JPH0611110B2 - Output buffer circuit - Google Patents

Output buffer circuit

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JPH0611110B2
JPH0611110B2 JP62064855A JP6485587A JPH0611110B2 JP H0611110 B2 JPH0611110 B2 JP H0611110B2 JP 62064855 A JP62064855 A JP 62064855A JP 6485587 A JP6485587 A JP 6485587A JP H0611110 B2 JPH0611110 B2 JP H0611110B2
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00346Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents
    • H03K19/00361Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents in field effect transistor circuits

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ(以
下MOS FETと称す。)で構成される出力バツフア回路に
関するものである。
The present invention relates to an output buffer circuit composed of a metal oxide semiconductor field effect transistor (hereinafter referred to as a MOS FET).

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第3図は従来から広く相補型金属酸化膜半導体(以下C
−MOSと称す)集積回路で用いられている出力バツフ
ァ回路図であり、第4図はこの場合の動作波形図を示
す。
FIG. 3 shows a conventional type of complementary metal oxide semiconductor (hereinafter referred to as C
FIG. 4 shows an operation waveform diagram in this case, which is an output buffer circuit diagram used in an integrated circuit (referred to as -MOS).

第3図において、(1)はpチヤンネルの第1のMOS FET、
(2)はnチヤンネルの第2のMOS FET、(3)はpチヤンネ
ルの第3のMOS FET、(4)はnチヤンネルの第4のMOS FE
T、(5)は正電圧電源(以下、VDDと称す)端子、(6)は
接地(以下、GNDと称す)端子、(7)は入力端子、(8)は
出力端子である。
In FIG. 3, (1) is the first MOS FET of p-channel,
(2) is the n-channel second MOS FET, (3) is the p-channel third MOS FET, and (4) is the n-channel fourth MOS FE.
T, (5) a positive voltage source (hereinafter, referred to as V DD) terminal, (6) is grounded (hereinafter, referred to as G ND) terminal, (7) the input terminal (8) is an output terminal.

ここでpチヤンネルのMOS FET(1)及び(3)の基板はVDD
端子(5)に、nチヤンネルのMOS FET(2)及び(4)の基板は
ND端子(6)にそれぞれ接続されており、MOS FET(1)と
(2)及びMOS FET(3)と(4)はそれぞれ第1及び第2のC-MO
Sインバータを構成している。
Here, the substrate of the p-channel MOS FETs (1) and (3) is V DD
The terminal (5), the substrate of the n channel of the MOS FET (2) and (4) are respectively connected to the G ND terminal (6), and MOS FET (1)
(2) and MOS FETs (3) and (4) are the first and second C-MO, respectively.
It constitutes an S inverter.

然して、入力端子(7)には半導体集積回路(図示せず)
の内部からの信号が印加され、出力端子(8)は外部の入
力端子に接続するためにパツケージにワイヤボンボイン
グされ、そのピンに取出される(いずれも図示せず)。
However, the input terminal (7) has a semiconductor integrated circuit (not shown).
An internal signal is applied to the output terminal (8), and the output terminal (8) is wire-bonded to a package for connection to an external input terminal and taken out to the pin (neither is shown).

従来の出力バツファ回路は上記のように構成され、今、
VDD端子(5)及びGND端子(6)に、それぞれ電源VDDの電
位、例えば(+)5V及び接地GNDの電位、例えば0Vが印
加されている状態で、入力端子(7)に“H”レベルの電
位、例えば(+)5Vが印加されると、MOS FET(1)はカツ
トオフ状態となり、MOS FET(2)はオン状態となる。この
ため、MOS FET(1)、(2)のドレインはMOS FET(2)を通じ
てGND端子(6)に短絡され、“L”レベル電位(GND
位)となる。
The conventional output buffer circuit is configured as above, and now
To the input terminal (7) with the potential of the power supply V DD , for example, (+) 5 V and the potential of the ground G ND , for example, 0 V, applied to the V DD terminal (5) and the GND terminal (6), respectively. When a "H" level potential, for example (+) 5V, is applied, the MOS FET (1) is cut off and the MOS FET (2) is turned on. Therefore, the drains of the MOS FETs (1) and (2) are short-circuited to the GND terminal (6) through the MOS FET (2), and become the “L” level potential ( GND potential).

