JPH058596Y2 - - Google Patents

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JPH058596Y2
JPH058596Y2 JP1986008860U JP886086U JPH058596Y2 JP H058596 Y2 JPH058596 Y2 JP H058596Y2 JP 1986008860 U JP1986008860 U JP 1986008860U JP 886086 U JP886086 U JP 886086U JP H058596 Y2 JPH058596 Y2 JP H058596Y2
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、広画角範囲のターゲツトフリー測距
と、狭い画角のスポツト測距とを選択的に行なう
ことができるようにしたカメラの被写体距離測定
装置に関するものである。
〔従来の技術〕
アクテイブ式被写体距離測定装置は、投光部と
受光部とを所定の基線長を保つて配置し、投光部
から光束を被写体に向けて投光し、この被写体で
反射して戻つてきた反射光を受光部で受光し、こ
の反射光の入射位置から被写体距離を測定するも
のである。
〔考案が解決しようとする問題点〕
スポツト状光束を被写体に向けて投光するスポ
ツト測距では、測距範囲を示すターゲツトがフア
インダ内に設けられており、このターゲツトに被
写体が合うようにカメラを構えることが必要であ
る。しかし、複数人が並んだシーンでは、ターゲ
ツトと被写体とが合わなくなることがあるが、こ
の場合には構図を変えるか、あるいはプレフオー
カスを行なうことが必要になるため、測距操作が
面倒であるという問題がある。この欠点を解決す
るために、スリツト状光束を被写体に向けて投光
したり、あるいはスポツト光を左右にスキヤンし
ながら測距する等、広画角の測距を行なう方式が
考えられ、これらのスリツト状光束はスキヤン光
で照明される範囲が測距可能であるため、被写体
をターゲツトに合わせる必要がなくなる。ところ
で、撮影レンズは、近距離になるにつれて被写界
深度が浅くなるという特性を持つているため、カ
メラに接近している被写体を撮影する場合には、
焦点調節を正確に行なう必要がある。このため、
撮影距離が極めて短いマクロ撮影において広画角
測距を行なうと、ピンボケ写真となるおそれがあ
る。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点を解決するために、本考案は通常の
距離範囲で撮影を行う状態であるか、マクロ撮影
可能状態で撮影を行うかに対応し、撮影画面内の
広範囲にわたつて測距を行うターゲツトフリー測
距モードにするか、撮影画面のほぼ中央部だけを
測距するスポツト測距モードにするかを切換える
ようにしてある。しかもこの測距モードの切換え
を行うにあたつては、被写体に向けてスリツト光
を投光する投光部の前面、もしくは被写体にスリ
ツト光を投光したときに被写体で反射されてきた
光を受光する受光部の前面のいずれかにマスク板
を挿脱するようにしている。
投光部の前面でマスク板を挿脱する場合には、
マスク板の挿入時にはスリツト光の中央部分の光
だけが被写体に向けて投光されるようになり、撮
影画面の中央部が測距対象となり、マスク板が投
光部の前面から退避したときにはスリツト光がそ
のまま被写体に向けて投光される。
受光部の前面でマスク板を挿脱する場合には、
マスク板の挿入時には受光部の中央部分だけが露
出し、撮影画面のほぼ中央部から反射してきた光
だけが受光されるように受光範囲が制限され、マ
スク板の受光の前面から退避したときには撮影画
面内の広い領域が受光対象範囲になる。
なお、マスク板の挿脱は、レバーを手動で操作
することにより、あるいはスイツチをオンするこ
とによりモータや電磁石を作動させることにより
行うことができる。また、マクロ機構付き撮影レ
ンズの場合には、マクロ切換えリングを操作した
ときに、これに連動してマスク板を挿脱すること
ができる。
以下、図面を参照して本考案の実施例について
詳細に説明する。
〔実施例〕
第1図は投光部と受光部の構成を示すものであ
る。光源としては、近赤外光を発光する閃光放電
管10が用いられ、その前方に赤外線透過フイル
タ11と、横長なスリツト12aを形成したスリ
ツト板12と、小さな開口13aを形成したマス
ク板13と、投光レンズ14とが配置されてお
り、これらによつて投光部15が構成される。前
記マスク板13は、第2図Bに示すように、つま
み16をマクロ位置「M」にセツトすれば、開口
13aがスリツト12aに合致する。このスポツ
ト測距では、閃光放電管11が瞬間的に発光する
と、実線で示すような近赤外のスポツト光束L1
が投光部15から投光される。また、つまみ16
