JPH06112382A - 発熱体の冷却装置 - Google Patents

発熱体の冷却装置

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JPH06112382A
JPH06112382A JP26111892A JP26111892A JPH06112382A JP H06112382 A JPH06112382 A JP H06112382A JP 26111892 A JP26111892 A JP 26111892A JP 26111892 A JP26111892 A JP 26111892A JP H06112382 A JPH06112382 A JP H06112382A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は,ヒ−トシンク中央部に積極的に冷却
流を誘導し発熱体の温度分布を均一にかつ効率良く冷却
する発熱体の冷却装置を提供することにある。 【構成】ヒ−トシンク中央部にヒ−トシンク上面からヒ
−トシンク根元に至りヒ−トシンクを縦断する貫通スリ
ットあるいはヒ−トシンク内に積極的に冷却流をヒ−ト
シンク中央部に誘導するガイドを設けたことを特徴とす
る発熱体の冷却装置。 【効果】貫通スリットあるいは流れ誘導ガイドによっ
て,通常最も温度が高くなる発熱体中央部のヒ−トシン
ク根元に高速の冷却流を直接到達させることが出来るの
で,発熱体中央部の冷却性能が向上し,高発熱する発熱
体の温度分布を一様に,かつ低温度に冷却出来る効果が
ある。特に高発熱LSIチップを多数内蔵するマルチチ
ップモジュ−ルなどの電子デバイスを身近な空気などの
冷却流体で一様に冷却することが出来る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高密度実装された半導
体デバイスを効率良く冷却する冷却装置に関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュ−タは、処理速度が早いことが
要求されるため、近年、大規模なLSIを高密度に実装
する方法が開発されている。そこで、LSI自体の発熱
量は膨大となり、かつLSIの高密度実装により半導体
デバイスの発熱密度も著しく増大している。このため、
LSIを効率良く冷却することは益々重要になってい
る。 従来、プリント基板やセラミック基板等の回路基
板上に搭載された複数の発熱半導体部品等を空気などの
冷媒で冷却する手段として、発熱半導体部品の上にそれ
ぞれフィンを搭載して、冷却用流体を発熱半導体デバイ
スの側方から供給し、発熱半導体デバイスを順次冷却し
て行く方式が多く見られた。しかし、上記のような方式
では下流側になるほど風温上昇が大きくなり、冷却性能
が低下する問題点が生じてきた。そこで、この問題点を
解決する方法として、特開平2−34993号公報,実
開平1−113355号公報等に記載されているよう
に、発熱半導体部品の上に大きな放熱面を持つ高性能な
フィンを搭載し、送風機から供給される冷却用空気を、
フィン上に設けたチャンバ−、ノズル等を介して個々の
フィンに風漏れのないように個別送風する方式が提案さ
れている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の個別送風方
式空冷装置のうち、特開平2−34993号の空冷放熱
装置は、図10に示すように、基板上(図示せず)に発
熱体であるLSI1が多数搭載され、LSI1上にはフ
ィン2により構成されるヒートシンク3が取り付けられ
たものである。冷却空気は、ヒートシンク3の上部全域
を覆うノズルを経て供給され、LSI1を冷却する。ヒ
ートシンク3からの排気は開口部4から排出さる。この
場合、冷却空気は、ヒートシンク3の上部全域を覆うノ
ズルを経てヒートシンク3内のフィン2に一様に供給さ
れても、ヒートシンク3内のフィン2間隙を通過し、開
