JPH0610608Y2 - Ion flow extraction electrode - Google Patents

Ion flow extraction electrode

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JPH0610608Y2
JPH0610608Y2 JP1987111947U JP11194787U JPH0610608Y2 JP H0610608 Y2 JPH0610608 Y2 JP H0610608Y2 JP 1987111947 U JP1987111947 U JP 1987111947U JP 11194787 U JP11194787 U JP 11194787U JP H0610608 Y2 JPH0610608 Y2 JP H0610608Y2
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ion flow
ion
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plate
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この考案はイオンビーム加工装置におけるイオン流引き
出し電極に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial application] The present invention relates to an ion flow extraction electrode in an ion beam processing apparatus.

[従来の技術] イオンビーム加工法は集積回路の集積度を高めるべく開
発されたもので、イオン源から引き出されたイオンを用
いて、集積回路のパターンの形成等に広く用いられ、微
粒子の相互作用を加工原理とするので、微細なパターン
の形成を可能にしている。
[Prior Art] The ion beam processing method was developed to increase the degree of integration of an integrated circuit. It is widely used for forming a pattern of an integrated circuit by using ions extracted from an ion source. Since the action is the processing principle, it enables the formation of fine patterns.

従来、このイオンビーム加工法を実現するイオンビーム
加工装置としては、プラズマ生成室内に生成したプラズ
マをイオン流引き出し電極により静電的に引き出し、イ
オン流を形成する方式をとっている。
Conventionally, as an ion beam processing apparatus that realizes this ion beam processing method, a method has been adopted in which plasma generated in a plasma generation chamber is electrostatically extracted by an ion flow extraction electrode to form an ion flow.

第1図はこのようなイオンビーム加工装置の構成を示す
模式的断面図であり、図において(1)はプラズマ発生
室、(2)はイオン流引き出し電極、(3)は加工室、(4)は
陰極、(5)はシール壁、(6)は陽極、(7)は電磁石、(1
0),(11),(12)はそれぞれ電源、(13)は電極、(14)は試
料、(15)はマスク、(16)は排気口、(17)は給気口であ
る。
FIG. 1 is a schematic sectional view showing the structure of such an ion beam processing apparatus. In the figure, (1) is a plasma generation chamber, (2) is an ion flow extraction electrode, (3) is a processing chamber, and (4) ) Is the cathode, (5) is the seal wall, (6) is the anode, (7) is the electromagnet, and (1
0), (11), and (12) are power sources, (13) is an electrode, (14) is a sample, (15) is a mask, (16) is an exhaust port, and (17) is an air supply port.

イオンビーム加工装置は、大別してプラズマを発生させ
るプラズマ発生室(1)と、発生したプラズマをイオンビ
ームとして引き出すイオン流引き出し電極(2)と、試料
(14)にイオンビームを照射する加工室(3)とから構成さ
れている。
The ion beam processing device is roughly divided into a plasma generation chamber (1) for generating plasma, an ion flow extraction electrode (2) for extracting the generated plasma as an ion beam, and a sample.
It is composed of a processing chamber (3) for irradiating the ion beam (14).

またイオン流引き出し電極(2)は、いわゆる一枚型電極
が使用されており、その構造はプラズマ発生室(1)側が
絶縁体(21)、加工室(3)側が導体(22)よりなり、これら
絶縁体(21)及び導体(22)を貫通して形成された多数の小
孔(23)を有する一体のグリッドで構成される。
Further, the ion flow extraction electrode (2), so-called single-sheet type electrode is used, its structure is the insulator (21) on the plasma generation chamber (1) side, the conductor (22) on the processing chamber (3) side, It is composed of an integral grid having a large number of small holes (23) formed by penetrating the insulator (21) and the conductor (22).

