JPH0578780B2 - - Google Patents
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- JPH0578780B2 JPH0578780B2 JP27587184A JP27587184A JPH0578780B2 JP H0578780 B2 JPH0578780 B2 JP H0578780B2 JP 27587184 A JP27587184 A JP 27587184A JP 27587184 A JP27587184 A JP 27587184A JP H0578780 B2 JPH0578780 B2 JP H0578780B2
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- slit
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- slit disk
- light beam
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
- G01N21/5911—Densitometers of the scanning type
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/04—Slit arrangements slit adjustment
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J3/02—Details
- G01J3/06—Scanning arrangements arrangements for order-selection
-
- G—PHYSICS
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
- G01J1/1626—Arrangements with two photodetectors, the signals of which are compared
- G01J2001/1636—Arrangements with two photodetectors, the signals of which are compared one detector directly monitoring the source, e.g. also impulse time controlling
- G01J2001/1642—Arrangements with two photodetectors, the signals of which are compared one detector directly monitoring the source, e.g. also impulse time controlling and acting on the detecting circuit
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/4446—Type of detector
- G01J2001/4453—PMT
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は薄層クロマトグラフイの薄層プレート
や電気泳動ゲルなどの試料プレート上で分離され
た試料スポツト（試料分画）を光学的に定量する
ための透過、反射デンシトメータにおいて使用さ
れるクロマトスキヤナに関するものである。
や電気泳動ゲルなどの試料プレート上で分離され
た試料スポツト（試料分画）を光学的に定量する
ための透過、反射デンシトメータにおいて使用さ
れるクロマトスキヤナに関するものである。
（従来の技術）
デンシトメータにおける試料プレート上の試料
スポツトの定量には、試料スポツト上をジクザク
走査し、各検出位置での検出値を積算している。
この場合、試料スポツトのサイズに応じて目的と
する試料スポツトがカバーでき、しかも他の試料
スポツトを測定しないようにジグザグ走査の振れ
幅を選択する必要があつた。
スポツトの定量には、試料スポツト上をジクザク
走査し、各検出位置での検出値を積算している。
この場合、試料スポツトのサイズに応じて目的と
する試料スポツトがカバーでき、しかも他の試料
スポツトを測定しないようにジグザグ走査の振れ
幅を選択する必要があつた。
（発明が解決しようとする問題点）
