JPH0587706A - シリコーンゴム中におけるシリカ分散の観察方法 - Google Patents
シリコーンゴム中におけるシリカ分散の観察方法Info
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- JPH0587706A JPH0587706A JP3245808A JP24580891A JPH0587706A JP H0587706 A JPH0587706 A JP H0587706A JP 3245808 A JP3245808 A JP 3245808A JP 24580891 A JP24580891 A JP 24580891A JP H0587706 A JPH0587706 A JP H0587706A
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Abstract
を電子顕微鏡により観察する方法の改良 【構成】シリカが配合されたシリコーンゴムの成形体を
凍結して硬化、または成形体をゼラチンカプセルに水と
ともに充填し凍結して硬化させた後、割断して試料を作
製し、該試料の割断面を10kV以下の低加速電子に設
定した走査型電子顕微鏡により観察する方法。
Description
されたシリカの分散状態を電子顕微鏡により観察する方
法の改良に関する。
カなどの分散状態を観察する方法としては、透過型電子
顕微鏡が用いられてきた。そして、このような透過型電
子顕微鏡に供するゴム状物の試料は、天然ゴムなど二重
結合を有するゴムの場合には、加硫処理によりエボナイ
ト状に硬化させた後、ダイヤモンドなどのミクロトーム
刃により切片して厚さ0.1μm程度の薄膜として作製
される。また、シリコーンゴムの場合には、加硫しても
それほど硬化しないため、液体窒素により凍結させた
後、同様にミクロトーム刃により薄膜が作製されてい
る。
たような透過型電子顕微鏡においてシリコーンゴムを試
料とする場合には、該シリコーンゴムが液体窒素を用い
て凍結しても十分な硬さが得られないために、ミクロト
ーム刃による所望の厚さを有する薄膜の作製に困難を伴
う問題があった。また、透過型電子顕微鏡では低倍率に
よる観察が困難であるため、ゴム中におけるシリカの分
散状態を広範囲に観察できない問題があった。
問題点に鑑み、特にシリコーンゴム中におけるシリカの
分散状態を観察する簡便な方法の開発に鋭意検討を重ね
た。その結果、走査型電子顕微鏡により観察する良好な
方法を見出し、本発明を提供するに至ったものである。
たシリコーンゴムの成形体を凍結して硬化させた後、割
断して試料を作製し、該試料の割断面を10kV以下の
低加速電圧に設定した走査型電子顕微鏡により観察する
ことを特徴とするシリコーンゴム中におけるシリカ分散
の観察方法が提供される。また、本発明は、シリカが配
合されたシリコーンゴムの成形体をゼラチンカプセルに
水とともに充填し、凍結して硬化させた後、割断して試
料を作製し、次いで該試料の割断面を10kV以下の低
加速電圧に設定した走査型電子顕微鏡により観察するこ
とを特徴とするシリコーンゴム中におけるシリカ分散の
観察方法も提供する。
ーンゴムは、通常の補強充填剤としてシリカを添加した
シリコーンゴムが対象となる。このシリカとしては、四
塩化珪素などを燃焼熱分解して製造される乾式法の無水
珪酸(ヒュームドシリカ)のほか、珪酸ソーダと鉱酸と
を水溶液中で反応して製造される湿式法の含水珪酸(ホ
ワイトカーボン)が用いられる。このようなシリコーン
ゴム中にシリカを高分散すると優れた補強効果が発揮さ
れるために、該シリカの分散状態を観察することが必要
である。
リコーンゴムを用いて、予め割断し易いような形状に成
形した後、凍結して硬化させ、次いで割断して走査型電
子顕微鏡に適した割断面を有する試料を作製することが
極めて重要である。即ち、所定のシリカが配合されたシ
リコーンゴムを一般に手で割断し得る程度の形状とし
て、例えば径1〜2mm×長さ20〜50mmの棒状体(図
1)あるいは厚さ1〜3mm×幅2〜4mm×長さ20〜5
0mmの板状体(図2)を予め成形した後、液体窒素によ
り凍結して硬化させる。次いで液体窒素中で凍結した成
形体をピンセットなどに挟んで割断、または液体窒素中
から成形体を取り出して解凍しないうちに手により破断
する。なお、図1−(A),(B),(C)および図2
−(A),(B)に示すように、成形体の外周に切込み
部1を予め設ける態様により、割断が容易になるばかり
でなく、厚み(径)を予め大きくして広い割断面を得る
ことができるために好ましい。さらに、割断面が平滑な
試料を得るために、本発明においては特に次の方法が推
奨される。即ち、図1〜図2に示したようなシリコーン
ゴムの成形体をゼラチンカプセルに入れ水で満たし、液
体窒素により凍結して硬化させる。水の代わりにアルコ
ールを用いると、融点が低いため液体窒素から取り出し
たときの溶解が速いので不適当である。次いで、液体窒
素からカプセルを取り出し、金槌のような硬いものでた
たいて割断する。割断する際には、ペンチに挟んで割断
してもよい。割断した成形体は、走査型電子顕微鏡の試
料として供し得る割断面を有する適当な形状に調整すれ
ばよい。
走査型電子顕微鏡に供して良好な観察結果を得るため
に、加速電圧を10kV以下、特に、4〜6kVと低く
設定することが至って重要である。即ち、本発明のシリ
カが配合されたシリコーンゴムの試料を走査型電子顕微
鏡に供して10kVより高い加速電圧を設定した場合に
は、電子線が該試料の内部に入り込み割断面の情報が得
られず、ひいては割断面に存在するシリカの分散状態が
正確に観察されない結果となる。なお、本発明の走査型
電子顕微鏡において、あまり低い加速電圧に設定した場
合には、試料の割断面における分解能が低下するために
適当でない。
たシリコーンゴムに対して成形、凍結、割断の手段を利
用して、走査型電子顕微鏡による観察が可能な割断面を
有する試料の作製を極めて容易にしたものである。ま
た、本発明は、走査型電子顕微鏡を採用することによ
り、透過型電子顕微鏡では困難であった低倍率の観察も
