JPH0580080A - 測定装置 - Google Patents
測定装置Info
- Publication number
- JPH0580080A JPH0580080A JP3243827A JP24382791A JPH0580080A JP H0580080 A JPH0580080 A JP H0580080A JP 3243827 A JP3243827 A JP 3243827A JP 24382791 A JP24382791 A JP 24382791A JP H0580080 A JPH0580080 A JP H0580080A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- memory
- external memory
- measuring
- measurement conditions
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡単な操作で複数の測定装置について複数の
測定条件の一部を共通した値に設定変更できる測定装置
を実現することにある。 【構成】 複数項目の測定条件を設定する手段と、設定
された測定条件を格納する内部メモリと、着脱可能な外
部メモリと、特定項目の測定条件について有効フラグを
付けて外部メモリに格納するとともに、内部メモリと外
部メモリとの間で指定された特定項目の測定条件の転送
格納を制御するメモリ制御部とを具備し、複数の測定装
置について特定項目の測定条件を共通の値に設定できる
ように構成する。
測定条件の一部を共通した値に設定変更できる測定装置
を実現することにある。 【構成】 複数項目の測定条件を設定する手段と、設定
された測定条件を格納する内部メモリと、着脱可能な外
部メモリと、特定項目の測定条件について有効フラグを
付けて外部メモリに格納するとともに、内部メモリと外
部メモリとの間で指定された特定項目の測定条件の転送
格納を制御するメモリ制御部とを具備し、複数の測定装
置について特定項目の測定条件を共通の値に設定できる
ように構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は測定装置に関するもので
あり、詳しくは、ＩＣメモリカ―ドなどの外部メモリを
用いて測定条件の設定を行う場合の改善に関するもので
ある。
あり、詳しくは、ＩＣメモリカ―ドなどの外部メモリを
用いて測定条件の設定を行う場合の改善に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】近年の測定装置では、測定条件をＩＣメ
モリカ―ドなどの外部メモリに格納しておき、再度全く
同じ測定条件を設定する場合に利用することが広く行わ
れている。この場合、ＩＣメモリカ―ドに格納するデ―
タは、メモリ容量を節約するためにバイナリ形式で格納
されることが多い。
モリカ―ドなどの外部メモリに格納しておき、再度全く
同じ測定条件を設定する場合に利用することが広く行わ
れている。この場合、ＩＣメモリカ―ドに格納するデ―
タは、メモリ容量を節約するためにバイナリ形式で格納
されることが多い。
【０００３】このようなＩＣメモリカ―ドによる測定条
件の設定は、すべての測定条件を変更する場合には有効
であるが、一部の測定条件は変更するが他の測定条件は
そのままにしておきたい場合には不便である。
件の設定は、すべての測定条件を変更する場合には有効
であるが、一部の測定条件は変更するが他の測定条件は
そのままにしておきたい場合には不便である。
【０００４】例えば制御パネルに測定機能を選択するフ
ァンクションデ―タ，測定レンジを選択するレンジデ―
タ，測定サンプリング時間を選択する積分時間デ―タお
よび表示桁数を選択する表示桁数デ―タが任意に設定で
きる同一機種のデジタルマルチメ―タが複数台装着され
ていて、ファンクションデ―タ，レンジデ―タおよび表
示桁数デ―タはデジタルマルチメ―タ毎にそれぞれ個別
に設定しておき、積分時間デ―タのみをすべて共通した
値に変更設定したい場合、現状では各デジタルマルチメ
―タ毎に個別に手動設定しなければならず、多大の工数
がかかってしまうことになる。また、手動設定すること
から、誤設定の恐れもある。
ァンクションデ―タ，測定レンジを選択するレンジデ―
タ，測定サンプリング時間を選択する積分時間デ―タお
よび表示桁数を選択する表示桁数デ―タが任意に設定で
きる同一機種のデジタルマルチメ―タが複数台装着され
ていて、ファンクションデ―タ，レンジデ―タおよび表
示桁数デ―タはデジタルマルチメ―タ毎にそれぞれ個別
に設定しておき、積分時間デ―タのみをすべて共通した
値に変更設定したい場合、現状では各デジタルマルチメ
―タ毎に個別に手動設定しなければならず、多大の工数
がかかってしまうことになる。また、手動設定すること
から、誤設定の恐れもある。
【０００５】本発明は、このような従来の問題点を解決