次に、従来のイオンビーム加工装置の動作について説明
する。シール壁(5)の内部を10-6〜10-7Torr程度に
排気し、給気口(17)からイオン化物質、例えばAr(ア
ルゴン)ガスを導入する。陰極(4)から出た電子は電磁
石(7)の作る磁界によりサイクロトロン運動をしながら
陽極(6)に入射する。その際電源(10)で加速されAr原
子と衝突してArの+イオンが電離され、プラズマ発生
する。発生したイオンの空間電荷による電界の影響でイ
オン流引き出し電極(2)のプラズマ発生室(1)側の表面近
傍にイオンシースが形成され、ここから熱運動で飛び出
したイオンは電源(11)による電圧で加速され、イオン流
引き出し電極(2)りグリッド孔を通って試料(14)にイオ
ンシャワーとして照射される。電源(12)は加工室(3)か
らの電子の逆流を防止するための電圧を与える。
Next, the operation of the conventional ion beam processing apparatus will be described. The inside of the seal wall (5) is evacuated to about 10 −6 to 10 −7 Torr, and an ionized substance such as Ar (argon) gas is introduced from the air supply port (17). Electrons emitted from the cathode (4) enter the anode (6) while performing cyclotron motion by the magnetic field created by the electromagnet (7). At that time, it is accelerated by the power source (10) and collides with Ar atoms to ionize Ar + ions and generate plasma. An ion sheath is formed near the plasma generation chamber (1) side surface of the ion flow extraction electrode (2) due to the influence of the electric field due to the space charge of the generated ions, and the ions ejected by thermal motion from this are generated by the power supply (11). The sample (14) is accelerated as a voltage and is irradiated as an ion shower through the ion flow extraction electrode (2) and the grid hole. The power supply (12) provides a voltage for preventing backflow of electrons from the processing chamber (3).

また、上記のような一枚型電極は、絶縁体基板に加速電
極を構成する導体層を蒸着したものを使用するが、これ
を実現したものはガラスセラミック板にエッチング加工
により多数の小さな穴をあけ、この片面を真空蒸着によ
りクロムコーティングして導体としたもが存在するだけ
であった。
In addition, as the above-mentioned one-piece type electrode, one in which a conductor layer that constitutes an acceleration electrode is vapor-deposited on an insulating substrate is used, but what realized this is that a glass ceramic plate is formed with many small holes by etching. However, there was only a conductor which was coated with chromium on one side by vacuum evaporation.

[考案が解決しようとする問題点] 上記のような従来の一枚型電極は、ガラスセラミック板
にエッチング加工により多数の小さな穴をあけ、この片
面を真空蒸着によりクロムコーティングして導体とした
ものであり、熱や機械的衝撃に弱く、またコーティング
したクロムの厚さや穴に入り込むクロムの量やその分布
により電極としての性能にバラツキを生じており、さら
に高価なものとなる等の問題点があった。
[Problems to be Solved by the Invention] In the conventional single-plate type electrode as described above, a large number of small holes are formed in a glass ceramic plate by etching, and one surface of the plate is coated with chromium by vacuum vapor deposition to form a conductor. It is weak against heat and mechanical impact, and the performance as an electrode varies due to the thickness of the coated chrome, the amount of chrome entering the holes and its distribution, making it more expensive. there were.

この考案は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、安価でかつ品質安定度の高いイオン流引き出し電
極を提供することを目的としている。
The present invention has been made in order to solve such a problem, and an object thereof is to provide an ion flow extraction electrode that is inexpensive and has high quality stability.

[問題点を解決するための手段] この考案にかかるイオン流引き出し電極は、パンチング
ボードとして市販されている板厚方向に垂直な多数の孔
をもつアルミニウム板の片面にアルマイト加工したもの
を使用することとした。
[Means for Solving the Problems] As the ion current extraction electrode according to the present invention, an aluminum plate having a large number of holes perpendicular to the plate thickness direction, which is commercially available as a punching board, is used which is anodized on one side. I decided.

[作用] この考案においては、既に市販されているパンチングボ
ードを素材とし、これにアルマイト加工を施しただけで
一枚電極板を構成したので、ガラスセラミックを使用せ
ずアルミニウムを基材とするので熱や機械的衝撃に強
く、さらに真空蒸着によるクロムコーティングもなされ
てないので性能のバラツキが少なく、エッチング加工の
必要がないので安価になる。
[Operation] In this invention, the punching board that is already on the market is used as the material, and the single electrode plate is formed only by subjecting it to the alumite processing. Therefore, the glass ceramic is not used and aluminum is used as the base material. It is resistant to heat and mechanical shock, and because it is not coated with chromium by vacuum deposition, there is little variation in performance, and etching is not required, so it is cheaper.

[実施例] 以下、この考案の実施例を図について説明する。第2
図,第3図はこの考案によるイオン流引き出し電極の構
成を示す図であって、第2図(a)は平面図、第2図
(b)は断面図、第3図(a)は第2図(a)のAに示
す部分の拡大図、第3図(b)は小孔の部分の拡大断面
図である。これらの図において、(21)は絶縁体を示す
が、この考案では酸化被膜(アルマイト)で構成されて
いる。(22)は導体を示すが、この考案ではアルミニウム
で構成されている。(23)は小孔、(24)は取り付け穴であ
る。
[Embodiment] An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. Second
FIG. 3 and FIG. 3 are views showing the structure of an ion flow extraction electrode according to the present invention. FIG. 2 (a) is a plan view, FIG. 2 (b) is a sectional view, and FIG. 2 (a) is an enlarged view of a portion indicated by A, and FIG. 3 (b) is an enlarged sectional view of a small hole portion. In these figures, (21) shows an insulator, but in this invention, it is composed of an oxide film (alumite). Reference numeral (22) indicates a conductor, which is made of aluminum in this invention. (23) is a small hole, and (24) is a mounting hole.

