JPH06124477A - 光学ヘッド - Google Patents
光学ヘッドInfo
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- JPH06124477A JPH06124477A JP4270257A JP27025792A JPH06124477A JP H06124477 A JPH06124477 A JP H06124477A JP 4270257 A JP4270257 A JP 4270257A JP 27025792 A JP27025792 A JP 27025792A JP H06124477 A JPH06124477 A JP H06124477A
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- optical
- liquid crystal
- crystal filter
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 液晶フィルタを具備した１つの光学ヘッドに
て、複数種類の記録密度の光ディスクの情報ピットを検
出する。 【構成】 半導体レーザ２から発せられた光ビームが電
界を印加した液晶フィルタ５および偏光ビームスプリッ
タ４を透過することで、対物レンズ７に入射する光ビー
ムの入射領域が変更され、このことにより前記対物レン
ズ７が光ビームを光ディスク１に集光する際、集光スポ
ット径が情報記録密度に応じ変化する。
て、複数種類の記録密度の光ディスクの情報ピットを検
出する。 【構成】 半導体レーザ２から発せられた光ビームが電
界を印加した液晶フィルタ５および偏光ビームスプリッ
タ４を透過することで、対物レンズ７に入射する光ビー
ムの入射領域が変更され、このことにより前記対物レン
ズ７が光ビームを光ディスク１に集光する際、集光スポ
ット径が情報記録密度に応じ変化する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、記録密度の異なる複数
種類の光学記録媒体の検出が可能な光学ヘッドに関す
る。
種類の光学記録媒体の検出が可能な光学ヘッドに関す
る。
【０００２】
【従来の技術】レ−ザ光を利用して映像、音声情報を再
生するための媒体としてビデオディスク、コンパクトデ
ィスクがある。近年、これらの光ディスクの記録密度を
向上させ、ディスクの大容量化・小型化を図る研究・開
発が盛んに行われている。例えば、ＭＵＳＥ信号が記録
されているハイビジョンディスク（以下ＭＵＳＥディス
クと呼ぶ。）では、従来、直径３０ｃｍディスク片面に
３０分の情報しか記録できなかったが、高密度化を図る
ことにより、６０分の情報が記録できるようになった。
かかる高密度化は、ディスク上のピットの大きさを小さ
くすることにより達成されている。
生するための媒体としてビデオディスク、コンパクトデ
ィスクがある。近年、これらの光ディスクの記録密度を
向上させ、ディスクの大容量化・小型化を図る研究・開
発が盛んに行われている。例えば、ＭＵＳＥ信号が記録
されているハイビジョンディスク（以下ＭＵＳＥディス
クと呼ぶ。）では、従来、直径３０ｃｍディスク片面に
３０分の情報しか記録できなかったが、高密度化を図る
ことにより、６０分の情報が記録できるようになった。
かかる高密度化は、ディスク上のピットの大きさを小さ
くすることにより達成されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、既存のプレ
ーヤにおいては、ピックアップによって集光されるビ−
ムスポットの大きさが固定されているため、記録密度の
異なるディスクをそのプレ−ヤに装着しても、各ディス
クに対して、最適なビ−ムスポットを設定できない。デ
