JP2614899B2 - 偏光分光光度計 - Google Patents
偏光分光光度計Info
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- JP2614899B2 JP2614899B2 JP63146829A JP14682988A JP2614899B2 JP 2614899 B2 JP2614899 B2 JP 2614899B2 JP 63146829 A JP63146829 A JP 63146829A JP 14682988 A JP14682988 A JP 14682988A JP 2614899 B2 JP2614899 B2 JP 2614899B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は偏光分光光度計に係り、特に偏光ゼーマン原
子吸光光度計の測定時に発生するバツクグラウンドによ
る測定値の誤差を補正し、測定感度の向上をはかるのに
好適な偏光分光光度計に関するものである。
子吸光光度計の測定時に発生するバツクグラウンドによ
る測定値の誤差を補正し、測定感度の向上をはかるのに
好適な偏光分光光度計に関するものである。
従来の偏光ゼーマン原子吸光光度計においては、第３
図に示す如く、偏光された磁場に対して平行な水平な偏
光成分と磁場に対して垂直な偏光成分の信号の比が1:1
とならない。これらの二つの偏光成分は、サンプル光と
レフアレンス光に対応する。光源からの光の偏光特性
は、自然偏光であるため、サンプル光とレフアレンス光
の強度比は、1:1である。
図に示す如く、偏光された磁場に対して平行な水平な偏
光成分と磁場に対して垂直な偏光成分の信号の比が1:1
とならない。これらの二つの偏光成分は、サンプル光と
レフアレンス光に対応する。光源からの光の偏光特性
は、自然偏光であるため、サンプル光とレフアレンス光
の強度比は、1:1である。
しかし、分光器には、一般に回折格子が用いられてお
り、前記回折格子においては、サンプル光とレフアレン
ス光に対して反射率の比が異なってくる。
り、前記回折格子においては、サンプル光とレフアレン
ス光に対して反射率の比が異なってくる。
この反射率の相違が、光度比の相違を生ぜしめる。こ
の光度比の相違は、波長によって異なり、最大1:0.2程
度になる。この光度比の相違は、吸光度の相違を生じ、
測定時のバックグラウンドによる減光時、電気回路系の
オフセットあるいは信号変化に対するレスポンスの変化
などから測定値に影響がでて、誤差を生じ、精度向上へ
の障害となつていた。なお、これに関係するものとし
て、特開昭60−187844号公報がある。
の光度比の相違は、波長によって異なり、最大1:0.2程
度になる。この光度比の相違は、吸光度の相違を生じ、
測定時のバックグラウンドによる減光時、電気回路系の
オフセットあるいは信号変化に対するレスポンスの変化
などから測定値に影響がでて、誤差を生じ、精度向上へ
の障害となつていた。なお、これに関係するものとし
て、特開昭60−187844号公報がある。
上記従来技術は、偏光特性により磁場に対して平行な
水平光Ｓと磁場に対して垂直な垂直光Ｒの比率が1:1と
ならない状態で測定していたので、測定値は水平光／垂
直光＝測定値としているために、測定時に発生する分
子，粒子などによる減光により測定試料の吸収がない場
合にも測定値が変化することがあり、その値は減光（バ
ツクグラウンド）が多いほど影響が大きくなつていた。
これは、電気回路系のオフセツト値などが測定値内に一
定の割合で含まれているためで、信号が大きい場合には
無視することができるが、減光量が１桁,2桁と大きくな
るにしたがつて無視できなくなる。
水平光Ｓと磁場に対して垂直な垂直光Ｒの比率が1:1と
ならない状態で測定していたので、測定値は水平光／垂
直光＝測定値としているために、測定時に発生する分
子，粒子などによる減光により測定試料の吸収がない場
合にも測定値が変化することがあり、その値は減光（バ
ツクグラウンド）が多いほど影響が大きくなつていた。
これは、電気回路系のオフセツト値などが測定値内に一
定の割合で含まれているためで、信号が大きい場合には
無視することができるが、減光量が１桁,2桁と大きくな
るにしたがつて無視できなくなる。
本発明の目的は、上記水平光Ｓと垂直光Ｒの比率が常
に1:1に近い値となるように制御可能な構成にして分析
感度を向上させることができる偏光分光光度計を提供す
ることにある。
に1:1に近い値となるように制御可能な構成にして分析
感度を向上させることができる偏光分光光度計を提供す
ることにある。
上記目的は、本発明に係る偏光分光光度計の構成を、
