JPH0593888A - オフ・セツト鏡の光軸を決めるための方法および装置 - Google Patents

オフ・セツト鏡の光軸を決めるための方法および装置

Info

Publication number
JPH0593888A
JPH0593888A JP4065959A JP6595992A JPH0593888A JP H0593888 A JPH0593888 A JP H0593888A JP 4065959 A JP4065959 A JP 4065959A JP 6595992 A JP6595992 A JP 6595992A JP H0593888 A JPH0593888 A JP H0593888A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
grating
axis
circular
observation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4065959A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0827444B2 (ja
Inventor
Iwao P Adachi
イワオ・ピーター・アダチ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Boeing North American Inc
Original Assignee
Rockwell International Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rockwell International Corp filed Critical Rockwell International Corp
Publication of JPH0593888A publication Critical patent/JPH0593888A/ja
Publication of JPH0827444B2 publication Critical patent/JPH0827444B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • G01B11/27Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes
    • G01B11/272Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes using photoelectric detection means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】高分解能光学系にも適応できるように、オフア
クシス鏡の、特に鏡面の中心の光軸貫通部に孔があいて
いて通常の方法では軸合わせの困難な鏡や幾何学的に複
雑な表面構造の鏡においても、極めて正確なアラインメ
ント方法を提供する。 【構成】光源(レーザダイオード)20から出た単色光
をハーフミラー24で反射させ、円心円の多重環から成
るRonchi格子14を通してオフセット鏡12に照
射する。鏡12による格子14の反射像と元の格子14
とが干渉してモアレ縞を生じるように鏡12と格子14
の距離を設定しておく。つぎに観測軸16に対して鏡1
2の位置と配向を調節して、トランスファ28と観測素
子18(CCDとビデオモニタ等)で観測するモアレ縞
が軸対称になり、さらに縞の数が最少または零になるよ
うに調節する。この動作原理に、鏡12の配向と位置の
自動調節機構を組み合わせると便利な装置となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の分野】この発明は光学系に関しかつより特定的
には鏡の光軸を整列させるための方法および装置に関す
る。この発明はさらにオフアクシス非球面または非円状
対称鏡の光学的アライメントに関する。
【0002】
【関連技術】イメージスキャナまたはセンサ、イメージ
デュプリケーション、またはイメージデジタル化システ
ムなどの様々な進歩した光学的応用において高品質反射
鏡が用いられる。高分解能光学系において、鏡は、所望
の高分解能または高いイメージレジストレーションを提
供するために高品質光学表面を処理しなければならずか
つ大変正確に整列されなければならない。それゆえ、大
変正確に規定された焦点パターンを有しかつ所与の光学
系内で高精度アライメントが可能である鏡を製造する方
法を提供することが必要である。アライメントプロセス
はシステムアライメントを含むかもしれないが、後の使
用のための取付け構造内での鏡の初期アライメントをも
含む。
【0003】平坦な、円状の、または円状に対称的な鏡
が用いられるとき、鏡の焦点の機械的測定を単に用いる
ことによって鏡を整列させることがしばしば簡易であ
る。そのような鏡のサイズおよび円状の曲率は測定が容
易であり、かつこれから焦点または軸もまた容易に決定
される。光ビームはまた鏡表面から反射され得て、かつ
反射光の共通交点がどこであるのかを知るためまたは予
め定められたパターンをトレースするために観察され得
る。もう1つの方法は、コリメートされた光ビームまた
はその表面からの像を反射する一方で鏡を回転し、かつ
反射された像が静止するまで回転の鏡軸を調節すること
である。大変高精度のアライメント要件を達成するため
に、入射および反射光ビームおよび像を用いてミスアラ
イメントを検出するために様々な干渉技術がまた使われ