ィスク上のピット幅に対してビームスポットの大きさが
適切でないと、読み取りエラ−が発生する場合がある。
ーヤにおいては、ピックアップによって集光されるビ−
ムスポットの大きさが固定されているため、記録密度の
異なるディスクをそのプレ−ヤに装着しても、各ディス
クに対して、最適なビ−ムスポットを設定できない。デ
ィスク上のピット幅に対してビームスポットの大きさが
適切でないと、読み取りエラ−が発生する場合がある。
【０００４】ピット幅に対してビームスポット径が適切
な場合であれば、ピット上では光の干渉により回折作用
が起こるため反射光量が減少し、ピット外では光が直接
反射し反射光量が増加するので、反射光より再生に必要
なＲＦ信号が得られる。しかし、ビームスポットの大き
さがピット幅に対し最適値でなければ、ピット上での回
折作用が弱まり反射光量の減少量が低下するので、反射
光より再生に必要なＲＦ信号の振幅が得られなくなる。
このことにより、再生時、読み取りエラーが増加する問
題点が生ずる。
な場合であれば、ピット上では光の干渉により回折作用
が起こるため反射光量が減少し、ピット外では光が直接
反射し反射光量が増加するので、反射光より再生に必要
なＲＦ信号が得られる。しかし、ビームスポットの大き
さがピット幅に対し最適値でなければ、ピット上での回
折作用が弱まり反射光量の減少量が低下するので、反射
光より再生に必要なＲＦ信号の振幅が得られなくなる。
このことにより、再生時、読み取りエラーが増加する問
題点が生ずる。
【０００５】本発明は上記問題点に鑑み、１つのピック
アップにより記録密度の異なる光ディスクの信号を検出
することを課題とする。
アップにより記録密度の異なる光ディスクの信号を検出
することを課題とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、情報
が記録されている光学式記録媒体に光ビームを照射し
て、前記光学式記録媒体からの反射光を検出する光学ヘ
ッドにおいて、光ビ−ムを出射する半導体レーザと、該
半導体レーザから出射された光ビームを平行光にするレ
ンズと、上記レンズからの平行光の光軸に対し同心状に
複数に分割された透明の電極と盤状透明電極とで液晶材
料をはさんで配置し、上記レンズからの平行光をその両
電極間に電界の印加制御することにより光の偏光方向を
変えて透過させる液晶フィルタと、該液晶フィルタから
透過した平行光のビーム形状を偏光する偏光ビームスプ
リッタと、該偏光ビ−ムスプリッタからの透過平行光を
光学式記録媒体に集光する対物レンズとを具備したこと
を特徴とする。
が記録されている光学式記録媒体に光ビームを照射し
て、前記光学式記録媒体からの反射光を検出する光学ヘ
ッドにおいて、光ビ−ムを出射する半導体レーザと、該
半導体レーザから出射された光ビームを平行光にするレ
ンズと、上記レンズからの平行光の光軸に対し同心状に
複数に分割された透明の電極と盤状透明電極とで液晶材
料をはさんで配置し、上記レンズからの平行光をその両
電極間に電界の印加制御することにより光の偏光方向を
変えて透過させる液晶フィルタと、該液晶フィルタから
透過した平行光のビーム形状を偏光する偏光ビームスプ
リッタと、該偏光ビ−ムスプリッタからの透過平行光を
光学式記録媒体に集光する対物レンズとを具備したこと
を特徴とする。
【０００７】請求項２の発明は、液晶フィルタからの平
行ビームをリング状ビームとして透過させる偏光ビーム
スプリッタと、該偏光ビームスプリッタからの透過リン
グ状ビームを光学式記録媒体に集光する対物レンズと、
該対物レンズからの反射光のうちメインビームを通過さ
せサイドロ−ブを遮断するピンホール板とを具備したこ
とを特徴とする。
行ビームをリング状ビームとして透過させる偏光ビーム
スプリッタと、該偏光ビームスプリッタからの透過リン