安定化回路で安定化された光量が可変可能な光源ランプ
と、該光源ランプからの光を試料測光室，分光器を通し
て偏光子により、光方向と直交する磁場に平行な偏光成
分と磁場に垂直な偏光成分とに分離し、各々を交互に時
分割する断続器と、前記断続光の信号と同期した信号を
得るホトカプラと、前記断続光信号を入射し電気信号に
変換する光電変換器と、前記電気信号を増幅した信号を
デイジタル信号に変換するＡ−Ｄ変換器と、前記デイジ
タル信号の処理及び制御を行う制御部と、該制御部での
設定値に応じたランプ電流を出力する第１のＤ−Ａ変換
器を備えた偏光分光光度計において、 前記制御部の光源ランプの点灯電源の制御ループ内
に、第２のＤ−Ａ変換器と前記第２のＤ−Ａ変換器の出
力をオン・オフするスイッチを設け、前記ホトカプラか
らの同期信号により当該スイッチを駆動することによ
り、前記第１のＤ−Ａ変換器の出力値と前記第２のＤ−
Ａ変換器の出力値との加算時を、前記磁場に平行な偏光
成分あるいは前記磁場に垂直な偏光成分のいずれかが光
電変換器に入射するタイミングに合わせ、前記二つの偏
光成分の信号量の比率が1:1に制御するようにして達成
することができる。
安定化回路で安定化された光量が可変可能な光源ランプ
と、該光源ランプからの光を試料測光室，分光器を通し
て偏光子により、光方向と直交する磁場に平行な偏光成
分と磁場に垂直な偏光成分とに分離し、各々を交互に時
分割する断続器と、前記断続光の信号と同期した信号を
得るホトカプラと、前記断続光信号を入射し電気信号に
変換する光電変換器と、前記電気信号を増幅した信号を
デイジタル信号に変換するＡ−Ｄ変換器と、前記デイジ
タル信号の処理及び制御を行う制御部と、該制御部での
設定値に応じたランプ電流を出力する第１のＤ−Ａ変換
器を備えた偏光分光光度計において、 前記制御部の光源ランプの点灯電源の制御ループ内
に、第２のＤ−Ａ変換器と前記第２のＤ−Ａ変換器の出
力をオン・オフするスイッチを設け、前記ホトカプラか
らの同期信号により当該スイッチを駆動することによ
り、前記第１のＤ−Ａ変換器の出力値と前記第２のＤ−
Ａ変換器の出力値との加算時を、前記磁場に平行な偏光
成分あるいは前記磁場に垂直な偏光成分のいずれかが光
電変換器に入射するタイミングに合わせ、前記二つの偏
光成分の信号量の比率が1:1に制御するようにして達成
することができる。
光源ランプは、基準電源からの電流が第１のＤ−Ａ変
換器で制御部からの設定値に応じて可変され、安定化回
路に入り、定電流化された電流にて点灯され、その発光
強度は一定に制御されている。この光が分光器を通り偏
光子にて磁場に対して平行な水平光Ｓと磁場に対して垂
直な垂直光Ｒに分離され、光電変換器にて検知したと
き、分光器内の光学素子の偏光特性により水平光Ｓと垂
直光Ｒの検知量が同じにならない。ここで、光源ランプ
点灯電源の制御ループ内に第２のＤ−Ａ変換器とその出
力をオン，オフするスイツチを設置し、第２のＤ−Ａ変
換器の入力は基準電源に接続し、出力は上記スイツチを
介して第１のＤ−Ａ変換器の出力と接続し、水平光Ｓと
垂直光Ｒの差分を補正するように、制御部により第２の
Ｄ−Ａ変換器を可変制御すると同時に、スイツチは第２
のＤ−Ａ変換器の出力を水平光Ｓが垂直光Ｒの一方の検
知と同期してオンとなるようにチヨツパ部ホトカプラの
出力信号を基準に制御するようにしたので、これにより
光電変換器出力信号は、水平光S,垂直光Ｒともに同一信
号量となる。
換器で制御部からの設定値に応じて可変され、安定化回
路に入り、定電流化された電流にて点灯され、その発光
強度は一定に制御されている。この光が分光器を通り偏
光子にて磁場に対して平行な水平光Ｓと磁場に対して垂
直な垂直光Ｒに分離され、光電変換器にて検知したと
き、分光器内の光学素子の偏光特性により水平光Ｓと垂
直光Ｒの検知量が同じにならない。ここで、光源ランプ
点灯電源の制御ループ内に第２のＤ−Ａ変換器とその出
力をオン，オフするスイツチを設置し、第２のＤ−Ａ変
換器の入力は基準電源に接続し、出力は上記スイツチを
介して第１のＤ−Ａ変換器の出力と接続し、水平光Ｓと
垂直光Ｒの差分を補正するように、制御部により第２の
Ｄ−Ａ変換器を可変制御すると同時に、スイツチは第２
のＤ−Ａ変換器の出力を水平光Ｓが垂直光Ｒの一方の検
知と同期してオンとなるようにチヨツパ部ホトカプラの
出力信号を基準に制御するようにしたので、これにより
光電変換器出力信号は、水平光S,垂直光Ｒともに同一信
号量となる。
以下本発明の一実施例を第１図〜第３図を用いて詳細
に説明する。
に説明する。
第１図は本発明の偏光分光光度計の一実施例を示す信