本発明者らは、第１図に示されるような、分光
器出口スリツト上もしくはその結像位置又はそれ
らの近傍に、パルスモータ又はシンクロナスモー
タにより直軸駆動されるスリツト円板を設置し、
このスリツト円板のスリツトと前記出口スリツト
との交差位置の穴を通過した光束を試料プレート
上に照射させる高速走査可能なフライングスポツ
ト方式のクロマトスキヤナを別途提案している。
器出口スリツト上もしくはその結像位置又はそれ
らの近傍に、パルスモータ又はシンクロナスモー
タにより直軸駆動されるスリツト円板を設置し、
このスリツト円板のスリツトと前記出口スリツト
との交差位置の穴を通過した光束を試料プレート
上に照射させる高速走査可能なフライングスポツ
ト方式のクロマトスキヤナを別途提案している。
そのようなクロマトスキヤナにおいて、ジグザ
グ走査の振れ幅を狭くするためにスリツトを絞る
と、光源強度モニタ用の検出器の光電子増倍管に
光のこないタイミングが発生する。そのモニタ用
光電子増倍管の検出信号をもとにして光電子増倍
管の負高圧フイードバツクをかけている場合に
は、印加される負高圧が最大となつてしまい、測
光信号系の安定性が損われることになる。
グ走査の振れ幅を狭くするためにスリツトを絞る
と、光源強度モニタ用の検出器の光電子増倍管に
光のこないタイミングが発生する。そのモニタ用
光電子増倍管の検出信号をもとにして光電子増倍
管の負高圧フイードバツクをかけている場合に
は、印加される負高圧が最大となつてしまい、測
光信号系の安定性が損われることになる。
本発明はモニタ用光電子増倍管への入射光がな
くならないようにするため、ジグザグ走査の振れ
幅は一定にしておきながら、試料スポツトに応じ
て測定範囲を可変に設定できる、フライングスポ
ツト方式クロマトスキヤナを提案することを目的
とするものである。
くならないようにするため、ジグザグ走査の振れ
幅は一定にしておきながら、試料スポツトに応じ
て測定範囲を可変に設定できる、フライングスポ
ツト方式クロマトスキヤナを提案することを目的
とするものである。
（問題点を解決するための手段）
実施例を示す第１図、第２図及び第４図を参照
して説明すると、本発明のクロマトスキヤナは、
分光器出口スリツト１０上もしくはその結像位置
又はそれらの近傍に、パルスモータ１６又はシン
クロナスモータにより直軸駆動されるスリツト円
板１２を設置し、このスリツト円板１２のスリツ
ト１４−１，１４−２……と出口スリツト１０と
の交差位置の穴を通過した光束を試料プレート２
６に照射させるフライングスポツト方式のクロマ
トスキヤナであつて、 スリツト円板１２の原点位置を表わす信号とそ
のスリツト円板１２の回転角に対応する駆動パル
ス数又は時間とから試料プレート２６上の光束照
射位置を検出する位置検出手段５８と、測定され
た吸光度を位置検出手段５８からの位置情報とと
もに記憶する記憶手段５２，５３と、記憶手段５
２，５３の吸光度データを読み取るデータ読取り
手段５４，５５と、データ読取り手段５４，５５
が読み取るデータの範囲を位置情報をもとに指定
するデータ読取り幅制御手段５６と、データ読取
り幅制御手段５６にデータ読取り幅を設定する設
定手段５７と、を備えている。
して説明すると、本発明のクロマトスキヤナは、
分光器出口スリツト１０上もしくはその結像位置
又はそれらの近傍に、パルスモータ１６又はシン
クロナスモータにより直軸駆動されるスリツト円
板１２を設置し、このスリツト円板１２のスリツ
ト１４−１，１４−２……と出口スリツト１０と
の交差位置の穴を通過した光束を試料プレート２
６に照射させるフライングスポツト方式のクロマ
トスキヤナであつて、 スリツト円板１２の原点位置を表わす信号とそ
のスリツト円板１２の回転角に対応する駆動パル
ス数又は時間とから試料プレート２６上の光束照
射位置を検出する位置検出手段５８と、測定され
た吸光度を位置検出手段５８からの位置情報とと
もに記憶する記憶手段５２，５３と、記憶手段５
２，５３の吸光度データを読み取るデータ読取り
手段５４，５５と、データ読取り手段５４，５５
が読み取るデータの範囲を位置情報をもとに指定
するデータ読取り幅制御手段５６と、データ読取
り幅制御手段５６にデータ読取り幅を設定する設
定手段５７と、を備えている。
（作用）
スリツト円板１２が回転すると、出口スリツト
１０とスリツト円板１２のスリツト１４−１，１
４−２，……との交差位置の穴が移動して行く。
それに伴なつて、試料プレート２６上の光束照射
