JPH06111744A - 透過型電子顕微鏡 - Google Patents

透過型電子顕微鏡

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JPH06111744A
JPH06111744A JP4206747A JP20674792A JPH06111744A JP H06111744 A JPH06111744 A JP H06111744A JP 4206747 A JP4206747 A JP 4206747A JP 20674792 A JP20674792 A JP 20674792A JP H06111744 A JPH06111744 A JP H06111744A
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JP
Japan
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electron beam
axis
blocking member
beam blocking
shutoff member
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JP4206747A
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English (en)
Inventor
Shinsuke Miyazaki
伸介 宮崎
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Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】電子線遮断部材を電子線軸に対し直交する平面
上で、X軸、Y軸の任意の方向に移動可能にした透過型
電子顕微鏡を得ることを目的とする。 【構成】電子銃から放射され試料を透過した電子線が投
射される像観察スクリーンと、該像観察スクリーンに到
達する前記電子線を遮断する電子線遮断部材とを設けた
透過型電子顕微鏡において、該電子線遮断部材を、前記
電子線軸に対し略直交する平面上の任意の位置に移動可
能とする、電子線遮断部材の水平方向移動手段を設ける
ようにし、また前記電子線遮断部材を、前記電子線軸の
軸方向に移動可能とする、電子線遮断部材の上下方向移
動手段を設けるように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、電子銃から放射され
像観察スクリーン上に投射する電子ビームを遮断し、か
つ任意の方向に移動可能な電子線遮断部材を設けた透過
型電子顕微鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の透過型電子顕微鏡においては、像
観察スクリーン上で電子線中心軸付近の強度の高い電子
スポットを遮断するため、例えば図4に示すように、電
子顕微鏡1の筒体の、試料2と像観察スクリーン3との
間の電子線中心軸4の付近に、マスク片5を挿入するも
のがある。
【0003】図4のものは、マスク片5は回転軸6に軸
支されるホルダ7に固着しており、マスク片5によって
電子線中心の強度の高い電子スポットを遮断するには、
つまみ8により回転軸6を回して、マスク片5を電子線
中心軸上の一定の位置に位置させるようにする。マスク
片5を電子線中心軸4の付近から外す場合は、図5に示
すように回転軸6を回して、電子線中心でない他の位置
9(仮想線の位置)に移動させ、マスク片5を電子線中
心軸4から外すようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところでこのような従
来のマスク片5にあっては、マスク片5の位置は、電子
線中心軸上の一定の位置か、電子線中心でない他の位置
の、2個所にしか位置することができず、電子線軸に対
し直交する平面上の任意の位置に移動することができな
いので、像観察スクリーン上で電子線中心の強度の高い
電子スポットを遮断するという目的以外に、マスク片5
によって観察撮影像の任意の位置を支持させる目的を持
たせることができないという問題があった。
【0005】この発明はこのような従来の課題に着目し
てなされたもので、電子線中心軸付近における強度の高
い電子スポットを遮断するマスク片を、電子線軸に対し
直交する平面上で、X軸、Y軸の任意の方向に移動可能
にした透過型電子顕微鏡を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題を
解決するための手段として、その構成を、電子銃から放
射され試料を透過した電子線が投射される像観察スクリ
ーンと、該像観察スクリーンに到達する前記電子線を遮
断する電子線遮断部材とを設けた透過型電子顕微鏡にお
いて、該電子線遮断部材を、前記電子線軸に対し略直交
する平面上の任意の位置に移動可能とする、電子線遮断
部材の水平方向移動手段を設けることとした。
【0007】また上記透過型電子顕微鏡を、電子線軸方
向に前記電子線遮断部材を移動させる、電子線遮断部材
の上下方向移動手段を設けたることとし、さらに前記電
子線遮断部材の先端部を特定の方向から見た断面が、矢
印状に形成されているようにした。
【0008】
【作用】次に本発明の作用を説明する。電子線遮断部材
は、水平方向移動手段により、電子線軸に対し略直交す