得る。しかしながら、非球面または放射線状形状または
より複雑なジオメトリおよびオフセット鏡を扱うときに
は、伝統的な干渉の方法は良好に動作しない。
【0004】円形の中央部分が存在しない鏡に対して
は、鏡の物理的構造が焦点軸の大変正確な決定を妨げる
かまたはこの軸を位置づけることを大変困難にする。こ
の配置において、そこから光のビームまたは像を容易に
反射するべき中央部分はない。アライメントの1つの方
法は、もし整列が完全ならば、帯状のエラーが中央光軸
について同心または対称的であると仮定することであ
る。干渉写真が鏡ゾーンを検出またはそこに合焦するた
めに用いられ、それはそれから光軸を確立するために用
いられる。同様に、ロンキー(Ronchi)テストが鏡ゾー
ンを通過するパターンを見いだすために用いられ得る。
いくつかのテストが鏡表面のいくつかの部分を観測する
ために行なわれかつそれから単一、複合、光軸を確立す
るためにまとめられ得る。しかしながら、これらの方法
は、20%だけ誤差にあるとみいだされた。
【0005】不運なことに、オフセット鏡および複雑な
表面形状を有する鏡は高度に進んだ光学システムのため
に必要とされる。それゆえ、必要とされることは、その
ような鏡の高度に正確なアライメントを提供するための
方法および装置である。同時に、様々な鏡構成に対する
ミラーアライメントの大変正確な測定を与える新しいミ
ラーアライメント技術が必要とされる。どんなアライメ
ント技術に対してもまた最小の支出および複雑さで使用
可能であることが所望である。
【0006】
【発明の概要】当技術における現在の鏡整列技術の限界
に鑑みて、この発明の1つの目的はオフアクシス鏡を整
列するための新しい技術を提供することである。
【0007】この発明のもう1つの目的はオフアクシス
または幾何学的に複雑な鏡を整列する高度に正確な方法
を提供することである。
【0008】鏡整列が最小限の複雑さを伴うことがこの
発明の利点である。この発明の別の利点は何らかの整列
手続の自動化に対してそれ自体が寄与することである。
【0009】格子の反射された像を作る、整列されるべ
き鏡上に後から円状の(circular)位相格子が照射され
る、オフ−アクシス鏡を整列するための方法および装置
において、これらおよび他の意図、目的および利点が実
現される。円状格子は鏡によって発生させられる反射さ
れた像と整列され、近似(approximate )鏡光学軸であ
る観測軸に沿って観測されるとき、干渉パターンにおい
て作りだす。発生されたまたは観測された干渉パターン
は、モアレ線の存在のために観測され、かつ鏡は、モア
レ線の数が観測された縞パターンにおいて最小となるか
またはそこから消え去るまで観測軸についてトランスレ
ートまたは回転される。この点において、観測軸は記録
またはマークされ得る鏡の光軸と整列させられる。
【0010】この発明のさらなる実施例において、縞パ
ターンは、カメラなどの像処理要素に対して、ナル(nu
ll)レンズアセンブリなどの1つまたはそれ以上のレン
ズを用いて、転送される。像はデジタル化され、テスト
下の鏡に接続された位置トランスレータに結合されたプ
ロセスコントローラに転送され得る。プロセスコントロ
ーラは観測された縞を解析しかつ所望の最小の数のモア
レ線が存在するまで鏡を移動する。プロセスコントロー
ラは鏡に対する移動可能取付装置に対する位置トランス
レーションコマンドを与えるようにプリプログラムされ
得る。縞情報はまた後の再呼出または解析のために記録
または格納され得る。
【0011】本発明の新規の特徴は、全体を通して同じ
要素に同じ番号が付されている添付の図面を参照して、
添付の説明からより良く理解されるであろう。
【0012】
【本件発明の詳しい説明】この発明はオフアクシス鏡を
大変正確かつ効率的に整列するための方法および装置を
提供する。この発明は、円状ロンキー格子の像を鏡表面
上に投影しかつその格子像を元の格子上に反射すること
によってこの整列を達成する。ロンキー格子は反射され
た像およびモアレ線が観測される結果としてのもあれ干
渉パターンと一致するように観測軸に沿って調節され
る。鏡は観測軸について移動および回転され、観測パタ
ーンにおけるモアレ線を最小にしかつ観測軸に沿う鏡に
対する光軸を確立する。
【0013】この発明の整列技術のために用いられる装
置は図1において概略形式で示される。図1において、
光学的整列系10が、オフ−セット鏡12に対する中央
光学的整列軸を決めるために示される。鏡12は当業者
に対して周知である様々なオフ−セット鏡設計のうちの
1つを含み得て、かつ図1に示されているものは明瞭さ
の目的のために提示されており、かつ発明の技術に対す
る限定ではない。
【0014】観測要素18および鏡12の間に観測軸1
6に沿って円状ロンキー格子14が位置づけられる。観
測要素は装置10の初期整列のために補助されない人の
目を含み得る。たとえば、2つの重なる円形格子を観察
するとき、補助されない目は典型的には円状モアレ縞を
ある距離において検出し得る。しかしながら、高度に正
確な整列のためには、観測要素は微細なモアレ縞を観測
するためのレンズ系を少なくとも含み、かつ一般的には
電荷結合装置型カメラまたはビデオシステムなどの電気
光学的装置を含むであろう。この後者の型の装置は鏡1
2でカタログされ得る鏡特性の改良された記録および観
測の両方を可能にする。
【0015】円状格子14および反射器24の正確なサ
イズは、当業者には周知であるように、鏡焦点経路に沿
うそれらの配置および作られる鏡像の寸法に依存する。