を標準位置「S」にセツトすれば、第2図Aに示
すように、マスク板13がスリツト12aの下方
へスライドする。このターゲツトフリー測距(以
下、スリツト測距という)では、閃光放電管11
の発光時に点線で示すような近赤外のスリツト光
束L2が投光部15から投光される。
受光部18は、レンズ19と、赤外線透過フイ
ルタ20と、被写体で反射した近赤外光を検出す
るイメージエリヤセンサー21とから構成されて
おり、投光部15と所定の基線長を保つて配置さ
れている。このイメージエリヤセンサー14とし
ては、MOS形、CCD形等が用いられており、各
ピクセル行が基線長と垂直になるように配置され
ている。撮影レンズ22は、投光部15と受光部
18との間に配置されており、測定した被写体距
離に応じてレンズ位置が自動的に調節される。
第3図はスポツト測距モードを示すものであ
る。第1図に示すように、通常撮影範囲の至近距
離よりも短いマクロ撮影領域に被写体23が存在
している場合には、スポツト測距モードが選択さ
れる。このスポツト測距では、スポツト状光束L
1は、Aに示すように、撮影画面26のほぼ中心
部に位置しており、被写体23をスポツト状に照
明する。この被写体23で反射した光23aは、
Bに示すように、近距離側から数えて第2行目で
左から第4列目のピクセルに入射する。
第4図はスリツト測距モードを示すものであ
る。被写体24,25が至近距離よりも遠い位置
に存在している場合には、スリツト測距モードが
選択される。このスリツト測距では、Aに示すよ
うに、スリツト状光束L2が撮影画面26の中央
部に横長になつており、被写体24,25で反射
した光24aが近距離側から数えて第5行目で左
から第5列目付近にあるピクセルに入射する。ま
た、被写体25で反射した光は、第4行目で第2
列目付近にあるピクセルに入射する。なお、この
スリツト測距では、細長なスリツト状光束L2を
使用するため、異なつた距離にある複数の被写体
からの反射光がイメージエリヤセンサー21に入
射するが、この場合には近距離側の行にあるピク
セルを優先させる。
第5図は本考案の電気的構成の一例を示すもの
であり、第1図に示すものと同じ部材には同じ符
号が付してある。レリーズボタンが半押しされる
と、レリーズスイツチ27がONし、マイクロコ
ンピユータ28に測距スタート信号を送る。この
マイクロコンピユータ28は、コントローラ29
を作動させてイメージエリヤセンサー21の読出
しを開始させる。このイメージエリヤセンサー2
1のピクセルは、等価的に表されたフオトダイオ
ードで構成されており、これらが水平方向と垂直
方向に所定のピツチで配置されている。この実施
例では、図面を簡単にするために、4個のフオト
ダイオード31〜34だけが示されている。これ
らフオトダイオード31〜34と直列に垂直走査
MOSスイツチ36〜39が接続されている。第
1行目の垂直走査MOSスイツチ36,37のゲ
ートは、垂直走査線40に接続されている。第2
行目の垂直走査MOSスイツチ38,39のゲー
トは、垂直走査線41に接続されている。これら
の垂直走査線40,41は、垂直走査シフトレジ
スタ42の出力端子D1,D2にそれぞれ接続さ
れている。
前記フオトダイオード31〜34の列毎に、垂
直線44,45が設けられており、この垂直線4
4には垂直走査MOSスイツチ36,37のドレ
インがそれぞれ接続され、そして垂直線45には
垂直走査MOSスイツチ37,39のドレインが
それぞれ接続されている。前記垂直線44には、
水平走査MOSスイツチ46が直列に接続され、
また垂直線45には水平走査MOSスイツチ47
が直列に接続されている。これらの水平走査
MOSスイツチ46,47には、水平走査シフト
レジスタ48の出力端子F1,F2がそれぞれ接
続されている。
前記水平走査MOSスイツチ46,47のドレ
インは、出力線49に接続されており、各フオト
ダイオード31〜34のMOS容量に蓄積された
信号電荷を出力線49から順次取り出す。この取
り出された時系列信号は、アンプ50で増幅され
てから、二植化回路51に送られる。この二植化
回路51は、外光等によるノイズを除去するため
のものであり、信号が所定値よりも大きい場合に
「1」の信号が出力され、小さい場合には「0」
の信号が出力される。この二植化された各ピクセ
ルの信号は、マイクロコンピユータ28のRAM
に取り込まれる。このマイクロコンピユータ28
は、ストロボ回路53を介して閃光放電管10を
駆動し、またドライバ54を介してモータ55の
回転方向及び回転量を制御して、撮影レンズ22
をピントが合つた位置へ移動する。
次に本考案の作用について説明する。マクロ撮
影領域に存在している被写体23を撮影する場合
には、撮影レンズ22の被写界深度が浅いため
に、高精度の測距を必要とする。そこで、このマ
クロ撮影では、つまみ16をマクロ位置「M」に