口部4に向かって流動するうちに流体の流動損失により
流速が異なる速度分布が生じ、特に高い冷却性能が要求
されるLSI1中心部のフィン根元付近を流れる冷却空
気の速度が最も遅くなってしまう。この結果、LSI1
の中心部の温度が最も高くなり、チップ内の温度を一様
に冷却することが難しい。
【0004】そこで、実開平1−113355号では、
図11に見られるような空冷構造が提案されている。こ
の場合、ヒートシンク3の上部の送風口5がヒートシン
ク3上部全域でなく、絞られた送風口5となっている。
しかし、この様に例え送風口5を絞って冷却空気をヒー
トシンク3内のフィン中央部に強く供給しても、冷却空
気はヒートシンク3内のフィン間隙を通過し、ヒートシ
ンク3の両側の開口部6に向かって流動するうちにフィ
ン表面上の流体流動損失により速度差が生じ、半導体1
の中央部のフィン根元付近を流れる冷却空気の速度を著
しく高めることが難しい。一般に流れが壁に衝突すると
ころは澱み点と呼ばれ、流れが停滞する所であり、例え
衝突する流れを早くしても澱み点近辺の流れは、早くす
ることが出来ない。この結果、この場合でも半導体1の
中心部の温度が最も高くなり、チップ内の温度を一様に
冷却出来ない欠点が有る。
【0005】従って、上記従来技術は、何れも半導体集
積回路素子LSIの温度分布を一様にする点について考
慮されておらず、LSIの冷却性能向上に問題があっ
た。
【0006】本発明は、かかる問題点を解決するために
なされたもので、本発明の目的は、半導体集積回路素子
LSIなど高発熱する発熱体の温度分布を一様に、かつ
発熱体を効率良く冷却する発熱体の冷却装置を提供する
ことにある。本発明は、特に、近年、コンピュ−タの高
速処理速度の要求から開発された高発熱のLSIチップ
を一括して高密度に実装されたマルチチップモジュ−ル
内の多数のLSIチップを、空気などの冷媒で一様に冷
却する装置を提供することにある。
【0007】本発明の他の目的は、高性能ヒートシンク
をマルチチップモジュ−ルなどの発熱体に信頼性良く取
付けるとともに、ヒートシンクからの冷却流体の漏れを
少なくするクランプ装置を提供することにある。
【0008】本発明の更に他の目的は、マルチチップモ
ジュ−ルなどの発熱体の電気回路接続部に負担を掛けず
に、かつ冷却流体の漏れを少なくしてヒートシンクに冷
却流体を供給するノズル接続構造を提供することにあ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の発熱体の冷却装置は、発熱体を冷却するヒ
−トシンク中央部にヒ−トシンク上面からフィン根元に
至る貫通スリットを設け、ヒ−トシンク上面から噴射さ
れる冷却流体が上記貫通スリットを通って流体速度を低
下せずに、また冷却流体温度を上昇せずに、発熱体中央
の上部に直接到達する機構を備えたものである。
【0010】本発明の冷却装置の他の特徴は、ヒ−トシ
ンク上面から噴射される冷却流体をヒ−トシンク中央部
に高速に誘導するガイドをヒ−トシンク内部に備えたこ
とである。
【0011】本発明の更に他の特徴は、ヒートシンク内
に設けられた貫通スリット内に締め付け力を調節できる
板バネを入れ、マルチチップモジュ−ルなどの発熱体の
底面を支持面とするL字型のクランプ金具をヒートシン
ク両側面に設けて、上記板バネと組み合わせることによ
り、高性能ヒートシンクをマルチチップモジュ−ルなど
の発熱体に信頼性とスペ−ス効率を高めて取付けること
が出来ると共に、上記L字型のクランプ金具が貫通スリ
ットからの冷却流体の漏れを少なくするクランプ装置を
ヒ−トシンク内部に備えたことである。
【0012】本発明の更に他の特徴は、ヒートシンクに
冷却流体を供給するノズルとヒートシンクとを一体に接
続せず、ノズル先端に柔らかい緩衝部材を取付け、ヒー
トシンク上部に設けられたノズル接続口に差し込むこと
により、マルチチップモジュ−ルなどの発熱体の電気回
路接続部に負担を掛けずに、かつ冷却流体の漏れを少な
