JPH0612003A - 光伝導装置 - Google Patents

光伝導装置

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Publication number
JPH0612003A
JPH0612003A JP4234333A JP23433392A JPH0612003A JP H0612003 A JPH0612003 A JP H0612003A JP 4234333 A JP4234333 A JP 4234333A JP 23433392 A JP23433392 A JP 23433392A JP H0612003 A JPH0612003 A JP H0612003A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
base member
probe
sensitive
probe support
photoconductive device
Prior art date
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Pending
Application number
JP4234333A
Other languages
English (en)
Inventor
Gerd Spitzmann
シュピッツマン ゲルト
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of JPH0612003A publication Critical patent/JPH0612003A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/29Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2914Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2921Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions; Radio-isotope cameras

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
  • Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)
  • Combination Of More Than One Step In Electrophotography (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は分布された感応プローブが光伝導体
の面から出来る限り等しい距離に位置する光伝導装置を
提供することを目的とする。 【構成】 電荷パターンを電気信号に変換し、光伝導装
置の面に平行に延在する直線接続ラインに沿って配置さ
れ、基部材で支持された多数の感応プローブからなる読
出装置からなるX線電荷パターンに変換する光伝導装置
である。感応プローブと光伝導装置の面間の距離は、基
部材が直線接続ラインに垂直な方向に光伝導装置に対し
て所定の位置を占めるよう光伝導装置と基部材を相互接
続する接続部材が設けられ、感応プローブは望ましくは
弾性的に曲げられうる接続部分を介して基部材に接続さ
れた少なくとも1つのプローブ支持体に接続され、基部
材及びプローブ支持体は少なくとも2つの位置で光伝導
体の面に対して感応プローブの位置の調整を可能にする
調整手段を設けられて調整されうる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電荷パターンを電気信
号に変換し、光伝導装置の面に平行に延在する直線接続
ラインに沿って配置され、基部材で支持された多数の感
応プローブからなる読出装置からなる光伝導装置に係
る。
【0002】
【従来の技術】この種の光伝導装置はドイツ特許公開第
3534768号及び先のドイツ特許出願第40151
13.1号から公知である。そこで、光伝導装置は円筒
形外面が光伝導層、望ましくはセレンで被覆されたドラ
ムとに構成される。読出装置はドラム軸に平行に延在す
る直線接続ラインに沿って配置され、ドラムの長さに亘
って分布された多数の感応プローブからなる。
【0003】感応プローブにより供給された電気信号か
らX線照射中に発生した電荷パターン又は放射像の再構
成の為、感応プローブの感度は出来る限り等しいことが
重要である。感応プローブの感度はなかんずくそれらの
面からの距離に依存する。従って、感応プローブの実際
の位置は直線接続ライン又は直線接続ラインを含む接続
面で決められる基準位置から略0.01mm以上はずれ
るべきでない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、要求される更
なる段階なしにこの状態を満足する読出装置を製造する
のに複雑な処理が必要とされる。本発明の目的は分布さ
れた感応プローブが光伝導体の面から出来る限り等しい
距離に位置するように前記の種類の光伝導装置を構成す
ることである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本目的は、基部材が直線
接続ラインに垂直な方向に光伝導装置に対して所定の位
置を占めるよう光伝導装置と基部材を相互接続する接続
部材が設けられ、感応プローブは望ましくは弾性的に曲
げうる接続部分を介して基部材に接続された少なくとも
1つのプローブ支持体に接続され、基部材及びプローブ
支持体は少なくとも2つの位置で光伝導体の面に対して
感応プローブの位置の調整を可能にする調整手段を設け
る本発明により達成される。
【0006】本発明により感応プローブの位置は基部材
の位置により単に略予め決定される。基部材に対してプ
ローブ支持体の位置の調整を可能にする調整手段により
所定の期限内で変更されうる。次に接続部分は多少曲げ
られる。全ての感応プローブが単一プローブ支持体に配
置される時、調整の可能性は比較的に小さい。調整のよ
り良い可能性は、いくつかのプローブ支持体からなる本
発明の更なる実施例で得られ、調整手段は各プローブ支
持体に設けられる。
【0007】しかし、構成は、別なプローブ支持体が各
感応プローブに対して設けられる場合、より複雑にな
る。複雑性と調整の可能性間の妥当な妥協はいくつかの
感応プローブが各プローブ支持体に設けられる更なる実
施例で達成される。調整手段の特に単純な実施は、調整
手段としてねじが用いられる時、本発明により達成さ
れ、該ねじが基部の(又はプローブ支持体の)ねじをプ
ローブ支持体を介して(又は基部材を介して)係合す
る。
【0008】本発明の他の実施例において、調整手段と
接続部分の間の距離は感応プローブと接続部分間の距離
より大きい。調整手段の範囲内でのプローブ支持体の調
整の後に少ない比でのみ感応プローブが続き、その比は
調整手段及び接続部分の間の距離と感応プローブ及び接
続部分間の距離との比で決定される。正確な調整が容易
となる。
【0009】
【実施例】本発明を以下図面を参照して詳細に説明す
る。図1に示す如く、X線源1の焦点から出射するX線
ビーム10は、テーブルトップ3上に配置された患者2
及び散乱放射グリッド8を通り、図1の紙面に垂直に延
在する円筒軸7を有するドラム4上に入射する。ドラム
4は駆動モータ9により回転軸7の回りに回転されう
る。ドラム4の外面は0.5mmの厚さを有する光伝導
層41、望ましくはセレン層で被覆されている。
【0010】ビーム路の外に、例えば1500Vの電圧
が電気的伝導ドラムの面と光伝導層41の外面間に生じ
るよう、X線照射に先立ち伝導層に充電する読出装置6
が配置される。ドラムはX線照射中静止したままであ
る。光伝導体の面はX線の強度の関数とに多少放電さ
れ、これにより光伝導層41上で、患者2の後ろのX線
の強度の空間分布に対応する電荷パターンが生じる。
【0011】X線照射に続いて、発生された電荷パター
ンはビーム路外に配置された読出装置5により読出され
る。読出装置はその有効面が理想的場合に、理想的場合
の回転軸7に平行に延在する直線に沿って位置する多数
の感応プローブ(図1に示さず)からなる。感応プロー
ブとセレン層41間の距離は略0.1mmである。X線
照射中放射映像を同時に発生する比較的に広い放射ビー
ム10の代わり、扇形放射ビームが患者に関して円筒軸
7に平行に延在するスリットを通って変位される装置が
用いられえ、照射中回転するドラムは該ビームにより時
間的に連続に部分的に照射される。この種の装置はドイ
ツ公開特許第3534768号に詳細に説明されてい
る。
【0012】しかし、本発明は平坦光伝導装置にも使用
されうる。しかし、この場合、読出装置5は電荷パター
ンを検出する為2次元走査動作を実行しなければならな
い。図2に示す如く、ドラム4は橋状接続部分12を介
して読出装置に接続される。接続部分12はドラム4の
回転軸7が支持される2つのアームと、アームを相互接
続する中央部分とからなり、その上に読出装置5が配置
される。
【0013】X線照射に続いて、感応プローブは毎回僅
か0.2mmの幅を有する回転ドラムの細条帯上の電荷
を読みうる。全ドラム面の読出を可能にする為、2つの
隣るプローブ間の距離に略対応する距離に亘って読出装
置5を変位させる駆動(図1及び図2に概略的に示され
る)が設けられる。図4及び図5から分かる如く、この
為に、回転シャフト7と平行に延在し、接続部分12に
接続された案内レール13と、読出装置5に接続された
相補形の案内レール14からなる案内装置が設けられ
る。
【0014】図3及び図5を組合わせて分かる如く、読
出装置は案内レール14にしっかり接続された本質的に
長方形の基部材50と、基部材50の長手方向に分布さ
れた多数の(例えば9つの)プローブ支持体51とから
なる。プローブ支持体51はその前側に個々の感応プロ
ーブに対する電気回路を収容する室540を設けられ、
基部材面に略平行に延在する基部材50に面するその背
面側は接続部分52を介して基部材50に一端で接続さ
れる。その間に位置する基部材50、プローブ支持体5
1及び接続部分52は数値制御機械を用いて単一ブロッ
クのアルミニウムから望ましくは製造される。上記装置
は多数の別なプローブ支持体、接続部分及び或いは又基
部材からも組立てられうるが、追加的調整動作は必要で
ある。
【0015】プローブ支持体51は互いに一定距離離間
して配置された感応プローブを支持する。感応プローブ
はドイツ公開特許第3932335号に詳細に記載され
ている如く厚膜技術によりセラミック基板53上に設け
られる。各セラミック基板上に、直線に沿って、互いに
等間隔で位置する4つの感応プローブが配置され;感応
プローブは図3の円54及び感応プローブの有効面の中
央を示す図5の一点鎖線54で示される。セラミック基
板53は固定装置58によりプローブ支持体51上に取
付けられ、これにより感応プローブはプローブ支持体5
1に関して正確に決められた位置を占める(明瞭の為、
これは図3で第1のプローブを支持体に対する場合だけ
が示される)。装置は、セラミック基板がドラム面とプ
ローブ面の間に0.1mmの間の残る距離を無視して、
感応プローブの領域でドラム面に接するようにされてい
る。
【0016】実際、感応プローブ及びセレン層41間の
距離が全ての感応プローブに対して同じでないことが分
かった;これは特定の許容誤差及び製造不正確による。
あるプローブは光伝導層41により近く位置し、他のプ
ローブはそれから更に遠くに位置する。距離を等しくす
る為、調整手段が接続部分52から離れた各プローブ支
持体の自由端に設けられ、その調整手段は自由端が基部
材50のあちこちに動かされるのを可能にする。感応プ
ローブ54と光伝導層41間の距離は増大又は減少され
る。しかし、自由端と接続部分間の距離が感応プローブ
と接続部分間の距離より実質的に大きいので、感応プロ
ーブの位置の変化は所定の比でのみプローブ支持体の自
由端の位置の変化に追従する。これはプローブ距離が比
較的正確に調整されうる利点を提供する。
【0017】特に図3に示す如く、各プローブ支持体に
対する調整手段は回転シャフト7を平行な方向に互いに
関してずれ、プローブ支持体のボア560を介して基部
材50のねじ孔561に係合する2つのねじ56からな
る。感応プローブはこれらのねじを締めることにより光
伝導層41からより離間して位置するように調整され;
感応プローブと光伝導層間の距離はねじ上のナット56
2の締めと共にねじを緩めることにより減少されうる。
更なるナット563はねじ孔561のねじを固定し、こ
れにより一度なされた調整は保たれる。必要ならセラミ
ック基板の面はプローブ支持体と協働したねじの異なる
調整により光伝導層41に対して傾けられうる。
【0018】感応プローブの整列は望ましくは基部材5
0とレール14の相互接続前に3次元測定顕微鏡(光定
規)によりチェックさるべきである。しかし、或いは組
立てた状態での整列を局部的に均一に荷電された光伝導
層を走査する時感応プローブにより発生した信号の測定
によりチェックすることも可能である。信号が平均値よ
り高い(又はより低い)時、関連するプローブは他の感
応プローブより面により近いかより遠くに位置する。感
応プローブの信号振幅は調整ねじ56による適宜の調整
により等しくされうる。
【0019】図示の構成は0.01mmより良い正確度
で0.1mmまでだけプローブ54の調整を可能にす
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が使用されうるX線装置の概略を示す図
である。
【図2】本発明による光伝導装置の概略側面図である。
【図3】読出装置の斜視図である。
【図4】光伝導装置の平面図である。
【図5】図4の詳細を示す図である。
【符号の説明】 1 X線源 2 患者 3 テーブルトップ 4 ドラム 5 読出装置 7 円筒軸 8 放射線グリッド 9 モータ駆動 10 放射線ビーム 12,52 接続部分 13,14 案内レール 41 光伝導層 50 基部材 51 プローブ支持体 53 セラミック基板 54 感応プローブ 56 ねじ 58 固定装置 540 室 560 ボア 561 ねじ孔 563 ナット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04N 1/04 E 7251−5C