セツトし、マスク板13をスリツト板12に重ね
ることにより、スリツト12aの中央部以外を遮
光する。次に、レリーズボタンを半押しすれば、
まず電源スイツチ(図示せず)がONし、その直
後にレリーズスイツチ27がONする。このレリ
ーズスイツチ27がONすると、マイクロコンピ
ユータ28が作動を開始し、コントローラ29に
読出し開始信号を送つて、各ピクセルに蓄積され
ていた信号電荷を読み出してこれらをリセツトす
る。
イメージエリヤセンサー21のリセツト後に、
マイクロコンピユータ28は閃光放電管10を瞬
間的に発光させる。この閃光放電管10から放出
された光は、赤外線透過フイルタ11で近赤外光
だけが取り出される。この近赤外光は、スリツト
板12、マスク板13によりスポツト状光束L1
となり、被写体23をスポツト状に照明する。被
写体23で乱反射された近赤外光は、レンズ1
9、赤外線透過フイルタ20を通り、イメージエ
リヤセンサー21にスポツト状に入射する。この
イメージエリヤセンサー21は、フオトダイオー
ド31〜34に入射した近赤外光を光電変換して
蓄積する。
前記マイクロコンピユータ28は、閃光放電管
10の発光開始時から所定時間が経過した時に、
読み出し信号をコントローラ29に送つて信号電
荷の読み出しを開始させる。このコントローラ2
9は、クロツクパルスを垂直走査シフトレジスタ
42に送つて、垂直走査線40をON状態にし、
この状態で複数のクロツクパルスを水平走査シフ
トレジスタ48に送り、出力端子F1,F2を順
次ONにする。これにより、垂直走査MOSスイ
ツチ36,37が順番にONするため、フオトダ
イオード31,32に蓄積されている信号電荷が
時系列信号として、出力線49に取り出される。
この時系列信号は、アンプ50で増幅されてから
二植化回路51で二植化されて、マイクロコンピ
ユータ28に取り込まれる。
第1行目の信号電荷の読出しが終了すると、コ
ントローラ29は、クロツクパルスを垂直走査シ
フトレジスタ42に送り、出力端子D2をONに
し、そして水平走査シフトレジスタ48を1回走
査して、フオトダイオード33,34で光電変換
されて蓄積されていた信号電荷を出力線49から
取り出し、増幅及び二植化してからマイクロコン
ピユータ28に取り込む。
前記マイクロコンピユータ23は、データの取
込み後に、第1行目の左側のピクセルの信号から
順番に読み出して「1」であるかどうかを調べ
る。第3図Bに示すように、被写体23からの反
射光23aがイメージエリヤセンサー21に入射
している場合には、近距離側から数えて第2行目
で左側から第4列目のピクセルの信号が「1」に
なつている。この場合には、マイクロコンピユー
タ23は、モータ55を駆動して、近距離側から
数えて2ステツプ目に撮影レンズ22を位置決め
する。
通常撮影距離範囲に存在している被写体24,
25を撮影する場合には、つまみ16を下にスラ
イドして、指標を「S」に合わせる。この場合に
は、第2図Aに示すように、スリツト12aの前
からマスク板13が退避するから、スリツト測距
が選択される。レリーズボタンを半押しすれば、
前述したスポツト測距と同様に、閃光放電管10
が瞬間的に発光して、被写体24,25に向けて
スリツト状光束L2が投光される。被写体24,
25からの反射光24a,25aは、第4図Bに
示すようにイメージエリヤセンサー21に入射す
る。このイメージエリヤセンサー21で光電変換
されて蓄積された信号は、増幅と二植化処理を受
けてから、マイクロコンピユータ28に取り込ま
れる。マイクロコンピユータ28は、信号取込み
後に、「1」になつているピクセルが属する行を
検出する。第4図Bに示す場合には、近距離側か
ら数えて第4行目と第5行目に属しているピクセ
ルが「1」となつている。この実施例では、近距
離側を優先するため、撮影レンズ22は、近距離
側から数えて4ステツプ目に撮影レンズ22が位
置決めされる。
第6図は本考案の別の実施例を示すものであ
る。この実施例では、受光部15のマスク板13
を省略し、その代わりにイメージエリヤセンサー
21の前にマスク板57がスライド自在に配置さ
れている。このマスク板57は、縦長の開口57
aが形成されており、スポツト測距時にはイメー
ジエリヤセンサー21の前に重ねられ、中心部に
ある少なくとも1列のピクセルにだけ反射光が入
射できるようになる。
前記実施例では、スポツト測距モードとスリツ
ト測距モードの切換えをマニユアルで行つている
が、この代わりに最初にスリツト測距を行つて被
写体距離を調べ、もし被写体が至近距離よりも近
いマクロ領域に存在している場合には、スポツト
測距に切り換えてからもう一度測距を行い、この
スポツト測距で求めた被写体距離に応じて撮影レ
ンズの位置決めを行なうようにしてもよい。
〔考案の効果〕
上記構成を有する本考案は、スポツト測距とタ