くして冷却流体を供給するノズルをヒートシンクに接続
する構造を備えたことである。
【0013】
【作用】本発明によれば、発熱体を冷却するヒ−トシン
ク中央部に、ヒ−トシンク上面からフィン根元に至りフ
ィンを縦断する貫通スリットが設けられているので、ヒ
−トシンク上面から噴射され上記貫通スリットを通る冷
却流体は、ヒ−トシンクを構成するフィンとフィンとの
間を通過する冷却流体より通過流路の圧力損失が小さい
ことにより、冷却流体の速度を低下させずに発熱体中央
上部のフィン根元に直接到達することが出来る。更に、
上記貫通スリットを通る冷却流体は、フィン間を通過し
ないため、冷却流体温度がほとんど上昇せずに低い入気
温度のまま発熱体中央上部のフィン根元に直接到達する
ことが出来る。このため、発熱体中央部の冷却性能を向
上させることが出来る。この結果、半導体集積回路素子
LSIなど高発熱する発熱体の温度分布を一様に、かつ
発熱体を効率良く冷却することが出来る。特に、近年、
コンピュ−タの高速処理速度の要求から開発された高発
熱LSIチップなどを一括して高密度に実装するマルチ
チップモジュ−ル内の多数のLSIチップを水など特別
な冷却流体を用いずに、身近な空気などの冷却流体で一
様に冷却することができる。
【0014】また、本発明によれば、ヒ−トシンク上面
から噴射される冷却流体をヒ−トシンク中央部に高速に
誘導する少なくとも一組以上の流れ誘導ガイドをヒ−ト
シンク内部に備えることにより、発熱体中央上部のフィ
ン根元付近を集中して冷却することが出来る。また、流
れ誘導ガイドを発熱分布の大きいところに制御して設け
れば、高発熱する発熱体の温度分布をより一様に、かつ
発熱体を効率良く冷却することが出来る。
【0015】更に、本発明によれば、貫通スリット内に
挿入された板バネと、マルチチップモジュ−ルなどの発
熱体の底面を支持面とするL字型のクランプ金具とを組
み合わせて、ヒートシンクをマルチチップモジュ−ルな
どの発熱体に取り付けることにより、貫通スリットを設
けた高性能ヒートシンクの冷却性能を低下せずにマルチ
チップモジュ−ルなどの発熱体に信頼性良く取付けるこ
とが出来、上記L字型のクランプ金具が貫通スリットか
らの冷却流体の漏れを少なくして冷却性能低下を防止す
ることが出来る。
【0016】更に、本発明によれば、ノズル先端に柔ら
かい緩衝部材を取付け、ヒートシンク上部に設けられた
ノズル接続口に差し込むことにより、組立て性を高めな
がらマルチチップモジュ−ルなどの発熱体の電気回路接
続部に負担を掛けずに、かつ冷却流体の漏れを少なくし
て冷却流体を供給するノズルを高性能ヒートシンクに接
続することが出来る。
【0017】
【実施例】以下、本発明の第一の実施例について図1、
図2に基づき詳細に説明する。図1は、本発明を適用し
た発熱体の冷却装置の一部断面の斜視図である。図2
は、図1の横断面図で、発熱体の冷却装置内の冷却流体
の流れを示すものである。これら図に於いては発熱体の
一例として、高発熱する半導体デバイスを多数一括して
気密封止したマルチチップモジュ−ルの一例を示す。
【0018】マルチチップモジュ−ル1は、セラッミク
製多層配線基板2上に発熱体であるLSIチップを内蔵
した半導体デバイス3を多数搭載し、ハウジング4で封
止することにより作られている。半導体デバイス3で発
生した熱は、半導体デバイス3と接触する熱伝導接触子
5を経てハウジング4に伝えられる。マルチチップモジ
ュ−ル1のハウジング4上には、その発熱を冷却空気な
どの冷却流体に効果的に伝達するためのヒートシンク6
が搭載されている。ヒートシンク6は、アルミニウムや
銅あるいは高熱伝導性セラッミクなど熱伝導性の良い材
質を用い、多数の平板フィン7とフィンベ−ス8から構
成されている。ヒ−トシンク中央部には、ヒ−トシンク
6上面から多数の平板フィン7の根元に至り多数の平板
フィン7を縦断する貫通スリット9が設けられている。