グ状ビームを光学式記録媒体に集光する対物レンズと、
該対物レンズからの反射光のうちメインビームを通過さ
せサイドロ−ブを遮断するピンホール板とを具備したこ
とを特徴とする。
【０００８】
【作用】請求項１の発明によれば、液晶フィルタの電極
に電界を印加することで、液晶フィルタを透過する光ビ
ームの偏光方向を任意に選択し、上記光ビームを偏光ビ
−ムスプリッタに透過させることで光ビームの形状を変
更する。さらに前記偏光ビ−ムスプリッタにより形状変
更された光ビームを対物レンズにより集光することで、
光ディスクに照射されるビ−ムスポット径を光ディスク
の記録密度に応じ任意に選択する。
に電界を印加することで、液晶フィルタを透過する光ビ
ームの偏光方向を任意に選択し、上記光ビームを偏光ビ
−ムスプリッタに透過させることで光ビームの形状を変
更する。さらに前記偏光ビ−ムスプリッタにより形状変
更された光ビームを対物レンズにより集光することで、
光ディスクに照射されるビ−ムスポット径を光ディスク
の記録密度に応じ任意に選択する。
【０００９】請求項２の発明によれば、リング状ビーム
を対物レンズで光学的記録媒体に集光させることによ
り、高密度に記録された情報ピットを検出する。
を対物レンズで光学的記録媒体に集光させることによ
り、高密度に記録された情報ピットを検出する。
【００１０】
【実施例】本発明の第１実施例を図１ないし図５を基に
詳述する。図１は本発明に係る光学ヘッド、図２は本発
明に係る液晶フィルタの断面図、図３は液晶フィルタに
電界を印加しない場合の動作説明図、図４は液晶フィル
タに電界を印加した場合の動作説明図、図５は対物レン
ズの動作説明図である。１は情報が凹凸のピット形状で
高密度若しくは低密度に記録されている光ディスク、２
は出射される光のモ−ドが直線偏光で、情報が高密度に
記録されている光ディスク１の情報を検出するため出射
される光の波長が短波長である半導体レーザ、３は半導
体レーザから出力される光ビームを平行光にするコリメ
−タレンズ、４は偏光ビームスプリッタ、５はコリメ−
タレンズ３と偏光ビームスプリッタ４の間に配置された
円盤上の液晶フィルタである。かかる液晶フィルタ５は
図３（ａ）の平面図のように、光ビーム入射領域がＡ領
域とＢ領域に光軸に対して同心円状に分割されている。
また前記液晶フィルタ５は図２のような断面構造をして
おり、液晶材料２０２をはさんで表面に透明の電極２０
１と２０３が張り合わされている。上記電極２０１は図
３（ａ）のＢの部分に相当しリング状の形状をしてお
り、半導体レーザ１からの光ビ−ム入射側に配置されて
いる。また前記電極２０３は円盤上の形状をしており、
光ビ−ムが液晶材料２０２を通過し出射される側に配置
されている。前記液晶フィルタ５の電極２０１、２０３
に電界を印加しない場合、フィルタ５に入射した光は液
晶材料２０２により偏光方向の位相が９０度回転し透過
される（図３（ｂ））。また液晶フィルタ５の電極２０
１、２０３に電界を印加した場合（図４（ａ））にはＢ
領域のみに電界が加わり、液晶分子が電界方向に向きを
変えるため、フィルタ５のＢ領域に入射した光の偏光方
向は変化せずに透過される（図４（ｂ））。６は４分の
１波長板、７は光ディスク１に光ビームを集光する対物
レンズ、８は光ディスク１からの反射光を検出する光検
出器、９は光検出器８が光ディスク１からの反射光を受
光しやすいように光を集光するレンズ、１０は光ディス
クを回転させるためのモータである。
詳述する。図１は本発明に係る光学ヘッド、図２は本発
明に係る液晶フィルタの断面図、図３は液晶フィルタに
電界を印加しない場合の動作説明図、図４は液晶フィル
タに電界を印加した場合の動作説明図、図５は対物レン
ズの動作説明図である。１は情報が凹凸のピット形状で
高密度若しくは低密度に記録されている光ディスク、２
