JP3056346B2 - 光学式回転角度検出装置 - Google Patents
光学式回転角度検出装置Info
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- JP3056346B2 JP3056346B2 JP5050922A JP5092293A JP3056346B2 JP 3056346 B2 JP3056346 B2 JP 3056346B2 JP 5050922 A JP5050922 A JP 5050922A JP 5092293 A JP5092293 A JP 5092293A JP 3056346 B2 JP3056346 B2 JP 3056346B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、物体の回転角度を非
接触で検出する光学式回転角度検出装置に関し、特に受
光素子として例えば光位置検出素子を用いた光位置検出
形の光学式回転角度検出装置に関するものである。
接触で検出する光学式回転角度検出装置に関し、特に受
光素子として例えば光位置検出素子を用いた光位置検出
形の光学式回転角度検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、高い耐久性、信頼性をもって物体
の回転角度を検出するために、可変抵抗器を用いて物体
に対して電気的に接触した状態で、物体の回転角度を検
出する回転角度検出装置に代わり、回転物体から放射、
或いは回転物体で反射、透過される光を抵抗層を備えた
光位置検出素子で受光し、この光位置検出素子での受光
位置に応じて回転物体の回転角度を検出する非接触形の
光学式回転角度検出装置が用いられている。このような
光学式回転角度検出装置としては例えば図16及び図1
7に示すようなものが提案されている。図16は特開昭
61−246620号公報において開示されている従来
の光学式回転角度検出装置を示す構成図、図17Aは特
開昭61−124821号公報において開示されている
従来の光学式回転角度検出装置の構成図、図17Bは図
17Aに示す従来の光学式回転角度検出装置の光位置検
出部の上視図である。
の回転角度を検出するために、可変抵抗器を用いて物体
に対して電気的に接触した状態で、物体の回転角度を検
出する回転角度検出装置に代わり、回転物体から放射、
或いは回転物体で反射、透過される光を抵抗層を備えた
光位置検出素子で受光し、この光位置検出素子での受光
位置に応じて回転物体の回転角度を検出する非接触形の
光学式回転角度検出装置が用いられている。このような
光学式回転角度検出装置としては例えば図16及び図1
7に示すようなものが提案されている。図16は特開昭
61−246620号公報において開示されている従来
の光学式回転角度検出装置を示す構成図、図17Aは特
開昭61−124821号公報において開示されている
従来の光学式回転角度検出装置の構成図、図17Bは図
17Aに示す従来の光学式回転角度検出装置の光位置検
出部の上視図である。
【0003】先ず、図16を参照して特開昭61−24
6620号公報において開示されている従来の光学式回
転角度検出装置について説明する。図において、1は図
示しない被測定体である回転物体に接続されている回転
軸、2はこの回転軸1に挿通されて取り付けられ、この
回転軸1と共に回転する回転スリット板、2aはこの回
転スリット板2に螺旋状に形成され、回転スリット板2
の回転に応じてその半径が変化する螺旋状スリット、3
は光源、4はこの光源3の光軸の範囲内、且つ、回転ス
リット板2と互いに平行に配置される固定スリット板、
4aは回転スリット板2に形成された螺旋状スリット2
aと交差するように固定スリット板4に形成された固定
スリット、5は光源3から出射され、回転スリット板2
の螺旋状スリット2a及び固定スリット板4の固定スリ
ット4aを介して供給される光を受光するため、その受
光軸が回転スリット板2の半径方向となるように配置さ
れた光位置検出素子、6及び8はこの光位置検出素子5
の各電極に接続され、この光位置検出素子5の検出電流
を出力するための出力端子、7はこの光位置検出素子5
のバイアス電圧印加用電極に接続され、図示しない電源
回路からのバイアス用電圧を光位置検出素子5に供給す
るための電源端子である。
6620号公報において開示されている従来の光学式回
転角度検出装置について説明する。図において、1は図
示しない被測定体である回転物体に接続されている回転
軸、2はこの回転軸1に挿通されて取り付けられ、この
回転軸1と共に回転する回転スリット板、2aはこの回
転スリット板2に螺旋状に形成され、回転スリット板2
の回転に応じてその半径が変化する螺旋状スリット、3
は光源、4はこの光源3の光軸の範囲内、且つ、回転ス
リット板2と互いに平行に配置される固定スリット板、
4aは回転スリット板2に形成された螺旋状スリット2
aと交差するように固定スリット板4に形成された固定
スリット、5は光源3から出射され、回転スリット板2
の螺旋状スリット2a及び固定スリット板4の固定スリ
ット4aを介して供給される光を受光するため、その受
光軸が回転スリット板2の半径方向となるように配置さ
れた光位置検出素子、6及び8はこの光位置検出素子5
の各電極に接続され、この光位置検出素子5の検出電流
を出力するための出力端子、7はこの光位置検出素子5
のバイアス電圧印加用電極に接続され、図示しない電源
回路からのバイアス用電圧を光位置検出素子5に供給す
るための電源端子である。
【0004】次に動作について説明する。光源3から光
が回転スリット板2の方向に出射されると、出射された
光は回転スリット板2上の投射範囲Sに投射され、この
投射光の内、回転スリット板2の螺旋状スリット2aと
固定スリット板4の固定スリット4aの交差範囲を通過
する光のみが光位置検出素子5の受光面に入射する。従
って、回転スリット板2が回転軸1と共に回転すると、
回転スリット板2の螺旋状スリット2aと固定スリット
板4の固定スリット4aの交差範囲は回転スリット板2
の半径方向に順次移動し、光位置検出素子5上での受光
位置は回転スリット板2の半径方向に移動して回転スリ
ット板2の回転角度に応じて変化するので、光位置検出
素子5上での受光位置を光位置検出素子5の両端電極に
接続されている出力端子6及び8からの出力電流の出力
電流比を図示しない検出系で検出することによって、回
転軸1の回転角度を検出することができる。従って、回
転軸1を接続している被測定体の回転角度を検出するこ
とができる。
が回転スリット板2の方向に出射されると、出射された
光は回転スリット板2上の投射範囲Sに投射され、この
投射光の内、回転スリット板2の螺旋状スリット2aと
固定スリット板4の固定スリット4aの交差範囲を通過
する光のみが光位置検出素子5の受光面に入射する。従
って、回転スリット板2が回転軸1と共に回転すると、
回転スリット板2の螺旋状スリット2aと固定スリット
板4の固定スリット4aの交差範囲は回転スリット板2
の半径方向に順次移動し、光位置検出素子5上での受光
位置は回転スリット板2の半径方向に移動して回転スリ
ット板2の回転角度に応じて変化するので、光位置検出
素子5上での受光位置を光位置検出素子5の両端電極に
接続されている出力端子6及び8からの出力電流の出力
電流比を図示しない検出系で検出することによって、回
転軸1の回転角度を検出することができる。従って、回
転軸1を接続している被測定体の回転角度を検出するこ
とができる。
【0005】次に、図17を参照して特開昭61−12
4821号公報において開示されている従来の光学式回
転角度検出装置について説明する。この図17におい
て、図16と対応する部分には同一符号を付し、その詳
細説明を省略する。図において、9は図17Bに示すよ
うにその形状が円柱状となっているケース、10は回転
軸1を支持するための回転軸受け、11はケース9の内
側、且つ、このケース9の回転軸受け10側に取り付け
られた環状の素子支持基板、12はケース9の内側、且
つ、ケース9の内側に取り付けられた環状の素子支持基
板10上に素子支持基板10と同様に取り付けられた環
状の光位置検出素子である。また、13はケース9の内
側にその光出射方向を向け、回転軸1の軸と光軸が一致
するようケース9の孔に取り付けられている光源3から
の光を光位置検出素子12に入射させるための回転スリ
ット部材である。この回転スリット部材13は、その界
面に光反射層13dが形成されている透光体13aから
なり、この透光体13aは、光源3からの光を通過させ
るための光源側スリット13b、光源側スリット13b
から入射した光を反射させるため第1反射面13c、こ
の第1反射面13cで反射された光を反射する第2反射
面13e、この第2反射面13eで反射された光を光位
置検出素子12に入射させるための受光側スリット13
fが形成されている。
4821号公報において開示されている従来の光学式回
転角度検出装置について説明する。この図17におい
て、図16と対応する部分には同一符号を付し、その詳
細説明を省略する。図において、9は図17Bに示すよ
うにその形状が円柱状となっているケース、10は回転
軸1を支持するための回転軸受け、11はケース9の内