貫通スリット9の幅は平板フィン7の配列ピッチより広
く取られている。ヒートシンク6の上面には、ブロアな
どの送風機(図示せず)からの空気流をヒートシンク6
内に導く冷却流体噴射ノズル11がヒートシンク押え板
10間の冷却空気入口12に差し込まれている。
【0019】なお、ノズル11あるいはヒ−トシンク6
の冷却空気入口12のいずれか一方に柔らかい緩衝部材
13が取付けられている。更に、マルチチップモジュ−
ル1とヒートシンク6とは、例えば、熱伝導性グリース
や熱伝導性シートあるいは熱伝導性接着剤、ボルト締め
などによって熱的に接触した構造となっている。また、
ヒートシンク押え板10は多数の平板フィン7の先端と
接着あるいは接合されている。
【0020】本実施例によれば、図2に示すように、ノ
ズル11を通ってヒートシンク6内に噴射された空気流
(矢印20)は、多数の平板フィン7間と貫通スリット
9内に導かれるが、貫通スリット9内に入る空気流(矢
印21)は、貫通スリット9の幅が平板フィン7の配列
ピッチより広いので、流体の流動損失が小さく、多数の
平板フィン7間に入る空気流(矢印22)より流速が大
きい。この結果、上記貫通スリット9を通る冷却空気
(矢印21)は、速度を殆ど低下せずに発熱体であるマ
ルチチップモジュ−ル1中央上部のフィンベ−ス8およ
びフィン根元に直接到達することが出来る。更に、上記
貫通スリット9を通る冷却空気(矢印21の空気流)
は、フィン間を通過しないため、冷却流体温度がほとん
ど上昇せずに低い入気温度のまま発熱体であるマルチチ
ップモジュ−ル1中央上部のフィン根元に直接到達する
ことが出来る。このため、一般に温度上昇の大きいマル
チチップモジュ−ル1中央部の冷却性能を向上させ、多
数の半導体デバイス3を内蔵したマルチチップモジュ−
ル1でも高発熱する半導体デバイス3の温度分布を一様
に、かつ発熱体を効率良く冷却することが出来る。
【0021】なお、貫通スリット9を通る冷却空気流速
を大きくするため、貫通スリット9の幅を大きくし過ぎ
ると、平板フィン7の面積が減少して、マルチチップモ
ジュ−ル1中央上部のヒートシンクの冷却性能が低下し
てしまう。このため、貫通スリット9の幅に最適値が存
在する。
【0022】次に、図3により上記図2の実施例の一部
変形例を説明する。なお、本実施例では、図2と同じの
ものは同一の番号を付けて説明を省略する。
【0023】図に示す様に、ヒ−トシンク中央部に設け
られた貫通スリット9aは、冷却空気流入口側が広くフ
ィン根元に向かって狭くなっている。このため、貫通ス
リット9aの流入圧力損失を小さくすることが出来、貫
通スリット9aを通る冷却空気を多くなり、温度上昇の
大きいマルチチップモジュ−ル中央部の冷却性能を向上
させ、マルチチップモジュ−ルに内蔵された半導体デバ
イスをより効率良く冷却することが出来る。
【0024】次に、図4により上記図2の実施例の一部
変形例を説明する。なお、本実施例では、図2と同じの
ものは同一の番号を付けて説明を省略する。
【0025】本実施例では、ヒ−トシンク中央部に設け
た貫通スリット9bをフィン根元まで設けず、貫通スリ
ット9bの底部にはフィンベ−ス8上に平板フィン7b
が一部が残されている。このため、貫通スリット9bの
幅を大きくしてもマルチチップモジュ−ル中央部の冷却
性能を低下させることがない。
【0026】上記実施例は、何れも空気流をヒートシン
ク6内に導く冷却流体噴射ノズル11がヒートシンク6
の幅より狭い例で示したが、ノズル11の幅がヒートシ
ンク6の幅と同じであっても良い。
【0027】次に、図5により上記図1、図2の実施例
の一部変形例を説明する。なお、本実施例では、図2と
同じのものは同一の番号を付けて説明を省略する。
【0028】本実施例では、ヒートシンク6c上面のヒ
ートシンク押え板10aがL字状で、L字状に曲がった
先端部がヒ−トシンク上面から噴射される冷却流体をヒ
−トシンク中央部に高速に誘導するガイド101として