は出射される光のモ−ドが直線偏光で、情報が高密度に
記録されている光ディスク１の情報を検出するため出射
される光の波長が短波長である半導体レーザ、３は半導
体レーザから出力される光ビームを平行光にするコリメ
−タレンズ、４は偏光ビームスプリッタ、５はコリメ−
タレンズ３と偏光ビームスプリッタ４の間に配置された
円盤上の液晶フィルタである。かかる液晶フィルタ５は
図３（ａ）の平面図のように、光ビーム入射領域がＡ領
域とＢ領域に光軸に対して同心円状に分割されている。
また前記液晶フィルタ５は図２のような断面構造をして
おり、液晶材料２０２をはさんで表面に透明の電極２０
１と２０３が張り合わされている。上記電極２０１は図
３（ａ）のＢの部分に相当しリング状の形状をしてお
り、半導体レーザ１からの光ビ−ム入射側に配置されて
いる。また前記電極２０３は円盤上の形状をしており、
光ビ−ムが液晶材料２０２を通過し出射される側に配置
されている。前記液晶フィルタ５の電極２０１、２０３
に電界を印加しない場合、フィルタ５に入射した光は液
晶材料２０２により偏光方向の位相が９０度回転し透過
される（図３（ｂ））。また液晶フィルタ５の電極２０
１、２０３に電界を印加した場合（図４（ａ））にはＢ
領域のみに電界が加わり、液晶分子が電界方向に向きを
変えるため、フィルタ５のＢ領域に入射した光の偏光方
向は変化せずに透過される（図４（ｂ））。６は４分の
１波長板、７は光ディスク１に光ビームを集光する対物
レンズ、８は光ディスク１からの反射光を検出する光検
出器、９は光検出器８が光ディスク１からの反射光を受
光しやすいように光を集光するレンズ、１０は光ディス
クを回転させるためのモータである。
【００１１】次に第１の実施例の光学ヘッドが高密度の
光ディスクと低密度の光ディスクの異なる情報ピットを
検出するための動作説明を行う。第１の実施例の光学ヘ
ッドが高密度で記録された光ディスク１の情報ピットを
検出する場合、最初に半導体レ−ザ２から出射される光
ビ−ムはコリメ−タレンズ３により平行ビームとなり液
晶フィルタ５に入射される。係る液晶フィルタ５におい
ては高密度ディスク検出の場合、電極２０１、２０３に
電界を加えないため（図３（ａ））、前記平行ビ−ムは
上記液晶フィルタ５内で偏光方向が全て９０度回転し偏
光ビームスプリッタ４に送られる。かかる偏光ビ−ムス
プリッタ４では、入射された平行ビ−ムは全て透過し、
４分の１波長板６を通じ対物レンズ７に送られる（半導
体レーザの偏光方向は電界が印加されていない液晶フィ
ルタ５を透過した後、偏光ビームスプリッタ４を実線の
如く透過するように設置されている）。前記対物レンズ
７においては平行ビームを集光し光ディスク１に記録さ
れている高密度の情報ピットに照射される。照射された
光は反射し、反射光は、偏光ビームスプリッタ４により
分離され光検出器８側に光路を変え、レンズ９で集光さ
れ光検出器８により検出される。
光ディスクと低密度の光ディスクの異なる情報ピットを
検出するための動作説明を行う。第１の実施例の光学ヘ
ッドが高密度で記録された光ディスク１の情報ピットを
検出する場合、最初に半導体レ−ザ２から出射される光
ビ−ムはコリメ−タレンズ３により平行ビームとなり液
晶フィルタ５に入射される。係る液晶フィルタ５におい
ては高密度ディスク検出の場合、電極２０１、２０３に
電界を加えないため（図３（ａ））、前記平行ビ−ムは
上記液晶フィルタ５内で偏光方向が全て９０度回転し偏
光ビームスプリッタ４に送られる。かかる偏光ビ−ムス
プリッタ４では、入射された平行ビ−ムは全て透過し、
４分の１波長板６を通じ対物レンズ７に送られる（半導
体レーザの偏光方向は電界が印加されていない液晶フィ
ルタ５を透過した後、偏光ビームスプリッタ４を実線の
如く透過するように設置されている）。前記対物レンズ