可能となった結果、シリコーンゴム中におけるシリカの
分散状態を広範囲に観察できる利点を有する。そのた
め、本発明により、シリコーンゴム中において分散した
シリカの凝集状態が正確に観察される結果、得られるシ
リコーンゴムの性能、例えば可塑化戻りなど物性の良悪
を判断することができる。
れらの実施例に限定されるものではない。
により製造した徳山曹達(株)製であるシリカ(含水珪
酸)60gを配合して、4インチロールにより25℃で
練り混んだ。さらに、加硫剤を用いて一次加硫を170
℃で10分間、二次加硫を200℃で4時間行った。
たような2×2×30mmの棒状体に成形し、かつ四方に
切り込みを有する成形体を作製した。次いで、この成形
体を液体窒素中において割断するに十分な硬度になるま
で凍結した後、取り出して手により割断した。また、図
1−Aに示したような2×2×30mmの棒状体に成形
し、かつ一方に切込みを有する成形体を作製した。次い
で、ゼラチンカプセル(リリー社製)に入れ水で満たし
て、これを液体窒素中において割断するに十分な硬度に
なるまで凍結した後、取出して台の上で金槌を用いて割
断した。
約1mmの厚さに切り取り、走査型電子顕微鏡の試料台に
カーボン製の両面テープを用いて固定した後、導電性処
理として金−パラジウムを約15nmの厚さにコーティン
グして試料を得た。
M-5400)は、加速電圧を5.0kVに設定し、上記の試
料を倍率350倍で観察した。その結果、図3に示すよ
うに、シリコーンゴム中におけるシリカの分散(凝集)
状態を広範かつ明確に観察できた。また、ゼラチンカプ
セルを用いて割断した試料は、図4(350倍)及び図
5(1000倍)に示すように、観察できる平らな面が
より広範囲であった。
(A,B,C)の形態を示す。
(A,B)の形態を示す。
ずに割断して得たシリコーンゴムの試料を観察した結果
を示す図面に代わる電子顕微鏡写真(350倍)。
て割断して得たシリコーンゴムの試料を観察した結果を
示す図面に代わる電子顕微鏡写真(350倍)。
て割断して得たシリコーンゴムの試料を観察した結果を
示す図面に代わる電子顕微鏡写真(1000倍)。
Claims (2)
- 【請求項1】 シリカが配合されたシリコーンゴムの成
形体を凍結して硬化させた後、割断して試料を作製し、
該試料の割断面を10kV以下の低加速電圧に設定した
走査型電子顕微鏡により観察することを特徴とするシリ
コーンゴム中におけるシリカ分散の観察方法。 - 【請求項2】 シリカが配合されたシリコーンゴムの成
形体をゼラチンカプセルに水とともに充填し、凍結して
硬化させた後、割断して試料を作製し、次いで請求項1
と同等の走査型電子顕微鏡によるシリコーンゴム中にお
けるシリカ分散の観察方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3245808A JP2960588B2 (ja) | 1991-09-25 | 1991-09-25 | シリコーンゴム中におけるシリカ分散の観察方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3245808A JP2960588B2 (ja) | 1991-09-25 | 1991-09-25 | シリコーンゴム中におけるシリカ分散の観察方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0587706A true JPH0587706A (ja) | 1993-04-06 |
JP2960588B2 JP2960588B2 (ja) | 1999-10-06 |
Family
ID=17139154
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3245808A Expired - Lifetime JP2960588B2 (ja) | 1991-09-25 | 1991-09-25 | シリコーンゴム中におけるシリカ分散の観察方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2960588B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012108465A1 (ja) | 2011-02-08 | 2012-08-16 | 株式会社ブリヂストン | 高分子材料の評価方法 |
JP2017122594A (ja) * | 2016-01-05 | 2017-07-13 | 日本電子株式会社 | クライオ観察用試料作製方法 |
-
1991
- 1991-09-25 JP JP3245808A patent/JP2960588B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012108465A1 (ja) | 2011-02-08 | 2012-08-16 | 株式会社ブリヂストン | 高分子材料の評価方法 |
JP2012163480A (ja) * | 2011-02-08 | 2012-08-30 | Bridgestone Corp | 高分子材料の評価方法 |
CN103348236A (zh) * | 2011-02-08 | 2013-10-09 | 株式会社普利司通 | 高分子材料的评价方法 |
US9000367B2 (en) | 2011-02-08 | 2015-04-07 | Bridgestone Corporation | Method for evaluating polymer material |
JP2017122594A (ja) * | 2016-01-05 | 2017-07-13 | 日本電子株式会社 | クライオ観察用試料作製方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2960588B2 (ja) | 1999-10-06 |
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