位置も第３図の矢印のように移動していく。
１０とスリツト円板１２のスリツト１４−１，１
４−２，……との交差位置の穴が移動して行く。
それに伴なつて、試料プレート２６上の光束照射
位置も第３図の矢印のように移動していく。
試料プレート２６上の光束照射点の位置は位置
検出手段５８により検出される。試料プレート２
６上の各位置の測定データは位置情報とともに記
憶手段５２，５３に記憶された後、データ読取り
手段５４，５５により読み取られる。その際、デ
ータ読取り幅制御手段５６は、データ読取り幅設
定手段（例えばキーボード）５７により設定され
た範囲内のデータのみが読み取られるように、デ
ータ読取り手段５４，５５を制御する。
検出手段５８により検出される。試料プレート２
６上の各位置の測定データは位置情報とともに記
憶手段５２，５３に記憶された後、データ読取り
手段５４，５５により読み取られる。その際、デ
ータ読取り幅制御手段５６は、データ読取り幅設
定手段（例えばキーボード）５７により設定され
た範囲内のデータのみが読み取られるように、デ
ータ読取り手段５４，５５を制御する。
このようにして、第３図に示されるように試料
プレート２６上の光束照射点の振れ幅Ａは一定で
あるが、データ読取り範囲Ｂは試料スポツト３８
に応じてデータ読取り幅設定手段５７により設定
された範囲に限定される。
プレート２６上の光束照射点の振れ幅Ａは一定で
あるが、データ読取り範囲Ｂは試料スポツト３８
に応じてデータ読取り幅設定手段５７により設定
された範囲に限定される。
（実施例）
第１図は一実施例のクロマトスキヤナの光学系
を示す。２，４は光源であり、広い測定波長域を
カバーするために２種類用意されており、例えば
キセノンランプ、タングステンランプ又は重水素
ランプなどが使用される。６は光源選択用の球面
鏡であり、光源２又は４からの光束を分光器８に
入射させる。１０は分光器８の出口スリツトであ
り、分光された光束が出射してくる。
を示す。２，４は光源であり、広い測定波長域を
カバーするために２種類用意されており、例えば
キセノンランプ、タングステンランプ又は重水素
ランプなどが使用される。６は光源選択用の球面
鏡であり、光源２又は４からの光束を分光器８に
入射させる。１０は分光器８の出口スリツトであ
り、分光された光束が出射してくる。
分光器８の出口スリツト１０上にはスリツト円
板１２が設置されている。このスリツト円板１２
には、第２図に示されるように例えば５個のスリ
ツト１４−１，〜１４−５が設けられ、各スリツ
ト１４−１，〜１４−５は中心Ｏからの距離Ｒが
回転角Θに応じて Ｒ＝Ro＋kΘ に従つて変化する形状に形成されている。ここ
で、Roはスリツト１４−１，〜１４−５の最も
内側位置と中心Ｏとの距離である。このスリツト
円板１２は中心がパルスモータ１６の回転軸に固
定されて直軸駆動されるようになつている。
板１２が設置されている。このスリツト円板１２
には、第２図に示されるように例えば５個のスリ
ツト１４−１，〜１４−５が設けられ、各スリツ
ト１４−１，〜１４−５は中心Ｏからの距離Ｒが
回転角Θに応じて Ｒ＝Ro＋kΘ に従つて変化する形状に形成されている。ここ
で、Roはスリツト１４−１，〜１４−５の最も
内側位置と中心Ｏとの距離である。このスリツト
円板１２は中心がパルスモータ１６の回転軸に固
定されて直軸駆動されるようになつている。
スリツト円板１２と分光器８の出口スリツト１
０との関係は、第２図に示されるように、出口ス
リツト１０の長手方向がスリツト円板１２の半径
方向になるようにスリツト円板１２が位置決めさ
れている。スリツト円板１２上の穴１８はスリツ
ト１４−１，〜１４−５の原点を検出するための
ものであり、フオトカプラのような検出器２０に
より検出される。
０との関係は、第２図に示されるように、出口ス
リツト１０の長手方向がスリツト円板１２の半径
方向になるようにスリツト円板１２が位置決めさ
れている。スリツト円板１２上の穴１８はスリツ
ト１４−１，〜１４−５の原点を検出するための
ものであり、フオトカプラのような検出器２０に
より検出される。
分光器８の出口スリツト１０と、スリツト円板
１２のスリツト１４−１，〜１４−５のいずれか
との交差位置の穴を通過した光束は、球面鏡２
２、平面鏡２４を経てビームスプリツタ２５で分
離され、ビームスプリツタ２５を透過した光束は
試料プレート２６上に照射される。試料プレート
２６はＸ方向及びＹ方向に移動可能なステージ２