また、反対に、入力端子(7)“L”レベルの電位、例え
ば0Vが印加されると、MOS FET(1)はオン状態となり、
MOS SFET(2)はカツトオフ状態となる。このため、MOS F
ET(1)、(2)のドレインは、MOS FET(1)を通じてVDD端子
(5)に短絡され、“H”レベルの電位(VDD)となる。
On the contrary, when the input terminal (7) "L" level potential, for example, 0V is applied, the MOS FET (1) is turned on,
MOS SFET (2) is cut off. For this reason, MOS F
The drains of ET (1) and (2) are connected to V DD pin through MOS FET (1).
It is short-circuited to (5), and becomes "H" level potential (V DD ).

上記ドレインの“H”レベルの電位は、次段の第2のC
−MOSインバータのゲートへの入力信号となるが、MOS F
ET(3)、(4)が上記MOS FET(1)、(2)と同様の動作をする
ことにより、出力端子(8)には、第4図の波形図に示す
ように出力バツフア回路の遅延時間分だけ遅れて、入力
端子(7)におけるものと同極性の信号が出力される。
The "H" level potential of the drain is the second C of the next stage.
-As an input signal to the gate of the MOS inverter,
As ET (3) and (4) operate in the same manner as the above MOS FETs (1) and (2), the output terminal (8) has the output buffer circuit as shown in the waveform diagram of FIG. A signal having the same polarity as that at the input terminal (7) is output after a delay of the delay time.

第4図において、縦軸は電圧、横軸は時間を示し、IN
は入力端子(7)における入力信号波形、OUTは出力端
子(8)における出力信号波形を示す。
In FIG. 4, the vertical axis represents voltage, the horizontal axis represents time, and IN
Shows an input signal waveform at the input terminal (7), and OUT shows an output signal waveform at the output terminal (8).

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

上記のような従来の出力バツフア回路におけるC-MOSイ
ンバータの伝播遅延時間は、出力容量(図示せず。主と
して回路の浮遊容量、次段のゲートの入力容量等によつ
て形成されている)の充放電時間によつて決定され、そ
の充放電時間は、出力容量値とMOS FET(3)或いはMOS FE
T(4)のオン抵抗値の積に比例する。従つて、出力容量を
一定とすれば、MOS FET(3)或いはMOS FET(4)のオン抵抗
値によつて第2のC-MOSインバータの遅延時間が決定さ
れることとなる。
The propagation delay time of the C-MOS inverter in the conventional output buffer circuit as described above depends on the output capacitance (not shown; it is mainly formed by the stray capacitance of the circuit, the input capacitance of the gate at the next stage, etc.). It is determined by the charging / discharging time.The charging / discharging time depends on the output capacitance value and the MOS FET (3) or MOS FE.
It is proportional to the product of the on resistance of T (4). Therefore, if the output capacitance is kept constant, the delay time of the second C-MOS inverter is determined by the ON resistance value of the MOS FET (3) or MOS FET (4).

ところが、pチヤンネルMOS FET(3)のモビリテイ(Mobi
lity)はnチヤンネルMOS FET(4)のモビリテイより低い
ため、トランジスタサイズが同一なら前者のオン抵抗値
が高く、C-MOS回路の出力容量の充電時間、即ち出力電
圧の立上り時間はこの影響によつて長くなり、立下り時
間は、逆に急峻な波形となる。
However, the mobility of the p-channel MOS FET (3) (Mobi
lity) is lower than the mobility of n-channel MOS FET (4), the on-resistance of the former is high if the transistor size is the same, and the charging time of the output capacitance of the C-MOS circuit, that is, the rise time of the output voltage is affected by this effect. Therefore, the fall time becomes a steep waveform.