【0016】それに限定されないが、たとえば、ダイオ
ードレーザなどの光源20が光反射器または反射要素2
4上へのおよび鏡12上への照射ビーム22の投影のた
めに用いられる。反射器24は、オプチカルフラット、
プリズムまたは他の複合反射装置などのいくつかの周知
の要素の1つを含み得る。光源20は典型的には、スペ
クトル的に純粋かつコヒーレントな光を与えるように選
択されて、強い中心合焦光源を提供しかつ散乱を減じ
る。この理由のために、この応用に対してはレーザ型光
源が好ましいが、他の高度にコリメートされた光学源も
またこの発明の利点を達成するのに適切であろう。
【0017】光源20はまた、鏡12の応用に依存し
て、予め選択された周波数においてまたは所望の周波数
範囲において動作するように選ばれる。当業者は、光周
波数が、鏡の光学的特性またはそれの意図される応用お
よび所望の精度、測定される距離または角度に基づくこ
とを容易に理解するであろう。同時に、整列系10にお
いて、たとえば反射器24上などで用いられる任意の反
射性または部分的反射性コーティングは光源20の周波
数での動作を向上するように選ばれる。
【0018】格子14は用いられている光の周波数に対
する円状ロンキー位相格子として構成される。光波長6
80nmでの動作に対する典型的な格子は約0.333
mm格子周期である。円状格子14は、反射器24と鏡
12との間で鏡12の一般的光学焦点経路において観測
軸16を渡って位置づけられる。円状格子14は観測軸
に対して実質的に直交して位置づけられ、それは鏡12
の光軸の近似を表わす。
【0019】この発明を実現するために様々な円状格子
が用いられ得るが、大変高度に正確な整列のためにはい
くつかが他のものよりもより役立つかもしれない。様々
な型の円状格子が当技術において用いられており、かつ
多くがこの発明の利点を達成することにおいて役立つ。
しかしながら、深エッチ型のロンキー格子は高対照、高
感度、縞発生要素を提供することがみいだされてきた。
黒および白型のロンキー格子は良好であるが減じられた
対照応答を提供し、かつ位相型ロンキー格子は典型的に
は劣対照応答像を提供する。それゆえ、深エッチ円状ロ
ンキー格子が好ましい。
【0020】入力光ビーム22は反射器24から反射
し、かつ円状格子14を介して通過し、かつ鏡12の表
面を打ち、そこでそれは格子14の像を形成する。この
像は光ビーム26として鏡12の光軸に沿って反射し出
され、そこでそれは観測要素18によって観測される。
【0021】円状格子14は、それが格子の合焦された
像26と同じ位置に入るか、または像と干渉するまで、
近似された光軸16に沿って調節される。この干渉は図
2(a)ないし(c)に示されるように1つまたはそれ
以上の型のモアレ縞パターンを発生する。図2(a)な
いし(c)に示される縞パターンは観測および写真記録
で典型的な実施例を用いて得られる。図は、3インチ円
状アパチャまたは非反射性中央体部分および約20イン
チの近似焦点距離を有する6インチ直径鏡からその像が
反射され、0.33mm期間円状格子の干渉の測定を表
わす。約680nmの光波長が用いられた。
【0022】この発明の技術の感度は観測軸からのオフ
・アクシス鏡の変位の方向および大きさに従って変わる
であろう。すなわち、その変位が鏡軸線に沿って起こる
かどうか、または観測軸に対して水平または直角かであ
る。鏡表面の形状の外形または変形もまたある程度感度
に影響するであろう。当業者はこれらのファクタが所与
の応用において整列にいかに影響するかを容易に理解す
るであろう。
【0023】図2(a)に示される縞パターンを得るた
めには、返された格子像および格子は、系の正確さ内で
完全に整列され、かつ円状格子のみが観測される。もし
鏡12が少ない量だけ、0.19ミリラジアンのオーダ
で選ばれた観測軸16から水平方向にミスアライメント
されれば、そのとき図2(b)のパターンが観測され、
それはモアレ干渉の3つの線を示す。鏡12がさらに、
約0.38ミリラジアンオフ−アクシスまで軸16から
ミスアライメントされるにつれて、モアレ縞パターンは
今図2(c)に見られるように8線を呈する。整列誤り
に対する高い程度の正確さおよびプレゼンテーションの
鮮明度の両方が得られることが容易に理解される。
【0024】一旦鏡が観測軸と整列されると、円状格子
および反射された像は整列され、図2(a)の縞パター
ンをもたらす。一旦この状態が達成されると、鏡の光軸
が知られ、かつマークされ得るか、またはそうでなけれ
ば鏡に装着された物理的要素または鏡を支持する取付け
要素の使用を介して示される。所望であれば、1つまた
はそれ以上のトランスファまたはナルレンズ28がま
た、像を向上するかまたは観測経路を長くするために観
測要素18と反射器24との間に観測軸16に沿って挿
入され得る。
【0025】上記技術が大きく当技術を進歩させる一方
で、多くのオフセット鏡はそれらの全体表面を単一の像
として観測することに対してなじみやすくはない。すな
わち、多くのオフ−セット鏡は大変大きく、かつ記載の
技術は過度に大きな観測装置または大変長い観測経路長
を、全体表面像26を取込むために必要とするであろ
う。より大きな鏡を適用するために、この発明の技術は
鏡のより小さな部分または象限、および整列情報を与え
るためにまとめられた結果に向けられ得る。この方策の
例示は図3の装置および図4(a)ないし(c)および
図5の縞において提供される。
【0026】図3において、整列系30は、ビューイン
グ要素38に向けられる観測軸36に沿って位置づけら