するものであり、その目的は、簡単な操作で複数の測定
装置について複数の測定条件の一部を共通した値に設定
変更できる測定装置を実現することにある。
するものであり、その目的は、簡単な操作で複数の測定
装置について複数の測定条件の一部を共通した値に設定
変更できる測定装置を実現することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、複数項目の測
定条件を設定する手段と、設定された測定条件を格納す
る内部メモリと、着脱可能な外部メモリと、特定項目の
測定条件について有効フラグを付けて外部メモリに格納
するとともに、内部メモリと外部メモリとの間で指定さ
れた特定項目の測定条件の転送格納を制御するメモリ制
御部とを具備し、複数の測定装置について特定項目の測
定条件を共通の値に設定できるようにしたことを特徴と
する。
定条件を設定する手段と、設定された測定条件を格納す
る内部メモリと、着脱可能な外部メモリと、特定項目の
測定条件について有効フラグを付けて外部メモリに格納
するとともに、内部メモリと外部メモリとの間で指定さ
れた特定項目の測定条件の転送格納を制御するメモリ制
御部とを具備し、複数の測定装置について特定項目の測
定条件を共通の値に設定できるようにしたことを特徴と
する。
【０００７】
【作用】外部メモリには、変更対象となる特定項目の測
定条件について有効フラグが付けられて格納される。そ
して、この外部メモリを測定装置に装着することによ
り、その測定装置の内部メモリに格納されている測定条
件のうち、有効フラグが付けられた特定項目の測定条件
が外部メモリに格納されている値に更新格納される。
これにより、複数の測定装置について、特定項目の測定
条件を共通の値に設定できる。
定条件について有効フラグが付けられて格納される。そ
して、この外部メモリを測定装置に装着することによ
り、その測定装置の内部メモリに格納されている測定条
件のうち、有効フラグが付けられた特定項目の測定条件
が外部メモリに格納されている値に更新格納される。
これにより、複数の測定装置について、特定項目の測定
条件を共通の値に設定できる。
【０００８】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図１は本発明の一実施例を示すブロック図であり、
デジタルマルチメ―タの概念構成を示している。図にお
いて、１は入力端子であり、入力回路２に接続されてい
る。入力回路２の出力端子はＡ／Ｄ変換器３に接続され
ている。Ａ／Ｄ変換器３の出力端子はＣＰＵ４に接続さ
れている。ＣＰＵ４にはメモリ制御部５，表示部６，キ
―ボ―ド７が接続されている。メモリ制御部５にはＲＡ
Ｍよりなる内部メモリ８が接続されるとともに、ＩＣメ
モリカ―ドなどの外部メモリ９が着脱される。
る。図１は本発明の一実施例を示すブロック図であり、
デジタルマルチメ―タの概念構成を示している。図にお
いて、１は入力端子であり、入力回路２に接続されてい
る。入力回路２の出力端子はＡ／Ｄ変換器３に接続され
ている。Ａ／Ｄ変換器３の出力端子はＣＰＵ４に接続さ
れている。ＣＰＵ４にはメモリ制御部５，表示部６，キ
―ボ―ド７が接続されている。メモリ制御部５にはＲＡ
Ｍよりなる内部メモリ８が接続されるとともに、ＩＣメ
モリカ―ドなどの外部メモリ９が着脱される。
【０００９】このような構成において、入力回路２はキ
―ボ―ド７により設定される測定条件や外部メモリ９に
より設定される測定条件に従ってファンクションやレン
ジが制御され、入力端子１に入力される入力信号をＡ／
Ｄ変換器３の入力範囲に適した信号に変換して出力す
る。Ａ／Ｄ変換器３としては例えば積分時間が変えられ
るものを用い、その積分時間も入力回路２と同様にキ―
ボ―ド７により設定される測定条件や外部メモリ９によ
り設定される測定条件に従って制御される。ＣＰＵ４は
装置全体の動作を制御するものである。メモリ制御部５
は、キ―ボ―ド７の操作に従って、ＣＰＵ４の管理の下
に、内部メモリ８への測定条件や測定デ―タの格納，外
部メモリ９への測定条件や測定デ―タの格納，内部メモ
リ８と外部メモリ９との間での測定条件や測定デ―タの
転送格納などを制御する。表示部６は測定デ―タや測定
条件を表示するものであり、測定デ―タの表示桁数も入
力回路２やＡ／Ｄ変換器３と同様にキ―ボ―ド７により
設定される測定条件や外部メモリ９により設定される測
定条件に従って制御される。キ―ボ―ド７は例えば測定
条件を設定する。
―ボ―ド７により設定される測定条件や外部メモリ９に
より設定される測定条件に従ってファンクションやレン
ジが制御され、入力端子１に入力される入力信号をＡ／
Ｄ変換器３の入力範囲に適した信号に変換して出力す
る。Ａ／Ｄ変換器３としては例えば積分時間が変えられ
るものを用い、その積分時間も入力回路２と同様にキ―
ボ―ド７により設定される測定条件や外部メモリ９によ
り設定される測定条件に従って制御される。ＣＰＵ４は