このため、出力端子(8)には、出力容量の他にパツケー
ジや外部配線のインダクタンスが付加されること及び出
力バツファ回路のインピーダンスと外部のインピーダン
スが整合されていないこともあいまつて、立下り時の出
力波形にアンダーシユート(under shoot,第4の破線a
部)とそのリンギング(Ringing)を生じ、外部の機器
を誤動作させるという問題点があつた。
Therefore, in addition to the output capacitance, the output terminal (8) is added with the inductance of the package and the external wiring, and the impedance of the output buffer circuit and the external impedance may not be matched. The output waveform of the undershoot (under shoot, the fourth broken line a
Part) and its ringing, which causes a malfunction of an external device.

最近の微細加工技術の進歩により半導体装置が高集積化
され、集積回路内部のゲートの動作速度が向上するにつ
れて出力バツファ回路の動作速度も向上するため、上記
の問題点はますますクローズアツプされている。
Due to the recent progress in microfabrication technology, semiconductor devices have become highly integrated, and the operating speed of the output buffer circuit has also increased as the operating speed of the gate inside the integrated circuit has increased, so the above problems are being increasingly closed up. There is.

この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、出力バツファ回路の立下り動作時間を、トランジ
スタの性能だけに依存せず、自由に決められる出力バツ
フア回路を得ることを目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to obtain an output buffer circuit in which the fall operation time of the output buffer circuit does not depend only on the performance of the transistor and can be freely determined. .

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明に係る出力バツフア回路は、入力端子と出力端
子間に、第1のC-MOSインバータと第2のC-MOSインバー
タが直列接続され、第1のC-MOSインバータの出力ノー
ドと第2のC-MOSインバータのpチヤンネルトランジタ
のゲートを接続するものにおいて、第2のC-MOSインバ
ータ用トランジスタのゲート間に抵抗性素子を、そのn
チヤンネルトランジスタのゲートと接地端子間の容量を
それぞれ接続すると共に、ゲートが前記入力端子に、ド
レインが前記nチヤンネルトランジスタのゲートに接続
される、nチヤンネルトランジスタをもつて構成させた
ものである。
In the output buffer circuit according to the present invention, a first C-MOS inverter and a second C-MOS inverter are connected in series between an input terminal and an output terminal, and an output node of the first C-MOS inverter and a second C-MOS inverter are connected. In which the gate of the p-channel transistor of the C-MOS inverter is connected, a resistive element is provided between the gates of the transistors for the second C-MOS inverter,
An n-channel transistor having a gate connected to the input terminal and a drain connected to the gate of the n-channel transistor is formed by connecting a capacitance between the gate of the channel transistor and the ground terminal, respectively.

〔作用〕[Action]

この発明においては、第1と第2のC-MOSインバータ間
の信号伝達が、出力バツフア回路の出力信号の立上り時
には第2のC-MOSインバータを構成する両トランジスタ
のゲートへストレートになされ、立下り時には第2のC-
MOSインバータのpチヤンネルトランジスタのゲートへ
はストレートになされるが、立下り特性を決める第2の
C-MOSインバータのnチヤンネルトランジスタのゲート
には抵抗性素子R1と容量C1によつて決る時定数に従つて
なされる。
According to the present invention, the signal transmission between the first and second C-MOS inverters is made straight to the gates of both transistors constituting the second C-MOS inverter when the output signal of the output buffer circuit rises. The second C- when going down
The gate of the p-channel transistor of the MOS inverter is made straight, but the second
The gate of the n-channel transistor of the C-MOS inverter is made to follow the time constant determined by the resistive element R 1 and the capacitance C 1 .

従つて、出力バツフア回路の出力信号の立下り動作時間
を立上り動作時間に影響することなく自由に決定でき、
出力波形のアンダーシユートのそのリンギング発生を防
止する。
Therefore, the falling operation time of the output signal of the output buffer circuit can be freely determined without affecting the rising operation time,
It prevents the ringing of the output waveform undershoot.

〔実施例〕〔Example〕

第1図はこの発明の一実施例を示す出力バツフア回路図
であり、第2図は、この場合の動作波形図を示し、
点、点は、それぞれの接続点における入力信号波形を
示す。
FIG. 1 is an output buffer circuit diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows an operation waveform diagram in this case.
The points indicate the input signal waveforms at the respective connection points.

第1図において、(1)〜(8)は上記従来の回路と全く同一
のものである。(9)はnチヤンネルの第5のMOS FE
T、(10)は抵抗、(11)は容量である。MOS FET(9)は、出
力バツフア回路の出力信号の立上り時に抵抗(10)及び容
量(11)の影響を除くためのシヤントトランジスタとな
り、立下り時間は、抵抗(10)の値R1と容量(11)の値C1
時定数により決ることとなる。
In FIG. 1, (1) to (8) are exactly the same as the above conventional circuit. (9) is the 5th MOS FE of n-channel
T, (10) are resistors, and (11) are capacitors. The MOS FET (9) is a shunt transistor for removing the influence of the resistance (10) and the capacitance (11) when the output signal of the output buffer circuit rises, and the fall time is equal to the value R 1 of the resistance (10). It will be determined by the time constant of the value C 1 of the capacity (11).

上記のように構成された出力バツフア回路において、
今、入力端子(7)への入力信号が“L”レベルの電位か
ら“H”レベルの電位へ立上つたとする。
In the output buffer circuit configured as above,
Now, it is assumed that the input signal to the input terminal (7) rises from the "L" level potential to the "H" level potential.

入力信号が“H”レベルの電位に立上ると、MOSFET(1)
はカツトオフ状態、MOSFET(2)、(9)はオン状態となるの
で、、点はほぼ同時に“L”状態となり、容量(11)
にチヤージアツプされていた電荷は放電される。なお、
この時、MOS FET(3)がオン状態、MOS FET(4)がカツトオ
フ状態とされるため、出力端子信号は“H”レベルので
電位へ立上ることとなるが、この立上りを決めるMOS FE
T(3)までの経路は、MOS FET(2)、(9)のオン状態経由MOS
FET(3)のオン、MOS FET(4)とカツトオフとなり、従来
と同じである。
When the input signal rises to the “H” level potential, the MOSFET (1)
Is cut off, and MOSFETs (2) and (9) are on, so that the points become "L" at almost the same time, and the capacitance (11)
The charge that has been charged to the battery is discharged. In addition,
At this time, since the MOS FET (3) is on and the MOS FET (4) is cut off, the output terminal signal rises to the potential because it is at "H" level.
The path to T (3) is through the MOS FET (2) and (9) ON state.
The FET (3) is turned on and the MOS FET (4) is turned off, which is the same as the conventional one.

次に、入力信号が“H”レベルの電位から“L”レベル
の電位へ立下つた場合を考える。
Next, consider the case where the input signal falls from the “H” level potential to the “L” level potential.

入力信号の変化に伴い、MOS FET(1)はオン状態、MOS FE
T(2)、(9)はカツトオフ状態となり、点は素早く
“H”レベルへ立上り、MOS FET(3)はカツトオフ状態と
なる。然し、MOS FET(1)の電流が抵抗(10)を通じて容量
(11)をチヤートアツプするため、B点の立上りは点よ
り遅れる。即ち、点の“H”レベルへの立上りに伴い
MOS FET(3)がカツトオフ状態となつても、MOS FET(4)の
ゲートに印加される電圧が、抵抗(10)の値R1と容量(11)
の値C1により決る時定数で変化して立上り、MOS FET(4)
は緩やかにオン状態となるため、出力信号は第2図の動
作波形図に示すように、従来よりも緩やかに立下ること
となる。
As the input signal changes, the MOS FET (1) turns on and the MOS FE
T (2) and (9) are in the cut-off state, the point quickly rises to the "H" level, and the MOS FET (3) is in the cut-off state. However, the current of the MOS FET (1) passes through the resistor (10)
Because of chart-up in (11), the rise of point B is delayed from the point. That is, as the point rises to the “H” level
Even if the MOS FET (3) is in the cut-off state, the voltage applied to the gate of the MOS FET (4) is the value R 1 of the resistor (10) and the capacitance (11).
Rises after changing with a time constant determined by the value C 1 of
Is gradually turned on, so that the output signal falls more gently than before as shown in the operation waveform diagram of FIG.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