平板フィン7b内に食い込んでいる。従って、流れ誘導
ガイド101によって、ヒ−トシンク中央部に設けた貫
通スリット9により強い冷却流(矢印23)が誘導さ
れ、マルチチップモジュ−ル中央上部のフィン根元に直
接到達する。このため、温度上昇の大きいマルチチップ
モジュ−ル中央部の冷却性能を向上させ、マルチチップ
モジュ−ルに内蔵された半導体デバイスをより効率良く
冷却することが出来る。
【0029】次に、本発明の他の実施例を図6を参照し
て説明する。なお、本実施例では、図2と同じのものは
同一の番号を付けて説明を省略する。
【0030】本実施例では、ヒ−トシンク6dを構成す
る平板フィン7c間の冷却流を制御する流れ誘導ガイド
102が平板フィン7c間に設けられ、ヒ−トシンク上
面からフィンの根元に向かって延びている。前記流れ誘
導ガイド102の長さは、平板フィン7cの高さよりい
ずれも短く、ヒ−トシンク中央から端じに向かって順次
短くなっている。
【0031】本実施例によれば、ヒ−トシンク6d上部
からヒ−トシンク6dに噴射される冷却流体は、流れ誘
導ガイド102に従って平板フィン7c間に流入する
が、流れ誘導ガイド102の長さがヒ−トシンク中央部
で最も長いので、ヒ−トシンク中央部でもフィン根元ま
で直接到達することが出来る。更に、流れ誘導ガイド1
02の長さが中央部から端じに向かって順次短くなって
いるので、ヒ−トシンク中央部の流れ誘導ガイドを経て
流出する冷却流体の流れは、隣接する流れ誘導ガイドか
ら流出する冷却流体の流れによってフィン根元に押しや
られ、流速が増大していく。この結果、一番温度が高い
フィン根元の冷却性能を向上させることが出来ると共
に、温度上昇の大きい中央部の冷却性能を一層向上させ
ることが出来る。
【0032】更に、図7は、図6に示した上記実施例の
一部を変形した一実施例を説明する。なお、本実施例で
は、図6と同じのものは同一の番号を付けて説明を省略
する。
【0033】本実施例では、流れ誘導ガイド102aの
取付けピッチがヒ−トシンク中央から端じに向かって狭
くなっている点が図6に示した上記実施例と異なってい
る。ヒ−トシンク中央部の流れ誘導ガイド間が最も広い
ので、より一層流れを早く誘導することが出来る。
【0034】次に、本発明の他の実施例を図8、図9を
参照して説明する。なお、本実施例では、図1と同じの
ものは同一の番号を付けて説明を省略する。
【0035】本実施例では、ヒートシンク6内に設けら
れた貫通スリット9内にボルト30によって締め付け力
を調節できる板バネ31を入れ、発熱体であるマルチチ
ップモジュ−ル1の底面を支持面とするL字型のクラン
プ金具32をヒートシンク両側面に設け、上記板バネ3
1と組み合わせてヒートシンク6をマルチチップモジュ
−ル1に取り付けられている。上記L字型のクランプ金
具32が貫通スリット9の側面を塞ぐことが出来るの
で、貫通スリット9からの冷却流体の漏れを少なくな
る。
【0036】更に、マルチチップモジュ−ル1の組立て
性からヒートシンク6とマルチチップモジュ−ル1は、
互いに分離しておく方が好ましい。このため、マルチチ
ップモジュ−ル1とヒートシンク6とは、例えば、熱伝
導性グリースや熱伝導性シートあるいは熱伝導性接着
剤、ボルト締めなどによって熱的に接触した構造となっ
ている。しかし、マルチチップモジュ−ル1とヒートシ
ンク6とは互いに温度分布が異なるので、温度分布によ
る熱変形量も互いに異なる。このため、ヒートシンク6
はマルチチップモジュ−ル1の熱変形に常に追従しない
と、マルチチップモジュ−ル1とヒートシンク6間の熱
抵抗が変動してしまう。そこで、本実施例のクランプ装
置は、板バネ31とマルチチップモジュ−ル1の底面を
支持面とするL字型のクランプ金具32によってヒート
シンク6の中心に荷重を加え、荷重力をボルト30で調
節することによって、ヒートシンク6をマルチチップモ
ジュ−ル1に常に追従させることが出来る。この結果、
