JPH058965B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH058965B2 JPH058965B2 JP16149286A JP16149286A JPH058965B2 JP H058965 B2 JPH058965 B2 JP H058965B2 JP 16149286 A JP16149286 A JP 16149286A JP 16149286 A JP16149286 A JP 16149286A JP H058965 B2 JPH058965 B2 JP H058965B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ink
- laser beam
- film thickness
- ink film
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000004737 colorimetric analysis Methods 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
この発明は、レーザー光を使用して印刷機にお
けるインキ膜厚を計測するインキ膜厚計測装置に
関する。
けるインキ膜厚を計測するインキ膜厚計測装置に
関する。
（従来の技術）
従来、印刷機におけるインキ膜厚を測定するも
のとしては、赤外線吸収法（三菱重工vol・21、
特開昭50―29056号公報）、螢光Ｘ線法（特開昭57
―113312号公報、特開昭57―190205号公報）、測
色法（特開昭57―52806号公報）、時間計測法（特
開昭50―39157号公報）等の方法が開発されてい
る。
のとしては、赤外線吸収法（三菱重工vol・21、
特開昭50―29056号公報）、螢光Ｘ線法（特開昭57
―113312号公報、特開昭57―190205号公報）、測
色法（特開昭57―52806号公報）、時間計測法（特
開昭50―39157号公報）等の方法が開発されてい
る。
（発明が解決すべき問題点）
しかし、前記従来の測定方法は、インキ量、水
量、ローラ材質などのインキ膜厚に影響を及ぼす
要因に依存しすぎているため、実際の測定におい
ては使用が困難であり、実用化には至つていな
い。
量、ローラ材質などのインキ膜厚に影響を及ぼす
要因に依存しすぎているため、実際の測定におい
ては使用が困難であり、実用化には至つていな
い。
この発明は以下の問題点に鑑み創案されたもの
で、印刷機におけるインキ膜厚を容易に計測する
ことができ、印刷機の性能向上および省力化を達
成できるインキ膜厚計測装置を提供することを目
的とする。
で、印刷機におけるインキ膜厚を容易に計測する
ことができ、印刷機の性能向上および省力化を達
成できるインキ膜厚計測装置を提供することを目
的とする。
（問題点を解決するための手段）
この発明はローラ表面のインキ面にレーザー光
を当てるレーザー光発射装置と、そのレーザー光
によりインキ面に生じる像を受光する検出器と、
該検出器から送られたデータにより像の広がりを
計測し、その後インキ材質により決まる輝度匂配
の値とレーザー光の径の値を定数とし計測された
像の広がりの値に基いて、インキ膜厚を算出する
演算器とからなる。
を当てるレーザー光発射装置と、そのレーザー光
によりインキ面に生じる像を受光する検出器と、
該検出器から送られたデータにより像の広がりを
計測し、その後インキ材質により決まる輝度匂配
の値とレーザー光の径の値を定数とし計測された
像の広がりの値に基いて、インキ膜厚を算出する
演算器とからなる。
（実施例）
以下、この発明を図面に示す実施例に基いて説
明する。
明する。
第１図に示すように、この発明のインキ膜厚計
測装置はレーザー光発射装置２と、レンズ４と、
検出器５および演算器６とから構成されている。
レーザー光発射装置２は、図においてローラ１の
直上に取付けられており、ローラ１表面のインキ
面にローラ軸に対して直角にレーザー光３を当て
る。レンズ４はローラ１表面のインキ面に当たる
レーザー光３のスポツトを収束する。検出器５は
前記反射光路の延長線上に配置されており、前記
レンズ４により収束されたレーザー光３がつくる
像を受光する。演算器６は前記検出器５から送ら
れたデータを処理してローラ１表面のインキ膜厚
を算出する。
測装置はレーザー光発射装置２と、レンズ４と、
検出器５および演算器６とから構成されている。
レーザー光発射装置２は、図においてローラ１の
直上に取付けられており、ローラ１表面のインキ
面にローラ軸に対して直角にレーザー光３を当て
る。レンズ４はローラ１表面のインキ面に当たる
レーザー光３のスポツトを収束する。検出器５は
前記反射光路の延長線上に配置されており、前記
レンズ４により収束されたレーザー光３がつくる
像を受光する。演算器６は前記検出器５から送ら
れたデータを処理してローラ１表面のインキ膜厚
を算出する。
次にこの発明の作用について説明する。前述し
たようにレーザー光発射装置２によりローラ１に
対して直角にレーザー光３を当てる。これにより
インキ面上にできたスポツト径を、入射レーザー
光３からローラ１軸方向に角度だけ傾いた方向
から測る。角度はインキにより最適な値を選ぶ
ものとする。受光の仕方はレンズ４によりインキ
面上のスポツトに焦点を合わせ、その像をCCD
等の検出器５で受光し、像の広がりを測定する。
そしてそのデータは演算器６により処理され、イ
ンキ膜圧が算出される。
たようにレーザー光発射装置２によりローラ１に
対して直角にレーザー光３を当てる。これにより
インキ面上にできたスポツト径を、入射レーザー
光３からローラ１軸方向に角度だけ傾いた方向
から測る。角度はインキにより最適な値を選ぶ
ものとする。受光の仕方はレンズ４によりインキ
面上のスポツトに焦点を合わせ、その像をCCD
等の検出器５で受光し、像の広がりを測定する。
そしてそのデータは演算器６により処理され、イ
ンキ膜圧が算出される。
次にこの発明の原理について説明する。第２図
に示すようにインキ面に入射したレーザー光３は
インキの材質により決まるθという角度（輝度匂
配）をもつて散乱する。従つてインキ膜厚をｄ、
レーザー光の径をφとすると、スポツト径Ｄは Ｄ＝４・ｄ tanθ＋φ となる。従つてインキ膜厚ｄは ｄ＝（Ｄ−φ）／４・tanθ となり、スポツト径Ｄの大きさからインキ膜厚Ｄ
を求めることができる。
に示すようにインキ面に入射したレーザー光３は