この発明は以上説明したとおり、出力バツファ回路の出
力信号の立下り時における、、第1と第2のC-MOSイン
バータ間の信号伝達時間を、挿入された抵抗R1と容量C1
による時定数で自由に決められうようにしたゝめ、立下
り時間を緩和でし、動作波形のアンダーシユートとその
リンギングを無くして、半導体集積回路及び外部機器の
誤動作を防止できる効果がある。
As described above, according to the present invention, the signal transmission time between the first and second C-MOS inverters when the output signal of the output buffer circuit falls is determined by the inserted resistance R 1 and capacitance C 1
Since it can be freely determined by the time constant, the fall time can be relaxed, the under waveform of the operating waveform and its ringing can be eliminated, and the malfunction of the semiconductor integrated circuit and external equipment can be prevented. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明の一実施例による出力バツフア回路
図、第2図は、その動作波形図を示し、第3図は、従来
の出力バツフア回路図、第4図は、その動作波形図を示
す。 図において、(1)は、第1図のMOS FET(pチヤンネル)、
(2)は第2のMOS FET(nチヤンネル)、(3)は、第3のM
OS FET(pチヤンネル)、(4)は、第4のMOS FET(nチ
ヤンネル)、(5)は、正電圧電源(VDD)端子、(6)は、接
地(GND)端子、(7)は入力端子、(8)は出力端子、(9)は第
5のMOS FET(nチヤンネル)、(10)は、抵抗抗、(11)
は、容量である。 なお、各図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。
FIG. 1 shows an output buffer circuit diagram according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 shows its operation waveform diagram, FIG. 3 shows a conventional output buffer circuit diagram, and FIG. 4 shows its operation waveform diagram. Show. In the figure, (1) is the MOS FET (p channel) of FIG.
(2) is the second MOS FET (n channel), (3) is the third M FET
OS FET (p channel), (4) is the fourth MOS FET (n channel), (5) is the positive voltage power supply (V DD ) terminal, (6) is the ground (G ND ) terminal, (7 ) Is an input terminal, (8) is an output terminal, (9) is a fifth MOS FET (n channel), (10) is a resistance resistance, (11)
Is the capacity. In each figure, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H03K 19/0185 19/0948 8941−5J H03K 19/00 101 D ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Office reference number FI Technical display location H03K 19/0185 19/0948 8941-5J H03K 19/00 101 D

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】電源端子と接地端子との間に直列に接続さ
れたpチヤンネルトランジスタとnチヤンネルトランジ
スタとを有し、入力端子に接続された第1のC-MOSイン
バータ、上記電源端子と接地端子との間に直列に接続さ
れたpチヤンネルトランジスタとnチヤンネルトランジ
スタとを有し、出力端子に接続されるとともに、pチヤ
ンネルトランジスタのゲートが上記第1のC-MOSトラン
ジスタの出力ノードに接続された第2のC-MOSインバー
タ、この第2のC-MOSインバータのpチヤンネル及びn
チヤンネルトランジスタのゲート間に接続された抵抗性
素子、上記第2のC-MOSインバータのnチヤンネルトラ
ンジスタのゲートと上記接地端子との間に接続された容
量、上記第2のC-MOSインバータのnチヤンネルトラン
ジスタのゲートと上記接地端子との間に接続されるとと
もにゲートが上記入力端子に接続されたnチヤンネルト
ランジスタを備えた出力バッフア回路。
1. A first C-MOS inverter having a p-channel transistor and an n-channel transistor connected in series between a power supply terminal and a ground terminal and connected to an input terminal, the power supply terminal and ground. It has a p-channel transistor and an n-channel transistor connected in series with the terminal and is connected to the output terminal, and the gate of the p-channel transistor is connected to the output node of the first C-MOS transistor. A second C-MOS inverter, the p-channel and n of the second C-MOS inverter
A resistive element connected between the gates of the channel transistors, n of the second C-MOS inverter, a capacitance connected between the gate of the channel transistors and the ground terminal, n of the second C-MOS inverter. An output buffer circuit comprising an n-channel transistor connected between the gate of a channel transistor and the ground terminal and having its gate connected to the input terminal.
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