マルチチップモジュ−ル1とヒートシンク6間の熱抵抗
を安定させることが出来ると共に、スペ−ス効率向上と
冷却流体の漏れ防止などを合わせて実施することが出来
る。
【0037】
【発明の効果】本発明によれば、発熱体を冷却するヒ−
トシンク中央部にヒ−トシンク上面からフィン根元に至
りフィンを縦断する貫通スリットを設けることにより、
上記貫通スリットを通る冷却流体は、冷却流体の速度を
低下せずに発熱体中央上部のフィン根元に直接到達する
ことが出来る。更に、上記貫通スリットを通る冷却流体
は、冷却流体温度がほとんど上昇せずに低い入気温度の
まま発熱体中央上部のフィン根元に直接到達することが
出来る。このため、発熱体中央部の冷却性能を向上させ
ることが出来る。この結果、半導体集積回路素子LSI
など高発熱する発熱体の温度分布を一様に、かつ発熱体
を効率良く冷却することが出来る。特に、近年、コンピ
ュ−タの高速処理速度の要求から開発された高発熱LS
Iチップなどを一括して高密度に実装するマルチチップ
モジュ−ル内の多数のLSIチップを水など特別な冷却
流体を用いずに、身近な空気などの冷却流体で一様に冷
却することができる。
【0038】また、本発明によれば、ヒ−トシンク上面
から噴射される冷却流体をヒ−トシンク中央部に高速に
誘導する少なくとも一組以上の流れ誘導ガイドをヒ−ト
シンク内部に備えることにより、発熱体中央上部のフィ
ン根元付近を集中して冷却することが出来る。また、流
れ誘導ガイドを発熱分布の大きいところに制御して設け
れば、高発熱する発熱体の温度分布をより一様に、かつ
発熱体を効率良く冷却することが出来る。
【0039】更に、本発明によれば、貫通スリットに挿
入された板バネと、マルチチップモジュ−ルなどの発熱
体の底面を支持面とするL字型のクランプ金具とを組み
合わせて、ヒートシンクをマルチチップモジュ−ルなど
の発熱体に取り付けることにより、貫通スリットを設け
た高性能ヒートシンクの冷却性能を低下せずにマルチチ
ップモジュ−ルなどの発熱体に信頼性良くかつスペ−ス
効率良く取付けることが出来、上記L字型のクランプ金
具が貫通スリットからの冷却流体の漏れを少なくするこ
とが出来る。
【0040】更に、本発明によれば、ノズル先端に柔ら
かい緩衝部材を取付け、ヒートシンク上部に設けられた
ノズル接続口に差し込むことにより、マルチチップモジ
ュ−ルなどの発熱体の電気回路接続部に負担を掛けず
に、かつ冷却流体の漏れを少なくして冷却流体を供給す
るノズルを高性能ヒートシンクに接続することが出来
る。
【0041】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した発熱体の冷却装置の一実施例
を説明する一部断面斜視図
【図2】発熱体の冷却装置内の冷却流体の流れを示す第
1図の要部横断面図
【図3】本発明の発熱体の冷却装置の一部変形例を説明
する要部断面図
【図4】本発明の発熱体の冷却装置の一部変形例を説明
する要部断面図
【図5】本発明の発熱体の冷却装置の一部変形例を説明
する要部断面図
【図6】本発明の発熱体の冷却装置の他の実施例を説明
する要部断面図
【図7】本発明の発熱体の冷却装置の他の実施例の一部
変形した例を説明する要部断面図
【図8】本発明の発熱体の冷却装置の他の実施例を説明
する正面図
【図9】第8図の断面図
【図10】従来の発熱体の冷却装置を説明する斜視図と
要部断面図
【図11】従来の発熱体の冷却装置を説明する斜視図と
要部断面図
【符号の説明】
1・・・マルチチップモジュ−ル,2・・・セラッミク製多層
配線基板,3・・・半導体デバイス,4・・・ハウジング,5
・・・熱伝導接触子,6,6a,6b,6c,6d,6e・
・・ヒ−トシンク,7,7a,7b,7c・・・平板フィ
ン,8・・・フィンベ−ス,9,9a,9b・・・貫通スリッ
ト,10,10a・・・ヒ−トシンク押え板,11,11
a・・・ノズル,12・・・冷却空気入口,13・・・緩衝部