側、且つ、このケース9の回転軸受け10側に取り付け
られた環状の素子支持基板、12はケース9の内側、且
つ、ケース9の内側に取り付けられた環状の素子支持基
板10上に素子支持基板10と同様に取り付けられた環
状の光位置検出素子である。また、13はケース9の内
側にその光出射方向を向け、回転軸1の軸と光軸が一致
するようケース9の孔に取り付けられている光源3から
の光を光位置検出素子12に入射させるための回転スリ
ット部材である。この回転スリット部材13は、その界
面に光反射層13dが形成されている透光体13aから
なり、この透光体13aは、光源3からの光を通過させ
るための光源側スリット13b、光源側スリット13b
から入射した光を反射させるため第1反射面13c、こ
の第1反射面13cで反射された光を反射する第2反射
面13e、この第2反射面13eで反射された光を光位
置検出素子12に入射させるための受光側スリット13
fが形成されている。
【0006】次に動作について説明する。光源3から光
が出射されると、この出射光の一部が回転スリット部材
13の光源側スリット13bから透光体13aに入射し
た光は、図17Aにおいて一点鎖線で示すように、この
透光体13a内部に形成された第1反射面13cで反射
され、この透光体13aを透過して第2反射面13eに
到達し、この第2反射面13eで反射され、更にこの透
光体13aを透過した後に受光側スリット13fを通っ
て光位置検出素子12の受光面に入射する。この場合、
回転スリット部材13の回転と共に光位置検出素子12
に対する光の投射範囲S(スポット)が変化するので、
光位置検出素子12上での受光位置を光位置検出素子1
2の両端電極に接続されている出力端子6及び8からの
出力電流の出力電流比を図示しない検出系で検出するこ
とによって、回転軸1の回転角度を検出することができ
る。従って、回転軸1を接続している被測定体の回転角
度を検出することができる。
が出射されると、この出射光の一部が回転スリット部材
13の光源側スリット13bから透光体13aに入射し
た光は、図17Aにおいて一点鎖線で示すように、この
透光体13a内部に形成された第1反射面13cで反射
され、この透光体13aを透過して第2反射面13eに
到達し、この第2反射面13eで反射され、更にこの透
光体13aを透過した後に受光側スリット13fを通っ
て光位置検出素子12の受光面に入射する。この場合、
回転スリット部材13の回転と共に光位置検出素子12
に対する光の投射範囲S(スポット)が変化するので、
光位置検出素子12上での受光位置を光位置検出素子1
2の両端電極に接続されている出力端子6及び8からの
出力電流の出力電流比を図示しない検出系で検出するこ
とによって、回転軸1の回転角度を検出することができ
る。従って、回転軸1を接続している被測定体の回転角
度を検出することができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の光学式回転角度
検出装置は以上のように構成されているので、以下のよ
うな問題点があった。即ち、図16を用いて説明した光
学式回転角度検出装置においては、回転角度変化を光位
置検出素子5の半径方向の受光位置でスリット位置変化
に対して1対1で検出するようにしているので、螺旋状
スリット2a及び固定スリット4aを細かくしないで検
出精度を向上させようとすると、半径方向に検出距離を
伸ばさざるを得なくなり、装置の径が大きくなり、しか
も光源3からスリットを介して所定のスポット径を得る
ようにしているので、光源3の発光量を増す必要があ
り、それだけ光源3の寿命が短くなるなどの問題点があ
った。
検出装置は以上のように構成されているので、以下のよ
うな問題点があった。即ち、図16を用いて説明した光
学式回転角度検出装置においては、回転角度変化を光位
置検出素子5の半径方向の受光位置でスリット位置変化
に対して1対1で検出するようにしているので、螺旋状
スリット2a及び固定スリット4aを細かくしないで検
出精度を向上させようとすると、半径方向に検出距離を
伸ばさざるを得なくなり、装置の径が大きくなり、しか
も光源3からスリットを介して所定のスポット径を得る
ようにしているので、光源3の発光量を増す必要があ
り、それだけ光源3の寿命が短くなるなどの問題点があ
った。
【0008】また、図17を用いて説明した光学式回転
角度検出装置においては、光位置検出素子12の受光面
でのスポットの径つまり、図17Bに示す光の投射範囲
S(スポット)の径が、受光側スリット13fを透過す
る斜め透過光の存在により、受光側スリット13fの径
よりも大きくなるので、光位置検出素子12の受光長を
有効に利用することができず、検出角度範囲が狭い場合
や、検出角度範囲が2πに近い場合の測定には不向きで
あると共に、回転軸1と同軸に光源3が配置されている
ので両軸構成を採用することができないなどの問題点が
あった。
角度検出装置においては、光位置検出素子12の受光面
でのスポットの径つまり、図17Bに示す光の投射範囲
S(スポット)の径が、受光側スリット13fを透過す
る斜め透過光の存在により、受光側スリット13fの径
よりも大きくなるので、光位置検出素子12の受光長を
有効に利用することができず、検出角度範囲が狭い場合
や、検出角度範囲が2πに近い場合の測定には不向きで
あると共に、回転軸1と同軸に光源3が配置されている
ので両軸構成を採用することができないなどの問題点が
あった。
【0009】この発明はこのような問題点を解決するた
めになされたもので、角度検出範囲の大小にかかわらず
高い精度で被測定体の回転角度を検出できると共に、簡
単に両軸化が実現でき、小型、且つ、光源の長寿命化を
図ることのできる光学式回転角度検出装置を得ることを
目的とする。
めになされたもので、角度検出範囲の大小にかかわらず
高い精度で被測定体の回転角度を検出できると共に、簡
単に両軸化が実現でき、小型、且つ、光源の長寿命化を
図ることのできる光学式回転角度検出装置を得ることを
目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明に係
る光学式回転角度検出装置は、被測定体に取り付けられ
るかその一部である回転軸と、この回転軸に取り付けら
れて一体に回転する回転部材とを備え、この回転部材は
その上面および底面の少なくとも一方の一部分が上記回
転軸に垂直な下面からの高さが回転角度に応じて異なる
ように螺旋状に形成された光学拡散面とされ、この光学
拡散面と上記回転軸に垂直な基準面との間の距離が回転
角度に応じて異なるように形成され、更に、この回転部
材の上記光学拡散面に光を照射する光源と、上記回転部
材の上記光学拡散面からの反射光を上記回転部材の上記
基準面からの距離に応じた入射位置に集光させる集光光
学系と、この集光光学系の略集光位置に配置された光位
置検出素子とを備え、この光位置検出素子上の光入射位
置に基いて、上記被測定体の回転角度を検出するように
したものである。
る光学式回転角度検出装置は、被測定体に取り付けられ
るかその一部である回転軸と、この回転軸に取り付けら
れて一体に回転する回転部材とを備え、この回転部材は
その上面および底面の少なくとも一方の一部分が上記回
転軸に垂直な下面からの高さが回転角度に応じて異なる
ように螺旋状に形成された光学拡散面とされ、この光学
拡散面と上記回転軸に垂直な基準面との間の距離が回転
角度に応じて異なるように形成され、更に、この回転部
材の上記光学拡散面に光を照射する光源と、上記回転部
材の上記光学拡散面からの反射光を上記回転部材の上記
基準面からの距離に応じた入射位置に集光させる集光光
学系と、この集光光学系の略集光位置に配置された光位
置検出素子とを備え、この光位置検出素子上の光入射位
置に基いて、上記被測定体の回転角度を検出するように
したものである。
【0011】また、請求項2記載の発明に係る光学式回
転角度検出装置は、被測定体に取り付けられるかその一
部である回転軸と、この回転軸に取り付けられて一体に
回転する回転部材とを備え、この回転部材はその上面お
よび底面の少なくとも一方の一部分が上記回転軸に垂直
な下面からの高さが回転角度に応じて異なるように螺旋
状に形成された光学拡散面とされ、この光学拡散面と上
記回転軸に垂直な基準面との間の距離Hが回転角度θに
対し、H=1/(a×θ+b)(但しa、bは所定の定
数)となるように上記光学拡散面が形成され、更に、こ
の回転部材の上記光学拡散面に光を照射する光源と、上
記回転部材の上記光学拡散面からの反射光を上記回転部
材の上記基準面からの距離に応じた入射位置に集光させ
る集光光学系と、この集光光学系の略集光位置に配置さ
れた光位置検出素子とを備え、この光位置検出素子上の
光入射位置に基いて、上記被測定体の回転角度を検出す
るようにしたものである。
転角度検出装置は、被測定体に取り付けられるかその一
部である回転軸と、この回転軸に取り付けられて一体に
回転する回転部材とを備え、この回転部材はその上面お
よび底面の少なくとも一方の一部分が上記回転軸に垂直
な下面からの高さが回転角度に応じて異なるように螺旋
状に形成された光学拡散面とされ、この光学拡散面と上
記回転軸に垂直な基準面との間の距離Hが回転角度θに