装置全体の動作を制御するものである。メモリ制御部５
は、キ―ボ―ド７の操作に従って、ＣＰＵ４の管理の下
に、内部メモリ８への測定条件や測定デ―タの格納，外
部メモリ９への測定条件や測定デ―タの格納，内部メモ
リ８と外部メモリ９との間での測定条件や測定デ―タの
転送格納などを制御する。表示部６は測定デ―タや測定
条件を表示するものであり、測定デ―タの表示桁数も入
力回路２やＡ／Ｄ変換器３と同様にキ―ボ―ド７により
設定される測定条件や外部メモリ９により設定される測
定条件に従って制御される。キ―ボ―ド７は例えば測定
条件を設定する。
【００１０】図２は内部メモリ８に格納される測定条件
の説明図である。本実施例では、測定機能を選択するフ
ァンクションデ―タａ，測定レンジを選択するレンジデ
―タｂ，測定サンプリング時間を選択する積分時間デ―
タｃおよび表示桁数を選択する表示桁数デ―タｄの４つ
が格納される。
の説明図である。本実施例では、測定機能を選択するフ
ァンクションデ―タａ，測定レンジを選択するレンジデ
―タｂ，測定サンプリング時間を選択する積分時間デ―
タｃおよび表示桁数を選択する表示桁数デ―タｄの４つ
が格納される。
【００１１】図３は外部メモリ９に格納される測定条件
の説明図である。本実施例では、測定機能を選択するフ
ァンクションデ―タａ，測定レンジを選択するレンジデ
―タｂ，測定サンプリング時間を選択する積分時間デ―
タｃおよび表示桁数を選択する表示桁数デ―タｄの４つ
がそれぞれ有効フラグとして機能する有効ビットａ´〜
ｄ´とともに格納される。ここで、有効ビットとして
は、例えば外部メモリ９を装着した状態で設定を行った
測定条件の項目のみを「１」にすることが考えられる。
図３では、積分時間デ―タｃの項目のみ有効ビットｃ´
を「１」にしている。
の説明図である。本実施例では、測定機能を選択するフ
ァンクションデ―タａ，測定レンジを選択するレンジデ
―タｂ，測定サンプリング時間を選択する積分時間デ―
タｃおよび表示桁数を選択する表示桁数デ―タｄの４つ
がそれぞれ有効フラグとして機能する有効ビットａ´〜
ｄ´とともに格納される。ここで、有効ビットとして
は、例えば外部メモリ９を装着した状態で設定を行った
測定条件の項目のみを「１」にすることが考えられる。
図３では、積分時間デ―タｃの項目のみ有効ビットｃ´
を「１」にしている。
【００１２】このように構成される装置の動作を説明す
る。図３のような測定条件が格納された外部メモリ９が
装着されると、ＣＰＵ４はメモリ制御部５を介して外部
メモリ９に格納されている有効ビットをチェックし、有
効ビットが「１」になっている項目の測定条件のみを内
部メモリ８に転送格納するようにメモリ制御部５を介し
て制御する。すなわち、内部メモリ８に格納されている
測定条件の内、有効ビットが「１」になっている項目の
測定条件のみが更新されて他の測定条件は更新されない
ことになる。
る。図３のような測定条件が格納された外部メモリ９が
装着されると、ＣＰＵ４はメモリ制御部５を介して外部
メモリ９に格納されている有効ビットをチェックし、有
効ビットが「１」になっている項目の測定条件のみを内
部メモリ８に転送格納するようにメモリ制御部５を介し
て制御する。すなわち、内部メモリ８に格納されている
測定条件の内、有効ビットが「１」になっている項目の
測定条件のみが更新されて他の測定条件は更新されない
ことになる。
【００１３】図４はこのように構成される測定装置を５
台用いたシステム概念図である。５台の測定装置＃１〜
＃５の内、＃１の測定装置に外部メモリ９を装着して図
３と同様に３番目の項目ｃのみを変更したとする。これ
により、外部メモリ９の３番目の項目の有効ビットｃ´
のみが「１」になる。＃１の測定装置で測定条件が格納
された外部メモリ９を＃２〜＃５の測定装置に順次装着
し、前述のように有効ビットｃ´が「１」になっている
項目ｃの測定条件のみを内部メモリ８に転送格納する。
これにより、各測定装置＃１〜＃５の項目ｃは共通の測
定条件に設定され、他の項目ａ，ｂ，ｄはそれまでにそ
れぞれ個別に設定されていた測定条件がそのまま保たれ
る。
台用いたシステム概念図である。５台の測定装置＃１〜
＃５の内、＃１の測定装置に外部メモリ９を装着して図
３と同様に３番目の項目ｃのみを変更したとする。これ
により、外部メモリ９の３番目の項目の有効ビットｃ´
のみが「１」になる。＃１の測定装置で測定条件が格納
された外部メモリ９を＃２〜＃５の測定装置に順次装着
し、前述のように有効ビットｃ´が「１」になっている
項目ｃの測定条件のみを内部メモリ８に転送格納する。
これにより、各測定装置＃１〜＃５の項目ｃは共通の測
定条件に設定され、他の項目ａ，ｂ，ｄはそれまでにそ
れぞれ個別に設定されていた測定条件がそのまま保たれ
る。
【００１４】このような構成によれば、１台ずつ手動設
定する場合のような設定エラ―の恐れはなく、台数が多