インキの材質により決まるθという角度（輝度匂
配）をもつて散乱する。従つてインキ膜厚をｄ、
レーザー光の径をφとすると、スポツト径Ｄは Ｄ＝４・ｄ tanθ＋φ となる。従つてインキ膜厚ｄは ｄ＝（Ｄ−φ）／４・tanθ となり、スポツト径Ｄの大きさからインキ膜厚Ｄ
を求めることができる。
（発明の効果）
この発明は以上の構成からなり、この発明によ
れば印刷機におけるインキ膜厚を容易に計測する
ことができ、印刷機の性能向上および省力化を達
成することができる。
れば印刷機におけるインキ膜厚を容易に計測する
ことができ、印刷機の性能向上および省力化を達
成することができる。
第１図はこの発明のインキ膜厚計測装置の概念
図、第２図は入射レーザー光の強度とインキ表面
における輝度分布を示すグラフである。 １……ローラ、２……レーザー光発射装置、３
……レーザー光、４……レンズ、５……検出器、
６……演算機。
図、第２図は入射レーザー光の強度とインキ表面
における輝度分布を示すグラフである。 １……ローラ、２……レーザー光発射装置、３
……レーザー光、４……レンズ、５……検出器、
６……演算機。
Claims (1)
- １ ローラ表面のインキ面にレーザー光を当てる
レーザー光発射装置と、そのレーザー光によりイ
ンキ面に生じる像を受光する検出器と、該検出器
から送られたデータにより像の広がりを計測し、
その値とインキ材質により決まる輝度勾配の値と
に基いてインキ膜厚を算出する演算器とからなる
ことを特徴とするインキ膜厚計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16149286A JPS6318542A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | インキ膜厚計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16149286A JPS6318542A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | インキ膜厚計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6318542A JPS6318542A (ja) | 1988-01-26 |
| JPH058965B2 true JPH058965B2 (ja) | 1993-02-03 |
Family
ID=15736099
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16149286A Granted JPS6318542A (ja) | 1986-07-09 | 1986-07-09 | インキ膜厚計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6318542A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02162150A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-06-21 | Komatsu Zenoah Co | 索誘導搬送装置 |
| JPH02175374A (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-06 | Komatsu Zenoah Co | 索誘導搬送装置 |
-
1986
- 1986-07-09 JP JP16149286A patent/JPS6318542A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6318542A (ja) | 1988-01-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4182259A (en) | Apparatus for measuring coating thickness on an applicator roll | |
| JP4725593B2 (ja) | 試料濃度検出方法、装置およびプログラム | |
| JPH058965B2 (ja) | ||
| JP2903634B2 (ja) | 白色光を用いた膜厚測定装置及びそれによるインキ供給量管理装置 | |
| JPS622113A (ja) | 反射光による表面粗さ計 | |
| JPS5616806A (en) | Surface roughness measuring unit | |
| JPS63118602A (ja) | インキ膜厚測定装置 | |
| JPH1114320A (ja) | 寸法測定装置 | |
| JPH0121884B2 (ja) | ||
| JPS5752807A (en) | Device for measuring film thickness | |
| JP2005090999A (ja) | 試料濃度検出方法、装置およびプログラム | |
| JPH03194450A (ja) | インキ含水率測定装置 | |
| JPS62235512A (ja) | 平滑度計測装置 | |
| JP2698696B2 (ja) | 表面疵検査方法 | |
| JP2527939B2 (ja) | 印刷版の絵柄面積率測定方法 | |
| JPH04235303A (ja) | 塗布量プロファイルの測定方法及び装置 | |
| Yamamoto et al. | Determination of phospholipids on two-dimensional thin-layer chromatographic plates by imaging densitometry | |
| GB2079001A (en) | Apparatus for measuring film blackening | |
| JPS60222756A (ja) | 異物検査装置 | |
| JPH05209792A (ja) | 放射率と表面温度の同時測定方法および該方法に使用する装置 | |
| JPH0537201Y2 (ja) | ||
| JP2709946B2 (ja) | 異物検査方法および異物検査装置 | |
| JPH0542326Y2 (ja) | ||
| JPH0619249B2 (ja) | インキ膜厚計測装置 | |
| JP2003240726A (ja) | シートの欠点検出装置 |