る平面上の任意の位置に移動可能となり、電子線遮断部
材の影を任意の位置に投影できる。また上下方向移動手
段により、電子線軸方向の任意の位置に移動可能とな
り、電子線遮断部材の影の大きさが任意の大きさとな
る。
【0009】なお電子線遮断部材の先端部の形状は、こ
れを特定の方向から見た断面が矢印状となっているの
で、矢印状の断面が電子線軸の方向に向いていれば、像
の任意の位置に矢印を写すことができる。また矢印状以
外の断面が電子線軸に向いていれば、それは矩形または
円形の形状となり、回折像等の場合にビームストッパと
して働いて、観察撮影を行うことができる。
【0010】
【実施例】以下、この発明を図面に基づいて説明する。
図1は本発明の構成を示す透過型電子顕微鏡の電子線遮
断部材付近の鏡筒の断面図で、図2に示す透過型電子顕
微鏡10において、電子線11は、電子銃12から放射
され試料13を透過して、像観察スクリーン14上に投
射されるが、試料13と像観察スクリーン14との間に
電子線11を遮断する電子線遮断部材15が設けられて
いる。
【0011】図1において、透過型電子顕微鏡10の鏡
筒の電子線遮断部材15が設けられる付近の像観察室側
壁16には、固定台17が設けられ、固定台17を貫通
するように、内面が球面状の空間18が形成されてお
り、空間18には球体部20が嵌入して、球体部20と
固定台17とは、球体部20の球状表面及び空間18の
球状内面に沿って、3次元的に回転自在となっている。
【0012】球体部20の図の右方には円筒状部21が
突出しており、円筒状部21の表面には連続した山型の
凹凸部22が三角形のリングを並べた形で形成されてい
る。そして球体部20及び円筒状部21を貫通して貫通
孔23が穿設されており、貫通孔23内を回転自在にか
つ摺動自在に移動する、摺動棒25が設けられる。
【0013】摺動棒25にはX軸ストッパ26が、軸ピ
ン27により軸着しており、またX軸ストッパ26はそ
の内面に、前記の山型の凹凸部22に係合する係合片2
8が円弧状に形成されており、円筒状部21の凹凸部2
2に外方から当接している。そしてX軸ストッパ26
は、軸ピン27に対して係合片28の反対側で、摺動棒
25本体に、ロック用スプリング29を介在させて係合
し、係合片28を円筒状部21の凹凸部22に、スプリ
ング29により付勢されて押圧するようになっており、
これにより摺動棒25を位置決めするようにしている。
【0014】またX軸ストッパ26は、その先端部26
aをつまんで、ロック用スプリング29の付勢力に抗し
て、摺動棒25の方に押しつけると、X軸ストッパ26
の係合片28が円筒状部21の凹凸部22から離脱し、
摺動棒25はX軸方向に移動可能となり、像観察室側壁
16に対して前後進できるようになる。
【0015】また摺動棒25は、球体部20を中心とし
て、横方向に移動するから、摺動棒25のX軸方向の移
動機能と合わせて、球体部20と摺動棒25とにより、
電子線遮断部材15の水平方向移動手段30が形成され
る。そして球体部20を中心として、摺動棒25が縦方
向にも移動するから、摺動棒25のX軸方向の移動機能
と合わせて、球体部20と摺動棒25とにより、電子線
遮断部材15の垂直方向移動手段31も形成されること
になる。
【0016】なお球体部20を固定台17に固定するに
は、球体部抑え19により空間18の内方に押圧するよ
うにする。この他球体部20の表面と空間18の内面と
の間や、摺動棒25の表面と球体部20の貫通孔23の
内面とに間には、真空シール24が挿入されており、摺
動棒25が貫通孔23を摺動する部分で、真空が破壊さ
れないようになっている。
【0017】そして摺動棒25の先端には、電子線遮断
部材15が固着しており、電子線遮断部材15の先端部
15aの形状は、図3に示すように矢印の形の断面を持
つ角柱状で、これを特定の方向、図3の場合は電子線軸
Aの方向から見た断面は矢印状になる。そして電子線軸
Aに直交する方向から見た断面は、この場合は矩形にな
るようになっている。
【0018】電子線遮断部材15を、電子線軸Aに対し
略直交する平面P上の任意の位置に移動させるには、X
軸ストッパ26の先端部26aをつまんで摺動棒25の
方に押しつけると、円筒状部21の山型の凹凸部22と
係合片28との係合が外れ、摺動棒25は球体部20の
円筒状部21に対して移動可能となる。移動が終了して
X軸ストッパ26の先端部26aを放せば、ロック用ス
プリング29により、凹凸部22と係合片28とが再び
係合し、摺動棒25はロックされる。
【0019】こうして摺動棒25を、球体部20の円筒
状部21即ち像観察室側壁16に対して前後進させて、
それに固着している電子線遮断部材15をX軸方向に対
して移動させる。また球体部20を中心として、摺動棒
25を横方向に回動させることにより、電子線軸Aに対
し略直交する平面Pの総ての位置に、電子線遮断部材1
5を移動させることができる。
【0020】また電子線遮断部材15の先端部15aを
上下方向、即ち電子線軸Aの軸方向に移動させるには、
球体部20を中心として摺動棒25を縦方向に回動させ
る。なお単に縦方向に回動させたのでは、電子線遮断部
材15は球体部20を中心とする円弧を画いてしまうか
ら、摺動棒25を縦方向に回動させると同時に、X軸方
向に対しても移動させて、電子線遮断部材15の先端部
15aが、正しく上下方向に移動するようにする。これ
によって電子線遮断部材15の先端部15aの影の大き