い場合にも設定すべき項目を全く意識することなく簡単
な操作で正確に設定できる。
定する場合のような設定エラ―の恐れはなく、台数が多
い場合にも設定すべき項目を全く意識することなく簡単
な操作で正確に設定できる。
【００１５】なお、上記実施例では測定条件を１項目だ
け変更する例を説明したが、同時に複数項目を変更する
ことも可能である。また、外部メモリから内部メモリへ
の測定条件の読み出し転送格納にあたっては、キ―ボ―
ドの操作によらずに電源投入時に行うようにしてもよ
い。また、外部メモリはＩＣメモリカ―ドに限るもので
はなく、その他のメモリであってもよい。
け変更する例を説明したが、同時に複数項目を変更する
ことも可能である。また、外部メモリから内部メモリへ
の測定条件の読み出し転送格納にあたっては、キ―ボ―
ドの操作によらずに電源投入時に行うようにしてもよ
い。また、外部メモリはＩＣメモリカ―ドに限るもので
はなく、その他のメモリであってもよい。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
簡単な操作で複数の測定装置について複数の測定条件の
一部を共通した値に設定変更できる測定装置を実現でき
る。
簡単な操作で複数の測定装置について複数の測定条件の
一部を共通した値に設定変更できる測定装置を実現でき
る。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１の内部メモリにおける測定条件の格納例図
である。
である。
【図３】図１の外部メモリにおける測定条件の格納例図
である。
である。
【図４】図１の装置を５台用いたシステムの説明図であ
る。
る。
１ 入力端子 ２ 入力回路 ３ Ａ／Ｄ変換器 ４ ＣＰＵ ５ メモリ制御部 ６ 表示部 ７ キ―ボ―ド ８ 内部メモリ（ＲＡＭ） ９ 外部メモリ（ＩＣメモリカ―ド）
Claims (1)
- 【請求項１】複数項目の測定条件を設定する手段と、 設定された測定条件を格納する内部メモリと、 着脱可能な外部メモリと、 特定項目の測定条件について有効フラグを付けて外部メ
モリに格納するとともに、内部メモリと外部メモリとの
間で指定された特定項目の測定条件の転送格納を制御す
るメモリ制御部とを具備し、 複数の測定装置について特定項目の測定条件を共通の値
に設定できるようにしたことを特徴とする測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3243827A JPH0580080A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | 測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3243827A JPH0580080A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | 測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0580080A true JPH0580080A (ja) | 1993-03-30 |
Family
ID=17109524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3243827A Pending JPH0580080A (ja) | 1991-09-24 | 1991-09-24 | 測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0580080A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006153465A (ja) * | 2004-11-25 | 2006-06-15 | Yokogawa Electric Corp | 測定器 |
| JP2006153722A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Yokogawa Electric Corp | 測定器及び測定システム |
-
1991
- 1991-09-24 JP JP3243827A patent/JPH0580080A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006153465A (ja) * | 2004-11-25 | 2006-06-15 | Yokogawa Electric Corp | 測定器 |
| JP2006153722A (ja) * | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Yokogawa Electric Corp | 測定器及び測定システム |
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