センサ利用の
検出で汚れに強く、非接触検出でエンボス、磁気ストラ
イプ上でも検出可能であり、透過式光センサを設けるの
みでカ−ドリ−ダがコスト高にならず、確実に偽造や改
ざんされた磁気カ−ドを検出出来てセキュリティ−を向
上出来る磁気カ−ドの不正使用防止方法を提案すること
である。
【０００５】
【問題を解決するための手段】本発明は、磁気カ−ドに
金属粉を混入し、磁気カ−ドの所定位置を透過式光セン
サで検出して、その出力を上記カ−ドに磁気記録してお
き、カ−ドリ−ダに上記位置と対応させて透過式光セン
サを設け、カ−ド使用時に光センサの出力を磁気記録値
と比較するようにしたことを要旨とするものである。
金属粉を混入し、磁気カ−ドの所定位置を透過式光セン
サで検出して、その出力を上記カ−ドに磁気記録してお
き、カ−ドリ−ダに上記位置と対応させて透過式光セン
サを設け、カ−ド使用時に光センサの出力を磁気記録値
と比較するようにしたことを要旨とするものである。
【０００６】
【作用】磁気カ−ド１が発行される時は、磁気カ−ド１
が磁気カ−ドリ−ダのカ−ド挿入口9bからカ−ド走行路
9aに挿入される。磁気カ−ド１がカ−ド走行路9a内を走
行されて透過式光センサ14の光が照射されると、磁気カ
−ド１を透過してフォトトランジスタ15に入射される。
透過式光センサ14の光が磁気カ−ド１を透過する時、そ
の経路に金属粉４があると、その部分は光が透過されな
いので図３のような出力波形ａがフォトトランジスタ15
から出力される。出力波形ａは情報が記録・読み取りさ
れる図示しない回路と磁気ヘッド13を通して磁気ストラ
イプ６に記録される。磁気カ−ド１が使用される時は、
磁気カ−ド１が発行される時と同様に、磁気カ−ド１が
磁気カ−ドリ−ダのカ−ド挿入口9bからカ−ド走行路9a
に挿入される。磁気カ−ド１がカ−ド走行路9a内を走行
されて透過式光センサ14の光が照射されると、光は磁気
カ−ド１を透過してフォトトランジスタ15に入射され
る。透過式光センサ14の光が磁気カ−ド１を透過する
時、その経路に金属粉４があると、その部分は光が透過
されないので図３のような出力波形ａがフォトトランジ
スタ15から出力される。同時に磁気ストライプ６に記録
された波形の記録値が磁気ヘッド13で読み取られる。上
記出力波形ａと磁気ストライプ６に記録された波形の記
録値は比較判定回路16で比較判定されて一致した時は、
磁気カ−ドが偽造や改ざんされていない正しいカ−ドと
判定する。
が磁気カ−ドリ−ダのカ−ド挿入口9bからカ−ド走行路
9aに挿入される。磁気カ−ド１がカ−ド走行路9a内を走
行されて透過式光センサ14の光が照射されると、磁気カ
−ド１を透過してフォトトランジスタ15に入射される。
透過式光センサ14の光が磁気カ−ド１を透過する時、そ
の経路に金属粉４があると、その部分は光が透過されな
いので図３のような出力波形ａがフォトトランジスタ15
から出力される。出力波形ａは情報が記録・読み取りさ
れる図示しない回路と磁気ヘッド13を通して磁気ストラ
イプ６に記録される。磁気カ−ド１が使用される時は、
磁気カ−ド１が発行される時と同様に、磁気カ−ド１が
磁気カ−ドリ−ダのカ−ド挿入口9bからカ−ド走行路9a
に挿入される。磁気カ−ド１がカ−ド走行路9a内を走行
されて透過式光センサ14の光が照射されると、光は磁気
カ−ド１を透過してフォトトランジスタ15に入射され
る。透過式光センサ14の光が磁気カ−ド１を透過する
時、その経路に金属粉４があると、その部分は光が透過
されないので図３のような出力波形ａがフォトトランジ
スタ15から出力される。同時に磁気ストライプ６に記録
された波形の記録値が磁気ヘッド13で読み取られる。上
記出力波形ａと磁気ストライプ６に記録された波形の記
録値は比較判定回路16で比較判定されて一致した時は、
磁気カ−ドが偽造や改ざんされていない正しいカ−ドと
判定する。
【０００７】
【実施例】以下、図示の実施例で本発明を説明する。図
１は磁気カ−ドが生産される工程を示す斜視図、図２は
磁気カ−ドの斜視図、図３はカ−ドリ−ダの要部と磁気