さを、任意の大きさに拡大、縮小することができる。
【0021】さらに電子線遮断部材15を、像観察スク
リーンの目標とする像の位置に移動させて、電子線遮断
部材15の先端部15aの影を作る場合は、摺動棒25
を円筒状部21の中で回転させ、電子線遮断部材15の
先端部15aの矢印の形の断面を電子線軸11の方向に
向け、矢印の先端部により像の特定部分を指示するよう
にする。
【0022】また電子線を遮断して回折像の観察撮影を
行うような場合は、摺動棒25を回転して電子線遮断部
材15を90°回転させ、その先端部15aの矢印状以
外の断面を電子線軸11の方向に向ける。そうするとそ
の断面は図3の場合は矩形となるが、その他円形等の断
面となる場合もあり、先端部15aはビームストッパと
して作用する。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、透過型電子顕微鏡の電子線遮断部材を電子線軸に対
し略直交する平面上の任意の位置に移動可能とする電子
線遮断部材の水平方向移動手段を設けたので、像観察ス
クリーンの目標とする像の位置に電子線遮断部材の影を
移動させることができ、正確な像位置を指示させるとい
う効果を有する。
【0024】また前記電子線遮断部材の上下方向移動手
段を設けたので、電子線遮断部材の影の大きさを任意に
拡大、縮小することができ、写真撮影時に、電子線像と
共に電子線遮断部材の影をネガの上に記録し、目標の像
位置を指示させることができるという効果を有する。
【0025】さらに電子線遮断部材の先端部の、特定の
方向から見た断面を矢印状に形成したので、電子線遮断
部材を直角に回転させるだけで、矢印状の先端部形状に
より正確な像位置を指示させ、矢印以外の断面形状の先
端部形状により回折像の観察撮影を行うことができると
いう効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の構成を示す透過型電子顕微鏡の電子線
遮断部材付近の鏡筒の断面図である。
【図2】透過型電子顕微鏡の電子銃、試料、像観察スク
リーンの関係を示す断面図である。
【図3】電子線遮断部材の形状を示す斜視図である。
【図4】従来の透過型電子顕微鏡で電子銃とスクリーン
との間に電子線遮断部材を挿入するものの断面図であ
る。
【図5】図4における電子線遮断部材をその回転軸の方
向から見た図である。
【符号の説明】
11 電子線 12 電子銃 13 試料 14 像観察スクリーン 15 電子線遮断部材 15a 電子線遮断部材の先端部 30 水平方向移動手段 (20 球体部、25 摺動棒、) 31 上下方向移動手段 (20 球体部、25 摺動棒、)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】電子銃から放射され試料を透過した電子線
    が投射される像観察スクリーンと、該像観察スクリーン
    に到達する前記電子線を遮断する電子線遮断部材とを設
    けた透過型電子顕微鏡において、該電子線遮断部材を、
    前記電子線軸に対し略直交する平面上の任意の位置に移
    動可能とする、電子線遮断部材の水平方向移動手段を設
    けたことを特徴とする透過型電子顕微鏡。
  2. 【請求項2】請求項1において、電子線軸方向に前記電
    子線遮断部材を移動させる、電子線遮断部材の上下方向
    移動手段を設けたことを特徴とする透過型電子顕微鏡。
  3. 【請求項3】請求項1及び請求項2において、前記電子
    線遮断部材の先端部を特定の方向から見た断面が、矢印
    状に形成されていることを特徴とする透過型電子顕微
    鏡。
JP4206747A 1992-08-03 1992-08-03 透過型電子顕微鏡 Pending JPH06111744A (ja)

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JP4206747A JPH06111744A (ja) 1992-08-03 1992-08-03 透過型電子顕微鏡

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JP4206747A JPH06111744A (ja) 1992-08-03 1992-08-03 透過型電子顕微鏡

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JP4206747A Pending JPH06111744A (ja) 1992-08-03 1992-08-03 透過型電子顕微鏡

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006331979A (ja) * 2005-05-30 2006-12-07 Jeol Ltd 電子顕微鏡の試料ホルダ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006331979A (ja) * 2005-05-30 2006-12-07 Jeol Ltd 電子顕微鏡の試料ホルダ
JP4616701B2 (ja) * 2005-05-30 2011-01-19 日本電子株式会社 電子顕微鏡の試料ホルダ

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