れる反射器40および円状格子34を用いて大きな鏡3
2をテストおよび整列するように構成される。前記のご
とく、1つまたはそれ以上のレンズまたはナルレンズ装
置42が、観測される像を向上させるかまたはコリメイ
トするために用いられ得る。この実施例において、円状
格子34および反射器40は全体鏡表面上に光を投影し
かつ全体の戻された像を受けるために大きい。円状格子
34および反射器40の正確な寸法は、上述のように、
当業者には知られるであろうように、鏡焦点経路に沿う
それらの配置に依存する。
【0027】光源20は円状格子34の後上に光ビーム
22を投影し,それは鏡32に進んでかつ鏡32上で格
子の像として反射され、それは像ビーム46として反射
される。この応用において、観測素子38は円状格子3
4で反射された像46の干渉によって作られる縞パター
ンの一部分を観測するのみである。結果は図2のそれら
に類似でありかつ図4(a)ないし(e)に示される。
これらの図に示される縞パターンは、反射された像およ
び発生された縞パターンのより小さな部分を観測するこ
とを例外として、図2に対して用いられる典型的な実施
例を用いて得られた。
【0028】図4(a)および(d)は鏡32が観測軸
36と整列させられたときに対する縞パターンを示し、
かつモアレ線は見えない。図4(b)に示される縞パタ
ーンを得るために、鏡32は観測軸36から水平方向に
約0.32ミリラジアン変位され、かつ図4(c)の縞
に対しては、その変位は約0.64ミリラジアンに増加
された。この特定の応用において、大変滑らかでかつ対
称的な鏡表面を用いて、整列装置30はこの水平変位に
対してあまり感応的ではない。1組のモアレ線のみが図
4(c)において見られる。
【0029】しかしながら、鏡32が図4(e)に対す
るように約0.19ミリラジアンの変位において垂直に
動かされ、かつその変位が図4(f)に対するように約
0.38ミリラジアンまで増加させられれば、その変化
はより観測可能である。この方向において、鏡32に対
する表面角度の変化は大幅により顕著であり、かつ整列
装置30はこのためにより感応的である。図4(e)に
おいて、少なくとも3つのモアレ線が見られかつ図4
(f)において、線の数は6に増加する。
【0030】図4(a)ないし(f)のパターンに対し
て、円状ロンキー格子および反射された像の一部のみが
観測されている。それゆえ、格子パターンは円状よりむ
しろ放物面状で現われる。放物面格子パターンの離心率
は、テストされている鏡32の大きさおよび観測されて
いる像の大きさに依存する。これらのパターンは測定可
能であり、かつ鏡32光軸の位置を決めかつその軸を所
望の観測またはテスト軸と整列させるために情報が組合
される。
【0031】この部分の技術は図5に示されるように実
現される。図5において、一連の少なくとも4つのロン
キーテストパターンが観測されかつ図4に対してなされ
たように記録されるが、実時間測定もまた写真記録なし
に用いられ得る。各連続する格子または縞パターンは典
型的には隣接のパターンから90度または1クアドラン
ト以下移される。すなわち、円弧の90度またはそれ以
下だけ離されたいくつかの異なる位置へ、それに対して
それが平行である、近似鏡光軸について観測軸が放射状
に変位される。より低いこの分離およびより多い数のサ
ンプルが用いられれば、鏡32光軸の決定に対してより
正確である。
【0032】これらのサンプルにおける各放射面縞の中
心は物理的測定によって近づけられ得る。サンプルは、
固定軸について放射状に位置づけられるとき、互いから
のそれらのそれぞれの角度変位に従って互いに対して位
置づけられ得る。サンプル縞を互いに関して位置づけか
つ中央軸位置を出すことによって、全体のマッピングお
よび鏡32に対する対応の光軸が得られる。
【0033】上述の説明が本発明の利点を開示する一方
で、整列プロセスの部分を自動化または電子的に制御す
ることによってさらなる改良がなされ得る。図6は整列
プロセスに対するコンピュータまたは電子制御の適用を
示す。
【0034】図6において、電子的に制御されるかまた
は制御可能な整列装置50が示され、そこにおいて鏡1
2は再び図示されない光源を用いてテストおよび調節さ
れ、反射器24に関してかつ円状格子14を介して入力
ビーム22を与える。格子の像26は鏡12によって反
射されかつ結像装置52によって観測される。装置52
は、電荷結合装置型カメラなどの、しかしそれらに限定
はされないが、電子結像装置またはシステムである。電
子信号として、結像装置52は観測された縞パターンの
デジタル化されたものを表現するデジタル信号出力を与
える。この情報はデータバス、ケーブル、またはコネク
タを介してプロセスコントローラ54に転送される。
【0035】カメラは典型的には可動アクチュエータま
たは位置トランスレーション要素60上に取付けられ、
それは順に支持要素62上に取付けられる。トラスレー
タ60は、入力制御信号を用いて動作され得るステップ
モータまたはソレノイドなどの多くの周知のエレクトロ
メカニカル装置の1つであり得る。トランスレータ60
は適切なところで装置50の他の部分に関して結像装置
60の位置を調節する。支持62は整列装置50構成要
素に対する相対的に固定された参照フレームであり、か
つオプチカルベンチまたは特定的に整列された支持レー
ルアセンブリなどの装置であり得る。当業者はこの型の
装置に対してなじみがある。レンズアセンブリ28は必
要に応じて相対的位置における微調節のために位置トラ