号系統のブロツク図である。第１図において、光源ラン
プ６は、基準電源１の電圧を第１のＤ−Ａ変換器２及び
第２のＤ−Ａ変換器３によつて任意に可変設定され、安
定化回路５により定電流制御されて一定の光量で点灯す
る。光源ランプ６からの光は、試料測光室７を通り、分
光器８で指定された波長の光に分光され、偏光子９に入
り、磁場に対して平行な水平光Ｓと磁場に対して垂直な
垂直光Ｒに分離されて、チヨツパ10によつて時分割さ
れ、Ｓ−Ｒ−Ｓ−Ｒ−Ｓ…の順に光電変換器12に入射さ
れる。この光電変換器12の出力波形22′は、従来、第３
図に示す如く、光源ランプ６からの光強度21′が一定レ
ベルとなつていたため、水平光Ｓと垂直光Ｒの大きさが
異なつていた。これは、分光器８内の光学部品（グレー
テイング）の偏光特性によるものである。光電変換器12
の出力は、電気信号に変換され、増幅器13により増幅さ
れ、増幅器13の出力波形23′は第３図に示すような信号
となつていた。
号系統のブロツク図である。第１図において、光源ラン
プ６は、基準電源１の電圧を第１のＤ−Ａ変換器２及び
第２のＤ−Ａ変換器３によつて任意に可変設定され、安
定化回路５により定電流制御されて一定の光量で点灯す
る。光源ランプ６からの光は、試料測光室７を通り、分
光器８で指定された波長の光に分光され、偏光子９に入
り、磁場に対して平行な水平光Ｓと磁場に対して垂直な
垂直光Ｒに分離されて、チヨツパ10によつて時分割さ
れ、Ｓ−Ｒ−Ｓ−Ｒ−Ｓ…の順に光電変換器12に入射さ
れる。この光電変換器12の出力波形22′は、従来、第３
図に示す如く、光源ランプ６からの光強度21′が一定レ
ベルとなつていたため、水平光Ｓと垂直光Ｒの大きさが
異なつていた。これは、分光器８内の光学部品（グレー
テイング）の偏光特性によるものである。光電変換器12
の出力は、電気信号に変換され、増幅器13により増幅さ
れ、増幅器13の出力波形23′は第３図に示すような信号
となつていた。
この信号はＡ−Ｄ変換器14に入り、デイジタル量とし
て制御部15に取り込まれ、各種のデータ処理後表示ある
いはプリントされる。
て制御部15に取り込まれ、各種のデータ処理後表示ある
いはプリントされる。
第１図の実施例では、第２図の21の如く、水平光Ｓと
垂直光Ｒの光強度を変化させ、Ａ−Ｄ変換器14の入力信
号が23の如く水平光Ｓと垂直光Ｒが共に等しくなるよう
に、第２のＤ−Ａ変換器３の出力を制御し、かつ、スイ
ツチ４を制御して第１のＤ−Ａ変換器２の出力電圧に加
算して安定化回路５に入力し、その加算するタイミング
は、水平光Ｓと垂直光Ｒを時分割するチヨツパ10によつ
てオン，オフするホトカプラ11からの信号により制御部
15で水平光Ｓあるいは垂直光Ｒのいずれかの光入射と同
期してスイツチ４をオン，オフ動作させて第２のＤ−Ａ
変換器３の出力を安定化回路５に水平光Ｓあるいは垂直
光Ｒの光が入射するタイミングに合わせて入力すること
ができるようにした。
垂直光Ｒの光強度を変化させ、Ａ−Ｄ変換器14の入力信
号が23の如く水平光Ｓと垂直光Ｒが共に等しくなるよう
に、第２のＤ−Ａ変換器３の出力を制御し、かつ、スイ
ツチ４を制御して第１のＤ−Ａ変換器２の出力電圧に加
算して安定化回路５に入力し、その加算するタイミング
は、水平光Ｓと垂直光Ｒを時分割するチヨツパ10によつ
てオン，オフするホトカプラ11からの信号により制御部
15で水平光Ｓあるいは垂直光Ｒのいずれかの光入射と同
期してスイツチ４をオン，オフ動作させて第２のＤ−Ａ
変換器３の出力を安定化回路５に水平光Ｓあるいは垂直
光Ｒの光が入射するタイミングに合わせて入力すること
ができるようにした。
本実施例によれば、従来の構成のものに第２のＤ−Ａ
変換器３と外部から制御可能なスイツチ４を追加したの
で、水平光Ｓと垂直光Ｒの比率を1:1になるように制御
して、試料測定の際に発生する防害吸収（バツクグラウ
ンド）の影響を低減でき、分析感度を向上をはかること
ができる。
変換器３と外部から制御可能なスイツチ４を追加したの
で、水平光Ｓと垂直光Ｒの比率を1:1になるように制御
して、試料測定の際に発生する防害吸収（バツクグラウ
ンド）の影響を低減でき、分析感度を向上をはかること
ができる。
以上説明したように、本発明によれば、サンプル信号
とレフアレンス信号を1:1にすることにより、光源ラン
プ光の変化あるいはサンプル，レフアレンス共通に吸光
する分子による光量変化（バツクグラウンド）等の影響
を減少し、これによるS/N比向上にともない、分析感度
を向上できるという効果がある。
とレフアレンス信号を1:1にすることにより、光源ラン
プ光の変化あるいはサンプル，レフアレンス共通に吸光
する分子による光量変化（バツクグラウンド）等の影響