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電荷パターンを電気信号に変換する読出
    装置からなり、該読出装置は光伝導装置の面(41)に
    平行に延在する直線接続ラインに沿って配置され、基部
    材(50)で支持された多数の感応プローブ(54)か
    らなる光伝導装置であって、基部材(50)が直線接続
    ラインに垂直な方向に光伝導装置に対して所定の位置を
    占めるよう光伝導装置(4)と基部材(50)を相互接
    続する接続部材(12)が設けられ、感応プローブ(5
    4)は望ましくは弾性的に曲げうる接続部分(52)を
    介して基部材(50)に接続された少なくとも1つのプ
    ローブ支持体(51)に接続され、基部材及びプローブ
    支持体は少なくとも2つの位置で光伝導体の面に対して
    感応プローブの位置の調整を可能にする調整手段(5
    6)を設けられていることを特徴とするX線を電荷パタ
    ーンに変換する光伝導装置。
  2. 【請求項2】 いくつかのプローブ支持体(51)から
    なり、調整手段(56)は各プローブ支持体に設けられ
    ていることを特徴とする請求項1記載の光伝導装置。
  3. 【請求項3】 いくつかの感応プローブ(54)が各プ
    ローブ支持体(51)に配置されることを特徴とする請
    求項2記載の光伝導装置。
  4. 【請求項4】 調整手段はプローブ支持体(51)を介
    して(又は基部材を介して)基部材(50)の(又はプ
    ローブ支持体の)ねじ孔(561)に係合するねじ(5
    6)により形成されることを特徴とする請求項1乃至3
    のうちいずれか一項記載の光伝導装置。
  5. 【請求項5】 調整手段(56)と接続部分(52)の
    間の距離は感応プローブ(54)と接続部分(52)間
    の距離より大きいことを特徴とする請求項1乃至4のう
    ちいずれか一項記載の光伝導装置。
  6. 【請求項6】 請求項1乃至5のうちいずれか一項記載
    の光伝導装置からなるX線検査装置。
JP4234333A 1991-09-05 1992-09-02 光伝導装置 Pending JPH0612003A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4129469A DE4129469A1 (de) 1991-09-05 1991-09-05 Photoleiteranordnung mit einer ausleseeinheit
DE4129469:6 1991-09-05

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0612003A true JPH0612003A (ja) 1994-01-21

Family

ID=6439875

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4234333A Pending JPH0612003A (ja) 1991-09-05 1992-09-02 光伝導装置

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP0530911B1 (ja)
JP (1) JPH0612003A (ja)
DE (2) DE4129469A1 (ja)

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3534768A1 (de) * 1985-09-30 1987-04-02 Philips Patentverwaltung Anordnung zum erzeugen von roentgenaufnahmen mittels eines fotoleiters
DE3842525A1 (de) * 1988-12-17 1990-06-21 Philips Patentverwaltung Verfahren zur erzeugung einer roentgenaufnahme mittels eines photoleiters und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens
DE4004348A1 (de) * 1990-02-13 1991-08-14 Philips Patentverwaltung Anordnung zum abtasten einer roentgenaufnahme
DE4015113A1 (de) * 1990-05-11 1991-11-14 Philips Patentverwaltung Anordnung zum erzeugen von roentgenaufnahmen

Also Published As

Publication number Publication date
DE59207608D1 (de) 1997-01-16
EP0530911B1 (de) 1996-12-04
EP0530911A1 (de) 1993-03-10
DE4129469A1 (de) 1993-03-11

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