材,20,21,22・・・空気流矢印,30・・・ボルト,
31・・・板バネ,32・・・L字型クランプ金具,101,
102,102a・・・流れ誘導ガイド
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 塚口 保 神奈川県秦野市堀山下1番地株式会社日立 製作所神奈川工場内 (72)発明者 畑田 敏夫 茨城県土浦市神立町502株式会社日立製作 所機械研究所内 (72)発明者 笠井 憲一 神奈川県秦野市堀山下1番地株式会社日立 製作所神奈川工場内 (72)発明者 林 義人 神奈川県秦野市堀山下1番地株式会社日立 製作所神奈川工場内

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】発熱体にヒ−トシンクを取付け冷却流体を
    噴流ノズルによってヒ−トシンク上面から噴射して冷却
    する装置において、ヒ−トシンク中央部に、ヒ−トシン
    ク上面からヒ−トシンクを構成するフィンの根元あるい
    はフィンの根元近辺に至るまでフィンを縦断する貫通ス
    リットを備えたことを特徴とする発熱体の冷却装置。
  2. 【請求項2】請求項1において、前記貫通スリットの幅
    がヒ−トシンク上面で広く、ヒ−トシンクを構成するフ
    ィンの根元に向かって狭くなる貫通スリットをヒ−トシ
    ンクに備えたことを特徴とする発熱体の冷却装置。
  3. 【請求項3】請求項1において、ヒ−トシンクを構成す
    るフィンが平板状であることを特徴とする発熱体の冷却
    装置。
  4. 【請求項4】請求項1および請求項3において、前記貫
    通スリットの幅が前記平板状フィン間隙より広いことを
    特徴とする発熱体の冷却装置。
  5. 【請求項5】請求項1において、ヒ−トシンク上面から
    噴射される冷却流体の噴射口面積がヒ−トシンク上面よ
    り狭く、かつ前記貫通スリットより大きいことを特徴と
    する発熱体の冷却装置。
  6. 【請求項6】請求項1において、前記貫通スリット内に
    挿入され締め付け力を調節できる板バネと、前記ヒート
    シンク両側面に取付けて前記貫通スリットを塞ぐよう
    に、かつ発熱体の底面を支持面とするL字型のクランプ
    金具から構成されるヒートシンククランプ装置をヒ−ト
    シンク内部に備えたことを特徴とする発熱体の冷却装
    置。
  7. 【請求項7】請求項5において、ヒ−トシンク上面から
    噴射される冷却流体の噴射口からヒ−トシンク内部に向
    かって延びる流れ誘導ガイドがヒ−トシンク内部に備え
    られたこと特徴とする発熱体の冷却装置。
  8. 【請求項8】発熱体にヒ−トシンクを取付け冷却流体を
    噴流ノズルによってヒ−トシンク上面から噴射して冷却
    する装置において、ヒ−トシンク上面からヒ−トシンク
    を構成するフィンの根元に向かって延び、フィン間の冷
    却流体の流れを制御する流れ誘導ガイドを少なくとも一
    組以上ヒ−トシンク内部に備えたことを特徴とする発熱
    体の冷却装置。
  9. 【請求項9】請求項8において、前記流れ誘導ガイドの
    長さがヒ−トシンク中央から端じに向かって短くなるこ
    とを特徴とする発熱体の冷却装置。
  10. 【請求項10】請求項8において、前記流れ誘導ガイド
    の取付けピッチがヒ−トシンク中央から端じに向かって
    狭くなることを特徴とする発熱体の冷却装置。
  11. 【請求項11】請求項1及び8において、前記噴流ノズ
    ルあるいはヒ−トシンクの冷却流体流入口のいずれか一
    方に柔らかい緩衝部材を取付け、前記噴流ノズルがヒ−
    トシンクの冷却流体流入口に差し込まれたことを特徴と
    する発熱体の冷却装置。
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