ーゲツトフリー測距の両方を行なうことができる
ため、被写界深度が浅いマクロ撮影可能状態で
は、スポツト測距を行なうことにより、ピンボケ
のない鮮明な写真を撮ることができる。また、中
間距離以上の撮影では人物が並んでいるシーンが
多いが、このシーンではスリツト測距を行なうこ
とにより、構図を変えることなく、簡単に測距を
行なうことができる。
さらに本考案では、上記のようにスポツト測距
とターゲツトフリー測距とを切り換える際には、
投光部もしくは受光部の前面でマスク板を挿脱す
るだけで済むから、コストをかけずに確実な測距
モードの切換えが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例の投光部と受光部と
を示す説明図である。第2図はスリツト板とマス
ク板の関係を示す正面図である。第3図はスポツ
ト測距モードを示す説明図である。第4図はスリ
ツト測距モードを示す説明図である。第5図は本
考案の電気的構成を示すブロツク図である。第6
図は本考案の別の実施例に係り、イメージエリヤ
センサーとマスク板との関係を示す正面図であ
る。 10……閃光放電管、12……スリツト板、1
3……マスク板、14……投光レンズ、21……
イメージエリヤセンサー、22……撮影レンズ、
23〜25……被写体、23a,24a,25a
……反射光、31〜34……フオトダイオード、
50……アンプ、51……二植化回路、57……
マスク板。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 通常の距離範囲で撮影可能な状態と、通常の距
    離範囲の至近距離よりも更に近い距離まで撮影可
    能なマクロ撮影可能状態のいずれかを選択可能な
    カメラにおいて、 基線長方向と直交する方向に伸びたスリツト光
    を被写体に向けて投光する投光部と、受光面に基
    線長方向及びこれに直交する方向に複数の素子が
    配されており、被写体で反射されて戻つてきた光
    を受光し、基線長方向での入射位置から被写体距
    離を測定するための受光部と、前記投光部の前面
    に挿脱自在に設けられ、挿入時にはスリツト光の
    中央部分の光だけを通過させて撮影画面のほぼ中
    央部に向かうスポツト光にするマスク板、もしく
    は前記受光部の直前に挿脱自在に設けられ、挿入
    時には受光部の中央部分だけを露出させ、撮影画
    面のほぼ中央部から反射してきた光を受光するよ
    うに受光範囲を制限するマスク板のいずれかと、
    前記マクロ撮影可能状態の選択時には前記いずれ
    かのマスク板を挿入位置に移動させ、前記通常撮
    影可能状態の選択時には前記いずれかのマスク板
    を挿入位置から退避位置に移動させるマスク板切
    換え機構とを備えたことを特徴とする被写体距離
    測定装置。
JP1986008860U 1986-01-27 1986-01-27 Expired - Lifetime JPH058596Y2 (ja)

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JP1986008860U JPH058596Y2 (ja) 1986-01-27 1986-01-27

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JP1986008860U JPH058596Y2 (ja) 1986-01-27 1986-01-27

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JPS62123632U JPS62123632U (ja) 1987-08-06
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58201015A (ja) * 1982-05-20 1983-11-22 Canon Inc 測距装置
JPS60172008A (ja) * 1984-02-18 1985-09-05 Canon Inc 測距装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58201015A (ja) * 1982-05-20 1983-11-22 Canon Inc 測距装置
JPS60172008A (ja) * 1984-02-18 1985-09-05 Canon Inc 測距装置

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JPS62123632U (ja) 1987-08-06

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