この考案によるイオン流引き出し電極は第2図,第3図
に示すような構成になっており、導体(22)はパンチング
ボードとして既に市販されている板厚方向に垂直な多数
の孔をもつアルミニウム板を所定の形状に切断して、そ
のまま使用している。従って従来のようにエッチング加
工によりわざわざ孔あけ加工する必要がなくなる。
The ion current extraction electrode according to the present invention has a structure as shown in FIGS. 2 and 3, and the conductor (22) is an aluminum plate having a large number of holes perpendicular to the plate thickness direction which is already commercially available as a punching board. The plate is cut into a predetermined shape and used as is. Therefore, it is not necessary to purposely make a hole by etching as in the conventional case.

また絶縁体(21)は上記アルミニウムでできたパンチング
ボードの片面をアルマイト加工して酸化被膜としたもの
で構成できるので、従来のようにガラスセラミック板で
構成する必要がなくなり、安価に構成でき、機械的強度
が大きく、またアルミニウムは熱伝導率が大きいので外
側を冷却することにより、熱変形を防止でき、スパッタ
リング等に対して強いグリッドを得ることができる。
Further, since the insulator (21) can be configured by anodizing the one side of the punching board made of aluminum to form an oxide film, it is not necessary to configure the glass ceramic plate as in the conventional case, and the cost can be reduced. Since aluminum has high mechanical strength and aluminum has high thermal conductivity, cooling the outside can prevent thermal deformation, and a grid strong against sputtering and the like can be obtained.

なお、アルミニウムで構成される導体の(22)の表面にニ
ッケル等のメッキを施したものであれば、ガスによる腐
食を防止でき耐久性が向上したものになる。
If the surface of the conductor (22) made of aluminum is plated with nickel or the like, corrosion due to gas can be prevented and durability can be improved.

[考案の効果] この考案は以上説明したとおり、既に市販されているパ
ンチングボードを素材とし、これにアルマイト加工を施
すだけで一枚電極板を構成したので、ガラスセラミック
板を使用せずアルミニウムを基材とするので熱や機械的
衝撃に強く、真空蒸着によるクロム・コーティングもな
されてないので性能のバラツキが少なく、エッチング加
工の必要がないので安価になる等の効果がある。
[Effects of the Invention] As described above, the present invention uses a punching board that is already on the market as a material, and a single electrode plate is formed only by subjecting it to alumite processing. Since it is used as a base material, it is resistant to heat and mechanical shock, and since it is not coated with chromium by vacuum deposition, there is little variation in performance, and since etching is not required, there are effects such as cost reduction.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はイオンビーム加工装置の構成を示す模式的断面
図、第2図,第3図はこの考案によるイオン流引き出し
電極の構成を示す図。 (1)はプラズマ発生室、(2)はイオン流引き出し電極、
(3)は加工室、(21)は絶縁体、(22)は導体、(23)は小
孔。 なお、各図中同一符号は同一又は相当部分を示すものと
する。
FIG. 1 is a schematic sectional view showing the structure of an ion beam processing apparatus, and FIGS. 2 and 3 are views showing the structure of an ion flow extraction electrode according to the present invention. (1) is the plasma generation chamber, (2) is the ion flow extraction electrode,
(3) is a processing chamber, (21) is an insulator, (22) is a conductor, and (23) is a small hole. The same reference numerals in the drawings indicate the same or corresponding parts.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】プラズマを発生するプラズマ発生室で発生
したイオンをイオンビームとして加工室内へ引き出すた
めの電界を形成するイオン流引き出し電極において、 上記イオン流引き出し電極は、板面に垂直な方向に多数
の小孔が開けられたアルミニウム板を素材とし、このア
ルミニウム板の片面にアルマイト加工による酸化被膜を
構成したことを特徴とするイオン流引き出し電極。
1. An ion flow extraction electrode for forming an electric field for extracting ions generated in a plasma generation chamber for generating plasma into an machining chamber as an ion beam, wherein the ion flow extraction electrode is in a direction perpendicular to a plate surface. An ion current extraction electrode, characterized in that an aluminum plate having a large number of small holes is used as a material, and an oxide film formed by alumite processing is formed on one surface of the aluminum plate.
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