を減少し、これによるS/N比向上にともない、分析感度
を向上できるという効果がある。
第１図は本発明の偏光分光光度計の一実施例を示す信号
系統のブロツク図、第２図は第１図の信号系の各部の信
号波形図、第３図は従来の信号系の各部の信号波形図で
ある。 １……基準電源、２……第１のＤ−Ａ変換器、３……第
２のＤ−Ａ変換器、４……スイツチ、５……安定化回
路、６……光源ランプ、７……試料測定室、８……分光
器、９……偏光子、10……チヨツパ、11……ホトカプ
ラ、12……光電変換器、13……増幅器、14……Ａ−Ｄ変
換器、15……制御部。
系統のブロツク図、第２図は第１図の信号系の各部の信
号波形図、第３図は従来の信号系の各部の信号波形図で
ある。 １……基準電源、２……第１のＤ−Ａ変換器、３……第
２のＤ−Ａ変換器、４……スイツチ、５……安定化回
路、６……光源ランプ、７……試料測定室、８……分光
器、９……偏光子、10……チヨツパ、11……ホトカプ
ラ、12……光電変換器、13……増幅器、14……Ａ−Ｄ変
換器、15……制御部。
Claims (1)
- 【請求項１】安定化回路で安定化された光量が可変可能
な光源ランプと、該光源ランプからの光を試料測光室，
分光器を通して偏光子により、光方向と直交する磁場に
平行な偏光成分と磁場に垂直な偏光成分とに分離し、各
々を交互に時分割する断続器と、前記断続光の信号と同
期した信号を得るホトカプラと、前記断続光信号を入射
し電気信号に変換する光電変換器と、前記電気信号を増
幅した信号をデイジタル信号に変換するＡ−Ｄ変換器
と、前記デイジタル信号の処理及び制御を行う制御部
と、該制御部での設定値に応じたランプ電流を出力する
第１のＤ−Ａ変換器を備えた偏光分光光度計において、 前記制御部の光源ランプ点灯電源の制御ループ内に、第
２のＤ−Ａ変換器と前記第２のＤ−Ａ変換器の出力をオ
ン・オフするスイッチを設け、前記ホトカプラからの同
期信号により当該スイッチを駆動することにより、前記
第１のＤ−Ａ変換器の出力値と当該第２のＤ−Ａ変換器
の出力値との加算時を、前記磁場に平行な偏光成分もし
くは前記磁場に垂直な偏光成分のいずれかが光電変換器
に入射するタイミングに合わせ、前記二つの偏光成分の
信号量の比率を1:1に制御するように構成したことを特
徴とする偏光分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63146829A JP2614899B2 (ja) | 1988-06-16 | 1988-06-16 | 偏光分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63146829A JP2614899B2 (ja) | 1988-06-16 | 1988-06-16 | 偏光分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01314947A JPH01314947A (ja) | 1989-12-20 |
| JP2614899B2 true JP2614899B2 (ja) | 1997-05-28 |
Family
ID=15416458
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63146829A Expired - Fee Related JP2614899B2 (ja) | 1988-06-16 | 1988-06-16 | 偏光分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2614899B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4917318A (ja) * | 1972-06-12 | 1974-02-15 | ||
| JPS54116991A (en) * | 1978-03-03 | 1979-09-11 | Hitachi Ltd | Atomic absorption analyzer |
| JPS62133860A (ja) * | 1985-12-05 | 1987-06-17 | Sharp Corp | 画像読取装置 |
-
1988
- 1988-06-16 JP JP63146829A patent/JP2614899B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01314947A (ja) | 1989-12-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |