JPH0590349U - 紫外線分析計 - Google Patents
紫外線分析計Info
- Publication number
- JPH0590349U JPH0590349U JP3681892U JP3681892U JPH0590349U JP H0590349 U JPH0590349 U JP H0590349U JP 3681892 U JP3681892 U JP 3681892U JP 3681892 U JP3681892 U JP 3681892U JP H0590349 U JPH0590349 U JP H0590349U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光源光量に乱れを生じたとき、これを逸早く
検出して、分析計の指示に悪影響が及ぼされない安価な
紫外線分析計を提供すること。 【構成】 検出器4の出力aを基準電圧rと比較して光
源光量に乱れが生じているか否かを検出するようにし、
光源光量に乱れが生じているときは、紫外光源1を一定
時間消灯し、その後、再点灯するようにしている。
検出して、分析計の指示に悪影響が及ぼされない安価な
紫外線分析計を提供すること。 【構成】 検出器4の出力aを基準電圧rと比較して光
源光量に乱れが生じているか否かを検出するようにし、
光源光量に乱れが生じているときは、紫外光源1を一定
時間消灯し、その後、再点灯するようにしている。
Description
【0001】
本考案は、紫外光源からの紫外光を、試料を収容したセルに照射し、セル透過 後の紫外光を検出器によって検出するようにした紫外線吸収分析法による紫外線 分析計、および、紫外光源からの紫外光を蛍光室内の試料に照射したときに試料 から発せられる蛍光を蛍光検出器によって検出するようにした紫外線蛍光分析法 による紫外線分析計の改良に関する。
【0002】
例えば大気中のオゾンガス(O3 ガス)の濃度を測定するの紫外線吸収分析法 による紫外線分析計が用いられている。この紫外線分析計においては、セル内に 試料ガスを導入した状態で、例えば 259.7nm付近の波長の紫外線を前記セルに 対して照射すると、前記紫外線は試料ガス中のO3 分子によって吸収され、その 吸収量によって、オゾンガス濃度を測定することができる。
【0003】 ところで、上記紫外線ガス分析計においては、その紫外光源として低圧水銀ラ ンプを用いているが、この低圧水銀ランプは、連続点灯していると、光束がゆら ぎ、所謂スネーキングと呼ばれる現象が生じるなどして光量が突然乱れることが あり、分析計の指示(検出結果)に大きな影響が及ぼされることがある。 このような問題は、上記紫外線吸収分析法による紫外線分析計のみならず、紫 外線蛍光分析法による紫外線分析計においても同様に生じている。
【0004】 これに対して、光量に変化が生じないような紫外光源を用いることが考えられ るが、この種の紫外線分析計が大幅にコストアップすると云った問題がある。
【0005】 ところで、前記低圧水銀ランプは、連続点灯しているとき突然光量が乱れるこ とがあっても、その電源を一時的にオフし、再度点灯することにより、元の正常 な状態に戻ることがある。本考案は、このような事柄に留意してなされたもので 、その目的とするところは、光源光量に乱れを生じたとき、これを逸早く検出し て、分析計の指示に悪影響が及ぼされない安価な紫外線分析計を提供することに ある。
【0006】
上記目的を達成するため、本願の第1考案においては、紫外光源からの紫外線 を、試料を収容したセルに照射し、セル透過後の紫外線を検出器によって検出す るようにした紫外線分析計において、前記検出器の出力を基準電圧と比較して光 源光量に乱れが生じているか否かを検出するようにし、光源光量に乱れが生じて いるときは、前記紫外光源を一定時間消灯し、その後、再点灯するようにしてい る。
【0007】 そして、本願の第2考案においては、紫外光源からの紫外線をセル内の試料に 照射したときに試料から発せられる蛍光を蛍光検出器によって検出するようにし た紫外線分析計において、前記検出器の出力を基準電圧と比較して光源光量に乱 れが生じているか否かを検出するようにし、光源光量に乱れが生じているときは 、前記紫外光源を一定時間消灯し、その後、再点灯するようにしている。
【0008】
分析中に光源光量が乱れると、検出器の出力も大きく変化する。従って、この 出力を基準電圧と比べることにより、光源光量に乱れが生じているか否かを検出 できる。そして、乱れを検出したときは、直ちに光源をオフし、一定時間後に再 点灯する。このようにすることにより、光源光量は元の乱れのない状態に戻る。 そして、光源光量の乱れを検出したとき、検出器からの指示は、最終のものをホ ールドする。なお、この指示のホールドは、光源光量が安定するまで行うのが好 ましい。