７においては平行ビームを集光し光ディスク１に記録さ
れている高密度の情報ピットに照射される。照射された
光は反射し、反射光は、偏光ビームスプリッタ４により
分離され光検出器８側に光路を変え、レンズ９で集光さ
れ光検出器８により検出される。
【００１２】光ディスク１が低密度情報ピットが記録さ
れたディスクで、係るディスクの情報ピットを検出する
場合においても、半導体レーザ２から出射された光ビー
ムは最初に液晶フィルタ５を透過する。しかし前記液晶
フィルタ５では電極２０１、２０３に電界を加えるた
め、透明の電極のない図４（ａ）のＡ領域を透過した光
ビームの偏光方向は９０度回転するが、電極のある部分
（図４（ａ）のＢ領域）を透過した光の偏光方向が変化
しない（図４（ｂ））。このため光ビ−ムが偏光ビ−ム
スプリッタ４を通過するとＢ領域を透過した光は図１の
点線のごとく反射するが、Ａ領域を通過した光ビームは
偏光ビ−ムスプリッタ４を透過し９０度偏光されたもの
が対物レンズ７に到達する。
れたディスクで、係るディスクの情報ピットを検出する
場合においても、半導体レーザ２から出射された光ビー
ムは最初に液晶フィルタ５を透過する。しかし前記液晶
フィルタ５では電極２０１、２０３に電界を加えるた
め、透明の電極のない図４（ａ）のＡ領域を透過した光
ビームの偏光方向は９０度回転するが、電極のある部分
（図４（ａ）のＢ領域）を透過した光の偏光方向が変化
しない（図４（ｂ））。このため光ビ−ムが偏光ビ−ム
スプリッタ４を通過するとＢ領域を透過した光は図１の
点線のごとく反射するが、Ａ領域を通過した光ビームは
偏光ビ−ムスプリッタ４を透過し９０度偏光されたもの
が対物レンズ７に到達する。
【００１３】上記原理により対物レンズ７に入射する光
の領域は前記高密度ディスク検出の場合よりも狭くなる
ため、数１によれば集光位置からの拡がり角θも小さく
なり、対物レンズ７の開口数ＮＡも小さくなる（図
５）。
の領域は前記高密度ディスク検出の場合よりも狭くなる
ため、数１によれば集光位置からの拡がり角θも小さく
なり、対物レンズ７の開口数ＮＡも小さくなる（図
５）。
【００１４】
【数１】
【００１５】対物レンズ７の開口数ＮＡが小さくなれば
数２より集光スポット径ｄは大きくなる。
数２より集光スポット径ｄは大きくなる。
【００１６】
【数２】
【００１７】Ｋは定数、λは半導体レーザの波長 対物レンズ７から照射される光ビームの集光スッポット
径ｄが大きくなることで、低密度ディスクの情報ピット
を最適に検出することができる。よって、第１の実施例
の光学ヘッドによれば、１つのピックアップにより、高
密度ディスクの情報ピットと低密度ディスクの情報ピッ
トとを検出することができる。
径ｄが大きくなることで、低密度ディスクの情報ピット
を最適に検出することができる。よって、第１の実施例
の光学ヘッドによれば、１つのピックアップにより、高
密度ディスクの情報ピットと低密度ディスクの情報ピッ
トとを検出することができる。
【００１８】次に本発明の第２実施例について特に図６
ないし図８を参照しながら詳述する。図６は第２実施例
に用いられる光学ヘッド、図７は第２の実施例に用いら
れる液晶フィルタの構造を説明する模式図、図８は光デ
ィスク上で集光される光ビームの強度分布図である。図
において前述の第１の実施例の場合と共通の部品につい
ては同一図番を用いるため説明を省略する。図番６０１
は液晶フィルタで、図７（ａ）（ｂ）の平面図のように
光ビームの入射領域がＣ領域とＤ領域に分割されてい
る。またかかる液晶フィルタ６０１は図７（ｃ）の断面
図のように図番７０２の液晶材料と、前記液晶材料７０
２をはさんで図番７０３の円盤上の透明電極と７０１の
液晶フィルタ上面のＣ領域のみに配置された透明電極に
より構成されている。図番６０２は図８における光ビー
ムのサイドロ−ブを遮蔽し、メインロ−ブのみを通過さ