対し、H=1/(a×θ+b)(但しa、bは所定の定
数)となるように上記光学拡散面が形成され、更に、こ
の回転部材の上記光学拡散面に光を照射する光源と、上
記回転部材の上記光学拡散面からの反射光を上記回転部
材の上記基準面からの距離に応じた入射位置に集光させ
る集光光学系と、この集光光学系の略集光位置に配置さ
れた光位置検出素子とを備え、この光位置検出素子上の
光入射位置に基いて、上記被測定体の回転角度を検出す
るようにしたものである。
【0012】
【作用】請求項1記載の発明においては、回転部材の、
回転軸に垂直な下面からの高さが回転角度に応じて異な
るように螺旋状に形成された光学拡散面からの反射光を
回転部材の基準面からの距離に応じた入射位置に集光さ
せる集光光学系の略集光位置に配置された光位置検出素
子上の光入射位置に基いて、被測定体の回転角度を検出
する。これにより、角度検出範囲の大小にかかわらず精
度良く回転角度を検出でき、両軸構成が容易、且つ、小
型で、光源が長寿命の装置を得ることができる。
回転軸に垂直な下面からの高さが回転角度に応じて異な
るように螺旋状に形成された光学拡散面からの反射光を
回転部材の基準面からの距離に応じた入射位置に集光さ
せる集光光学系の略集光位置に配置された光位置検出素
子上の光入射位置に基いて、被測定体の回転角度を検出
する。これにより、角度検出範囲の大小にかかわらず精
度良く回転角度を検出でき、両軸構成が容易、且つ、小
型で、光源が長寿命の装置を得ることができる。
【0013】また、請求項2記載の発明においては、回
転軸に垂直な基準面からの距離Hが回転角度θに対し、
H=1/(a×θ+b)(但しa、bは所定の定数)と
なるように回転部材に、回転軸に垂直な下面からの高さ
が回転角度に応じて異なるように螺旋状に形成された光
学拡散面からの反射光を回転部材の基準面からの距離に
応じた入射位置に集光光学系で集光させ、この集光光学
系の略集光位置に配置された光位置検出素子上の光入射
位置に基いて、被測定体の回転角度を検出する。これに
より、回転角度に比例したリニアな出力を得ることがで
きると共に、角度検出範囲の大小にかかわらず精度良く
回転角度を検出でき、両軸構成が容易、且つ、小型で安
価な、しかも光源が長寿命の装置を得ることができる。
転軸に垂直な基準面からの距離Hが回転角度θに対し、
H=1/(a×θ+b)(但しa、bは所定の定数)と
なるように回転部材に、回転軸に垂直な下面からの高さ
が回転角度に応じて異なるように螺旋状に形成された光
学拡散面からの反射光を回転部材の基準面からの距離に
応じた入射位置に集光光学系で集光させ、この集光光学
系の略集光位置に配置された光位置検出素子上の光入射
位置に基いて、被測定体の回転角度を検出する。これに
より、回転角度に比例したリニアな出力を得ることがで
きると共に、角度検出範囲の大小にかかわらず精度良く
回転角度を検出でき、両軸構成が容易、且つ、小型で安
価な、しかも光源が長寿命の装置を得ることができる。
【0014】
実施例1.以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図1はこの発明の一実施例を示す構成図であり、
図において、図16及び図17と対応する部分には同一
符号を付し、その詳細説明を省略する。15は図示しな
い被測定体に係止され、或いは被測定体の一部をなす回
転軸1に固着、或いは回転軸1と一体に形成され、回転
軸1と共に回転するようにした回転部材である。16は
この回転部材15の上面の一部に、回転軸1に垂直な下
面からの高さが回転角度に応じて異なるように螺旋状に
形成された光学拡散面であり、この例においては、回転
部材15の下面からの高さが360度の角度範囲におけ
る回転角度に応じて異なるように形成する。
する。図1はこの発明の一実施例を示す構成図であり、
図において、図16及び図17と対応する部分には同一
符号を付し、その詳細説明を省略する。15は図示しな
い被測定体に係止され、或いは被測定体の一部をなす回
転軸1に固着、或いは回転軸1と一体に形成され、回転
軸1と共に回転するようにした回転部材である。16は
この回転部材15の上面の一部に、回転軸1に垂直な下
面からの高さが回転角度に応じて異なるように螺旋状に
形成された光学拡散面であり、この例においては、回転
部材15の下面からの高さが360度の角度範囲におけ
る回転角度に応じて異なるように形成する。
【0015】17は光学系19の入力端子18を介して
光源3に駆動電流を供給し、光源3から光を出射させる
と共に、光学系19の出力端子22及び23を介して供
給される出力電流に基いて被測定体の回転角度を検出
し、その検出結果を出力端子24を介して出力するため
の検出回路である。光学系19は、例えば放射光軸が回
転軸1と略平行、且つ、狭指向角のLEDなどの光源3
と、この光源3から出射された光が光学拡散面16で反
射された反射光を集光するための集光レンズ20、この
集光レンズ20で集光した光を受光するため光学系19
の略結像位置に配置され、その両端に電極21a及び2
1bをそれぞれ形成した光位置検出素子21で構成す
る。
光源3に駆動電流を供給し、光源3から光を出射させる
と共に、光学系19の出力端子22及び23を介して供
給される出力電流に基いて被測定体の回転角度を検出
し、その検出結果を出力端子24を介して出力するため
の検出回路である。光学系19は、例えば放射光軸が回
転軸1と略平行、且つ、狭指向角のLEDなどの光源3
と、この光源3から出射された光が光学拡散面16で反
射された反射光を集光するための集光レンズ20、この
集光レンズ20で集光した光を受光するため光学系19
の略結像位置に配置され、その両端に電極21a及び2
1bをそれぞれ形成した光位置検出素子21で構成す
る。
【0016】ここで、この光位置検出素子21に例えば
半導体一次元光位置検出素子を用いる。光位置検出素子
21として半導体一次元光位置検出素子を用いる場合、
光源3として用いるLEDは例えば約800〜900n
mの波長を有する近赤外線LEDが感度の点で有利とな
る。しかしながら、回転部材15の周囲を密閉する場合
には、アモルファス一次元光位置検出素子と可視光LE
Dの使用がコスト上有利である。また、自然光雰囲気に
て半導体一次元光位置検出素子を用いる場合、半導体一
次元光位置検出素子が可視光領域にも感度を持つため、
検出素子の前に可視光カットフィルタを設ける必要があ
る。尚、以下に示す例においては、光位置検出素子21
として例えばフォトダイオード上に一様な抵抗層を形成
し、その両端に電極を設けたものとする。
半導体一次元光位置検出素子を用いる。光位置検出素子
21として半導体一次元光位置検出素子を用いる場合、
光源3として用いるLEDは例えば約800〜900n
mの波長を有する近赤外線LEDが感度の点で有利とな
る。しかしながら、回転部材15の周囲を密閉する場合
には、アモルファス一次元光位置検出素子と可視光LE
Dの使用がコスト上有利である。また、自然光雰囲気に
て半導体一次元光位置検出素子を用いる場合、半導体一
次元光位置検出素子が可視光領域にも感度を持つため、
検出素子の前に可視光カットフィルタを設ける必要があ
る。尚、以下に示す例においては、光位置検出素子21
として例えばフォトダイオード上に一様な抵抗層を形成
し、その両端に電極を設けたものとする。
【0017】図2は図1に示した光学式回転角度検出装
置のA−A線断面図である。この図において図1、図1
6及び図17と対応する部分には同一符号を付し、その
詳細説明を省略する。25は後述する検出回路17(図
4参照)並びに図1で示した光学系19などを実装する
ための環状の基板で、この基板25をケース9の内部上
面に取り付ける。26は皿バネで、この皿バネ26を回
転部材15の上部及び片側の回転軸受け10間に取り付
ける。取り付けた皿バネ26はその偏倚力によって回転
部材15を回転軸受け10に押しつけるよう作用するの
で、軸方向のがたつきをなくすことができる。
置のA−A線断面図である。この図において図1、図1
6及び図17と対応する部分には同一符号を付し、その
詳細説明を省略する。25は後述する検出回路17(図
4参照)並びに図1で示した光学系19などを実装する
ための環状の基板で、この基板25をケース9の内部上
面に取り付ける。26は皿バネで、この皿バネ26を回
転部材15の上部及び片側の回転軸受け10間に取り付
ける。取り付けた皿バネ26はその偏倚力によって回転
部材15を回転軸受け10に押しつけるよう作用するの
で、軸方向のがたつきをなくすことができる。
【0018】光学系19は上述したように、基板25に
実装する。すなわち図に示すように、基板25の左側に
光源3を光の出射方向を図において下方となるよう実装
し、基板25に実装した光源3を囲むようにこの光源3
から出射する光を絞るための絞り部材27を実装し、こ
の基板25の右側に光位置検出素子21を実装し、更に
この光位置検出素子21の受光面に光を略結像できる位
置となるように、絞り部材27及び支持部材28で集光
レンズ20を支持するようにする。ここで、回転部材1
5は例えば熱膨張率の小さいプラスチック材を材料と
し、回転軸1を射出成形機の射出成形部分に挿入した状
態で一体に射出成形を行って製造する。また、光学拡散
面16は回転部材15の上面を粗面化して形成するよう
にする。図3は図1及び図2に示した光学系の上面図で
ある。この図3に示すように、光源3と光位置検出素子
21を結ぶ光学系19の長軸方向を回転部材15の回転
半径方向に一致させて配置するようにする。
実装する。すなわち図に示すように、基板25の左側に
光源3を光の出射方向を図において下方となるよう実装
し、基板25に実装した光源3を囲むようにこの光源3
から出射する光を絞るための絞り部材27を実装し、こ
の基板25の右側に光位置検出素子21を実装し、更に
この光位置検出素子21の受光面に光を略結像できる位
置となるように、絞り部材27及び支持部材28で集光
レンズ20を支持するようにする。ここで、回転部材1
5は例えば熱膨張率の小さいプラスチック材を材料と
し、回転軸1を射出成形機の射出成形部分に挿入した状
態で一体に射出成形を行って製造する。また、光学拡散
面16は回転部材15の上面を粗面化して形成するよう
にする。図3は図1及び図2に示した光学系の上面図で
ある。この図3に示すように、光源3と光位置検出素子
21を結ぶ光学系19の長軸方向を回転部材15の回転
半径方向に一致させて配置するようにする。
【0019】図4は、図1に示した光学式回転角度検出
装置の光学系の構成及び検出回路17の電気的構成を示
す図である。この図4において、図1〜図3と対応する
部分には同一符号を付し、その詳細説明を省略する。図
において、29及び34は光位置検出素子21の一方及
び他方の電極21a及び21bから入力端子22及び2
3を介してそれぞれ供給される出力電流を電圧V1及び
V2に変換する電流/電圧変換(I/V)回路、30は
これら電流/電圧変換回路29及び34からの出力電圧
V1及びV2を加算する加算回路である。31はその非
反転入力端子(+)に比較用の比較電圧Vsが供給され
る電源端子32を接続し、その反転入力端子(−)及び
出力端子間を積分用のコンデンサ33で接続し、さらに
反転入力端子(−)を加算回路30に接続し、加算回路
30からの加算出力を比較電圧Vsと比較するための比
較積分回路、35はその一方の入力端子にゲイン電圧K
が供給される電源端子36を接続し、このゲイン電圧K
をその他方の入力端子に供給される電流/電圧変換回路
34からの出力電圧V2で割算する割算回路、37はそ
の一方の入力端子にバイアス電圧Vbが供給される電源
端子38を接続し、割算回路35からの割算結果、すな
わち、その他方の入力端子に供給されるK/V2とバイ
アス電圧Vbを加算し、角度検出値としての出力電圧V
outを得るための加算回路である。
装置の光学系の構成及び検出回路17の電気的構成を示
す図である。この図4において、図1〜図3と対応する
部分には同一符号を付し、その詳細説明を省略する。図
において、29及び34は光位置検出素子21の一方及
び他方の電極21a及び21bから入力端子22及び2
3を介してそれぞれ供給される出力電流を電圧V1及び
V2に変換する電流/電圧変換(I/V)回路、30は
これら電流/電圧変換回路29及び34からの出力電圧
V1及びV2を加算する加算回路である。31はその非
反転入力端子(+)に比較用の比較電圧Vsが供給され
る電源端子32を接続し、その反転入力端子(−)及び
出力端子間を積分用のコンデンサ33で接続し、さらに
反転入力端子(−)を加算回路30に接続し、加算回路
30からの加算出力を比較電圧Vsと比較するための比
較積分回路、35はその一方の入力端子にゲイン電圧K
が供給される電源端子36を接続し、このゲイン電圧K
をその他方の入力端子に供給される電流/電圧変換回路
34からの出力電圧V2で割算する割算回路、37はそ
の一方の入力端子にバイアス電圧Vbが供給される電源
端子38を接続し、割算回路35からの割算結果、すな
わち、その他方の入力端子に供給されるK/V2とバイ
アス電圧Vbを加算し、角度検出値としての出力電圧V
outを得るための加算回路である。
【0020】次に動作について説明する。光源3から絞
り部材27を介し狭指向角の放射光が回転部材15上面
の光学拡散面16上の投射範囲S(図1参照)に投射さ
れると、光学拡散面16の投射範囲Sでの拡散反射光の
内、集光レンズ20を臨む立体角の拡散反射光が集光レ
ンズ20によって光位置検出素子21上の受光面に集光
される。光位置検出素子21に入射した光束は、フォト
ダイオードによる光電変換層で光電流に変換される。こ
の光電流は光束入射位置に対応した分流比で抵抗層を分
流して流れ、その両端に形成した電極21a及び21b
からそれぞれ電流I1及びI2(図4参照)として出力
され、この電流I1及びI2はそれぞれ検出回路17の
各入力端子22及び23を介して電流/電圧変換回路2
9及び34にそれぞれ供給される。このとき、光位置検
出素子21上の光束入射位置X(図4参照)は、電流I
1及びI2により、次のように求めることができる。
り部材27を介し狭指向角の放射光が回転部材15上面
の光学拡散面16上の投射範囲S(図1参照)に投射さ
れると、光学拡散面16の投射範囲Sでの拡散反射光の
内、集光レンズ20を臨む立体角の拡散反射光が集光レ
ンズ20によって光位置検出素子21上の受光面に集光
される。光位置検出素子21に入射した光束は、フォト
ダイオードによる光電変換層で光電流に変換される。こ
の光電流は光束入射位置に対応した分流比で抵抗層を分
流して流れ、その両端に形成した電極21a及び21b
からそれぞれ電流I1及びI2(図4参照)として出力
され、この電流I1及びI2はそれぞれ検出回路17の
各入力端子22及び23を介して電流/電圧変換回路2
9及び34にそれぞれ供給される。このとき、光位置検
出素子21上の光束入射位置X(図4参照)は、電流I
1及びI2により、次のように求めることができる。
【0021】 X=L×I2/(I1+I2) ・・・(1)
【0022】但し、上記(1)式において、Lは光位置
検出素子21の受光長である。
検出素子21の受光長である。
【0023】また、回転軸1の回転に伴い、回転部材1
5が回転すると、回転部材15上面の光学拡散面16上
の投射範囲Sと集光レンズ20との距離H(図4参照)
は回転部材15の回転角度θにより変化し、距離H
(θ)は三角測量の原理により、次のように求めること
ができる。
5が回転すると、回転部材15上面の光学拡散面16上
の投射範囲Sと集光レンズ20との距離H(図4参照)
は回転部材15の回転角度θにより変化し、距離H
(θ)は三角測量の原理により、次のように求めること
ができる。
【0024】 H(θ)=f×B/X =f×B×(I1+I2)/(L×I2) ・・・(2)
【0025】但し、上記(2)式において、fは集光レ
ンズ20の焦点距離、Bは光源3の放射光軸及び集光レ
ンズ20の光軸間の基準距離である(図4参照)。
ンズ20の焦点距離、Bは光源3の放射光軸及び集光レ
ンズ20の光軸間の基準距離である(図4参照)。
【0026】次に、検出回路17においては、光位置検
出素子21からの検出電流I1及びI2が各々電流/電
圧変換回路29及び34で電圧V1及びV2に変換さ
れ、変換によって得られた電圧V1及びV2が加算回路
30で加算されて電圧(V1+V2)となり、この加算
回路30での加算結果が比較積分回路31に供給され、
この比較積分回路31において所定の一定電圧Vsとな
るよう光源の発光量が制御される。これによって、上記
(2)式の分子が一定値とされ、一方の電流I2に対応
する電圧V2に対し、割算回路35で所定のゲインKよ
りK/V2が求められ、加算回路37で所定のバイアス
電圧Vbが加算され、これが加算結果Vout、すなわ
ち、角度検出値として出力端子24から出力される。こ
の加算結果Voutは次の式で表すことができる。
出素子21からの検出電流I1及びI2が各々電流/電
圧変換回路29及び34で電圧V1及びV2に変換さ
れ、変換によって得られた電圧V1及びV2が加算回路
30で加算されて電圧(V1+V2)となり、この加算
回路30での加算結果が比較積分回路31に供給され、
この比較積分回路31において所定の一定電圧Vsとな
るよう光源の発光量が制御される。これによって、上記
(2)式の分子が一定値とされ、一方の電流I2に対応
する電圧V2に対し、割算回路35で所定のゲインKよ
りK/V2が求められ、加算回路37で所定のバイアス
電圧Vbが加算され、これが加算結果Vout、すなわ
ち、角度検出値として出力端子24から出力される。こ
の加算結果Voutは次の式で表すことができる。
【0027】 Vout(θ)=(K/V2)+Vb ・・・(3)
【0028】図5は図1〜図4を参照して説明した光学
式回転角度検出装置の出力特性図であり、y軸を出力V
out、x軸を角度θ(角度範囲360度)とし、その
出力特性を示している。上記(2)式及び(3)式から
出力電圧Voutは距離Hに比例する。回転部材15の
螺旋状の光学拡散面16は、距離Hが回転角度θに正比
例するよう形成しているので、これにより、出力電圧V
outはこの図5に示すように、回転軸1の回転角度θ
に比例した非常にリニアな出力となる。
式回転角度検出装置の出力特性図であり、y軸を出力V
out、x軸を角度θ(角度範囲360度)とし、その
出力特性を示している。上記(2)式及び(3)式から