【0009】
以下、本考案の実施例を、図面に基づいて説明する。 図1は、本考案の一実施例を示すもので、例えば紫外線吸収分析法による紫外 線分析計の構成を概略的に示している。この図において、1は例えば低圧水銀ラ ンプよりなる紫外光源、2は紫外光源1の点灯・消灯(オン・オフ)を制御する 光源点灯回路である。3は試料(例えば試料ガス)を収容するセルである。4は フォトダイオード、光電子増倍管または光電管などの検出器、5はプリアンプ、 6はプリアンプ5を経た検出器出力に含まれる直流分をカットするフィルタ、7 はゲイン調整回路である。ここまでの構成は、従来のこの種の紫外線分析計と変 わるところはない。
【0010】 そして、この実施例においては、前記ゲイン調整部7の出力側には、前記検出 器出力に基づいて測定対象成分(例えばO3 ガス)の濃度を得るための信号出力 系Aと、光量変化検出系Bとが設けられている。
【0011】 すなわち、信号出力系Aは、ゲイン調整回路7を経た検出器出力aを取込み、 所定の周波数の成分のみを通過させるバンドパスフィルタ8と、このバンドパス フィルタ8から出力される信号を整流する整流回路9と、整流処理後の信号を平 滑処理する平滑回路10からなる。
【0012】 一方、光量変化検出系Bは、一方の入力端子に前記検出器出力aが入力され、 他方の入力端子に基準電圧源11からの基準電圧rが入力される比較回路12と、こ の比較回路12の出力側に互いに並列的に設けられるワンショット回路13, 14とか らなる。そして、比較回路12は、検出器出力aが基準電圧rよりも大きいときは 、光源光量の変化が大きいと判断して光量変化検知信号bを出力する。また、ワ ンショット回路13, 14は、比較回路12から光量変化検知信号bが出力されたとき のみ、図2(A),(B)に示すように、所定のパルス幅を有するパルス信号c ,dを出力する。そして、一方のワンショット回路13からのパルス信号cは、光 源点灯回路2に対してオンオフ制御指令として入力され、光源点灯回路2は、こ のオンオフ制御指令cが入力されると、パルス幅で決められる時間だけ紫外光源 1をオフにする。また、他方のワンショット回路14からのパルス信号dは、ホー ルド指令として、後述するサンプルホールド回路15に入力される。
【0013】 15は前記信号出力系Aの後段に設けられるサンプルホールド回路で、ホールド アンプ16、ホールドコンデンサ17、切換えスイッチ18などよりなり、切換えスイ ッチ18の切換え切片19は、常時サンプル端子20側にオンしているが、ワンショッ ト回路14からホールド指令dが入力されると、ホールド端子21側にオンし、この とき、信号出力系Aの出力はホールドされる。22はローパスフィルタ、23は濃度 信号出力点である。
【0014】 次に、上記構成の紫外線分析計の動作を説明する。分析に際して電源(図外) をオンにし、セル3に対して試料ガスを導入する。ワンショット回路13から光源 点灯回路2に対するオンオフ制御指令dは、図2(A)に示すように、常時はハ イレベルを維持しているから、前記電源のオンにより、紫外光源1が点灯し、所 定の紫外線がセル3に対して発せられる。これによって、既に説明したように、 前記紫外線は試料ガス中のO3 分子によって吸収され、この紫外線の吸収量が検 出器4によって検出される。そして、この検出器4からの出力は、プリアンプ5 、フィルター6、ゲイン調整回路7に至り、さらに、信号出力系Aを通過するこ とにより、所定の処理を受ける。
【0015】 一方、前記ゲイン調整回路7の出力は、光量変化検出系Bにも取り込まれ、比 較回路12に入力される。ここで、紫外光源1の光束にスネーキングなどが生じて なく、光量が正常またはほぼ正常であると、比較回路12から光量変化検知信号b が出力されることはなく、ワンショット回路13,14から図2(A),(B)に示 すようなパルス信号c,dは出力されない。従って、紫外光源1は点灯を続ける 。また、サンプルホールド回路15の切換え切片19は、サンプル端子20側にオンし たままである。これにより、前記信号出力系Aからの信号は、サンプルホールド 回路15およびローパスフィルタ22を経て濃度信号出力点23に至り、さらに、例え ば表示器(図外)において、所定の濃度表示が行われる。