ンスレータ64上に取付けられる。
【0036】円状格子14は位置トランスレータ66に
固定され、鏡12は水平位置トランスレータ68上に取
付けられる。トランスレータ68は一般的に、支持要素
72に沿って移動する1つまたはそれ以上の垂直トラン
スレータ74を有する垂直支持要素72を有する垂直位
置トランスレータアセンブリ70のための可動支持プラ
ットフォームとして働く。鏡12は、整列のために鏡1
2の異なる部分を個々に移動するために個々に移動可能
なアクチュエータまたは回転要素をさらに用いることが
できる取付けポスト76などの要素によってトランスレ
ータ74に固定される。この発明の動作を達成するため
に有益であると見いだされる装置をこれらのトランスレ
ーション構成要素が示すこと、およびこの発明を作るこ
とにおいて有益である他の、しばしばより複雑な、アク
チュエータおよびマルチプル・アクシス・オブ・フリー
ダム取付システムがあるということを当業者は容易に理
解するであろう。パワーまたはパルス幅調節可能、また
はデジタルコマンドを含む、制御信号の適応を介して容
易に制御可能である、位置トランスレーション装置が用
いられることが必要なのみである。
【0037】位置トランスレーションドライバまたはア
クチュエータの各々が典型的には、信号バスに沿って位
置訂正信号またはコマンドを受けるように接続される。
たとえば、抵抗性またはエレクトロメカニカルセンサな
どの、様々なコンポーネントからプロセスコントローラ
に対して何らかの位置情報を与える2方向データチャン
ネルをこのバスはまた表わし得る。位置トランスレータ
60、64、66、68および70はそれぞれコマンド
信号線80、84、86、88および90を介してプロ
セッサ54に接続されて示される。
【0038】プロセスコントローラはコマンド信号を発
行することによってモータまたは類似のアクチュエータ
上に制御を及ぼすための多くの周知の装置の1つを表わ
す。信号は用いられるトランスレータまたはアクチュエ
ータの型に依存してアナログまたはデジタル制御信号で
あり得る。典型的なプロセスコントローラ54は、受取
られたイメージデータに応答しかつ最小の数のモアレ線
を作るように鏡の位置に対する調節を行なう予め定めら
れた制御プログラムをストアするための内部メモリを有
するデジタルコンピュータを含む。プロセスコントロー
ラはイメージデータをストアするためのまたは受取られ
た像に存在するモアレ線の数を決めるためのテンプレー
トおよび周知の像選択クリテリアをコンパイルするため
の付加的メモリまたは記憶エレメント58を用い得る。
同時に、プロセスコントローラ54の選択または制御動
作を補助するため、またはその動作のためのプログラム
を選択または実現するために入力線92を介してヒュー
マンオペレータ信号が受取られ得る。
【0039】周知のオプチカル整列のテスト鏡構造は円
状格子、レンズおよび結像装置の初期位置を確定するた
めに一般的に用いられる。一旦装置の初期構造が有効と
されると、知られていない整列のオフ・セット鏡が取付
ポスト76上に取付けられかつ結像装置52の観測軸に
対して整列させられ得る。処理の間に、像がコントロー
ラ54と同様にビデオスクリーン56に与えられ得る。
デジタル化されたイメージデータがモアレ線の存在を決
めるために用いられ、かつプロセスコントローラ54が
鏡を再整列させてかつそれに従ってモアレ線の数を最小
にするようにアクチュエータ68および70に対してト
ランスレーションコマンドを発行する。鏡はまた取付ポ
スト76と直列に取付けられる適切なトランスレータま
たはアクチュエータを用いて観測軸16に関して傾けら
れ得る。この型のシステムは、それがいくつかの放物面
測定のために中央軸および交点を大変迅速に計算できる
ので、大きな鏡に対して高度に効率的である。
【0040】様々な鏡ジオメトリでの大変正確な鏡整列
に対して準備しかつ実現することが大変効率的でありか
つ経済的である、オフ・セット鏡を整列するための新規
の技術が説明された。
【0041】好ましい実施例の上記の説明は例示および
説明の目的のためになされた。開示された正確な形式に
対してこの発明を排他的にすることまたは限定すること
は意図されておらず、かつ多くの修正および変更が上記
教示の下に可能である。この発明の原理およびその実務
的な応用を最良に説明し、それによって当業者がこの発
明を様々な実施例および試みられる特定の使用に対して
適切である様々な修正を加えてこの発明を当業者が最良
に利用することができるように、実施例は選択かつ説明
された。この発明の範囲は請求項およびそれらの均等物
によって規定されることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に従って構成されかつ動作するオフア
クシス鏡を整列するための装置の概観を示す図である。
【図2】深エッチ型格子を用いる図1の装置に対する典
型的な縞パターンを示す図である。
【図3】整列軸を作るための大きなオフアクシス鏡に対
する4象限走査の応用を示す図である。
【図4】図3の装置に対する典型的な縞パターンを示す
図である。
【図5】図4(a)のそれらのような一連の像に基づく
コンパイルされた光軸パターンを示す図である。
【図6】この発明の方法を行なうための自動システムを
示す図である。
【符号の説明】
10 光整列系 12 オフ・セット鏡 14 円状ロンキー格子 16 観測軸 18 観測素子 20 光源 22 照射ビーム 24 反射器 26 合焦像 28 1つまたはそれ以上のトランスファまたはナルレ
ンズ

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 オフ・セット鏡の光軸を決めるための方
    法であって、 それに対して光軸が決められるべき前記鏡の反射性表面
    上に予め選択された円状ロンキー格子の像を投影するス
    テップと、 前記格子の反射された像を観測軸に沿って検出するステ
    ップと、 前記反射された像および前記格子の間で干渉のモアレ縞
    パターンを発生するように前記反射された像と共通の焦
    点面において前記円状ロンキー格子を位置づけるステッ
    プと、 前記モアレ縞におけるモアレ線を最小にするように前記
    観測軸に対して前記鏡の物理的配向を調節するステップ
    とを含み、それによって前記観測軸が前記所望の鏡光軸
    と整列されるようになる、方法。
  2. 【請求項2】 格子像を投影しかつ前記格子を位置づけ
    る前記ステップは、 前記観測軸に対して横にかつ実質的にそれについて中心
    付けられて円状ロンキー格子を位置づけるステップと、 前記鏡に向かって投影される光のビームで前記鏡から離
    れて向く側から前記円状格子を照射するステップと、 干渉パターンが前記反射された像とともに確立されるま
    で前記観測軸に沿って前記円状ロンキー格子の横位置を
    調節するステップとを含む、請求項1に記載の方法。
  3. 【請求項3】 前記調節ステップは前記観測軸に対して
    ある角度で前記鏡を変位することをさらに含む、請求項
    2に記載の方法。
  4. 【請求項4】 前記照射するステップは、 光学的光源として予め選択された周波数で動作するレー
    ザダイオードを設けるステップと、 前記円状格子に対して前記光を反射するように位置づけ
    られた前記レーザダイオード光に対して反射性でかつ前
    記鏡からの反射光に実質上透過性である少なくとも1つ
    の光学表面を有する光反射エレメントを前記観測軸に対
    して横に位置づけるステップとを含む、請求項2に記載
    の方法。
  5. 【請求項5】 前記縞パターンを発生するのに先立って
    前記鏡光軸の予め選択された近似と前記観測軸を整列す
    るステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  6. 【請求項6】 前記調節ステップは、前記観測軸に対し
    てある角度で前記鏡を変位することをさらに含む、請求
    項1に記載の方法。
  7. 【請求項7】 前記調節するステップは、縞パターンに
    対して別個の観測軸に沿って前記円状の格子の少なくと
    も2つの部分を観測することと、 最小の数のモアレ線を得るように前記観測軸の各々と横
    に前記鏡を変位させることと、 各パターンにおける各縞に対して幾何学的中心に基づい
    て各縞パターンに対する光軸位置を投影することとを含
    む、請求項1に記載の方法。
  8. 【請求項8】 調節するステップは、像をカメラに転送
    するステップをさらに含む、請求項1に記載の方法。
  9. 【請求項9】 電荷結合装置型のカメラにおいて前記観
    測された縞をデジタル化するステップと、 前記デジタル化された縞を電子的に走査するステップ
    と、 前記走査ステップにおいて検出されているモアレ線に応
    答して前記観測軸に対する前記鏡の相対的位置を調節す
    るステップとをさらに含む、請求項8に記載の方法。
  10. 【請求項10】 オフ・セット鏡の光軸を整列するため
    の方法であって、 予め選択された鏡観測軸に沿って円状ロンキー格子を設
    けるステップと、 1つの側から前記格子を照射しかつ前記格子の像を前記
    鏡上に投影するステップと、 前記反射された像と前記格子との間で干渉のモアレ縞パ
    ターンを発生するように反射された像と共通の焦点面に
    おいて前記円状のロンキー格子を位置づけるステップ
    と、 予め選択されたレベルよりも下で前記縞内のモアレ線が
    最小となるまで前記観測軸に関して前記鏡の物理的配向
    を調節するステップとを含む、方法。
  11. 【請求項11】 オフ・セット鏡の光軸を決めるための
    装置であって、 それに沿って前記鏡反射性表面が観測され得る予め定め
    られた観測軸に沿って位置づけられた予め選択された周
    期性の円状ロンキー格子と、 前記反射された像と前記格子との間で干渉のモアレ縞パ
    ターンを発生するように前記鏡の反射性表面上へおよび
    前記円状格子上へ前記円状格子の像を投影するための投
    影手段と、 前記モアレ縞内のモアレ線を最小にするように前記観測
    軸に関して前記鏡の物理的配向を調節するためのトラン
    スレーション手段とを含み、それによって前記観測軸が
    前記所望の鏡光軸と整列するようになる、装置。
  12. 【請求項12】 前記投影手段は、前記鏡に向かって投
    影された光のビームで前記鏡から離れて向く側から前記
    円状格子を照射するための照射手段を含む、請求項11
    に記載の装置。
  13. 【請求項13】 前記投影手段は、 光学的光源として予め選択された周波数で動作するレー
    ザダイオードと、 前記円状格子に抗して前記光を反射するように位置づけ
    られる前記レーザダイオード光に反射性でかつ前記鏡か
    らの反射光に対して実質的に透過性である少なくとも1
    つの光学表面を有する前記観測軸に対して横に位置づけ
    られる光反射要素とを含む、請求項12に記載の装置。
  14. 【請求項14】 前記トランスレーション手段は、前記
    観測軸に関してある角度で前記鏡を回転するための変位
    手段をさらに含む、請求項11に記載の装置。
  15. 【請求項15】 前記トランスレーション手段は、 前記縞およびその中のモアレ線を検出するための電子結
    像手段と、 前記検出された縞および線に応答して前記変位手段を調
    節するための制御手段とをさらに含む、請求項14に記
    載の装置。
  16. 【請求項16】 前記トランスレーション手段は、前記
    縞およびその中のモアレ線を検出するための電子結像手
    段をさらに含む、請求項11に記載の装置。
  17. 【請求項17】 前記電子結像手段は、予め定められた
    離れて配置された間隔での縞パターンに対して別個の観
    測軸に沿って前記円状格子の少なくとも2の別個の部分
    を観測するように合焦される、請求項16に記載の装
    置。
  18. 【請求項18】 前記少なくとも2つの位置において観
    測される各組の縞に対し中央軸位置を計算しかつそれの
    平均を与えるための構造手段をさらに含む、請求項17
    に記載の装置。
  19. 【請求項19】 前記電子結像手段は電荷結合装置型カ
    メラを含む、請求項16に記載の装置。
JP4065959A 1991-03-27 1992-03-24 オフ・セット鏡の光軸を決めるための方法および装置 Expired - Lifetime JPH0827444B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/676,013 US5076689A (en) 1991-03-27 1991-03-27 Off axis mirror alignment
US676013 1996-07-05

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0593888A true JPH0593888A (ja) 1993-04-16
JPH0827444B2 JPH0827444B2 (ja) 1996-03-21

Family

ID=24712857

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4065959A Expired - Lifetime JPH0827444B2 (ja) 1991-03-27 1992-03-24 オフ・セット鏡の光軸を決めるための方法および装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5076689A (ja)
EP (1) EP0505623B1 (ja)
JP (1) JPH0827444B2 (ja)
DE (1) DE69116852T2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8164675B2 (en) 2008-01-21 2012-04-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus and method for removing moire pattern of digital imaging device

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR960011399B1 (ko) * 1991-04-03 1996-08-22 샤프 가부시끼가이샤 광학 소자 조립 장치
US5187539A (en) * 1991-09-23 1993-02-16 Rockwell International Corporation Mirror surface characteristic testing
US6873467B1 (en) * 2001-08-24 2005-03-29 Raytheon Company Method and system for providing optical alignment for a visible wavelength reflective system
TWI264523B (en) * 2005-09-06 2006-10-21 Instr Technology Res Ct Method and instrument for measuring decenter and tilt of lens by interferometer
CN100567932C (zh) * 2008-05-28 2009-12-09 中国科学院光电技术研究所 扇形离轴非球面镜拼接测量系统
CN102073122B (zh) * 2010-12-24 2013-07-03 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 用于离轴同心光学系统中同心光学元件的同心装配方法
CN103499307B (zh) * 2013-09-13 2016-04-06 中海阳能源集团股份有限公司 激光干涉抛物面对称测量装置
CN104279981B (zh) * 2014-10-21 2017-07-07 苏州大学 一种基于条纹反射的镜面/类镜面物体绝对面形的测量方法及装置
CN106871821A (zh) * 2016-12-28 2017-06-20 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种基于单读数头的圆光栅安装误差标定与修正方法
CN107806819B (zh) * 2017-10-11 2019-08-23 长光卫星技术有限公司 用于凸非球面反射镜检测的光路对准方法
CN108459419B (zh) * 2018-01-17 2020-05-05 中国科学院上海光学精密机械研究所 基于光栅衍射的滤波器小孔对准调整装置和方法
CN111964610B (zh) * 2020-08-07 2021-12-07 浙江理工大学 电连接器头座五自由度自动对中方法
CN112066910A (zh) * 2020-08-24 2020-12-11 昆明理工大学 一种基于平面镜自动旋转平台的单目三维测量系统
CN113031296B (zh) * 2021-03-24 2022-08-19 长春长光智欧科技有限公司 可快速装调的金属基自由曲面三反光学系统的装调方法
CN113204127B (zh) * 2021-05-18 2022-03-08 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种离轴抛物面镜组的装调方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5683716A (en) * 1979-12-12 1981-07-08 Ricoh Co Ltd Method of measuring eccentricity and assembling lens system
JPS58142730A (ja) * 1982-02-20 1983-08-24 Sanyo Electric Co Ltd ビ−ムインデツクス型カラ−陰極線管の「あ」光面形成方法
JPS6048735A (ja) * 1983-08-27 1985-03-16 株式会社島津製作所 超音波診断装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3471237A (en) * 1966-02-15 1969-10-07 Barnes Eng Co Method of alignment of concave parabolic reflective optics
US5069549A (en) * 1990-11-02 1991-12-03 Industrial Technology Institute Moire contouring camera

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5683716A (en) * 1979-12-12 1981-07-08 Ricoh Co Ltd Method of measuring eccentricity and assembling lens system
JPS58142730A (ja) * 1982-02-20 1983-08-24 Sanyo Electric Co Ltd ビ−ムインデツクス型カラ−陰極線管の「あ」光面形成方法
JPS6048735A (ja) * 1983-08-27 1985-03-16 株式会社島津製作所 超音波診断装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8164675B2 (en) 2008-01-21 2012-04-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Apparatus and method for removing moire pattern of digital imaging device

Also Published As

Publication number Publication date
DE69116852T2 (de) 1996-09-05
DE69116852D1 (de) 1996-03-14
JPH0827444B2 (ja) 1996-03-21
EP0505623A1 (en) 1992-09-30
EP0505623B1 (en) 1996-01-31
US5076689A (en) 1991-12-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100729290B1 (ko) 텔레센트릭 프로젝터를 갖춘 위상 형상 측정 시스템
US5076689A (en) Off axis mirror alignment
EP1076264B1 (en) Multi-channel grating interference alignment system
US5187539A (en) Mirror surface characteristic testing
CN106933071B (zh) 调焦调平装置及方法
JPH01245104A (ja) 顕微鏡的構造を測定する装置を有する顕微鏡
EP2549222B1 (en) Use of an abscissa calibration jig, abscissa calibration method and laser interference measuring apparatus
JP4751156B2 (ja) オートコリメータ及びそれを用いた角度測定装置
JPH1151624A (ja) 面形状測定装置
KR101826127B1 (ko) 광학적 웨이퍼 검사 장치
JPH10239036A (ja) 3次元計測用光学装置
US6738189B1 (en) Microscope for measuring an object from a plurality of angular positions
JP3702733B2 (ja) 光学検査装置のアライメント方法およびその機構
JP2003161610A (ja) 光学式測定装置
JP2597711B2 (ja) 3次元位置測定装置
JP2828145B2 (ja) 光切断顕微鏡装置及びその光学手段の位置合わせ方法
US4758731A (en) Method and arrangement for aligning, examining and/or measuring two-dimensional objects
JPH1194700A (ja) レンズの測定装置及び測定方法
JP2001304826A (ja) 3次元形状測定装置
JPH1138298A (ja) 光学系調整方法
JP2000162307A (ja) 原子炉容器点検ロボットの位置標定用レーザ追尾装置
CN106247973B (zh) 一种凸非球面镜面形检测系统及检测方法
JPH0861911A (ja) 干渉計用アライメント装置
JP3282296B2 (ja) シリンドリカル光学素子測定用ホログラム干渉計装置
JP2678473B2 (ja) アナモフィックレンズの測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19961008

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090321

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100321

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110321

Year of fee payment: 15

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120321

Year of fee payment: 16

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130321

Year of fee payment: 17

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130321

Year of fee payment: 17