出力電圧Voutは距離Hに比例する。回転部材15の
螺旋状の光学拡散面16は、距離Hが回転角度θに正比
例するよう形成しているので、これにより、出力電圧V
outはこの図5に示すように、回転軸1の回転角度θ
に比例した非常にリニアな出力となる。
【0029】このように本実施例においては、回転部材
15の上面に螺旋状に形成した光学拡散面16に光源3
からの光を照射し、光学拡散面16からの反射光を集光
レンズ20で光位置検出素子21に集光させ、この光位
置検出素子21の両端の電極21a及び21bからの出
力電流I1及びI2を電流/電圧変換回路29及び34
でそれぞれ電圧V1及びV2に変換し、これら2つの電
圧V1及びV2を加算回路30で加算し、その加算出力
が所定の一定電圧Vsとなるように光源3の発光量を制
御すると共に、電流/電圧変換回路34からの出力電圧
V2でゲインKを割算し、その出力に所定のバイアス電
圧Vbを加算して出力電圧Vout、すなわち、角度検
出値を得るようにしたので、回転の角度検出範囲の大小
にかかわらず高い精度で被測定体の回転角度を検出でき
ると共に、光学系19を回転部材15の片側の回転軸1
付近にコンパクトに形成できるので、簡単に両軸化を実
現することができ、且つ、装置を小型(回転部材15及
びケース9を小径)にすることができる。また、光源3
はスリットを介在することなく直接光学拡散面16を照
射できるので、それだけ発光量を少なくすることがで
き、長寿命化が可能となる。
15の上面に螺旋状に形成した光学拡散面16に光源3
からの光を照射し、光学拡散面16からの反射光を集光
レンズ20で光位置検出素子21に集光させ、この光位
置検出素子21の両端の電極21a及び21bからの出
力電流I1及びI2を電流/電圧変換回路29及び34
でそれぞれ電圧V1及びV2に変換し、これら2つの電
圧V1及びV2を加算回路30で加算し、その加算出力
が所定の一定電圧Vsとなるように光源3の発光量を制
御すると共に、電流/電圧変換回路34からの出力電圧
V2でゲインKを割算し、その出力に所定のバイアス電
圧Vbを加算して出力電圧Vout、すなわち、角度検
出値を得るようにしたので、回転の角度検出範囲の大小
にかかわらず高い精度で被測定体の回転角度を検出でき
ると共に、光学系19を回転部材15の片側の回転軸1
付近にコンパクトに形成できるので、簡単に両軸化を実
現することができ、且つ、装置を小型(回転部材15及
びケース9を小径)にすることができる。また、光源3
はスリットを介在することなく直接光学拡散面16を照
射できるので、それだけ発光量を少なくすることがで
き、長寿命化が可能となる。
【0030】実施例2.上記実施例においては、光源3
と光位置検出素子21を結ぶ光学系19の長軸方向を回
転部材15の回転半径方向に一致させて配置するように
した場合について説明したが(図3参照)、図6に示す
ように、光学系19の長軸方向を接線方向に配置するよ
うにしても良い。この場合は装置を更に小型(回転部材
15及びケース9を小径)にすることができる。
と光位置検出素子21を結ぶ光学系19の長軸方向を回
転部材15の回転半径方向に一致させて配置するように
した場合について説明したが(図3参照)、図6に示す
ように、光学系19の長軸方向を接線方向に配置するよ
うにしても良い。この場合は装置を更に小型(回転部材
15及びケース9を小径)にすることができる。
【0031】実施例3.図7はこの発明の更に他の実施
例の光学式回転角度検出装置の光学系の構成及び検出回
路17Aの電気的構成を示す図である。この図7におい
て、図4と対応する部分には同一符号を付し、その詳細
説明を省略する。図において、40は所定のゲインKを
かける増幅回路である。そしてこの例においては、図に
示すように、電流/電圧変換回路34の出力端子を加算
回路30及び比較積分回路31の反転入力端子(−)に
接続し、更に加算回路30の出力端子を増幅回路40を
介して加算回路37の入力端子に接続する。
例の光学式回転角度検出装置の光学系の構成及び検出回
路17Aの電気的構成を示す図である。この図7におい
て、図4と対応する部分には同一符号を付し、その詳細
説明を省略する。図において、40は所定のゲインKを
かける増幅回路である。そしてこの例においては、図に
示すように、電流/電圧変換回路34の出力端子を加算
回路30及び比較積分回路31の反転入力端子(−)に
接続し、更に加算回路30の出力端子を増幅回路40を
介して加算回路37の入力端子に接続する。
【0032】この場合においては光位置検出素子21の
一方の検出電流I2に対応した電圧V2が所定の一定電
圧Vsとなるように比較積分回路31で光源3の発光量
を制御すると共に、電圧V1及びV2を加算回路30で
加算して電圧(V1+V2)を得、この電圧(V1+V
2)に増幅回路40で所定のゲインKをかけた後、この
出力に加算回路37で所定のバイアス電圧Vbを加算し
て出力電圧Voutを得ることができる。このときの出
力電圧Voutは次のように表すことができる。
一方の検出電流I2に対応した電圧V2が所定の一定電
圧Vsとなるように比較積分回路31で光源3の発光量
を制御すると共に、電圧V1及びV2を加算回路30で
加算して電圧(V1+V2)を得、この電圧(V1+V
2)に増幅回路40で所定のゲインKをかけた後、この
出力に加算回路37で所定のバイアス電圧Vbを加算し
て出力電圧Voutを得ることができる。このときの出
力電圧Voutは次のように表すことができる。
【0033】 Vout(θ)=K×(V1+V2)+Vb ・・・(4)
【0034】光学式回転角度検出装置をこのように構成
した場合においても、上記(2)式および(4)式から
出力電圧Voutはやはり距離Hに比例するため、前述
の実施例と同様図5のようなリニアな出力を得ることが
できると共に、図4において説明した割算回路35が必
要でなくなるので、回路構成が簡単になると共に、装置
のコストダウンを図ることができる。
した場合においても、上記(2)式および(4)式から
出力電圧Voutはやはり距離Hに比例するため、前述
の実施例と同様図5のようなリニアな出力を得ることが
できると共に、図4において説明した割算回路35が必
要でなくなるので、回路構成が簡単になると共に、装置
のコストダウンを図ることができる。
【0035】実施例4.図8はこの発明の更に他の実施
例の光学式回転角度検出装置の光学系の構成及び検出回
路17Bの電気的構成を示す図である。この図8におい
て、図4及び図7と対応する部分には同一符号を付し、
その詳細説明を省略する。この例においては、電流/電
圧変換回路29の出力端子を加算回路30の一方の入力
端子に接続し、電流/電圧変換回路34の出力端子を加
算回路30の他方の入力端子に接続すると共に、この電
流/変換回路34の出力端子を増幅回路40を介して加
算回路37の入力端子に接続する。
例の光学式回転角度検出装置の光学系の構成及び検出回
路17Bの電気的構成を示す図である。この図8におい
て、図4及び図7と対応する部分には同一符号を付し、
その詳細説明を省略する。この例においては、電流/電
圧変換回路29の出力端子を加算回路30の一方の入力
端子に接続し、電流/電圧変換回路34の出力端子を加
算回路30の他方の入力端子に接続すると共に、この電
流/変換回路34の出力端子を増幅回路40を介して加
算回路37の入力端子に接続する。
【0036】この場合においては、回転部材15の回転
角度θに対して回転部材15の上面の光学拡散面16と
集光レンズ20との距離Hが図9に示す特性となるよう
に光学拡散面16を形成している。これを式で表すと次
のようになる。
角度θに対して回転部材15の上面の光学拡散面16と
集光レンズ20との距離Hが図9に示す特性となるよう
に光学拡散面16を形成している。これを式で表すと次
のようになる。
【0037】 H=1/(aθ+b) ・・・(5)
【0038】従って、回転軸1の回転角度θに対する光
位置検出素子21の光束入射位置Xは上記(2)式よ
り、次のように表すことができる。
位置検出素子21の光束入射位置Xは上記(2)式よ
り、次のように表すことができる。
【0039】 X=f×B×(aθ+b) ・・・(6)
【0040】すなわち、上記(6)式から明かなよう
に、光束入射位置Xは回転角度θに対してリニアに変化
するので、図8において加算結果(V1+V2)が所定
の一定電圧Vsとなるよう比較積分回路31で光源3の
発光量を制御し、一方の検出電流I2に対応した電圧V
2に増幅回路40で所定のゲインをかけた後、加算回路
37で所定のバイアス電圧Vbを加算して出力電圧Vo
utとして出力する。これによって、図5について説明
したものと同様、回転角度θに比例したリニアな出力を
得ることができる。光学式回転角度検出装置をこのよう
に構成した場合においても、図5において説明したよう
にリニアな出力を得ることができると共に、図4におい
て説明した割算回路35が必要でなくなるので、回路構
成が簡単になると共に、装置のコストダウンを図ること
ができる。
に、光束入射位置Xは回転角度θに対してリニアに変化
するので、図8において加算結果(V1+V2)が所定
の一定電圧Vsとなるよう比較積分回路31で光源3の
