JPH0593608A - 蛍光体ピツチ測定装置 - Google Patents

蛍光体ピツチ測定装置

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JPH0593608A
JPH0593608A JP25392491A JP25392491A JPH0593608A JP H0593608 A JPH0593608 A JP H0593608A JP 25392491 A JP25392491 A JP 25392491A JP 25392491 A JP25392491 A JP 25392491A JP H0593608 A JPH0593608 A JP H0593608A
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JP
Japan
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image
phosphor
light source
light
unit
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Application number
JP25392491A
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English (en)
Inventor
Hitoshi Takayama
仁史 高山
Masanori Itakura
正則 板倉
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Mitsubishi Rayon Co Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Rayon Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 被検査物2に照射し、被検査物に使用した複
数の蛍光体を別々に励起し、発光させる発光スペクトラ
ムを有する光源部1と、被検査物の像を画像入力部4に
結像させる光学系レンズ部3と、被検査物像を光電変換
し、被検査物のそれぞれの蛍光体発光波長帯および光源
部が照光する非蛍光体の発光波長帯に分光感度を有する
する画像入力部4と、画像入力部から出力される被検査
物と蛍光体の画像データを各々独立に記憶する記憶部8
と、記憶部からの画像データを処理する画像処理部5
と、画像処理部における画像処理結果を出力する出力部
6からなり、使用した蛍光体と非蛍光体の境界に起因す
る被検査物の濃淡ピッチを測定する。 【効果】 被検査物の蛍光体と非蛍光体の境界の検出を
容易にする。また蛍光体ピッチ測定時間を短縮でき、さ
らには装置開発日数の短縮が可能である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、蛍光体を使用した被検
査物の画像情報を取得し、使用した複数の種類の蛍光体
のそれぞれの境界または、使用した蛍光体と非蛍光体の
境界に起因する被検査物の濃淡ピッチを測定するとき、
濃淡の境界の検出を容易にする蛍光体ピッチ測定装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】画像処理を用いた蛍光体ピッチ測定装置
では、被検査物の複数の種類の蛍光体のそれぞれの境界
または、蛍光体と非蛍光体の境界を検出するとき、被検
査物の透過像または散乱を含む反射像を画像入力部に入
力し、光電変換後平均化、圧縮・膨張等の画像前処理に
より、画像情報に含まれる雑音成分を除去し、前記情報
を得ていた。
【0003】図3に、従来の蛍光体ピッチ測定装置のブ
ロック図を示す。従来の蛍光体ピッチ測定装置において
は、光源部1は、被検査物2を照射し、光学レンズ系を
介して、被検査物の透過像または散乱を含む反射像を画
像入力部4へ入力し光電変換結果を記憶部3へ入力し、
記憶する。その後、画像処理部5で画像処理を行い、蛍
光体ピッチの測定結果を出力部6から出力する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の技術による蛍光体ピッチ測定装置においては、被検
査物の透過像または散乱を含む反射像のみを光電変換し
た後、画像前処理により雑音除去していたので、正確な
濃淡の境界を検出するには画像前処理に時間を要してい
た。このため、被検査物の生産ラインにおいてリアルタ
イムにピッチ測定をすることは困難であった。また、前
記画像前処理に要するハードウェアもしくはソフトウェ
ア開発にも工数がかかり、装置開発日数を増す要因の1
つになっていた。
【0005】本発明の目的は、前記の課題を解決するこ
とにより、画像処理を用いた蛍光体ピッチ測定装置の平
均化、圧縮・膨張等の画像前処理に対する負担を軽減
し、被検査物の複数の種類の蛍光体のそれぞれの境界ま
たは、蛍光体と非蛍光体の境界の検出を容易にすること
にある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の蛍光体ピッチ測
定装置は、使用された複数の種類の蛍光体のそれぞれの
境界または、使用した蛍光体と非蛍光体の境界に起因す
る濃淡ピッチを有する被検査物に照光する光源部と、被
検査物の像を画像入力部に結像するための光学系レンズ
部と、被検査物の像を光電変換する画像入力部と、画像
入力部から出力される画像データを記憶するための記憶
部と、記憶部からの画像信号を画像処理する画像処理部
と、画像処理部における画像処理結果を出力する出力部
からなる、蛍光体ピッチ測定装置であって、光源部が、
被検査物に使用した複数の種類の蛍光体を別々に励起
し、発光させることのできる発光スペクトラムを有する
複数の光源からなり、画像入力部がそれぞれの蛍光体発
光波長帯および光源部が照光する非蛍光体の発光波長帯
に分光感度を有し、該記憶部が該被検査物の画像データ
と該蛍光体の発光画像データとを独立に記憶することを
特徴とするものである。
【0007】
【作用】上記構成を有する本発明の蛍光体ピッチ測定装
置は以下のように作用する。まず光源部の複数光源の一
つの光源ユニットの出力をONにする。被検査物像は、
光学系レンズ部を通り、画像入力部に入力する。ここで
通常の被検査物の透過像または散乱を含む反射像を画像
入力部に入力し、光電変換を行いその結果の画像データ
を記憶部へ記憶する。
【0008】次に光源部を出力OFFにし、必要に応じ
て画像入力部の入力信号利得を変化させ、被検査物の蛍
光体のうち一つの蛍光体を励起・発光させる光源部の別
の光源ユニットを出力ONにする。この状態で励起した
蛍光体の発光による被用検査物像を画像入力部に入力
し、光電変換を行い、光電変換結果の画像データを記憶
部へ入力し、通常の被検査物の透過または散乱を含む反
射像を記憶した以外の別の記憶部に記憶する。そして光
源部を出力OFFにする操作以降を蛍光体の種類に応じ
た光源ユニットに変え、蛍光体の種類の回数だけくりか
えす。記憶されたこれらの画像信号に対して積和等の演
算を実行することにより、平均化、圧縮・膨張等の画像
前処理に対する負担を軽減し、被検査物の複数の種類の
蛍光体のそれぞれの境界または、蛍光体と非蛍光体の境
界の検出を容易にする。
【0009】
【実施例】以下、図を参照しながら本発明に係わる実施
例を説明する。
【0010】図1は、本発明の蛍光体ピッチ測定装置の
ブロック図である。本図において光源部1は被検査物に
使用した複数の種類の蛍光体のそれぞれを別々に励起す
ることができ、かつ被検査物の非蛍光体部分を照光する
ことのできる発光スペクトラムを有する。光源ユニット
0、1・・・Nは光源部の構成の一部であり光源ユニッ
ト0は、単に被検査物を照光するものであり、光源ユニ
ットNは被検査物に蛍光体がN種あるときN種目の蛍光
体を励起・発光させるものである。ここでNは自然数で
ある。被検査物2は複数の蛍光体を使用し、蛍光体と非
蛍光体のピッチを有する。
【0011】光学系レンズ部3は被検査物2からの画像
を画像入力部4へ結像させる。画像入力部4は被検査物
2からの画像データを電気信号に変換し、画像処理部5
へ出力する。画像処理部5は被検査物2の電気信号に変
換された画像信号に、平均化、圧縮・膨張等の画像前処
理を必要に応じて行い、かつ測定ピッチデータを算出す
る。出力部6は画像処理部5の画像処理結果をCRT、
プリンタあるいは他の装置へ出力する。同期信号発生部
7は光源部1の出力のON・OFFに同期して、画像入
力部4の信号利得を変化させたり、後述の記憶部へ画像
入力部4からの信号を記憶させたり、画像処理部5で記
憶部8からの信号の画像前処理を含む画像処理を行った
りするための、同期信号を発生する。記憶部8は画像入
力部4からの電気信号に変換された画像信号を記憶す
る。
【0012】図2は、本発明の蛍光体ピッチ測定装置の
光および電気信号の流れを示す測定フローチャートであ
る。蛍光体ピッチ測定装置の電源投入時に光源部1、画
像入力部4、画像処理部5、出力部6、同期信号発生部
7、記憶部8を初期化し、同時に異常の有無をチェック
する。
【0013】次に光源部1の光源ユニット0の出力をO
Nにし、通常の被検査物2の透過像または散乱を含む反
射像を画像入力部4へ入力し、光電変換する。そして光
電変換結果を記憶部8へ入力し記憶する。前記記憶終了
後、光源部1出力をOFFにし、後述の被検査物2のそ
れぞれの蛍光体発光像を検出するため、必要に応じて画
像入力部4の入力信号利得を変化させる。
【0014】前記利得変化完了後、光源部1の光源ユニ
ット1の出力をONにし、被検査物の蛍光体1を励起・
発光させる。この状態で励起した蛍光体の発光による被
検査物2の像を画像入力部4に入力し、光電変換を行
い、光電変換結果を記憶部8へ入力し、記憶部8の前記
通常の被検査物の透過または散乱を含む反射像を記憶し
た以外のところへ記憶する。そして光源部1を出力OF
Fにする操作以降を、光源ユニットを変え蛍光体の種類
の回数だけくりかえし、その後、画像入力部4の入力信
号利得を初期化する。
【0015】このようにして通常の被検査物2の透過像
または散乱を含む反射像と、同じ測定領域内のそれぞれ
の蛍光体発光像を得たのち、画像処理部4にて、通常の
被検査物2の透過像または散乱を含む反射像の画像と同
じ測定領域内の蛍光体発光像の積和等の演算を実行し、
その後平均化、圧縮・膨張等の画像前処理を経て、被検
査物2の蛍光体ピッチ測定値の算出を行う。
【0016】最後に出力部6において、被検査物2の蛍
光体ピッチ測定値出力を、必要に応じてCRT、プリン
タあるいは他の装置へ出力する。ここで被測定物2の他
の部位をピッチ測定する必要があるときは、図2のフロ
ーチャートの各部の初期化と異常の有無のチェックの後
のプロセスへ移行し、前記同様の動作を行う。
【0017】図2のフローチャート上のすべての動作
は、同期信号発生部7において作成されるクロックパル
スに同期して行われる。
【0018】ここで光源ユニットnにより励起・発光さ
せた蛍光体を蛍光体n、その画像情報を画像情報n、さ
らにそれを記憶したものを記憶nとする。ここで、n
は、1〜Nの自然数である。
【0019】なお、光源部1における各光源ユニットの
出力のON・OFFは、光源部1を同期信号発生部7の
クロックパルスに同期させ、パルス発光させてもよい
し、光チョッパを同期信号発生部7のクロックパルスに
あわせて動作させ、光出力を透過・遮断させてもよい。
【0020】また、S/N比向上のため必要に応じて、
同期信号発生部7のクロックパルスに同期させた光出力
の透過・遮断を利用した、ロックインアンプを本装置に
組み込んでもよい。
【0021】
【発明の効果】本発明による蛍光体ピッチ測定装置で
は、被検査物の同じ測定領域内の通常の被検査物の透過
像または散乱を含む反射像と、被検査物の複数の種類の
蛍光体をそれぞれ別々に励起して発光させ、励起した以
外の蛍光体の部分を消光させた状態での画像を独立して
記憶し、これらの画像信号に対して積和等の演算を実行
することにより、平均化、圧縮・膨張等の画像前処理に
対する負担を軽減する。そして被検査物の複数の種類の
蛍光体のそれぞれの境界または、蛍光体と非蛍光体の境
界の検出を容易にする。さらに、被検査物に用いられた
複数の蛍光体と非蛍光体の境界に起因する被検査物の濃
淡ピッチの測定時間が著しく短縮できる。このため被検
査物の製造ラインにおいてリアルタイムでピッチ測定が
可能である。また、装置開発日数が大幅に短縮できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明による蛍光体ピッチ測定装置の
ブロック図である。
【図2】図2は、本発明による蛍光体ピッチ測定装置の
光および電気信号の流れを示す測定フローチャートであ
る。
【図3】図3は、従来の蛍光体ピッチ測定装置のブロッ
ク図である。
【符号の説明】
1 光源部 2 被検査物 3 光学系レンズ部 4 画像入力部 5 画像処理部 6 出力部 7 同期信号発生部 8 記憶部 9 光源ユニット

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 使用された複数の種類の蛍光体のそれぞ
    れの境界または、使用した蛍光体と非蛍光体の境界に起
    因する濃淡ピッチを有する被検査物に照光する光源部
    と、被検査物の像を画像入力部に結像するための光学系
    レンズ部と、被検査物の像を光電変換する画像入力部
    と、画像入力部から出力される画像データを記憶するた
    めの記憶部と、記憶部からの画像信号を画像処理する画
    像処理部と、画像処理部における画像処理結果を出力す
    る出力部からなる、蛍光体ピッチ測定装置において、 光源部が、被検査物に使用した複数の種類の蛍光体を別
    々に励起し、発光させることのできる発光スペクトラム
    を有する複数の光源からなり、画像入力部がそれぞれの
    蛍光体発光波長帯および光源部が照光する非蛍光体の発
    光波長帯に分光感度を有し、該記憶部が該被検査物の画
    像データと該蛍光体の発光画像データとを独立に記憶す
    ることを特徴とする蛍光体ピッチ測定装置。
JP25392491A 1991-10-01 1991-10-01 蛍光体ピツチ測定装置 Pending JPH0593608A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011155225A (ja) * 2010-01-28 2011-08-11 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 太陽電池評価装置および太陽電池評価方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011155225A (ja) * 2010-01-28 2011-08-11 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 太陽電池評価装置および太陽電池評価方法

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