せるピンホール板である。
ないし図８を参照しながら詳述する。図６は第２実施例
に用いられる光学ヘッド、図７は第２の実施例に用いら
れる液晶フィルタの構造を説明する模式図、図８は光デ
ィスク上で集光される光ビームの強度分布図である。図
において前述の第１の実施例の場合と共通の部品につい
ては同一図番を用いるため説明を省略する。図番６０１
は液晶フィルタで、図７（ａ）（ｂ）の平面図のように
光ビームの入射領域がＣ領域とＤ領域に分割されてい
る。またかかる液晶フィルタ６０１は図７（ｃ）の断面
図のように図番７０２の液晶材料と、前記液晶材料７０
２をはさんで図番７０３の円盤上の透明電極と７０１の
液晶フィルタ上面のＣ領域のみに配置された透明電極に
より構成されている。図番６０２は図８における光ビー
ムのサイドロ−ブを遮蔽し、メインロ−ブのみを通過さ
せるピンホール板である。
【００１９】さて、第２実施例の光ヘッドの動作につい
て説明する。液晶フィルタ６０１のＣ領域に電界を印加
した場合（図７（ｂ））、半導体レーザ２から発せられ
た光ビームは液晶フィルタ６０１に入射する。前記液晶
フィルタ６０１のＤ領域に入射した光ビームは偏光方向
を９０度回転させ出射され、Ｃ領域に入射した光ビーム
は偏光方向を変えずに出射される。Ｃ領域を通過した光
は偏光ビームスプリッタ４により反射され、Ｄ領域を通
過した光のみが偏光ビームスップリッタ４を透過する。
このことで、対物レンズ７には、Ｃ領域が欠落したリン
グ状の光ビームが入射される。かかる光ビームは対物レ
ンズ７により集光され、光ディスク１に照射される。こ
の時、光ディスク１に照射される微小スポットの強度分
布は図８のような実線のメインロ−ブとサイドロ−ブを
持つ光強度分布の波形となる。図８のような実線の光強
度分布の波形はリング状の光を集光した場合に一般的に
起こるものとしてよく知られたものである。
て説明する。液晶フィルタ６０１のＣ領域に電界を印加
した場合（図７（ｂ））、半導体レーザ２から発せられ
た光ビームは液晶フィルタ６０１に入射する。前記液晶
フィルタ６０１のＤ領域に入射した光ビームは偏光方向
を９０度回転させ出射され、Ｃ領域に入射した光ビーム
は偏光方向を変えずに出射される。Ｃ領域を通過した光
は偏光ビームスプリッタ４により反射され、Ｄ領域を通
過した光のみが偏光ビームスップリッタ４を透過する。
このことで、対物レンズ７には、Ｃ領域が欠落したリン
グ状の光ビームが入射される。かかる光ビームは対物レ
ンズ７により集光され、光ディスク１に照射される。こ
の時、光ディスク１に照射される微小スポットの強度分
布は図８のような実線のメインロ−ブとサイドロ−ブを
持つ光強度分布の波形となる。図８のような実線の光強
度分布の波形はリング状の光を集光した場合に一般的に
起こるものとしてよく知られたものである。
【００２０】図８の実線の光強度分布を持つ微小スポッ
トは液晶フィルタを使用しない通常の光学ヘッドで集光
された図８の破線で示す光強度分布の微小スポットより
も絞れたものとなっている。以って、図６の光学ヘッド
は同じ波長のレーザを用いた通常の光学ヘッドよりも高
密度の光ディスクの微小ピットを検出することができ
る。
トは液晶フィルタを使用しない通常の光学ヘッドで集光
された図８の破線で示す光強度分布の微小スポットより
も絞れたものとなっている。以って、図６の光学ヘッド
は同じ波長のレーザを用いた通常の光学ヘッドよりも高
密度の光ディスクの微小ピットを検出することができ
る。
【００２１】上述の第２実施例で光ディスク１に照射さ
れた光は反射され、レンズ９によりピンホール板６０２
上で一旦集光され、サイドロ−ブはピンホール板６０２
上で遮断されメインビームのみがピンホール板６０２上
のピンホールを通過し光検出器８により検出される。上