発光量を制御し、一方の検出電流I2に対応した電圧V
2に増幅回路40で所定のゲインをかけた後、加算回路
37で所定のバイアス電圧Vbを加算して出力電圧Vo
utとして出力する。これによって、図5について説明
したものと同様、回転角度θに比例したリニアな出力を
得ることができる。光学式回転角度検出装置をこのよう
に構成した場合においても、図5において説明したよう
にリニアな出力を得ることができると共に、図4におい
て説明した割算回路35が必要でなくなるので、回路構
成が簡単になると共に、装置のコストダウンを図ること
ができる。
【0041】実施例5.図10はこの発明の更に他の実
施例の光学式回転角度検出装置の光学系を示す図、図1
1は図10に示す光学系の出力特性図である。この図1
0において、図1〜図9と対応する部分には同一符号を
付し、その詳細説明を省略する。この例においては、円
柱状の回転部材45の上面を斜めにカットして光学拡散
面46を形成する。光学拡散面46と光学系19との距
離Hは回転角度θの2π周期関数となり、出力Vout
が図11に示すように360度周期で変化する。この例
においては、出力周期が2πとなるように光学拡散面4
6を形成した場合について示したが、回転部材45の上
面形状を変更することにより、様々な周期のものを得る
ことができる。
施例の光学式回転角度検出装置の光学系を示す図、図1
1は図10に示す光学系の出力特性図である。この図1
0において、図1〜図9と対応する部分には同一符号を
付し、その詳細説明を省略する。この例においては、円
柱状の回転部材45の上面を斜めにカットして光学拡散
面46を形成する。光学拡散面46と光学系19との距
離Hは回転角度θの2π周期関数となり、出力Vout
が図11に示すように360度周期で変化する。この例
においては、出力周期が2πとなるように光学拡散面4
6を形成した場合について示したが、回転部材45の上
面形状を変更することにより、様々な周期のものを得る
ことができる。
【0042】実施例6.図12はこの発明の更に他の実
施例の光学式回転角度検出装置の光学系の構成を示す
図、図13は図12に示す光学系の出力特性図である。
この図12において、図1〜図11と対応する部分には
同一符号を付し、その詳細説明を省略する。この例にお
いては、回転部材47の上下の面にそれぞれ回転角度検
出範囲の異なる螺旋状の光学拡散面48及び49を形成
し、これら回転部材47の上下の面にそれぞれ形成した
光学拡散面48及び49に対応して光学系19a,19
bを2つ用いるようにする。このように構成した場合、
2つの光学系19a,19bの各出力をma、mbとし
た場合、それぞれの出力特性は図13に示すようにな
る。この例においては回転角度θに対して感度の異なる
2つの出力を得るようにすることができるので、精度の
要求される角度範囲では感度の高い出力特性を用い、そ
の他の領域では感度の低い出力特性を用いるといった使
用法が可能となる。尚、図13では出力Voutとして
ma、mbを各々分けて示したが、出力ma、mbの加
算結果を実際の出力Voutとしても良い。
施例の光学式回転角度検出装置の光学系の構成を示す
図、図13は図12に示す光学系の出力特性図である。
この図12において、図1〜図11と対応する部分には
同一符号を付し、その詳細説明を省略する。この例にお
いては、回転部材47の上下の面にそれぞれ回転角度検
出範囲の異なる螺旋状の光学拡散面48及び49を形成
し、これら回転部材47の上下の面にそれぞれ形成した
光学拡散面48及び49に対応して光学系19a,19
bを2つ用いるようにする。このように構成した場合、
2つの光学系19a,19bの各出力をma、mbとし
た場合、それぞれの出力特性は図13に示すようにな
る。この例においては回転角度θに対して感度の異なる
2つの出力を得るようにすることができるので、精度の
要求される角度範囲では感度の高い出力特性を用い、そ
の他の領域では感度の低い出力特性を用いるといった使
用法が可能となる。尚、図13では出力Voutとして
ma、mbを各々分けて示したが、出力ma、mbの加
算結果を実際の出力Voutとしても良い。
【0043】実施例7.図14Aはこの発明の更に他の
実施例の光学式回転角度検出装置の光学系の構成を示す
図、図14Bは図14Aに示す光学系の上面図である。
この図14において、図1〜図12と対応する部分には
同一符号を付し、その詳細説明を省略する。この例にお
いては、回転部材50の上面に半径方向に領域を分割し
て各々回転角度検出範囲の異なる螺旋状の光学拡散面5
0a及び50bを形成する。そしてこれら2つの光学拡
散面50a及び50bに対応して2つの集光レンズ52
及び53(或いは一体に成形した集光レンズ)、並びに
2つの光位置検出素子53a及び53bを有する光学系
51を用いる。そして、光源3からの光を2つの光学拡
散面50a及び50bに分割して照射し、この反射光を
2つの集光レンズ52及び53で2つの光位置検出素子
53a及び53bに集光させ、その集光位置により、各
光学拡散面50a及び50bまでの距離を検出するよう
にする。
実施例の光学式回転角度検出装置の光学系の構成を示す
図、図14Bは図14Aに示す光学系の上面図である。
この図14において、図1〜図12と対応する部分には
同一符号を付し、その詳細説明を省略する。この例にお
いては、回転部材50の上面に半径方向に領域を分割し
て各々回転角度検出範囲の異なる螺旋状の光学拡散面5
0a及び50bを形成する。そしてこれら2つの光学拡
散面50a及び50bに対応して2つの集光レンズ52
及び53(或いは一体に成形した集光レンズ)、並びに
2つの光位置検出素子53a及び53bを有する光学系
51を用いる。そして、光源3からの光を2つの光学拡
散面50a及び50bに分割して照射し、この反射光を
2つの集光レンズ52及び53で2つの光位置検出素子
53a及び53bに集光させ、その集光位置により、各
光学拡散面50a及び50bまでの距離を検出するよう
にする。
【0044】このように構成した場合、2つの光位置検
出素子53a及び53bの各出力をma、mbとした場
合、それぞれの出力特性は図12に示した光学系と同
様、図13に示すようになる。この例においては回転角
度θに対して感度の異なる2つの出力を得るようにする
ことができるので、精度の要求される角度範囲では感度
の高い出力特性を用い、その他の領域では感度の低い出
力特性を用いるといった使用法が可能となる。また、光
源3が1つで済み、また集光レンズ52及び53を一体
成形で製造するようにすれば基板も分割する必要もない
ので、光学系51も1つで済み、これによって装置のコ
ストを削減することができる。尚、図13では出力Vo
utとしてma、mbを各々分けて示したが、出力m
a、mbの加算結果を実際の出力Voutとしても良
い。
出素子53a及び53bの各出力をma、mbとした場
合、それぞれの出力特性は図12に示した光学系と同
様、図13に示すようになる。この例においては回転角
度θに対して感度の異なる2つの出力を得るようにする
ことができるので、精度の要求される角度範囲では感度
の高い出力特性を用い、その他の領域では感度の低い出
力特性を用いるといった使用法が可能となる。また、光
源3が1つで済み、また集光レンズ52及び53を一体
成形で製造するようにすれば基板も分割する必要もない
ので、光学系51も1つで済み、これによって装置のコ
ストを削減することができる。尚、図13では出力Vo
utとしてma、mbを各々分けて示したが、出力m
a、mbの加算結果を実際の出力Voutとしても良
い。
【0045】実施例8.図15はこの発明の更に他の実
施例の光学式回転角度検出装置の光学系の構成を示す図
である。この図15において、図1〜図14と対応する
部分には同一符号を付し、その詳細説明を省略する。こ
の例においては、基板57の左側に光位置検出素子21
を実装し、中央よりやや右側に光源3を下方に向けて実
装し、この光源を囲むようにこの光源3の出射光を絞る
ための絞り部材59を実装し、更に光位置検出素子21
の受光面に光を略結像できる位置となるように、支持部
材58及び絞り部材59の左部分で集光レンズ20を支
持する。また、この基板57の右端部に支持部材60を
取付、この支持部材60に受光素子(例えばフォトダイ
オードなど)61をその受光面を左側に向けて取り付け
る。ここで、上記絞り部材59の右部分に受光素子61
に光を受光させるためのスリット59aを形成する。
施例の光学式回転角度検出装置の光学系の構成を示す図
である。この図15において、図1〜図14と対応する
部分には同一符号を付し、その詳細説明を省略する。こ
の例においては、基板57の左側に光位置検出素子21
を実装し、中央よりやや右側に光源3を下方に向けて実
装し、この光源を囲むようにこの光源3の出射光を絞る
ための絞り部材59を実装し、更に光位置検出素子21
の受光面に光を略結像できる位置となるように、支持部
材58及び絞り部材59の左部分で集光レンズ20を支
持する。また、この基板57の右端部に支持部材60を
取付、この支持部材60に受光素子(例えばフォトダイ
オードなど)61をその受光面を左側に向けて取り付け
る。ここで、上記絞り部材59の右部分に受光素子61
に光を受光させるためのスリット59aを形成する。
【0046】一方、回転部材55の上面に回転角度に対
し、周期的に距離Hが変化する光学拡散面55aを形成
すると共に、その外周部55bの上端部分に上記受光素
子61に光を受光させるためのスリット55cを形成す
る。この場合は、光源3から照射された光が光学拡散面
55aで反射された反射光を集光レンズ20で光位置検
出素子21に集光し、回転角度θを得ると共に、光源3
から出力された光の内、絞り部材59のスリット59a
及び回転部材55の外周部55bのスリット55cを通
った光を受光素子61で検出することにより、基準角度
位置を得ることができる。
し、周期的に距離Hが変化する光学拡散面55aを形成
すると共に、その外周部55bの上端部分に上記受光素
子61に光を受光させるためのスリット55cを形成す
る。この場合は、光源3から照射された光が光学拡散面
55aで反射された反射光を集光レンズ20で光位置検
出素子21に集光し、回転角度θを得ると共に、光源3
から出力された光の内、絞り部材59のスリット59a
及び回転部材55の外周部55bのスリット55cを通
った光を受光素子61で検出することにより、基準角度
位置を得ることができる。
【0047】実施例9.上記実施例8では外周部55b
のスリット55cを単一のものとした場合について説明
したが、例えば所定角度毎にスリット55cを設けるよ
うにすれば回転エンコーダを構成することができ、上記
各実施例に示す様々な角度検出範囲を有する光学拡散面
と組み合わせれば、アナログとディジタルの両回転角度
出力を得ることのできる多彩な回転角度検出装置を得る
ことができる。
のスリット55cを単一のものとした場合について説明
したが、例えば所定角度毎にスリット55cを設けるよ
うにすれば回転エンコーダを構成することができ、上記
各実施例に示す様々な角度検出範囲を有する光学拡散面
と組み合わせれば、アナログとディジタルの両回転角度
出力を得ることのできる多彩な回転角度検出装置を得る
ことができる。
【0048】実施例10.上記各実施例においては光源
として狭指向角特性を有するものを使用した場合につい
て説明したが、例えば平行光源を用いれば光学拡散面で
の照射領域が距離によって変化しないので、光位置検出
素子での集光径変化を小さくでき、より角度分解能を向
上させることができるという利点がある。
として狭指向角特性を有するものを使用した場合につい
て説明したが、例えば平行光源を用いれば光学拡散面で
の照射領域が距離によって変化しないので、光位置検出
素子での集光径変化を小さくでき、より角度分解能を向
上させることができるという利点がある。
【0049】実施例11.また、上記各実施例において
は、光学拡散面を回転部材の上下の面を粗面化して得る
場合について説明したが、例えば回転部材の上下の面に
表面が光学拡散面であるシール、或いはシートを貼り付
けるようにしても良い。
は、光学拡散面を回転部材の上下の面を粗面化して得る
場合について説明したが、例えば回転部材の上下の面に
表面が光学拡散面であるシール、或いはシートを貼り付
けるようにしても良い。
【0050】
【発明の効果】以上のように、請求項1記載の発明によ
れば、被測定体に取り付けられるかその一部である回転
軸と、この回転軸に取り付けられて一体に回転する回転
部材とを備え、この回転部材はその上面および底面の少
なくとも一方の一部分が上記回転軸に垂直な下面からの
高さが回転角度に応じて異なるように螺旋状に形成され
た光学拡散面とされ、この光学拡散面と上記回転軸に垂
直な基準面との間の距離が回転角度に応じて異なるよう
に形成され、更に、この回転部材の上記光学拡散面に光
を照射する光源と、上記回転部材の上記光学拡散面から
の反射光を上記回転部材の上記基準面からの距離に応じ
た入射位置に集光させる集光光学系と、この集光光学系
の略集光位置に配置された光位置検出素子とを備え、こ
の光位置検出素子上の光入射位置に基いて、上記被測定
体の回転角度を検出するようにしたので、角度検出範囲
の大小にかかわらず精度良く回転角度を検出でき、両軸
構成が容易、且つ、小型で、光源が長寿命の装置を得る
ことができるという効果がある。
れば、被測定体に取り付けられるかその一部である回転
軸と、この回転軸に取り付けられて一体に回転する回転
部材とを備え、この回転部材はその上面および底面の少
なくとも一方の一部分が上記回転軸に垂直な下面からの
高さが回転角度に応じて異なるように螺旋状に形成され
た光学拡散面とされ、この光学拡散面と上記回転軸に垂
直な基準面との間の距離が回転角度に応じて異なるよう
に形成され、更に、この回転部材の上記光学拡散面に光
を照射する光源と、上記回転部材の上記光学拡散面から
の反射光を上記回転部材の上記基準面からの距離に応じ
た入射位置に集光させる集光光学系と、この集光光学系
の略集光位置に配置された光位置検出素子とを備え、こ
の光位置検出素子上の光入射位置に基いて、上記被測定
体の回転角度を検出するようにしたので、角度検出範囲
の大小にかかわらず精度良く回転角度を検出でき、両軸
構成が容易、且つ、小型で、光源が長寿命の装置を得る
ことができるという効果がある。
【0051】また、請求項2記載の発明によれば、被測
定体に取り付けられるかその一部である回転軸と、この
回転軸に取り付けられて一体に回転する回転部材とを備
え、この回転部材はその上面および底面の少なくとも一
方の一部分が上記回転軸に垂直な下面からの高さが回転
角度に応じて異なるように螺旋状に形成された光学拡散
面とされ、この光学拡散面と上記回転軸に垂直な基準面
との間の距離Hが回転角度θに対し、H=1/(a×θ
+b)(但しa、bは所定の定数)となるように上記光
学拡散面が形成され、更に、この回転部材の上記光学拡
散面に光を照射する光源と、上記回転部材の上記光学拡
散面からの反射光を上記回転部材の上記基準面からの距
離に応じた入射位置に集光させる集光光学系と、この集
光光学系の略集光位置に配置された光位置検出素子とを
備え、この光位置検出素子上の光入射位置に基いて、上
記被測定体の回転角度を検出するようにしたので、回転
角度に比例したリニアな出力を得ることができると共
に、角度検出範囲の大小にかかわらず精度良く回転角度
を検出でき、両軸構成が容易、且つ、小型で、光源が長
寿命であり、しかも安価な装置を得ることができるとい
う効果がある。
定体に取り付けられるかその一部である回転軸と、この
回転軸に取り付けられて一体に回転する回転部材とを備
え、この回転部材はその上面および底面の少なくとも一
方の一部分が上記回転軸に垂直な下面からの高さが回転
角度に応じて異なるように螺旋状に形成された光学拡散
面とされ、この光学拡散面と上記回転軸に垂直な基準面
との間の距離Hが回転角度θに対し、H=1/(a×θ
+b)(但しa、bは所定の定数)となるように上記光
学拡散面が形成され、更に、この回転部材の上記光学拡
散面に光を照射する光源と、上記回転部材の上記光学拡
散面からの反射光を上記回転部材の上記基準面からの距
離に応じた入射位置に集光させる集光光学系と、この集
光光学系の略集光位置に配置された光位置検出素子とを
備え、この光位置検出素子上の光入射位置に基いて、上
記被測定体の回転角度を検出するようにしたので、回転
角度に比例したリニアな出力を得ることができると共
に、角度検出範囲の大小にかかわらず精度良く回転角度
を検出でき、両軸構成が容易、且つ、小型で、光源が長
寿命であり、しかも安価な装置を得ることができるとい
う効果がある。
【図1】この発明による光学式回転角度検出装置の一実
施例を示す構成図である。
施例を示す構成図である。
【図2】図1に示すこの発明による光学式回転角度検出
装置のA−A線断面図である。
装置のA−A線断面図である。
【図3】この発明による光学式回転角度検出装置の一実
施例の光学系を示す上面図である。
施例の光学系を示す上面図である。
【図4】この発明による光学式回転角度検出装置の一実
施例の光学系の構成及び検出回路の電気的構成を示す構
成図である。
施例の光学系の構成及び検出回路の電気的構成を示す構
成図である。
【図5】この発明による光学式回転角度検出装置の一実
施例の説明に供する出力特性図である。
施例の説明に供する出力特性図である。
【図6】この発明による光学式回転角度検出装置の他の
実施例の光学系を示す上面図である。
実施例の光学系を示す上面図である。
【図7】この発明による光学式回転角度検出装置の更に
他の実施例の光学系の構成及び検出回路の電気的構成を
示す構成図である。
他の実施例の光学系の構成及び検出回路の電気的構成を
示す構成図である。
【図8】この発明による光学式回転角度検出装置の更に
他の実施例の光学系の構成及び検出回路の電気的構成を
示す構成図である。
他の実施例の光学系の構成及び検出回路の電気的構成を
示す構成図である。
【図9】この発明による光学式回転角度検出装置の更に
他の実施例における回転角度θに対する拡散反射面と集
光光学系との距離の関係を説明するための図である。
他の実施例における回転角度θに対する拡散反射面と集
光光学系との距離の関係を説明するための図である。
【図10】この発明による光学式回転角度検出装置の更
に他の実施例の光学系を示す構成図である。
に他の実施例の光学系を示す構成図である。