７上に支持されている。
１２のスリツト１４−１，〜１４−５のいずれか
との交差位置の穴を通過した光束は、球面鏡２
２、平面鏡２４を経てビームスプリツタ２５で分
離され、ビームスプリツタ２５を透過した光束は
試料プレート２６上に照射される。試料プレート
２６はＸ方向及びＹ方向に移動可能なステージ２
７上に支持されている。
３４はベルト３５を介してステージ２７ａをＹ
方向に移動させるパルスモータ、３６はベルト３
７を介してステージ２７をＸ方向に移動させるパ
ルスモータである。Ｙ方向移動用のパルスモータ
３４は試料プレート２６上での光束照射点の走査
線の変更時に使用され、Ｘ方向移動用のパルスモ
ータ３６は試料プレート２６上でのレーンの変更
時に使用される。
方向に移動させるパルスモータ、３６はベルト３
７を介してステージ２７をＸ方向に移動させるパ
ルスモータである。Ｙ方向移動用のパルスモータ
３４は試料プレート２６上での光束照射点の走査
線の変更時に使用され、Ｘ方向移動用のパルスモ
ータ３６は試料プレート２６上でのレーンの変更
時に使用される。
２８はビームスプリツタ２５により分離された
光束をポリ四フツ化エチレンの拡散板（図示略）
を経て受光して光源強度をモニタし、吸光度測定
と負高圧フイードバツク用に使用される光電子増
倍管、３０は試料面２６からの反射光を検出する
反射測光用光電子増倍管、３２は試料面２６を透
過した光束を拡散板としてのポリ四フツ化エチレ
ン板３３を経て検出する透過測光用光電子増倍管
である。
光束をポリ四フツ化エチレンの拡散板（図示略）
を経て受光して光源強度をモニタし、吸光度測定
と負高圧フイードバツク用に使用される光電子増
倍管、３０は試料面２６からの反射光を検出する
反射測光用光電子増倍管、３２は試料面２６を透
過した光束を拡散板としてのポリ四フツ化エチレ
ン板３３を経て検出する透過測光用光電子増倍管
である。
本発明における測定系を第４図に示す。
４０はモニタ用光電子増倍管３２の検出信号を
増幅するプリアンプ（前置増幅器）、４１はプリ
アンプ４０の出力に応じて光電子増倍管３２，３
０，２８に所定の負高圧を印加する負高圧フイー
ドバツク用の負高圧印加手段であり、例えばDC
−DCコンバータを含んでいる。プリアンプ４０
の出力信号はまた、LOGアンプ（対数変換増幅
器）４２により対数値に変換され、同時に、反射
測光用光電子増倍管３０の出力がプリアンプ４４
を通してLOGアンプ４５に導かれ、このLOGア
ンプ４５の出力とLOGアンプ４２の出力との差
出力がアンプ４５ａから出力されてＡ／Ｄ変換器
４６でデイジタル信号に変換される。また、透過
測光用光電子増倍管２８の出力信号もプリアンプ
４７を経てLOGアンプ４８で対数変換され、こ
の出力信号とLOGアンプ４２の出力信号との差
がアンプ４８ａでとられ、Ａ／Ｄ変換器４９に導
かれる。
増幅するプリアンプ（前置増幅器）、４１はプリ
アンプ４０の出力に応じて光電子増倍管３２，３
０，２８に所定の負高圧を印加する負高圧フイー
ドバツク用の負高圧印加手段であり、例えばDC
−DCコンバータを含んでいる。プリアンプ４０
の出力信号はまた、LOGアンプ（対数変換増幅
器）４２により対数値に変換され、同時に、反射
測光用光電子増倍管３０の出力がプリアンプ４４
を通してLOGアンプ４５に導かれ、このLOGア
ンプ４５の出力とLOGアンプ４２の出力との差
出力がアンプ４５ａから出力されてＡ／Ｄ変換器
４６でデイジタル信号に変換される。また、透過
測光用光電子増倍管２８の出力信号もプリアンプ
４７を経てLOGアンプ４８で対数変換され、こ
の出力信号とLOGアンプ４２の出力信号との差
がアンプ４８ａでとられ、Ａ／Ｄ変換器４９に導
かれる。
Ａ／Ｄ変換器４６，４９によりデイジタル信号
に変換されたそれぞれの吸光度は、位置検出手段
５８から送られる試料プレート上での位置情報と
ともに記憶手段（RAM）５２，５３に記憶され
る。位置検出手段５８による位置情報は、スリツ
ト円板１２の回転角の原点を示す原点検出器とし
てのフオトカプラ２０からの信号を基準とし、パ
ルスモータ１６を駆動するパルス発生回路５９か
らのパルス信号を計数することにより発生させら
れる。
に変換されたそれぞれの吸光度は、位置検出手段
５８から送られる試料プレート上での位置情報と
ともに記憶手段（RAM）５２，５３に記憶され
る。位置検出手段５８による位置情報は、スリツ
ト円板１２の回転角の原点を示す原点検出器とし
てのフオトカプラ２０からの信号を基準とし、パ