カ−ド検出構成を示す説明図である。
１は磁気カ−ドが生産される工程を示す斜視図、図２は
磁気カ−ドの斜視図、図３はカ−ドリ−ダの要部と磁気
カ−ド検出構成を示す説明図である。
【０００８】図１、図２で磁気カ−ド１は、紙や塩化ビ
ニ−ル等の合成樹脂製カ−ドベ−ス２、３の間に金属粉
４がランダムに混入された塩化ビニ−ル等の合成樹脂製
中間材５が挟み込まれて固定されている。磁気カ−ド１
の一側表面には磁気ストライプ６が設けられている。中
間材５は図１のように、予め金属片や金属粉４がランダ
ムに混入された塩化ビニ−ル樹脂を圧延ロ−ラ７とロ−
ラ８で薄く圧延してカ−ドベ−ス２、３の間に挟んで固
定される。
ニ−ル等の合成樹脂製カ−ドベ−ス２、３の間に金属粉
４がランダムに混入された塩化ビニ−ル等の合成樹脂製
中間材５が挟み込まれて固定されている。磁気カ−ド１
の一側表面には磁気ストライプ６が設けられている。中
間材５は図１のように、予め金属片や金属粉４がランダ
ムに混入された塩化ビニ−ル樹脂を圧延ロ−ラ７とロ−
ラ８で薄く圧延してカ−ドベ−ス２、３の間に挟んで固
定される。
【０００９】磁気カ−ドリ−ダは、例えば図３で基枠９
に磁気カ−ド１のカ−ド走行路9aが設けられている。カ
−ド走行路9aの右端にカ−ド挿入口9bが形成されてい
る。紙面に垂直方向の前後の基枠９にカ−ド送りロ−ラ
10、11が回転自在に軸承されて図示しないモ−タで回転
される。カ−ド送りロ−ラ10の上側の基枠９にカ−ド送
りロ−ラ10に対向してロ−ラ12が設けられ、カ−ド送り
ロ−ラ11に対向して磁気ヘッド13が配置されている。磁
気ヘッド13の側方のカ−ド走行路9a上方には高輝度ＬＥ
Ｄやレ−ザダイオ−ド等の透過式光センサ14が配置さ
れ、カ−ド走行路9aの下方にフォトトランジスタ15が配
置されている。磁気ヘッド13には磁気ストライプ６に情
報が記録・読み取りされる図示しない回路が接続される
と共に、比較判定回路16が接続されている。更にフォト
トランジスタ15は比較判定回路16に接続されている。
に磁気カ−ド１のカ−ド走行路9aが設けられている。カ
−ド走行路9aの右端にカ−ド挿入口9bが形成されてい
る。紙面に垂直方向の前後の基枠９にカ−ド送りロ−ラ
10、11が回転自在に軸承されて図示しないモ−タで回転
される。カ−ド送りロ−ラ10の上側の基枠９にカ−ド送
りロ−ラ10に対向してロ−ラ12が設けられ、カ−ド送り
ロ−ラ11に対向して磁気ヘッド13が配置されている。磁
気ヘッド13の側方のカ−ド走行路9a上方には高輝度ＬＥ
Ｄやレ−ザダイオ−ド等の透過式光センサ14が配置さ
れ、カ−ド走行路9aの下方にフォトトランジスタ15が配
置されている。磁気ヘッド13には磁気ストライプ６に情
報が記録・読み取りされる図示しない回路が接続される
と共に、比較判定回路16が接続されている。更にフォト
トランジスタ15は比較判定回路16に接続されている。
【００１０】磁気カ−ド１が発行される時は、磁気カ−
ド１が磁気カ−ドリ−ダのカ−ド挿入口9bからカ−ド走
行路9aに挿入される。磁気カ−ド１がカ−ド走行路9a内
を走行されて透過式光センサ14の光が照射されると、磁
気カ−ド１を透過してフォトトランジスタ15に入射され
る。透過式光センサ14の光が磁気カ−ド１を透過する
時、その経路に金属粉４があると、その部分は光が透過
されないので図３のような出力波形ａがフォトトランジ
スタ15から出力される。出力波形ａは情報が記録・読み
取りされる図示しない回路と磁気ヘッド13を通して磁気
ストライプ６に記録される。
ド１が磁気カ−ドリ−ダのカ−ド挿入口9bからカ−ド走
行路9aに挿入される。磁気カ−ド１がカ−ド走行路9a内
を走行されて透過式光センサ14の光が照射されると、磁
気カ−ド１を透過してフォトトランジスタ15に入射され
る。透過式光センサ14の光が磁気カ−ド１を透過する
時、その経路に金属粉４があると、その部分は光が透過
されないので図３のような出力波形ａがフォトトランジ
スタ15から出力される。出力波形ａは情報が記録・読み
取りされる図示しない回路と磁気ヘッド13を通して磁気
ストライプ６に記録される。
【００１１】磁気カ−ド１が使用される時は、磁気カ−
ド１が発行される時と同様に、磁気カ−ド１が磁気カ−
ドリ−ダのカ−ド挿入口9bからカ−ド走行路9aに挿入さ
れる。磁気カ−ド１がカ−ド走行路9a内を走行されて透
過式光センサ14の光が照射されると、光は磁気カ−ド１
を透過してフォトトランジスタ15に入射される。透過式
光センサ14の光が磁気カ−ド１を透過する時、その経路
に金属粉４があると、その部分は光が透過されないので
図３のような出力波形ａがフォトトランジスタ15から出
力される。同時に磁気ストライプ６に記録された波形の
記録値が磁気ヘッド13で読み取られる。上記出力波形ａ
と磁気ストライプ６に記録された波形の記録値は比較判
定回路16で比較判定されて一致した時は、磁気カ−ドが
偽造や改ざんされていない正しいカ−ドと判定する。
ド１が発行される時と同様に、磁気カ−ド１が磁気カ−
ドリ−ダのカ−ド挿入口9bからカ−ド走行路9aに挿入さ
れる。磁気カ−ド１がカ−ド走行路9a内を走行されて透
過式光センサ14の光が照射されると、光は磁気カ−ド１
を透過してフォトトランジスタ15に入射される。透過式
光センサ14の光が磁気カ−ド１を透過する時、その経路
に金属粉４があると、その部分は光が透過されないので
図３のような出力波形ａがフォトトランジスタ15から出
力される。同時に磁気ストライプ６に記録された波形の
記録値が磁気ヘッド13で読み取られる。上記出力波形ａ
と磁気ストライプ６に記録された波形の記録値は比較判
定回路16で比較判定されて一致した時は、磁気カ−ドが
偽造や改ざんされていない正しいカ−ドと判定する。
【００１２】上記のように金属粉４がランダムに混入さ
れた磁気カ−ド１を製作して透過式光センサ14とフォト
トランジスタ15が配置された磁気カ−ドリ−ダで走行
し、フォトトランジスタ15の出力波形ａと磁気ストライ
プ６に記録された波形の記録値の比較で偽造や改ざんさ
れた磁気カ−ドかどうかが容易に確認される。
れた磁気カ−ド１を製作して透過式光センサ14とフォト
トランジスタ15が配置された磁気カ−ドリ−ダで走行
し、フォトトランジスタ15の出力波形ａと磁気ストライ
プ６に記録された波形の記録値の比較で偽造や改ざんさ
れた磁気カ−ドかどうかが容易に確認される。
【００１３】上記金属片や金属粉４は磁性、非磁性を問
わず、非磁性の方が好ましい。上記高輝度ＬＥＤやレ−
ザダイオ−ド等の透過式光センサ14が使用されると、現
在普及しているプラスチックカ−ドは十分な透過光が得
られ、エンボスでも変わらず、磁気ストライプ６でも光
量が減るものの透過光が得られる。
わず、非磁性の方が好ましい。上記高輝度ＬＥＤやレ−
ザダイオ−ド等の透過式光センサ14が使用されると、現
在普及しているプラスチックカ−ドは十分な透過光が得
られ、エンボスでも変わらず、磁気ストライプ６でも光
量が減るものの透過光が得られる。
【００１４】上記のように磁気カ−ドの不正使用防止方
法が構成されると、透過式光センサ14で検出可能な磁気
カ−ド１の生産が容易であり、金属片や金属粉４を混入
して透過式光センサで検出するので汚れ等の影響も少な
く、非接触検出でエンボス、磁気ストライプ６上でも検
出可能であり、透過式光センサ14を設けるのみでカ−ド
リ−ダがコスト高にならない。
法が構成されると、透過式光センサ14で検出可能な磁気
カ−ド１の生産が容易であり、金属片や金属粉４を混入
して透過式光センサで検出するので汚れ等の影響も少な
く、非接触検出でエンボス、磁気ストライプ６上でも検
出可能であり、透過式光センサ14を設けるのみでカ−ド
リ−ダがコスト高にならない。
【００１５】上記説明では、透過式光センサ14を磁気ヘ
ッド13の側方のカ−ド走行路9a上方に、フォトトランジ
スタ15をカ−ド走行路9aの下方に配置したが、透過式光
センサ14はカ−ド走行路9a上方であれば何処に設けても
よい。又、磁気カ−ドをカ−ドベ−ス間に中間材を挟ん
だ構成としたが、中間材のみでカ−ドとしてもよい。
ッド13の側方のカ−ド走行路9a上方に、フォトトランジ
スタ15をカ−ド走行路9aの下方に配置したが、透過式光
センサ14はカ−ド走行路9a上方であれば何処に設けても
よい。又、磁気カ−ドをカ−ドベ−ス間に中間材を挟ん
だ構成としたが、中間材のみでカ−ドとしてもよい。
【００１６】
【発明の効果】本発明は上述のように構成されたから、
磁気カ−ドの生産が容易であり、検出において汚れ等の
影響も少なく、非接触検出でエンボス、磁気ストライプ
上でも検出可能であり、透過式光センサを設けるのみで
カ−ドリ−ダがコスト高にならず、確実に偽造や改ざん
た磁気カ−ドを容易に検出出来てセキュリティ−を向上
出来る等優れた効果を奏する磁気カ−ドの不正使用防止
方法を提供することが出来る。
磁気カ−ドの生産が容易であり、検出において汚れ等の
影響も少なく、非接触検出でエンボス、磁気ストライプ
上でも検出可能であり、透過式光センサを設けるのみで
カ−ドリ−ダがコスト高にならず、確実に偽造や改ざん
た磁気カ−ドを容易に検出出来てセキュリティ−を向上
出来る等優れた効果を奏する磁気カ−ドの不正使用防止
方法を提供することが出来る。
【図１】磁気カ−ドが生産される工程を示す斜視図であ
る。
る。
【図２】磁気カ−ドの斜視図である。
【図３】カ−ドリ−ダの要部と磁気カ−ド検出構成を示
す説明図である。
す説明図である。
１ 磁気カ−ド ４ 金属粉 14 透過式光センサ
Claims (1)
- 【請求項１】 磁気カ−ドに金属粉を混入し、磁気カ−
ドの所定位置を透過式光センサで検出して、その出力を
上記カ−ドに磁気記録しておき、カ−ドリ−ダに上記位
置と対応させて透過式光センサを設け、カ−ド使用時に
光センサの出力を磁気記録値と比較するようにした磁気
カ−ドの不正使用防止方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4191315A JPH0612534A (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | 磁気カ−ドの不正使用防止方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4191315A JPH0612534A (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | 磁気カ−ドの不正使用防止方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0612534A true JPH0612534A (ja) | 1994-01-21 |
Family
ID=16272518
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4191315A Pending JPH0612534A (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | 磁気カ−ドの不正使用防止方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0612534A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6221597A (ja) * | 1985-07-22 | 1987-01-29 | 株式会社東芝 | 情報記憶媒体 |
| JPS63501250A (ja) * | 1985-09-19 | 1988-05-12 | エヌ・ブイ・ベカルト・エス・エ− | 書類の真正さをチェックする装置並びに方法及びそれに使用する書類 |
| JPH03282690A (ja) * | 1990-03-29 | 1991-12-12 | Omron Corp | カードセキュリティシステム |
-
1992
- 1992-06-26 JP JP4191315A patent/JPH0612534A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980421 |