記第１実施例の光学ヘッドと第２実施例の光学ヘッドを
組み合わせることにより複数種類の記録密度の光ディス
クの情報を検出できる。また、液晶フィルタに複数輪切
りにされた電極を設置することによっても、複数種類の
記録密度の光ディスクの情報を検出できる。
れた光は反射され、レンズ９によりピンホール板６０２
上で一旦集光され、サイドロ−ブはピンホール板６０２
上で遮断されメインビームのみがピンホール板６０２上
のピンホールを通過し光検出器８により検出される。上
記第１実施例の光学ヘッドと第２実施例の光学ヘッドを
組み合わせることにより複数種類の記録密度の光ディス
クの情報を検出できる。また、液晶フィルタに複数輪切
りにされた電極を設置することによっても、複数種類の
記録密度の光ディスクの情報を検出できる。
【００２２】上記実施例においては液晶フィルタの形状
は円盤状に規定したが、楕円状でも四角状でもよい。
は円盤状に規定したが、楕円状でも四角状でもよい。
【００２３】
【発明の効果】以上のように、請求項１の発明によれ
ば、光ディスクに照射する集光スポット径を１つの光学
ヘッドにより任意に選択できるので、１つの光学ヘッド
により複数種類の記録密度の光ディスクの情報ピットを
良好に検出することができる。請求項２の発明の光学ヘ
ッドを用いれば、波長の長い半導体レーザを使用して
も、高密度ディスクの情報を検出することができる。
ば、光ディスクに照射する集光スポット径を１つの光学
ヘッドにより任意に選択できるので、１つの光学ヘッド
により複数種類の記録密度の光ディスクの情報ピットを
良好に検出することができる。請求項２の発明の光学ヘ
ッドを用いれば、波長の長い半導体レーザを使用して
も、高密度ディスクの情報を検出することができる。
【図１】本発明の第１実施例の構成を示す模式図であ
る。
る。
【図２】第１実施例に係る液晶フィルタの断面図であ
る。
る。
【図３】第１実施例に係る液晶フィルタ電界ＯＦＦ時の
動作説明図である。
動作説明図である。
【図４】第１実施例に係る液晶フィルタ電界ＯＮ時の動
作説明図である。
作説明図である。
【図５】第１実施例に係る対物レンズの動作説明図であ
る。
る。
【図６】本発明の第２実施例の構成を示す模式図であ
る。
る。
【図７】第２実施例に係る液晶フィルタの構成図であ
る。
る。
【図８】第２実施例に係る集光スポット径の光強度分布
を示す図である。
を示す図である。
１ 光ディスク ２ 半導体レーザ ３ コリメ−タレンズ ４ 偏光ビームスプリッタ ５ 液晶フィルタ ７ 対物レンズ
Claims (2)
- 【請求項１】 情報が記録されている光学式記録媒体に
光ビームを照射して、前記光学式記録媒体からの反射光
を検出する光学ヘッドにおいて、光ビ−ムを出射する半
導体レーザと、該半導体レーザから出射された光ビーム
を平行光にするレンズと、上記レンズからの平行光の光
軸に対し同心状に複数に分割された透明の電極と盤状透
明電極とで液晶材料をはさんで配置し、上記レンズから
の平行光をその両電極間に電界の印加制御することによ
り光の偏光方向を変えて透過させる液晶フィルタと、該
液晶フィルタから透過した平行ビームを偏光する偏光ビ
ームスプリッタと、該偏光ビ−ムスプリッタからの透過
平行光を光学式記録媒体に集光する対物レンズとを具備
したことを特徴とする光学ヘッド。 - 【請求項２】 前記液晶フィルタからの平行ビームをリ
ング状ビームとして透過させる偏光ビームスプリッタ
と、該偏光ビームスプリッタからの透過リング状ビーム
を光学式記録媒体に集光する対物レンズと、該対物レン
ズからの反射光のうちメインビームを通過させサイドロ
−ブを遮断するピンホール板とを具備したことを特徴と
する請求項１記載の光学ヘッド。
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