ルスモータ１６を駆動するパルス発生回路５９か
らのパルス信号を計数することにより発生させら
れる。
５４，５５はそれぞれ記憶手段５２，５３に記
憶された吸光度データを読み取るデータ読取手段
であり、これらのデータ読取り手段５４，５５が
読み取るデータの範囲はデータ読取り幅制御手段
５６からの信号により指定される。データ読取り
幅制御手段５６は、データ読取り幅設定手段とし
てのキーボード５７により設定された値に基づい
てデータ読取り手段５４，５５へ信号を送出す
る。データ読取り手段５４，５５により読み取ら
れたデータは、それぞれローカリテイ補正手段６
０，６１によりローカリテイ補正がなされ、検量
線直線化手段６２，６３により濃度に変換された
後、積算手段６４，６５により積算されて出力さ
れる。ここで、ローカリテイとは検出器の場所的
な感度のばらつきや、光学系の場所的な明るさの
ばらつきのことである。また、検量線直線化とは
吸光度と濃度の関係を直線関係に補正することで
ある。
憶された吸光度データを読み取るデータ読取手段
であり、これらのデータ読取り手段５４，５５が
読み取るデータの範囲はデータ読取り幅制御手段
５６からの信号により指定される。データ読取り
幅制御手段５６は、データ読取り幅設定手段とし
てのキーボード５７により設定された値に基づい
てデータ読取り手段５４，５５へ信号を送出す
る。データ読取り手段５４，５５により読み取ら
れたデータは、それぞれローカリテイ補正手段６
０，６１によりローカリテイ補正がなされ、検量
線直線化手段６２，６３により濃度に変換された
後、積算手段６４，６５により積算されて出力さ
れる。ここで、ローカリテイとは検出器の場所的
な感度のばらつきや、光学系の場所的な明るさの
ばらつきのことである。また、検量線直線化とは
吸光度と濃度の関係を直線関係に補正することで
ある。
第４図で鎖線で囲まれた部分６６は、マイクロ
コンピユータにより実現することができる。
コンピユータにより実現することができる。
次に、本実施例の動作について説明する。
いま、スリツト円板１２が第２図に示される矢
印方向に回転したとすると、出口スリツト１０と
スリツト１４−１との交差位置の穴は出口スリツ
ト１０の長手方向に沿つてスリツト円板１２の中
心Ｏから遠ざかるように移動していく。これに伴
なつて試料プレート２６上での光束照射位置は、
第３図に示されるようにａ点からｂ点に向つて移
動していく。□印はデータの採取位置を表わして
いる。更にスリツト円板１２が回転して次のスリ
ツト１４−２が出口スリツト１０と交差するよう
になると、試料プレート２６がステージ２７の移
動によりＹ方向に所定ピツチだけ移動させられ、
試料プレート２６上の光束照射位置はｃ点に移動
する。このようにして、１個のスリツト１４−
１，〜１４−５による試料プレート２６上の走査
が完了するごとに、試料プレート２６はステージ
の移動により所定ピツチだけＹ方向に移動させら
れ走査線が変向される。このようにしてＹ方向の
１個のレーンの走査が完了すると、ステージをＸ
方向に移動させて次のレーンの走査を行なう。
印方向に回転したとすると、出口スリツト１０と
スリツト１４−１との交差位置の穴は出口スリツ
ト１０の長手方向に沿つてスリツト円板１２の中
心Ｏから遠ざかるように移動していく。これに伴
なつて試料プレート２６上での光束照射位置は、
第３図に示されるようにａ点からｂ点に向つて移
動していく。□印はデータの採取位置を表わして
いる。更にスリツト円板１２が回転して次のスリ
ツト１４−２が出口スリツト１０と交差するよう
になると、試料プレート２６がステージ２７の移
動によりＹ方向に所定ピツチだけ移動させられ、
試料プレート２６上の光束照射位置はｃ点に移動
する。このようにして、１個のスリツト１４−
１，〜１４−５による試料プレート２６上の走査
が完了するごとに、試料プレート２６はステージ
の移動により所定ピツチだけＹ方向に移動させら
れ走査線が変向される。このようにしてＹ方向の
１個のレーンの走査が完了すると、ステージをＸ
方向に移動させて次のレーンの走査を行なう。
このような走査において、試料プレート２６上
の光束照射点の走査の振れ幅Ａ（第３図）は常に
一定である。この振れ幅Ａの範囲内の各データ採
取位置での吸光度データは、全てそれぞれの位置
を示す情報とともに記憶手段５２，５３に記憶さ
れるが、その記憶された吸光度データのうち、キ
ーボード５７により設定された範囲（第３図に記
号Ｂで示される範囲）の吸光度データのみが有効
データとしてデータ読取り手段５４，５５により
読み取られ、その範囲外の吸光度データは無効デ
ータとなり読み取られない。
の光束照射点の走査の振れ幅Ａ（第３図）は常に
一定である。この振れ幅Ａの範囲内の各データ採
取位置での吸光度データは、全てそれぞれの位置
を示す情報とともに記憶手段５２，５３に記憶さ
れるが、その記憶された吸光度データのうち、キ
ーボード５７により設定された範囲（第３図に記
号Ｂで示される範囲）の吸光度データのみが有効
データとしてデータ読取り手段５４，５５により
読み取られ、その範囲外の吸光度データは無効デ
ータとなり読み取られない。
次に、本実施例におけるローカリテイ補正を第
５図及び第６図を参照して説明する。
５図及び第６図を参照して説明する。
まず、イニシヤライズルーチンとして、ステー
ジを動かして試料プレートのない状態を作り、そ
の状態でスリツト円板１２を回転させて位置X1，
X2，X3，……Xnごとの吸光度a1，a2，a3，……
anを測定し記憶しておく。位置X1，X2，……Xn
は、フオトカプラ２０の検出信号とパルスモータ
１６の回転角、すなわちパルスモータ１６の駆動
パルス数から位置検出手段５８により検出された
ものである。
ジを動かして試料プレートのない状態を作り、そ
の状態でスリツト円板１２を回転させて位置X1，
X2，X3，……Xnごとの吸光度a1，a2，a3，……
anを測定し記憶しておく。位置X1，X2，……Xn
は、フオトカプラ２０の検出信号とパルスモータ
１６の回転角、すなわちパルスモータ１６の駆動
パルス数から位置検出手段５８により検出された
ものである。
次に、ステージを動かして試料プレート２６を
測定位置に移動させ、測定を行なつてローカリテ
イ補正を行なうが、その工程は第６図のように行
なう。試料プレート２６上のある点Xiでの吸光
度Aiをデータ読取り手段５４，５５が記憶手段
５２，５３から読み込むと（ステツプS1）、イニ
シヤライズルーチンで測定して記憶している位置
Xiでの吸光度aiを呼び出し、両吸光度の差を算
出する（ステツプS2，S3）。これがローカリテイ
補正である。その算出値を別の記憶手段に記憶す
る（ステツプS4）。以下、同様にして各測定点で
のローカリテイ補正を行なつていく。
測定位置に移動させ、測定を行なつてローカリテ
イ補正を行なうが、その工程は第６図のように行
なう。試料プレート２６上のある点Xiでの吸光
度Aiをデータ読取り手段５４，５５が記憶手段
５２，５３から読み込むと（ステツプS1）、イニ
シヤライズルーチンで測定して記憶している位置
Xiでの吸光度aiを呼び出し、両吸光度の差を算
出する（ステツプS2，S3）。これがローカリテイ
補正である。その算出値を別の記憶手段に記憶す
る（ステツプS4）。以下、同様にして各測定点で
のローカリテイ補正を行なつていく。
検量線直線化は、吸光度と物質濃度の関係を示
すクベルカ・ムンクの理論式にもとづいて、マイ
クロコンピユータによるプログラム方式の検量線
リニアライザにより行なう。この検量線直線化手
法はよく知られたものであり、詳細は、例えば、
ジヤーナル・オブ・クロマトグラフイ（J.of
Chromatography）第116巻、22〜41ページに記
載されている。
すクベルカ・ムンクの理論式にもとづいて、マイ
クロコンピユータによるプログラム方式の検量線
リニアライザにより行なう。この検量線直線化手
法はよく知られたものであり、詳細は、例えば、
ジヤーナル・オブ・クロマトグラフイ（J.of
Chromatography）第116巻、22〜41ページに記
載されている。
なお、上記の実施例において、スリツト原点検
出用の穴１８は実施例のように１個でもよく、ま
たはスリツト１４−１〜１４−５の数だけ設けて
もよい。
出用の穴１８は実施例のように１個でもよく、ま
たはスリツト１４−１〜１４−５の数だけ設けて
もよい。
また、スリツト円板１２上のスリツトは実施例
のようなものに限定されるものではない。スリツ
ト数は４個以下又は６個以上としてもよい。例え
ば、スリツト数を１個とし、パルスモータ１６を
往復回転させてその１個のスリツトを往復動させ
ることにより、そのスリツトと出口スリツト１０
との交差位置の穴を出口スリツト１０の長手方向
に沿つて往復動させるようにすることもできる。
また、スリツト円板１２のスリツトの形状も実施
例のものに限られるものではない。
のようなものに限定されるものではない。スリツ
ト数は４個以下又は６個以上としてもよい。例え
ば、スリツト数を１個とし、パルスモータ１６を
往復回転させてその１個のスリツトを往復動させ
ることにより、そのスリツトと出口スリツト１０
との交差位置の穴を出口スリツト１０の長手方向
に沿つて往復動させるようにすることもできる。
また、スリツト円板１２のスリツトの形状も実施
例のものに限られるものではない。
第１図ではスリツト円板１２を出口スリツト１
０上に設置しているが、このような状態は、例え
ば出口スリツト１０上にＸ方向の結像を行なわ
せ、スリツト円板１２上にＹ方向の結像を行なわ
せることにより実現できる。また、スリツト円板
１２を分光器８の出口スリツト１０を結像した位
置に設置してもよい。さらに、スリツト円板１２
は、厳密に出口スリツト位置でなくても実用上差
し支えない程度に離れた近傍に設置してもよい。
０上に設置しているが、このような状態は、例え
ば出口スリツト１０上にＸ方向の結像を行なわ
せ、スリツト円板１２上にＹ方向の結像を行なわ
せることにより実現できる。また、スリツト円板
１２を分光器８の出口スリツト１０を結像した位
置に設置してもよい。さらに、スリツト円板１２
は、厳密に出口スリツト位置でなくても実用上差
し支えない程度に離れた近傍に設置してもよい。
スリツト円板１２の駆動をパルスモータに代え
てシンクロナスモータで行なうこともできる。そ
の場合は原点検出からの時間によりスリツト円板
１２の回転角を検出することができる。
てシンクロナスモータで行なうこともできる。そ
の場合は原点検出からの時間によりスリツト円板
１２の回転角を検出することができる。
また、試料プレート２６上の照射点の走査の振
れ幅Ａのうち、有効なデータ範囲として設定され
た範囲Ｂの外側の点のデータを試料プレートのバ
ツクグランド吸収用のデータとして用い、他の有
効なデータからの吸光度差を求めるようにするこ
ともできる。
れ幅Ａのうち、有効なデータ範囲として設定され
た範囲Ｂの外側の点のデータを試料プレートのバ
ツクグランド吸収用のデータとして用い、他の有
効なデータからの吸光度差を求めるようにするこ
ともできる。
実施例では、試料プレートの反射光と透過光の
いずれの吸光度も測定できるようになつている
が、いずれか一方のみを測定するものでもよい。
いずれの吸光度も測定できるようになつている
が、いずれか一方のみを測定するものでもよい。
（発明の効果）
本発明によれば、第１図に示されるような高速
走査可能なフライングスポツト方式のクロマトス
キヤナにおいて、走査点の振れ幅が１種類ですむ
ため光束走査のための機構が簡単になるととも
に、光電子増倍管の負高圧が突発的に上昇する不
都合も生じなくなる。そして、走査点の振れ幅が
設定できることにより、目的とする試料スポツト
のみの定量が可能になる。
走査可能なフライングスポツト方式のクロマトス
キヤナにおいて、走査点の振れ幅が１種類ですむ
ため光束走査のための機構が簡単になるととも
に、光電子増倍管の負高圧が突発的に上昇する不
都合も生じなくなる。そして、走査点の振れ幅が
設定できることにより、目的とする試料スポツト
のみの定量が可能になる。
第１図は一実施例を示す概略斜視図、第２図は
主としてスリツト円板を示す平面図、第３図は同
実施例における試料プレート上での光束照射位置
を示す図、第４図は同実施例の信号処理系を示す
ブロツク図、第５図及び第６図は同実施例におけ
るローカリテイ補正の動作を示すフローチヤート
である。 ８……分光器、１０……出口スリツト、１２…
…スリツト円板、１４−１〜１４−５……スリツ
ト、１６……パルスモータ、１８……原点検出用
穴、２０……原点検出用検出器、５２，５３……
記憶手段、５４，５５……データ読取り手段、５
６……データ読取り幅制御手段、５７……キーボ
ード、５８……位置検出手段。
主としてスリツト円板を示す平面図、第３図は同
実施例における試料プレート上での光束照射位置
を示す図、第４図は同実施例の信号処理系を示す
ブロツク図、第５図及び第６図は同実施例におけ
るローカリテイ補正の動作を示すフローチヤート
である。 ８……分光器、１０……出口スリツト、１２…
…スリツト円板、１４−１〜１４−５……スリツ
ト、１６……パルスモータ、１８……原点検出用
穴、２０……原点検出用検出器、５２，５３……
記憶手段、５４，５５……データ読取り手段、５
６……データ読取り幅制御手段、５７……キーボ