【図11】この発明による光学式回転角度検出装置の更
に他の実施例の説明に供する出力特性図である。
に他の実施例の説明に供する出力特性図である。
【図12】この発明による光学式回転角度検出装置の更
に他の実施例の光学系を示す構成図である。
に他の実施例の光学系を示す構成図である。
【図13】この発明による光学式回転角度検出装置の更
に他の実施例の説明に供する出力特性図である。
に他の実施例の説明に供する出力特性図である。
【図14】この発明による光学式回転角度検出装置の更
に他の実施例の光学系を示す構成図及び上面図である。
に他の実施例の光学系を示す構成図及び上面図である。
【図15】この発明による光学式回転角度検出装置の更
に他の実施例の光学系を示す構成図である。
に他の実施例の光学系を示す構成図である。
【図16】従来の光学式回転角度検出装置を示す構成図
である。
である。
【図17】従来の光学式回転角度検出装置を示す構成図
である。
である。
1 回転軸 3 光源 15、45、47、50、55 回転部材 16、46、48、49、50a、50b、55a 光
学拡散面 17、17A、17B 検出回路 20、52、53 集光レンズ 21、22、53a、53b 光位置検出素子 21a、21b 電極
学拡散面 17、17A、17B 検出回路 20、52、53 集光レンズ 21、22、53a、53b 光位置検出素子 21a、21b 電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01D 5/34 G01B 11/26
Claims (2)
- 【請求項1】 被測定体に取り付けられるかその一部で
ある回転軸と、 この回転軸に取り付けられて一体に回転する回転部材と
を備え、 この回転部材はその上面および底面の少なくとも一方の
一部分が上記回転軸に垂直な下面からの高さが回転角度
に応じて異なるように螺旋状に形成された光学拡散面と
され、この光学拡散面と上記回転軸に垂直な基準面との
間の距離が回転角度に応じて異なるように形成され、 更に、この回転部材の上記光学拡散面に光を照射する光
源と、 上記回転部材の上記光学拡散面からの反射光を上記回転
部材の上記基準面からの距離に応じた入射位置に集光さ
せる集光光学系と、 この集光光学系の略集光位置に配置された光位置検出素
子とを備え、 この光位置検出素子上の光入射位置に基いて、上記被測
定体の回転角度を検出するようにしたことを特徴とする
光学式回転角度検出装置。 - 【請求項2】 被測定体に取り付けられるかその一部で
ある回転軸と、 この回転軸に取り付けられて一体に回転する回転部材と
を備え、 この回転部材はその上面および底面の少なくとも一方の
一部分が上記回転軸に垂直な下面からの高さが回転角度
に応じて異なるように螺旋状に形成された光学拡散面と
され、この光学拡散面と上記回転軸に垂直な基準面との
間の距離Hが回転角度θに対し、H=1/(a×θ+
b)(但しa、bは所定の定数)となるように上記光学
拡散面が形成され、 更に、この回転部材の上記光学拡散面に光を照射する光
源と、 上記回転部材の上記光学拡散面からの反射光を上記回転
部材の上記基準面からの距離に応じた入射位置に集光さ
せる集光光学系と、 この集光光学系の略集光位置に配置された光位置検出素
子とを備え、 この光位置検出素子上の光入射位置に基いて、上記被測
定体の回転角度を検出するようにしたことを特徴とする
光学式回転角度検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5050922A JP3056346B2 (ja) | 1993-03-11 | 1993-03-11 | 光学式回転角度検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5050922A JP3056346B2 (ja) | 1993-03-11 | 1993-03-11 | 光学式回転角度検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06265370A JPH06265370A (ja) | 1994-09-20 |
JP3056346B2 true JP3056346B2 (ja) | 2000-06-26 |
Family
ID=12872298
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5050922A Expired - Fee Related JP3056346B2 (ja) | 1993-03-11 | 1993-03-11 | 光学式回転角度検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3056346B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021054552A (ja) * | 2019-09-27 | 2021-04-08 | 株式会社ダイフク | 位置関係検出システム |
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---|---|---|---|---|
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JP2005152122A (ja) * | 2003-11-21 | 2005-06-16 | Samii Kk | 遊技機 |
JP2005152125A (ja) * | 2003-11-21 | 2005-06-16 | Samii Kk | 遊技機 |
JP2005152126A (ja) * | 2003-11-21 | 2005-06-16 | Samii Kk | 遊技機 |
JP2005152123A (ja) * | 2003-11-21 | 2005-06-16 | Samii Kk | 遊技機 |
JP2005152124A (ja) * | 2003-11-21 | 2005-06-16 | Samii Kk | 遊技機 |
JP2006047159A (ja) * | 2004-08-06 | 2006-02-16 | Sensatec Co Ltd | 無接触可変電圧器 |
JP2008214997A (ja) * | 2007-03-06 | 2008-09-18 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 旋回式作業機械の旋回角度検出装置 |
JP5177800B2 (ja) * | 2009-02-20 | 2013-04-10 | 日本精工株式会社 | トルクセンサ及びパワーステアリング装置 |
JP5541949B2 (ja) * | 2010-03-18 | 2014-07-09 | 住友ゴム工業株式会社 | 操舵角計測装置 |
US11512985B2 (en) | 2014-05-12 | 2022-11-29 | Phaedrus, Llc | Control system and method for detecting a position of a movable object |
WO2015175399A1 (en) * | 2014-05-12 | 2015-11-19 | Phaedrus, Llc | Detecting position of movable object in a device |
CN109163676A (zh) * | 2018-09-29 | 2019-01-08 | 中国煤炭科工集团太原研究院有限公司 | 一种掘进机悬臂回转角检测方法和装置 |
CN109990738A (zh) * | 2019-04-24 | 2019-07-09 | 昆山野人精密机械自动化有限公司 | 一种间歇分割器旋转精度检测装置 |
CN114396967B (zh) * | 2021-11-30 | 2024-04-23 | 浙江西子富沃德电机有限公司 | 正余弦编码器及其信号处理方法、电梯控制系统 |
NO347574B1 (en) * | 2022-02-28 | 2024-01-15 | Autostore Tech As | A device and a method for determining rotational position of a rotating shaft |
-
1993
- 1993-03-11 JP JP5050922A patent/JP3056346B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021054552A (ja) * | 2019-09-27 | 2021-04-08 | 株式会社ダイフク | 位置関係検出システム |
JP7192732B2 (ja) | 2019-09-27 | 2022-12-20 | 株式会社ダイフク | 位置関係検出システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06265370A (ja) | 1994-09-20 |
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