【0016】 一方、前記分析中に紫外光源1の光量が分析計の指示に大きく影響するほど変 化すると、比較回路12から光量変化検知信号bが出力され、ワンショット回路13 ,14から図2(A),(B)に示すようなパルス信号c,dが出力される。ワン ショット回路13からのパルス信号cが光源点灯回路2に対して入力されると、紫 外光源1は、パルス信号cのパルス幅で定められる時間だけ一時的に消灯される が、この時間が経過すると再点灯する。このようにすることにより、紫外光源1 は元の光量変化を生じない安定な状態で点灯する。
【0017】 そして、このとき、他方のワンショット回路14からのパルス信号dは、ホール ド指令として、サンプルホールド回路15に入力され、サンプルホールド状態に切 り換わるので、信号出力系Aからの最終信号は、サンプルホールド回路15にホー ルドされる。その結果、最終指示値を分析計の精度内に収めることができる。な お、前記ホールド指令dは、紫外光源1の光量が安定するまで出し続けるのがよ い。また、サンプルホールド時間を適切に選ぶことにより、この種の紫外線分析 計の性能を満足させることができる。
【0018】 なお、紫外線蛍光分析法による紫外線分析計の場合も上記紫外線吸収分析法に よる紫外線分析計と同様であるので、その詳細な説明は省略する。
【0019】
以上説明したように、本考案によれば、高価な紫外光源を用いなくても、光源 光量を安定させることができ、分析計の指示影響が及ぼされるのを防止できる。
【図1】本考案に係る紫外線分析計の一例を示す図であ
る。
る。
【図2】(A),(B)は、ワンショット回路の出力信
号の一例を示す図である。
号の一例を示す図である。
1…紫外光源、3…セル、4…検出器、a…検出器の出
力、r…基準電圧。
力、r…基準電圧。
Claims (2)
- 【請求項1】 紫外光源からの紫外線を、試料を収容し
たセルに照射し、セル透過後の紫外線を検出器によって
検出するようにした紫外線分析計において、前記検出器
の出力を基準電圧と比較して光源光量に乱れが生じてい
るか否かを検出するようにし、光源光量に乱れが生じて
いるときは、前記紫外光源を一定時間消灯し、その後、
再点灯するようにしたことを特徴とする紫外線分析計。 - 【請求項2】 紫外光源からの紫外線をセル内の試料に
照射したときに試料から発せられる蛍光を蛍光検出器に
よって検出するようにした紫外線分析計において、前記
検出器の出力を基準電圧と比較して光源光量に乱れが生
じているか否かを検出するようにし、光源光量に乱れが
生じているときは、前記紫外光源を一定時間消灯し、そ
の後、再点灯するようにしたことを特徴とする紫外線分
析計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3681892U JPH0590349U (ja) | 1992-05-04 | 1992-05-04 | 紫外線分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3681892U JPH0590349U (ja) | 1992-05-04 | 1992-05-04 | 紫外線分析計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0590349U true JPH0590349U (ja) | 1993-12-10 |
Family
ID=12480346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3681892U Pending JPH0590349U (ja) | 1992-05-04 | 1992-05-04 | 紫外線分析計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0590349U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024009681A1 (ja) * | 2022-07-06 | 2024-01-11 | 株式会社堀場製作所 | ガス分析装置、ガス分析方法、及び、プログラム |
-
1992
- 1992-05-04 JP JP3681892U patent/JPH0590349U/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024009681A1 (ja) * | 2022-07-06 | 2024-01-11 | 株式会社堀場製作所 | ガス分析装置、ガス分析方法、及び、プログラム |
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