ード、５８……位置検出手段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 分光器出口スリツト上もしくはその結像位置
又はそれらの近傍に、パルスモータ又はシンクロ
ナスモータにより直軸駆動されるスリツト円板を
設置し、このスリツト円板のスリツトと前記出口
スリツトとの交差位置の穴を通過した光束を試料
面に照射させるフライングスポツト方式のクロマ
トスキヤナであつて、 前記スリツト円板の原点位置を表わす信号とそ
のスリツト円板の回転角に対応する駆動パルス数
又は時間とから試料面上の光束照射位置を検出す
る位置検出手段と、 測定された吸光度を前記位置検出手段からの位
置情報とともに記憶する記憶手段と、 この記憶手段の吸光度データを読み取るデータ
読取り手段と、 このデータ読取り手段が読み取るデータの範囲
を位置情報をもとに指定するデータ読取り幅制御
手段と、 このデータ読取り幅制御手段にデータ読取り幅
を設定する設定手段と、を備えたクロマトスキヤ
ナ。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27587184A JPS61159136A (ja) | 1984-12-29 | 1984-12-29 | クロマトスキヤナ |
| US06/813,140 US4762412A (en) | 1984-12-26 | 1985-12-24 | Optical scanning device |
| DE3546056A DE3546056C2 (de) | 1984-12-26 | 1985-12-24 | Vorrichtung zur Messung der integralen Extinktion einer Probe |
| CN85109758.8A CN1021370C (zh) | 1984-12-26 | 1985-12-25 | 一种具有飞点式彩色扫描系统的密度计 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27587184A JPS61159136A (ja) | 1984-12-29 | 1984-12-29 | クロマトスキヤナ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61159136A JPS61159136A (ja) | 1986-07-18 |
| JPH0578780B2 true JPH0578780B2 (ja) | 1993-10-29 |
Family
ID=17561594
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27587184A Granted JPS61159136A (ja) | 1984-12-26 | 1984-12-29 | クロマトスキヤナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61159136A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08114019A (ja) * | 1994-10-18 | 1996-05-07 | Masami Suzuki | ベランダ防水工法及びその構造 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2549331Y2 (ja) * | 1992-02-07 | 1997-09-30 | 欽也 伊藤 | 釣り竿に発光体を取り付けるためのホルダ |
| JPH0628714U (ja) * | 1992-09-08 | 1994-04-15 | 株式会社島津製作所 | 外部試料室付分光光度計 |
-
1984
- 1984-12-29 JP JP27587184A patent/JPS61159136A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08114019A (ja) * | 1994-10-18 | 1996-05-07 | Masami Suzuki | ベランダ防水工法及びその構造 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61159136A (ja) | 1986-07-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |